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透射电镜双倾探针电学原位系统

参考价：面议

核心参数

透射电镜液体电化学原位系统

透射电镜液体升温原位系统

透射电镜液体光学原位系统

产品详情

TEM力学-双倾探针电学.png

产品简介

通过纳米探针对样品施加电场控制，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

我们的优势

纳米探针操纵系统

1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。

2．可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。

优异的电学性能

特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。

智能化软件

1．人机分离，软件远程调节电学条件，程序自动化控制倾转角度。

2．全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。

技术参数

类别	项目	参数
基本参数	杆体材质	高强度钛合金
	控制方式	高精度压电陶瓷
	倾转角	α≥±20°，β≥±20°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）
	适用电镜	Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
	适用极靴	ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
	(HR)TEM/STEM	支持
	(HR)EDS/EELS/SAED	支持

透射电镜双倾探针电学原位系统信息由厦门超新芯科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于透射电镜双倾探针电学原位系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应透射电镜双倾探针电学原位系统外，厦门超新芯科技有限公司还可为您提供其他等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。