普创Paratronix-微泄漏无损完整性密封测试仪-MLT-V100(T)
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普创Paratronix-微泄漏无损完整性密封测试仪-MLT-V100(T)

报价:面议
型号: MLT-V100(T)
产地: 山东
品牌: 普创
评分:
应用领域:
山东普创工业科技有限公司
银牌会员3年生产商
关注展位 全部仪器
核心参数
产品详情
简介
MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据多项国际和国家标准研发,适用于各类注射器、瓶类、罐体等硬质包装容器的无损正负压微泄漏测试。该设备采用先进的设计和科学的计算方法,提供高精度、高稳定性的测试,并支持非标准定制需求。其主要技术参数包括多种测试方法、高精度传感器、微电脑控制和高效的数据处理能力,适用于制药、食品等行业对密封完整性的严格要求。

 MLT系列依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专 业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、奶粉罐体、其他硬质包装容器、电器元件等 试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳 定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。

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执行标准:

《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 

《USP1207美国药典标准 》 

《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试 

《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 

《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南(试行)》

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技术参数:

测试方法:真空衰减法/压力衰减法

测控技术:微电脑,双传感器测试技术

真空方式:真空泵

正压方式:外接气源

测试单位:kPa/mbar/psi/Pa

分辨率:0.1Pa

测试范围:-99~400kPa

测量范围:≥0.01ccm(约1μm)

测试精度:±0.2μm(≥3μm)

测试精度:±0.3μm(<3μm)

测试时间:15~40sec

主控芯片:STM微电脑芯片

采集频率:50~200Hz

操控方式:10.1”液晶触摸屏

操控系统:Windows系统

审计追踪:支持

数据存储:无上限

数据传输:USB/RS232/485

键盘鼠标:支持

报告方式:微型打印机/A4报告

电源:220V 50Hz

气源压力:≥0.5MPa

气源接口: φ6mm聚氨酯管 

外观材质 :工程塑料/不锈钢 

外形尺寸 : 340(L)×480(W)×320(H)

设备重量 :约20kg 

夹具配置 :手动/自动夹具


MLT-V100(T)微泄漏无损密封测试仪   MLT-V100(T)微泄漏无损密封测试仪

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售后服务
  • 产品货期: 30天
  • 培训服务: 额外提供免费培训
  • 安装调试时间: 到货后7天内
  • 电话支持响应时间: 2小时内
  • 是否提供维保合同:
  • 维修响应时间: 1天内
  • 节假日是否提供上门服务:
  • 无理由退换货: 不支持
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