铝土矿分析

EDX8800M MAX能量色散荧光光谱仪-铝土矿分析专家作为一款高性能的立式高性能X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，EDX8800M MAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。ESI英飞思EDX8800M MAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。EDX8800M MAX专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析，广泛应用于：合金材料，贵金属，铁矿粉，有色金属及粉末，冶金，金属及非金属矿物矿产，耐火材料、耐火原料、钛白粉、石膏、催化剂、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行业、石英、长石、方解石、粘土、岩棉、土壤、固废、除尘灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、炉渣等生产原料及成品化学成分定性定量快速分析，快速准确无损高效环保，无需酸碱化学药剂。产品特点&bull 配备Peltier电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性。可同时选配氦气系统，实现液体和粉末样品的直接测试&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位&bull 可搭载样品自旋平台，增加样品检测面积，提高测试准确度和精密度。搭载自旋平台EDX8800 MAX结构图英飞思专用光谱仪成分分析软件英飞思软件内核-软件核心算法包括FP基本参数法，Sherman方程EC经验系数法，阿尔法α理论参数法。依托于英飞思强大而稳定的硬件系统，加载FP法核心后可以实现元素间增强吸收效应的校正。能够使用非类似标样标定测试；减少分析需要的标样数，可以用一个或几个标样来分析宽范围浓度变化的未知成分能量校准，波谱稳定，自动谱峰元素鉴别，死时间修正，和峰修正，逃逸峰修正，重叠修正，背景扣除可实时刷新测量结果光谱显示：谱峰重叠比较，可同时显示多个光谱图多种光谱强度计算方法，高斯拟合，纯元素拟合，FP拟合，净面积，全面积仪器参数仪器外观尺寸: 650mm*600mm*900mm仪器重量: 105Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：原装进口高分辨率电制冷FSDD硅漂移检测器高通量计数率线性动态范围：1000-1000000cps ，包括信号增强处理模块SNE多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器，峰飘小于0.5道（24小时）X光管：原装进口高功率铍窗光管（可选配高功率复合靶材光管）高压发生装置：电压最大输出100kV样品观察系统：1000万像素高清CCD摄像头，包括样品光斑图像定位功能数据处理系统MCA：控制响应时间小于100毫秒，可同时采集9路反馈信号，实时监测包括管压，管流，基线，死时间，温度，计数率，真空度，准直器，滤光片状态信号样品腔：空气，真空，充氦气（选配）。内置高功率真空泵 ，全自动软件控制调节真空系统，双真空抽速机构，标配真空度自动稳定系统电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C可增选配置：1样品自旋系统，最大可放入样品直径90mm。2可充氦气微型样品腔。仪器配置标准配置可选配置-样品前处理系统纯Ag初始化标样磨样机真空泵（内置）手动压片机：ESI30T粉末样品杯，液体样品杯自动压片机：ESI30SUSB数据线油品专用样品杯电源线烘干箱XRF测试薄膜（粉末，液体，油品）ESI-900型光谱分析专用全自动熔样机仪器出厂和标定报告电子秤保修卡标准样品高精度交流净化稳压电源150目筛子

能量色散X荧光光谱仪-矿石土壤分析仪EDX9000B PLUSSimply the Best 先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限可同时分析40种元素可分析固体，液体，粉末和泥浆原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000B plus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na2O、MgO、Al2O₃ 、SiO₂ 、P2O5、SO₃ 、K2O、CaO、TiO₂ 、Cr2O₃ 、MnO、Fe2O₃ 、ZnO和SrO等）都可达到最佳分析效果。EDX9000B plus卓越的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)铝土矿其它矿类产品特点1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析2.可同时分析40种元素3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作7.专利薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限矿产元素检测专家EDX9000B Plus仪器参数仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm超大样品腔：465mm*330mm*110mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm 仪器重量: 48Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器探测器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV处理器类型：全数字化DP-5分析器谱总通道数：4096道X光管：高功率50瓦光管（原装进口管芯），冷却方式：硅脂冷却光管窗口材料：铍窗准直器：多达8种选择，最小0.2mm滤光片：7种滤光片的自由选择和切换高压发生装置：原装美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA高压参数：最小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01%样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线ESI-900型XRF专用全自动熔样机电源线电子秤测试薄膜矿石标准物质仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子全新设计的XTEST分析软件软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即基体效应，增强和吸收的校正。*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品*提供多种数据访问接口，可兼容LIMS实验室管理系统铝土矿样品10次连续测试稳定性报告测量次数MgO Al2O3SiO2P2O5K2OCaOTiO2MnOFe2O3Pb铝土矿-10.105475.25539.96330.1890.17090.20833.55350.040110.3110.006铝土矿-20.104975.200110.06060.19270.16620.20353.56570.042110.32590.0058铝土矿-30.103175.212610.03010.1880.16170.20493.5360.040410.2570.0062铝土矿-40.099875.212310.04810.19370.16510.20713.55730.044410.33380.0061铝土矿-50.107575.265710.06290.19490.16540.21933.54810.041510.28850.0062铝土矿-60.105875.165710.06270.19880.17240.22063.55420.040410.3210.0062铝土矿-70.100775.196610.08110.19280.17250.21993.56940.043810.3340.0062铝土矿-80.100875.276910.01040.19470.16630.21853.52890.040610.29420.0059铝土矿-90.105775.252410.09680.19290.1610.2143.54830.041210.33950.006铝土矿-100.104975.234410.08280.19180.16350.22123.56480.042310.34110.0062平均值0.104 75.227 10.050 0.193 0.167 0.214 3.553 0.042 10.315 0.006 标准偏差0.0026 0.0355 0.0397 0.0030 0.0042 0.0071 0.0129 0.0015 0.0272 0.0001 相对标准偏差2.51%0.05%0.39%1.58%2.50%3.31%0.36%3.55%0.26%2.43%

‍ 手持式矿石分析仪是‍Bruker公司的手持式XRF矿石分析仪，对矿石中含有的元素及其含量分析的仪器。 手持式矿石分析仪无需真空盒氦气保护，快速分析矿石品位，进行矿石评定，品位控制，岩芯检测，矿脉分析，矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采、矿产贸易、环境监测的工具。 手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属 采矿和勘探 轻质化、易携带的设计，方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域，测量钻孔岩心，判定矿床的深度和分布情况 矿石分析： 一旦发现矿产地点，可快速分析矿床 矿石质量控制： 矿产定位且开始开采后，可对每辆货车内的矿石进行检测，提供矿石的详细品级信息，为即将流入加工厂的矿石进行筛选，提高原料矿石的质量 加工和浓度分析： 矿石加工过程中，可测定样品的浓度 复原和整治： 当采矿作业进入尾声，可用于末了分析，并协助完成土地复原 主要应用： 主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿； 还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。 领域： 勘查、岩心检测、开采过程控、品位控制、环境分析 地质化学痕量测定： 痕量元素、矿石探途元素土壤或沉积层中的污染物、修复检查、催化转化器 地质化学常量测定： 主要和微量元素、含金属矿石、工业矿物、精矿、铝土矿 测量范围(Mg-U)： Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Sc，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Te，Cs，Ba，Hf，Ta，W，Re，Pt，Au，Hg，Pb，Bi，Th，U等。