描成像分析

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描成像分析相关的厂商

  • 深圳市禾苗分析仪器有限公司是以市场为导向的专业研发、生产、销售科学分析仪器的高科技企业。公司以“安全、环保、诚信、尊重、协作”为核心理念,凝聚中国近几十年分析仪器先进技术,大胆改革创新,着力打造国内领先、国际一流的分析仪器企业。 公司拥有以美籍华人Frank Huang教授为核心的强大的技术研发团队,博士学位以上人员超过10%%,硕士研究生以上人员超过30%%。汇集了核物理学、分析化学、应用数学、软件开发、机械设计、光学、电子电路、自动化等学科的一流人才。公司正进一步加强研发队伍建设,不断引进仪器行业高科技人才,打造国际一流的研发团队,为公司的进一步发展提供坚实的技术基础。 公司目前产品主要有X射线荧光光谱仪、RoHS仪器、镀层测厚仪、合金分析仪、无卤检测仪、液相色谱仪和气相色谱仪。产品广泛应用于无机元素分析(Na-U)、环境分析(RoHS检测、玩具检测)、有机和生物化学、食品分析、医药卫生研究、法医学、工业分析和临床检验实验室等领域。 公司不但为客户提供一流的产品,更为客户提供一流的技术服务。禾苗公司技术服务体系完善,目前在华南、华东、华北、西南等地都设有技术服务中心,辐射全国各个省市地区,售后服务及时到位。公司可以根据客户需求量身定做各种检测方案,为客户解决分析问题的同时,最大限度地为客户节省成本、创造价值。 禾苗象征绿色,绿色寓意环保,环保孕育未来。禾苗公司正一步一步茁壮成长,走向丰收的季节!
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    深圳市禾苗分析仪器有限公司是以市场为导向的专业研发、生产、销售科学分析仪器的高科技企业。公司以“安全、环保、诚信、尊重、协作”为核心理念,凝聚中国近几十年分析仪器先进技术,大胆改革创新,着力打造国内领先、国际一流的分析仪器企业。 公司拥有以美籍华人Frank Huang教授为核心的强大的技术研发团队,公司研发人员超过30人,硕士研究生以上人员超过20人。汇集了核物理学、分析化学、应用数学、软件开发、机械设计、光学、电子电路、自动化等学科的一流人才。公司正进一步加强研发队伍建设,不断引进仪器行业高科技人才,打造国际一流的研发团队,为公司的进一步发展提供坚实的技术基础。 公司目前产品主要有X射线荧光光谱仪、液相色谱仪和气相色谱仪。产品广泛应用于无机元素分析、环境分析、有机和生物化学、食品分析、医药卫生研究、法医学、工业分析和临床检验实验室等领域。 公司不但为客户提供一流的产品,更为客户提供一流的技术服务。禾苗公司技术服务体系完善,目前在华南、华东、华北、西南等地都设有技术服务中心,辐射全国各个省市地区,售后服务及时到位。公司可以根据客户需求量身定做各种检测方案,为客户解决分析问题的同时,最大限度地为客户节省成本、创造价值。 禾苗象征绿色、绿色寓意环保,环保孕育未来。禾苗公司正一步一步茁壮成长,走向丰收的季节!
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  • 博卓生物 是一家经营生命科学仪器、实验室仪器、工业仪器及相关产品的专业性服务公司,是美国kubtec/韩国NAWOO公司正式授权的中国地区总代理商。 可为中国地区的客户提供完整的成像解决方案和专业售后服务;公司总部位于上海,公司下设销售部、技术部、售后服务部等多个服务部门,还在全国主要城市设立了办事处。 公司经营的主营产品:xcell系列生物辐照仪,xpert/parameter系列高分辨x光成像、电化学工作站,旋转圆盘圆环电极、DXA动物双能x射线骨密度及身体成分分析系统, 开放式荧光辅助诊疗系统FIAT-L、流式细胞成像系统agilent NOVOCyte、组织切片扫描成像及分析系统Tissuegnostic等。我们的客户 — 大专院校、科学院、企业、质检、医疗卫生机构。 我们的员工 — 专业的销售团队和资深的技术工程师。 我们的产品 — 性能卓越的国际知名品牌。 我们的服务 — 客户满意的贴心服务。
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描成像分析相关的仪器

  • 背景介绍—瞬态吸收光谱和瞬态吸收成像的应用基于泵浦探测(Pump-Probe)原理的瞬态吸收光谱,在频率维度和时间维度上提供了丰富的光谱和动力学信息,过去的几十年应用于物理、化学、材料、能源、生物等广泛领域。当今,许多领域科学研究的范式和需求都在不断更新。尤其是随着钙钛矿光伏、二维材料、量子器件、高温超导等前沿领域的发展,科学家迫亟需在空间维度上揭示载流子等微观离子的迁移和演化规律,研究微纳米材料的物理态在空间分布上的异质性。瞬态吸收成像,可在空间和时间维度上研究微观粒子和能量的运动和演化,是研究微观粒子和能量的时空演化、阐释微观机制的重要工具。瞬态吸收成像,一般有两种实现方式,点扫描成像和宽场成像。相对点扫描成像,宽场成像模式具有速度快、通量高,成像质量更加细腻的特点。Omni-TAM900为北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的一款宽场飞秒瞬态吸收成像系统。该系统集成像和动力学于一体,联合飞秒泵浦-探测技术和显微技术,通过自主知识产权的干涉放大技术增强图像信噪比,可获得高质量的成像效果并大幅度缩短测试时间。仪器基本功能和性能:仪器具有点泵浦-宽场探测,和宽场泵浦-宽场探测两种工作模式。分点泵浦模式可用于测量载流子迁移和热导率等;宽场泵浦模式可用于测量载流子分布和物理态的空间异质性等。仪器特点和创新高灵敏、高通量,可测量到单个纳米颗粒、单层石墨烯乃至单层分子晶体的瞬态吸收信号。仪器原理和实现方式Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统原理如下图所示,经过飞秒激光器和光学参量放大器(OPA)之后出来的飞秒激光,通过显微镜的光学系统进入,并作为泵浦光源激发样品,而另一束经过空间调制的探测光在一定的时间延迟之后也经过显微系统到达样品,样品在激发态对探测光产生的吸收情况会被显微镜上的sCMOS 相机记录下来。通过调节光学延迟线(Optical Delay Line),得到样品在不同延迟时间下的sCMOS图像。Omni-TAM900 可以有两种成像模式(如下图所示): 聚焦泵浦光模式(点泵浦,宽场探测)和宽场泵浦光模式(宽场泵浦、宽场探测),前者主要用于研究载流子的迁移,后者用于检测载流子的空间分布状况。软件软件可进行同步采集,自动控制和处理,载流子的寿命、载流子的迁移速率、载流子的分布、动力学等信息均可以通过软件得到。应用方向及实测数据 Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统是测量载流子时空演化的强大工具,可广泛应用于物理、材料及器件的前沿研究,比如:太阳能电池、低维材料、量子器件、超导材料、新型半导体、纳米催化、生物传感等,对纳米尺度和飞秒时空尺度中的超快的物理、化学及生物过程进行监测。 金属镀膜中的载流子迁移和热扩散10 nm厚金属薄膜上的超快热载流子和热扩散,采用仪器的点激发,宽场探测模式。半导体中的载流子迁移和热扩散同时监测Si基半导体中的载流子迁移和热扩散(可测量半导体材料的热导率),采用仪器的点激发,宽场探测模式。光伏材料中的载流子迁移和演化钙钛矿CsPbBr3载流子成像,迁移动力学及边缘态动力学研究。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式催化材料中的热载流子分布和“热点”局部热电子密度高、寿命长,可能具有更高的催化活性。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式。新型二维材料中的边缘物理态研究二维WS2中激子分布情况,激子寿命研究。可以看到,多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命技术参数 光源飞秒激光 +OPA,激光波长范围取决于应用场景检测器sCMOS成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs 激光脉冲条件下)时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜,上方为开放空间,后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景。测量模式点泵浦 + 宽场探测(载流子迁移)宽场泵浦 + 宽场探测(载流子分布)仪器工作模式反射 / 散射已发表文献:J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928专利:202110510123.X(以上展示的所有实测数据均为本型号仪器测得,并已公开发表,更多细节请查阅以上文献)。更多参考文献:(为了方便用户参考研究前沿,如下列出一些国际上利用瞬态吸收成像方法的研究案例。这些数据并非用该型号仪器获得,但是卓立Omni-TAM900仪器可实现这些应用场景中的绝大多数功能。如有特殊需求,欢迎与卓立汉光联系。)Science 2017, 356, 59 (钙钛矿超长热载流子)Nat. Mater. 2020, 19, 617 (转角二维量子异质结)Science 2021, 371, 371 (超导材料电荷密度波)Science 2022, 377, 437 (立方砷化硼超高载流子)Nat. Mater. 2020 , 9, 56 (材料中的携能载流子)
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  • 磁粒子成像(MPI)系统是面向临床前成像的崭新技术。作为适用于疾病研究、移植研究和药物研制的配套临床前成像技术,新增的磁粒子成像很有可能帮助研究人员从器官、细胞和分子层面,对病程产生新的深刻认识。 全新布鲁克临床前MPI扫描仪是与飞利浦电子公司合作开发的。合作中双方各展所长,布鲁克发挥了其在磁共振分析仪器和临床前磁共振成像(MRI)领域的领先优势,而飞利浦则充分运用了其在医疗成像领域的优势。磁粒子成像是一项由飞利浦公司科学家发明并发展的新型医疗成像技术,其可行性论证于2005年首次在《自然》杂志上发表。MPI断层扫描成像技术通过探测注入血液循环中的磁性氧化铁纳米颗粒,来生成三维图像。这项技术用于医疗和工业研究以及最终用于治疗患者的潜力,业已在若干研究中得到证明,譬如,MPI技术已经被用于生成实时图像,精确捕捉了小鼠心血管系统活动情况。事实上,这种在短短数毫秒之内采集高时间分辨率图像的能力,为旨在利用时间分辨率来解决令许多现有成像技术束手无策的问题的创新应用奠定了基础。
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  • PSC公司成立于2004年,2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世,并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖",RootViz FS刚一面世即获此大奖,足见其影响力之大。这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统)后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统,可以全方位分析植物根系所有部分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。根系X-光成像的特性* 高分辨率的X-光立体成像* 进行长期动态监测* 获得原位根系角度信息* 完全可控条件下的生理、病理实验* 大规模快速筛选根系突变株根系X-光扫描成像系统的主要技术参数* X-射线发生器: 25KeV@800uA* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS;GdOs Scintillator* 精确的三维调节工作台* 速度:平面图25株/h;立体图15株/h* 范围:最大根长0.6 m;最大高度2.1 m* 分辨率:2002× 2054像素
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描成像分析相关的资讯

  • 高速外延片PL谱扫描成像仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 高速外延片PL谱扫描成像仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 北京中拓机械集团有限责任公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 1.75em " 徐杰 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 1.75em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 1.75em " ct_kfjx@126.com /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □正在研发 √已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □技术转让& nbsp & nbsp □技术入股& nbsp & nbsp □合作开发& nbsp & nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 成果简介: /strong & nbsp & nbsp & nbsp /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/599fc25d-25b2-407e-9598-71f126d093d8.jpg" title=" 高速外延片PL谱扫描成像仪- 北京中拓.jpg" width=" 350" height=" 280" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 280px " / /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp 高速外延片PL谱扫描成像仪利用线激光器激发荧光光谱,利用光谱仪及面阵EMCCD对线荧光采集和光谱分析。这种荧光光谱采集方式较传统点扫描方式,采集速度快,可在短时间内获得高密度点的光谱信息,即1分钟内实现4万点的扫描采集,采集速度提高20倍,波长测量重复精度优于± 0.5nm,光强度稳定性优于± 0.75%。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该设备主要用于LED半导体晶片的荧光光谱检测及太阳能晶片的检测,其中LED半导体晶片荧光光谱检测的市场年需求量约50台,市场销售额约为4000万元人民币,针对太阳能晶片荧光光谱测量领域,目前己有设备只能测得荧光光谱强度,并不能获得荧光光谱谱线形状,及光谱波长等细信息,该设备可快速获得太阳能晶片的荧光光强及光谱信息,具有独特的技术优势,预计太阳能晶片的市场年需求量约在20台左右,市场销售额约为2000万元人民币。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 知识产权及项目获奖情况: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该产品获得3项发明专利:半导体晶片的高速荧光光谱检测装置、半导体晶片的托起装置、半导体晶片的检测装置。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该项目获得北京市科委“2014年首都科技条件平台科学仪器开发培育项目”的专项资金资助。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 科技前沿 | 高光谱扫描成像技术在水环境监测领域的创新实践
    高光谱遥感技术具有“图谱合一”的特点,在获取地物图像的同时可以得到地物的连续光谱信息,进而迅速锁定超标污染来源,全面掌握区域水污染的整体状态,帮助解决水污染防治和水质达标中遇到困难的问题诊断,提供依据。传统的水质参数测量,采用点采样分析的方法,只能了解监测点附近水质状况。而高光谱成像仪则可采集一片水域的反射率光谱信号,以及代表性的测点采样化验数据,通过水体光谱特征与水质参数浓度之间的关系,建立水质参数反演算法,实现水质参数的定量化空间表达,其具有高效、监测范围广和便于长期动态监测等优点。打破传统监测局限 创新水环境监测模式传统水质监测方案:一是采集水样,经过实验室分析,二是固定式监测站,只能了解监测点的水质状况,难以捕捉时空变化规律。基于成像高光谱技术的遥感监测水质弥补传统方式的监测局限,优势互补,相互联合,共同提供水质监测解决方案。反演水质参数达15种以上,包括化学需氧量、总氮、总磷、氨氮、叶绿素a。多种监测手段融合分析,提供监测水质参数空间分布、趋势分析诊断报告。应用领域高光谱扫描成像遥测技术可应用于河流、湖泊、水库、近岸海域等污染空间分布、现状评估、溯源分析场景。无人机式成像高光谱遥测通过无人机搭载成像高光谱设备,对目标区域进行遥感测量,得到目标区域的图像和光谱信息,再利用反演模型计算光谱,可反演15种以上水质参数(包括化学需氧量、氨氮、总磷、总氮、悬浮物、浑浊度、透明度、溶解氧、锌、铜、铅、叶绿素、蓝藻等),定制参数,还可反演植被覆盖、土壤类型等。对监测数据进行整理分析,通过对飞行区域的参数空间分布、演化趋势进行分析并输出报告,进而进行污染追溯分析,实现对水污染防治的精细化管理。塔式成像高光谱遥测塔式相对于无人机式成像高光谱仪,可以实现更长时间的运行,在白天时均可探测。同时塔式高光谱仪成像范围较大,适合在湖库出入水口、河道支流汇入口、入海口等重点水域处临水部署。扫描成像技术:岸边高位采用倾斜角度探测和扫描,具有大范围监测和空间成像能力。可根据现场需求灵活配置“点-线-面”工作模式,监测范围可覆盖数百平米至数万平米的水域范围,单台设备即可获取不同尺度范围内的水质空间分布情况。自动标定:具备在线定标功能,大幅提高原始数据的准确性和可靠性,为水质多参数反演和深度应用提供必要的前提保障。应用实例2020/11 河北某区域某新区该水域面积较为宽阔,高光谱水质反演出总磷和化学需氧量,发现总磷达到Ⅲ类水质标准,化学需氧量有超过所属流域该新区水质标准的风险。实现了区域性水质多参数信息的及时高效获取,为水环境综合监管提供了新的技术手段。
  • Sunny发布SUNNY CSIM 100共聚焦扫描成像模块(系统)新品
    SUNNY CSIM 100共聚焦扫描成像模块(系统)桑尼全新自主研发 CSIM 100共聚焦扫描成像模块(系统),为您提供高性价比荧光显微镜升级解决方案。一台简单的荧光显微镜,搭配 CSIM 100共聚焦扫描成像模块(系统),即可方便、快速地升级为激光扫描(单点)共聚焦成像系统,获取高分辨率图像。使用进口元件保障成像质量、提供全面的技术支持和售后服务。通用性好 适用各品牌显微镜使用标准C型接口,无需额外配件即可与显微镜连接,搭建激光扫描共聚焦成像系统,获取高品质图像。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器,通过外部调节激光器功率和开关,延长激光器使用寿命,有效降低售后成本。激光器稳定性好,8小时功率变化<2%。即开即用,操作方便,可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT,量子效率超过25%,相比国外前代共聚焦产品,灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓(GaAsP),进一步提高图像的信噪比: GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY高速扫描振镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜,扫描512*512成像速度可达4fps。 响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件:共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机,可自由选择共聚焦成像或相机成像。 电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能,实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级,加载DIC(微分干涉)模块。 软件功能全中文界面,简单易用全软件控制完成多维图像采集,实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加,添加标尺全软件控制数据记录,支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式 技术参数应用实例 创新点:采用标准C接口与显微镜连接,可与任意荧光显微镜对接,为宽场显微镜提供便捷的升级方案 通过调制的方式控制激光器的开关和功率,延长激光器寿命,降低仪器的售后成本 光路使用圆形针孔,避免多边形针孔对成像质量的不良影响 SUNNY CSIM 100共聚焦扫描成像模块(系统)

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  • 2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30原创:李响、杨文振、薜立强、冀石磊、郑文京 工程师,北京翠海佳诚磁电科技有限责任公司推荐:陆俊 工程师,中科院物理所磁学室2016年10月28日一句话推荐理由:国产半导体器件的骄傲之作应用在中强磁场测量上的好仪器。一、引言 磁场无形,但又无处不在,无时无刻不在直接或间接的影响着我们的生活,比如地磁、磁卡、电机、变压充电器、电磁炉、微波炉、手机、磁盘、钞票、耳麦、磁悬浮列车、核磁共振成像仪这些让我们每天都在和各种各样的磁场打交道,然而对于磁场如何衡量,如何产生如何测量恐怕较少有人去关注,简单概括几点:一是磁场的单位,常用的单位是奥斯特,国际单位安每米比较小(1 Oe ~ 79.6 A/m),注意严格来讲不要将单位表达成高斯或特斯拉这两个磁感应强度单位,因为磁场强度和磁感应强度概念上完全不同,尽管二者可根据(经常以空气或真空的)磁导率相互变换,即1奥斯特磁场在真空或空气中诱导的磁感应强度为1高斯或万分之一特斯拉。二是磁场的产生,首先地球是跟我们关系最密切的磁场源,地表磁场大约为0.5奥斯特,随纬度升高有缓慢增强趋势;其次是为了产生变化磁场,可以通过永磁体机械组装的方式,也可以使用线圈中通过电流的方式,根据线圈材料或结构的不同可以形成不同类型的通电线圈磁场源,比如超导线圈在不消耗能量情况下维持100kOe以上的磁场,高强度导电材料及结构制成的1MOe以上的脉冲强磁场;还有一种和磁场产生相反,要尽可能减少磁场,以防止地球磁场或其他干扰磁场对精密传感器造成不利影响,破坏极端条件探索、精密标定测量等任务,这时要用到消磁措施,可以使用主动电流对消与被动屏蔽两种方法,综合利用消磁技术,我们可以获得比地磁场弱10个数量级的洁净磁场环境。三是磁场的测量,相比产生技术方法,磁场测量要复杂得多,其类型有电磁感应、霍尔、磁阻、磁电、磁光、磁致伸缩、磁共振及非线性磁效应等基本原理,其中值得一提的几个包括最通用且测量范围最广的感应线圈磁探测器、前沿科学探索中常用的超导量子干涉仪(SQUID)、地磁或空间磁场探测中常用的磁通门或原子光泵磁力仪、智能手机里植入的各向异性磁阻AMR芯片、磁场计量常用的核磁共振磁力仪以及跟电磁相关的生产及科研任务中常见的中等强度磁场(地磁场上下四个数量级之间)测量上最常见最常用的霍尔磁场计。以上关于磁场的量级、产生与测量方法比较汇总于图1,在中等磁场强度测量应用最广泛的为霍尔传感器,虽然它没有核磁共振磁力仪ppm级的高精度,但它同时具备足够的精密度(通常约千分之一)、高空间分辨、高线性度、单一传感器宽测量范围、成本又相对较低等明显优势,因而市面上高斯计、特斯拉计等中等强度磁场测量仪绝大多数基于霍尔传感器,本文介绍的磁测量产品也基于霍尔磁场计,在前述磁相关的器件及应用产品的质量控制、监护与升级过程中扮演着不可缺少的角色。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616260_0_3.png图1 磁场的量级、不同产生与测量方法比较概览图二、背景中科院半导体所从20世纪80年代始研究高迁移率砷化镓(GaAs)霍尔器件,后来经过两代人的薪火传承克服半导体材料制备、内置温度补偿器件设计与测量数字化采样及软件优化上的技术难题逐渐发展成熟,最终落地北京翠海公司,形成CH-1800,CH3600等被用户认可的高斯计产品。近些年为了配合电磁制造业质量提升的业界需求,为电机磁体、核磁共振磁体空间均匀性、多级磁体分布提供系统的测量方案,翠海公司在高斯计的基础上增加无磁运动机构和软件集成,开发出F-30磁场测量扫描成像仪,照片如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616259_0_3.jpg图2 F-30 型磁场测量扫描成像设备照片三、简介F-30由上位机(装有控制软件)、高精度高斯计(一维或者三维)、与高斯计搭配的探头、多维电控位移台以及位移台的控制器组成,如图3所示。简单来说可以分为两个部分,一部分只是用来采集数据,另一部分只是位移,两个部分搭配起来就组成了这个位移采集系统。位移模块由多维电控位移台和位移台控制器组成,通过操作上位机软件给控制器下命令,控制器就根据命令带动电控位移台各个轴运动,这个电控位移台的参数(台面大小、运动轴长度、运动方式、多少维度)用户可定制,即实现在允许范围内的各个角度、各种形状的扫描。 数据采集模块由高精度高斯计和与高斯计配套的探头组成,电控位移台的轴上有固定的探头夹持位置,采集数据时将探头放在夹持位置上,探头测量的数据实时上传到高斯计上,而高斯计与上位机软件通信连接,上位机则根据需要选择是否记录当前位置的数据。通过上位机软件控制位移台控制器和高斯计,可以将位移台上某个位置与高斯计读到的数据值相关联,一维高斯计读到的就是运动到的点对应的某个方向的数据值,三维高斯计则是一个点上 X 方向的值、Y 方向的值、Z 方向的值、此点上的温度(根据需要探头和高斯计中可有温度补偿功能)及三轴中两两矢量和、总矢量和的数值大小和方向夹角,扫描的数据可以导出保存在 EXCEl 中,根据位置和数据值可由软件绘制出各种需要的示意图:二维标准图、二维颠倒图、二维雷达图、三维曲线图、三维网状图、三维立体图、矢量图、圆柱展开图及多条曲线或多个立体图放在同一张图中进行对照比较。软件中还对常见的几种形状(空间磁场分布、矩形图、磁环、同心圆等)的扫描进行了集成化,只需设置几个参数便可以自动进行扫描,自由度高,精准度高,无需看管。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616261_0_3.png图3 F-30型磁场测量扫描成像仪组成框图F-30根据不同的测量件需求可以定制,磁场测量部件的主要技术指标如表1,传感器照片如图4,其测量方向、维度以及尺寸都可以根据需要定制。 关于磁场扫描成像时间,(1)常规扫描:每点扫描时间可设置,一般为保证数据的稳定性,在每点的停留时间为1~2s,总时间由测试工件尺寸和扫描步长决定;(2)快速扫描模式:在位移台运动过程中不做停留,通过高速数据采集获得每点磁场值每点测量可小于0.1s。表1: F-30磁场测量部件主要指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616269_0_3.jpg运动部件有三个平移与两个旋转自由度,大致示意图如图5,典型测试场景及系统软件照片如图6所示,运动部件指标表2。表2 F-30运动学指标列表http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images

  • 有关扫描电镜的扫描成像问题

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描成像分析相关的耗材

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