Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
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少子寿命测量仪BCT-400
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。
作为最易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。
典型用户
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 杜邦 | 2012-09-12 |
| 卡姆丹克 | 2013-12-17 |
| 协鑫 | 2013-09-17 |
| 隆基 | 2013-03-19 |
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