电子数粒仪

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  • 阿美特克科学仪器部（普林斯顿及输力强） 银牌20年
    400-860-5168转0858
    美国阿美特克集团公司（www.ametek.com）是全球电子仪器和电子机械设备的领先制造商，年销售额超过50亿美元，员工超过14,000人，分布在美国及全球的120多个工厂，100多家销售和服务中心。Advanced Measurement Technology Inc.是美国阿美特克(Ametek)集团的子公司，旗下拥有PrincetonApplied Research(普林斯顿应用研究)，SolartronAnalytical（输力强分析），Signal Recovery等四个品牌。 普林斯顿应用研究（PAR，Princeton Applied Research）是一个历史悠久的电化学仪器品牌。它创建于1961年，由世界著名的普林斯顿大学和等离子物理实验室的一群科学家和商业人士联合组建，50多年来，在业内拥有极高的品牌知名度。自1979年以EG&G旗下品牌进入中国以来，用户已经超过千人，专心倾注于电化学分析与合成、电催化、腐蚀应用与研究、化学电源、生物医药和传感器、材料研究等领域，提供卓越的研究型宏观和微观电化学测试仪器。 输力强分析SolartronAnalytical 是阿美特克集团公司旗下另一个卓越品牌。具有60多年设计和生产精密电子仪器的历史，是电化学及材料交流阻抗谱仪的专业生产厂商，已成为极高准确性和可靠性的电化学和材料测试分析仪器市场的领导者。业内久负盛誉的产品有：频率响应分析仪，电池研究测试系统，材料阻抗测试仪。应用于物理与化学电源、超级电容器、电化学传感器、腐蚀与防护、电分析、电催化、电解电镀电合成等领域；在研究和检测材料（包括生物材料）的储存电荷（电容）和传递电荷（电导）等阻抗特性测试方面以其极高的采样速度及频率分辨率、极小的测量误差以及多种阻抗测量技术成为全球市场上的领跑者。销售电话：400-1100-281 服务电话：400-1100-282E-mail：amt.si.china@ametek.com中文网站：www.par-solartron.com.cn AMETEK Inc.北京朝阳区酒仙桥路10号京东方总部大厦（B10）二层西侧邮编：100015电话：010-85262111-15传真：010-85262141 AMETEK Inc.上海上海自由贸易试验区富特东三路526号1幢二层A1区邮编：200131电话：021-58685111-101传真：021-58660969AMETEK Inc. 成都四川省成都市锦悦西路236号高新孵化园9号楼F座10楼9-10号 邮编：610041电话：13609185289AMETEK Inc. 广州广东广州市越秀区东风东路767号东宝大厦810室邮编：510060电话：18925065958
    主营产品： 电化学工作站   石英晶体天平   电化学部件  
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  • 深圳市流数科技有限公司
    深圳市流数科技有限公司成立于2021年3月，是一家基于新型互联网模式的智能传感科技公司，专注于液体数智化产品的设计、研发和应用。秉承着“用技术做产品，以品德做服务”的理念，流数科技以产业和研究创新的发展模式引领液体数智化的发展。 同时，流数科技团队始终坚持践行“科技与创新，激情和敬业”的企业精神，创新地结合光学、电子、生化等领域，实现高性能低成本的液体数字化模板，致力于成为液体数字化行业领军者，做最懂液体的AI智能算法。 未来，流数科技将会持续研发与推动液体数字产品，将中国品牌的液体数字理念和高科技产品推向国际，让世界看到中国在液体数字领域的前沿技术与高速发展！
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  • 杭州数测科技有限公司
    杭州数测科技有限公司(Hangzhou Data Test Technical Co.,Ltd)坐落于美丽的西子湖畔，位于杭州西湖科技园内，是一家集科、工、贸为一体的综合型高科技企业。专业从事数据测试采集产品和系统的研发、生产与销售，为冷链物流、食品药品、生物制品、特殊仓储、电子化工、卫生医疗系统、服务器机房和科研实验室等行业提供更为完善、优良的数据测量仪及解决方案。我司以“质量第一，服务为本”为理念，以客户要求为基础，为广大用户提供各种规格的产品和服务，包括便携式数据记录仪、远程环境监测系统，温湿度记录仪表, 一次性温度记录仪，热力分布验证系统，温湿度变送器等高品质环境智能仪器。产品遍布国内31省市各行业，同时远销全球。公司拥有一支创新和快捷的团队，坚持可持续发展，不断开拓创新，积极进取，时刻关注着国内外相关行业内的先进技术和仪器，适时推出适合各行业广大客户要求理想的产品，提供更优质的服务。
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  • 称重型电子自动数粒仪 SLY-E 托普云农 400-860-5168转1490
    仪器用途SLY-E高精度电子自动数粒仪是一台具备称重功能的电子自动数粒仪产品，可以自动数粒及自动称重，适用于大粒长种子、大粒圆种子、中粒长种子、中粒圆种子、小粒长种子、小粒圆种子等不同颗粒种子。功能特点超大触摸屏设计：7寸彩色触摸屏，增强用户人机交互体验 数粒盘速度可调：高精度电子自动数粒仪具有无极调速功能，数粒速度快慢可调精准计数：出料通道可调节，只对所选量级的颗粒计数，避免杂质等干扰高精度称重：内置高精度重力传感器，可自动称重、自动数粒、自动计算千粒重自动减速，数粒更精准：在接近设定籽粒数量后进行减速精数，提高数粒精度数据自动记录：对所测数据可进行自动记录和保存，随时查看历史数据数据导出：支持USB数据导出技术参数种子长度：1-23mm计数误差：±2‰计数速度：≥1000粒/3分钟（以芝麻为例）震动噪音：≤80dB计数容量：1~99999粒称重范围：0~1000g称重精度：±0.2g整机尺寸：长525mm*宽372mm*高351mm仪器重量：27.5kg外接电源：220VAC/50Hz和110VAC/60Hz兼容功率：220V/AC20W，110V/AC14W工作环境：环境温度：-10℃~50℃；相对湿度：＜85%
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    厂商： 浙江托普云农科技股份有限公司
    品牌： 托普云农/Top Cloud-agri
    型号： SLY-E
    价格： 面议
  • 数显电子折断力仪 400-860-5168转3947
    数显电子折断力仪安瓿折断力测试仪主要应用于精确测量安瓿瓶颈与瓶身分开所需要的折断力,执行GB2637、YBB00332002标准中对安瓿瓶药品包装的折断力试验的测试要求。适用于研究机构、制药企业、检验检疫等机构。 工作原理将试样装夹在两个夹头之间,两夹头做相对运动,通过特殊夹头将安瓿瓶颈与平身分开,通过仪器测试此过程中的力值变化与位移变化.从而得出相应力值数据. 技术特征结构紧凑、精巧、人性化结构设计大液晶、电脑软件双操作系统丝杠传动系统速度随意调节,位移准确.可进行微型打印机、办公打印机双打印系统人性化夹具，可以任意变换夹具 技术参数1、 测量范围： 0-300N （其他量程可定制）2、 测量误差：±1%3、 分辨率：0.01N4、 测量速度： 10mm/min（1-500mm/min无极变速）5、 速度精度：±2%精度6、 支架距离：1、2、3、5、10、20、25ML（根据客户规格配备） 7、 机器尺寸： 46cm（L）×30cm（W） ×38cm（H） ；8、 机器重量：18Kg9、 使用电源：220V,50HZ； 标准GB2637、YBB00332002安瓿折断力测试仪配置标准配置：主机、微型打印机、折断力夹具、测试软件、通信电缆数显电子折断力仪此为广告
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    厂商： 济南三泉中石实验仪器有限公司
    品牌： 三泉中石/sumspring
    型号： ZDY-S
    价格： 面议
  • 电子自动数粒仪SLY-D 托普云农 400-860-5168转1490
    仪器介绍SLY-D数粒仪是一款电子自动数粒仪，适用于水稻、小麦、玉米、油菜、芝麻、花卉、蔬菜等种子自动数粒，应用范围广，数粒准确，快速。 功能特点1、超大触摸屏设计：7寸彩色触摸屏，智能化动感画面，增强用户人机交互体验。2、预值设置，满值自停：当计数达到预设粒数时，数粒盘会自动停止工作，也可循环批量数粒。3、数据记录：对所测数据可进行自动记录和保存，包含品种名称、测量粒数、计数时间和测试时间等。4、数据导出：支持U盘对数据进行Excel导出。 技术参数种子长度：1－23mm计数误差：±2‰（档位速度和种子振动中脱落的皮屑会影响计数精度）计数速度：≥1000粒/3分钟（以芝麻为例）震动噪音：≤80dB计数容量：1～99999仪器尺寸：长370mm*宽365mm*高315mm仪器重量：19.5kg外接电源：220VAC/50Hz和110 VAC/60Hz兼容功率：220V/AC 15W，110V/AC 15W
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    厂商： 浙江托普云农科技股份有限公司
    品牌： 托普云农/Top Cloud-agri
    型号： SLY-D
    价格： 面议
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  • 1310万！中山大学电子束离子束双束电子显微镜和多普勒干涉原子力显微镜采购项目
    项目编号：中大招（货）[2022]680号、中大招（货）[2022]689号项目名称：中山大学物理学院电子束离子束双束电子显微镜采购项目、中山大学物理学院多普勒干涉原子力显微镜采购项目预算金额：1310.0000000 万元（人民币）采购需求：1、招标采购项目内容及数量：电子束离子束双束电子显微镜，1台（本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标；本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件）。项目预算及经费来源：项目预算 7600000.00 元人民币。经费来源为财政性资金。2、招标采购项目内容及数量：多普勒干涉原子力显微镜，1套（本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标；本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件）。项目预算及经费来源：项目预算 5500000.00 元人民币。经费来源为财政性资金。合同履行期限：收到发货通知后240日内完成交货及安装。本项目( 不接受 )联合体投标。中大招（货）[2022]680号_中山大学物理学院电子束离子束双束电子显微镜采购项目（正稿）.pdf中大招（货）[2022]689号_中山大学物理学院多普勒干涉原子力显微镜采购项目（正稿）.pdf
    时间： 2022-11-12
    作者： dahua1981
  • 【标准解读】扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
    纳米颗粒因尺度效应而具有传统大颗粒所不具备的独特性能，被广泛应用于生物医药、化工、日用品、润滑产品、新能源等领域。而纳米颗粒的粒度形状分布，直接关系到相应产品的性能质量及安全性，需要进行准确的测量表征。扫描电子显微镜（SEM）作为最直观、准确的显微测量仪器之一，在纳米颗粒测量表征中不可或缺。本标准等同采用ISO 19749：2021《Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy》，从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足，给出较为完整的颗粒粒径测量的分析评价方法，对于采用不同扫描电子显微镜（SEM）得到的颗粒测量结果一致性评判，具有重要的参考价值。视具体需求以及仪器性能而定，本标准中涉及到的方法，也适用于更大尺寸的颗粒测量。一、背景纳米颗粒形态多种多样，很多情况下也会存在聚集、团聚的现象，这为SEM的观测与分析带来了较大的挑战。由于不同设备、不同人员的操作习惯以及采用不同分析策略所引起的粒度粒形测量结果的一致性问题也十分值得探讨。现行的相关国家标准大多关注采用SEM手段对特定被测对象的特征进行测量、表征、区分、定义等，具有较强的针对性，但缺乏系统性，特别是对设备性能的计量评定、样品处理及制样过程、图像处理的依据、测量结果的准确性与统计性等技术内容并未给出更为充分的、本质的、系统的说明。二、规范性引用文件本标准在制定过程中，在符合等同采用国际标准的要求的基础上，充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述，包括计量学、粒度分析、数理统计、微束分析、颗粒表征、纳米科技等各个专业领域；同时，在一些习惯性表达上，也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议，力求做到专业、通俗、易懂。三、制定过程本标准涉及的专业领域较为广泛，因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构和企业合作完成。牵头单位为中国计量科学研究院，主要参加单位包括国家纳米科学中心、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、山东省计量科学研究院、卡尔蔡司（上海）管理有限公司、北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司、中国检验检疫科学研究院、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容，如SEM性能验证方法、典型样品（宽窄分布颗粒样品）制样方法、比对报告中涉及的颗粒测试及统计方法（算法）等均进行了方法学验证，验证了标准中相关技术操作的可行性。修正了ISO 19749：2021中的一些编辑性错误。四、适用范围本标准适用于各类纳米颗粒及其团聚、聚集体，甚至更大尺寸颗粒的粒度及形状分布测量。前提应将SEM作为一个测量系统进行评定，以确定所用SEM的性能范围，这包括设备自身的扫描分辨力、漂移、洁净度等特性。同时，也取决于观测者所需要的测量准确性。高的测量准确性需要高性能的SEM设备+高精度校准+洁净的样品前处理+匹配的测试参数+足够多的被测颗粒数量+合适的阈值算法，其中每一步都会影响最终的测试结果。因此，根据实际工作中对测试结果准确性、重复性和一致性的需求，可对上述环节进行不同程度的限定。五、主要内容本标准涉及的主要内容覆盖SEM测量颗粒粒度及形状分布的全流程，从一般原理到设备校准，样品制备到测试参数选用，图像采集到数据处理，均给出了较为详细的阐述，并在附录中给出了实用的案例。术语及定义：包括纳米技术的通用术语，图像分析、统计学和计量学专业核心术语、SEM核心术语等。一般原理：概括性地介绍了SEM成像原理及粒度、粒形测量原理。样品制备：较为系统地介绍了典型的粉末及悬浮液从取样、制样到分散的过程，并重点阐述了颗粒在硅基底和TEM栅网上的沉积方法。可根据需求，采用几种不同层次的硅片清洗与处理方法，一方面确保硅片的洁净，另一方面可使其表面带有正电或负电的捕获分子层，以确保颗粒在硅片上的有效分散。必要时采用TEM栅网，可提高颗粒与背底的对比度。考虑样本颗粒数量时，一般而言假设颗粒是对数正态分布的，本标准给出了一个颗粒数与误差和置信区间的计算公式可供参考。SEM设备的评价方法：给出了SEM成像能力的影响因素，包括空间分辨率、漂移、污染、水平垂直范围及线性度、噪声等，具体的验证方法在附件中有较为详细的描述，此外也可依照其他相关的技术规范或标准定期进行校准。图像采集：重点给出了不同粒度测量时放大倍率和像素分辨率的选择策略，取决于实际的测量需求。测量者需要充分考虑要求的误差和放大倍率来计算所需的像素分辨率，当颗粒分布较宽时可能有必要在不同放大倍率下进行拍摄，以兼顾颗粒的测量效率及测量精度。颗粒分析方法：手动分析可能准确率很高，能较好地界定测量区域以及筛选合格的颗粒（例如单分散颗粒体系中去除黏连颗粒），但采用软件自动处理往往更为高效。采用软件处理时，阈值的设定会对颗粒的筛选、粒度的大小产生较为关键的影响，必要的时候可以采用自动处理与手动处理相结合的方式。数据分析：给出了筛选数据可采用的统计学方法（方差分析、成对方差分析、双变量分析等方法）、模型拟合方法的参考，重点讲解了不确定度的来源与计算。结合60 nm颗粒测量结果，阐述了典型的不确定度来源。在上述基础上，给出了测量报告的信息及内容。本文作者： 黄鹭 副研究员； 中国计量科学研究院 前沿计量科学中心 Email:huangl@nim.ac.cn常怀秋 高级工程师； 国家纳米科学中心 技术发展部 Email：changhq@nanoctr.cn
    时间： 2023-10-25
    作者： 牛亚伟
  • 韩立：电子束曝光机是半导体制造的基础设备
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 10月15日-16日，中国科学院半导体研究所、仪器信息网联合主办首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)，22位业内知名的国内外专家学者聚焦半导体材料与器件的产业热点方向，进行为期两日的学术交流。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 会议期间，来自中国科学院电工研究所的韩立研究员做了《电子束曝光及相关技术的研究》的报告。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " script src=" https://p.bokecc.com/player?vid=7657F36C41DF1A879C33DC5901307461& siteid=D9180EE599D5BD46& autoStart=false& width=600& height=350& playerid=621F7722C6B7BD4E& playertype=1" type=" text/javascript" /script /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 据介绍，电子束曝光（EBL）始于上世纪60年代，是在电子显微镜的基础上发展起来的用于微电路研究和制造的曝光技术，是半导体微电子制造及纳米科技的关键设备、基础设备。电子束曝光是由高能量电子束和光刻胶相互作用，使胶由长（短）链变成断（长）链，实现曝光，相比于光刻机具有更高的分辨率，主要用于制作光刻掩模版、硅片直写和纳米科学技术研究。电子束曝光主要有可变矩形电子束曝光系统、电子束投影光刻技术、大规模平行电子束成像三种技术。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 韩立在报告中谈到，电子束曝光是电子光学、机械、电子技术、计算机及半导体工艺集成，包含了检测与定位、环境控制、超高真空、计算机控制、系统控制软件、多功能图形发生器、激光定位工件台和电子光学柱8个子系统，其中电子光柱体、图形发生器和激光工件台是关键部件。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 电子光柱体主要作用是通过控制束斑、束流、加速电压、最小线宽、写场尺寸和扫描频率，来实现束斑小，亮度高，速度快的曝光。但这些参数控制往往相互矛盾，对此韩立介绍了电工所和日本电子的解决方案。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图形发生器主要用于解决复杂图形控制难题，以提高扫描速率、生产率和图形复杂度。如果直接对曝光点位进行曝光，数据量太大而难以处理，因此需要将复杂的原始图形切割成基本图形，这样就能用简单的参数来实现控制。为保证控制精度，图形发生器从单束发展到多束，同时用激光束来补偿位置的偏移。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 激光工件台以平面镜激光干涉仪作为整个系统的测量基准，主要有光栅扫描和矢量扫描两种工作方式。工件台主要性能指标包括了加工精度、拼接精度和套刻精度，主要通过结合激光干涉仪来实现。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 目前，我国电子束曝光机严重依赖进口，但国外已禁止对中国出售最新型号的设备。对此，韩立结合在电工所多年的电子束曝光技术研发经历和应用推广情况，深入探讨了如何在电子束曝光机研制中取得突破，提出了自己的一些真知灼见。 /p
    时间： 2020-11-06
    作者： KPC
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  • 电子数粒仪 自动数粒仪-郑州中谷机械设备有限公司

    电子数粒仪 自动数粒仪-郑州中谷机械设备有限公司

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606280930_598417_1941670_3.jpg 产品简介：电子自动数粒仪（PME型适用于大小粒种子，PME-1型仅适用于小粒种子）详细说明： 一 用途PME型数粒仪可对各种主要粮食作物，如稻、麦、高粱玉米等颗粒进行自动计数，在农科院（所）农业大专院校、种子系统，粮食部门中、考察种子指标，测量千粒重有广泛应用。主要技术性能1、 计数品种：PME型：（1） 尺寸长×宽小于12×4毫米（小颗粒）；（2） 尺寸长×宽小于12×10毫米（大颗粒）PME-1型1、 尺寸长×宽小于12×4毫米（小颗粒）2、 计数精度：±4/1000以速度而定。（标准偏差）3、 计数速度：小颗粒大于1000粒/3分钟；大颗粒500粒/3分钟4、 计数容量：1~9999由四位LED数码管直接读数。5、 自校频率：f=1~2HZ f=10~20HZ.6、 预置自停：1~9999当中任意数值，置0000不计数。7、 外接电源220~±20V~50HZ功率小于20瓦，接地良好。8、 仪器尺寸：304×234×180毫米。9、 工作环境：大气压力：750±30毫米汞柱。环境温度0℃~40℃相对湿度：20℃时小于80%连续使用时间：大于四小时。10、仪器功能：电路自校，任意计数，预置自停，抽门与送料自锁。二 仪器外形、结构1、送料旋钮 2、自校旋钮3、数码管 4、电源开关5、复零计数开关 6、预置拔盘7、卸料盘旋钮 8、料盘9、保险丝 10、盛料抽门11、大颗粒出粒口三 仪器工作原理 电磁振动盒使种子逐粒排队送料，落入光电转换槽后形成光电脉动，经放大整形倒相后送入计数电路，以LED数码管显示读数。预置用拔盘开关，当计数到预置数后，停止送料，停止记数。仪器设有自校频率，便于检查计数电路及预置的正确性（1） 电磁振动送料装置：种子放在料盘上，料槽成螺旋形。（2） 在螺旋槽上升的种子，到达落料口落下，通过光电转换区投影到硅光电池上产生电流变化，经脉动放大整形后得到光电计数脉动，送入计数电路计数显示。（3） 计数显示电路采用CC4518（菲利蒲公司HEF4518）双BCD加计数器，并以CC4511（“HEF4511）BCD-7段锁存/译码/驱动器，译码后驱动共负极LED发光数码管显示，四位数的LED输入端串入限流电阻，使笔划亮度均匀。CC4518计数输入端有时钟端（CL），时钟允许端（EN）和复位端“R”，个位数时EN=“1”（高压平）计数脉动由“CL”输入，正跳变触发，后面三位均是CL=“0”（低电平）由EN输入，负跳变触发。（4） 预置自停电路的控制信号由开关二极管，指轮拔盘开关与四输入端的与非门联接，当拔盘预置数与计数数字相符时，继电器吸合，从而切断计数输入，使计数输入端接地，停止送料，LED显示出预置数字自动数粒仪☆电子数粒仪☆自动数粒仪价格是多少自动数粒仪☆电子数粒仪☆自动数粒仪厂家哪个好电话:0371-55862289 传真:0371-61175791 网址:http://www.zzzhonggu.com手机：13513890822 18037122128信箱:zhonggu668@163.com详细资料,敬请登录中谷机械设备公司以下网站: http://www.zzzhonggu.com 郑州中谷机械设备有限公司更多推荐产品自动数粒仪http://www.zzzhonggu.com/1017-1.html谷物选筛http://www.zzzhonggu.com/1014-6.html害虫选筛http://www.zzzhonggu.com/1014-16.html容重器http://www.zzzhonggu.com/1014-2.html电子容重器http://www.zzzhonggu.com/1014-19.html钟鼎式分样器http://www.zzzhonggu.com/1014-11.html不锈钢分样器http://www.zzzhonggu.com/1014-14.html小麦硬度测定仪http://www.zzzhonggu.com/1014-18.html碎米分离器http://www.zzzhonggu.com/1014-20.html精米机http://www.zzzhonggu.com/1014-3.html检验砻谷机http://www.zzzhonggu.com/1014-8.html单管通风机http://www.zzzhonggu.com/1001-2.html多管通风机http://www.zzzhonggu.com/1001-3.html谷物水分测定仪http://www.zzzhonggu.com/1005-2.html快速水分测定仪http://www.zzzhonggu.com/1005-3.html电脑快速水分仪http://www.zzzhonggu.com/1005-6.html粮食水分测定仪http://www.zzzhonggu.com/1005-11.html不锈钢粮食取样器http://www.zzzhonggu.com/1010-1.html粮食扦样器http://www.zzzhonggu.com/1010-5.html散粮车取样器http://www.zzzhonggu.com/1010-7.html油脂酸价测定仪http://www.zzzhonggu.com/1019-16.html罗维朋比色计http://www.zzzhonggu.com/1019-14.html

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    供应商： 上海东戈姆科贸发展有限公司
    价格： 面议
  • 电子束光刻胶 AR-PC 5090.02, 5091.02（导电胶）
    特点：• 用于消除电子束曝光、SEM成像、FIB等工艺中的荷电效应• 通过旋涂的方式涂胶，操作简单• 涂胶厚度：40nm @ 4000rpm• 电子束曝光后可溶于水，非常容易去除，且不损伤衬底材料 • 对紫外光、电子束不敏感，无需黄光室 5090.02，适于PMMA、CSAR 62、 HSQ等； 5091.02，适于酚醛树脂基电子束光刻胶，如AR-N 7520导电性：[注]导电胶电阻测量实验结果：胶层越薄，电阻越大，导电性降低。 应用实例：欢迎致电咨询（电话：010-82867920/21/22），更多光刻胶信息请查看官网：http://www.germantech.com.cn/new/cplook.asp?id=514
    供应商： 北京汇德信科技有限公司
    品牌： Allresist
    价格： 面议
  • Restek电子检漏仪22655
    Restek电子检漏仪不要让小泄露变成一个昂贵的修理—使用Restek检漏仪来保护您的分析柱吧。凭借着一年的保修, Restek 检漏仪在手持检漏仪中其性能和性价比是行业标准。描述 数量 货号 配备手提箱和万能充电器的检漏仪套装(美国，英国，欧洲，澳大利亚) 单件 22655检漏仪日常维护** 单件 22839-R软储存箱 单件 22657小探头适配器 单件 22658在气相色谱仪上避免使用液体检漏仪！液体会渗透到系统中。*警告: Restek的电子检漏仪是在不可燃环境下用来检测微量氢的. 在可燃环境中它不能用来检漏. 可燃气体检测器，应可以用于任何条件下的可燃气体泄露. 当用它来检测氢气，Restek的电子检漏仪可能只能用于微量的气相色谱环境。**日常维护包括检查探头简短，内部/外部管路，更换电池。
    供应商： 百道亨仪器设备（北京）有限公司
    品牌： 瑞思泰康
    价格： 面议
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