本次会议由中国水产科学研究院主办【仅限内部人员,非内部人员无法参会】请内部人员输入手机号进行观看
杨臻:158 0116 9739
09月26日
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致辞
柴燕(电子工业出版社 电子信息出版分社社长)
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“集成电路系列丛书”出版情况
张剑(电子工业出版社 首席责编/编审)
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AlScN薄膜生长调控
门阔(有研工程技术研究院有限公司 高级工程师)
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原子力显微镜在薄膜生长方面的研究进展以及发展趋势
刘志文(牛津仪器科技(上海)有限公司 高级应用科学家)
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砷化镓/磷化铟基化合物半导体外延片国产化进展
罗帅(江苏华兴激光科技有限公司 总经理)
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碳化硅外延生长关键技术及进展
张国良(河北普兴电子科技股份有限公司 工程师)
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硅光集成薄膜工艺与器件
杨妍(中国科学院微电子研究所 研究员)
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干法刻蚀技术及其进展
王晓东(中国科学院半导体研究所 研究员)
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高分辨率显微技术在半导体工艺中的应用
王海银( 徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 工业显微镜应用工程师)
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半导体显示技术与应用
陈东川(北京京东方显示技术有限公司 高级工程师)
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手持式XRF在半导体行业的应用
于海华(Evident(仪景通光学科技(上海)有限公司) 产品经理)
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集成电路先进工艺光刻机与芯片设计
陈春章(鹏城实验室 研究员)
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微纳加工的干法刻蚀技术
张忠山(中国科学院物理研究所 副主任工程师)
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功率半导体封装经典工艺介绍
虞国良(通富微电子股份有限公司 高级工程师)
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光学显微镜在半导体和封测领域的应用
邓健(Evident(仪景通光学科技(上海)有限公司) 产品经理)
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先进封装与异构集成技术
于大全(厦门云天半导体科技有限公司 董事长)
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MEMS器件封装特点与典型方案解析
王建国(苏州捷研芯电子科技有限公司 副总经理)
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碳化硅功率器件封装与可靠性测试
田鸿昌(陕西半导体先导技术中心有限公司 副总经理/高级工程师)
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EMMI缺陷定位方法在芯片失效分析中的应用
崔风洲(深圳市美信检测技术股份有限公司 半导体事业部总经理)
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瑞士万通离子色谱在半导体行业的技术及应用介绍
李致伯(瑞士万通 产品经理)
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电子显微分析在半导体及芯片失效分析中的应用
刘小春(长沙理工大学金属研究所 特聘教授)
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半导体材料和结构剖析技术概述(FIB+TEM+SIMS+XPS等)
鲁德凤(探究号科技检测(东莞)有限公司 材料分析技术部总监)
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晶圆盒沾污检测
张君峰(苏州赛米肯分析技术有限公司 实验室经理)
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