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Tecnai G2 F20是一个真正多功能、多用户环境的200kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中独占鳌头。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜专家才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回相关的操作设置。
Tecnai G2 F20以您实验室的现状而构建: 具有各种分析要求的、不同应用水平的操作者都要在上面工作。同时, 这一TEM/STEM系统已经为明天做好准备, 它可以用新的功能进行升级, 以保证方便快速地进行更*的数据采集。 Tecnai G2 F20为通用纳米分析技术透射电镜平台的设立了一个标准。
1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米分析
2.的*分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术、三维重构技术、低剂量曝光技术、冷冻电镜技术
3.多用户环境下的方便和*操作
4.适用于大量样品的快捷分析
5.将来技术, 今日应用
6.基于Windows XP操作系统的用户界面
参数：
1.信息分辨率限
U-TWIN 0.12nm;
S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm ; TWIN
2.点分辨率
U-TWIN 0.19nm ;
S-TWIN 0.24nm ;
X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm
3.高分辨STEM分辨率
U-TWIN 0.14nm ;
S-TWIN 0.19nm ;
X-TWIN 0.18nm; TWIN 0.16nm
4.加速电压 20-200kV,连续可调
5.电子束能量色散 <0.7eV
6.*大束流 >100nA. 1nm束斑*大束流>0.5nA.
7.样品*大倾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°
Tomography样品杆 +/- 70o
8.EDS立体角
X-TWIN 0.3sr
S-TWIN/U-TWIN 0.13sr
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