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国产
400-800nm
2-4mm
65°定角
≦15s(单点)
4-8英寸
0.5nm@100nm标片
≦0.005nm
创新点
一、概述
SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。
■ 超高性价比光学椭偏测量解决方案；
■ 紧凑集成化设计，极致用户操作体验；
■ 一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷；
■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力。
二、产品特点
■ 采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm)；
■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；
■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料。
三、产品应用
SE-VE光谱椭偏仪广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。
可选配件
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| 温控台 | 真空泵 | 透射吸附组件 |
技术参数
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薄膜光伏测量应用解决方案电子/电气 2020-06-24
1年
是
有
一年内不限次数培训
3月一次
免费更换部件（易损易耗件除外)
若远程无法解决，承诺24小时内到客户现场进行维修
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