表面分析技术是一种统称，指利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。

仪器信息网于2023年11月14-15日举办第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会，以分享表面分析技术及应用研究的新进展，推动表面分析技术与应用领域的发展。旨在利用互联网技术为广大科研者及相关专业人员提供一个方便、高效的免费学习平台，让大家了解最新的表面分析技术及应用研究动态，与同行们交流心得，共同进步。

此次表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了4个主题会场，分别是:光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用等其他表面分析技术与应用。诚邀业界人士报名参会。