方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | 暂无 |
采用立陶宛Ekspla公司PL2230型脉冲皮秒激光器和PG501-DFG1P型皮秒光学参量发生器构成的和频光谱测量系统(SFG)对运行中的OFET器件半导体/绝缘体界面处电荷活动状态进行了可视化测量。
In our work, being aimed at clarifying the mechanism of charge transport in organic field-effect transistors (OFET) during operation and furthermore designing new OFET with higher performances, interfaces of OFET are studied by sum-frequency generation (SFG) spectroscopy. The effect of drain voltage on SFG spectra of OFET is obtained. A bias distribution of SFG intensities at 3000 cm-1 between source and drain electrodes caused by charge transport is obtained. Charge activities at the semiconductor/insulator interface of OFET during operation are preliminary mapped by SFG spectroscopy.
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