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仪器简介：
技术参数：
主要特点：
Dektak 8台阶式探针轮廓仪，结构紧凑，可提供很高的重复性和精度。的X–Y方向定位系统可移动到8 x 8 inch区域的任何位置。它不能测量台阶高度和表面纹理，还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak 8系统对于MEMS，纳米技术和半导体应用都非常方便。
技术参数：
台阶高度重复性: 7.5Å,1σ在1um标准台阶上
*大晶圆尺寸：200mm
*大样品厚度：25.4mm （1 in.)
每次扫描数据点：*多可达60，000数据点
扫描长度范围：标配*大50mm
垂直范围：标配262um；可选1mm
*大垂直分辨率：1Å (6.55微米垂直范围下）
主要特点：
1. 台阶高度测量重复性高
2. 是功能*为强大的探针轮廓仪，可*大限度的满足各种应用需要
3. 简单易用
4. 作为一款桌面型轮廓仪，扫描范围可达200mm
Dektak 8 探针轮廓仪（台阶仪信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于Dektak 8 探针轮廓仪（台阶仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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