反射式吸收仪

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反射式吸收仪相关的厂商

  • 400-860-5168转6028
    安徽吸收谱仪器设备有限公司是一家专注于X射线吸收/发射谱技术和光谱仪器开发,为科研人员提供专业的吸收/发射谱技术解决方案。公司由院士牵头,基于同步辐射背景的博士在吸收/发射谱领域10余年的技术研究积累,开发标准化的台式X-射线吸收/设备谱设备。公司秉承“让XAFS走进实验室”的技术追求,钻研吸收/发射谱技术,发扬工匠精神和现代科学创新精神,持之以恒推进X射线技术和仪器设备研发。
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  • 成像物镜:大相对孔径成像物镜、鱼眼镜头、广角镜头、周视环带镜头、折射和折反射长焦距镜头、双远心镜头、变焦距成像镜头非成像物镜:激光准直镜头,透射和反射式激光扩束镜头、变倍扩束镜头.其他镜头:fθ镜头、目镜、特种放大镜基于DSP和FPGA图像处理模块图像预处理模块,图像增强模块,视频目标检测模块、视频目标跟踪模块DSP系统开发(TMS320系列),FPGA系统开发、单片机系列开发、图像处理技术开发、视频图像预处理技术,视频目标检测技术,视频目标跟踪技术,视频目标识别技术。 光学设计、图像处理系统设计服务长春市三杰光电科技有限责任公司拥有国内的光学设计团队和图像处理设计团队,能够为广大客户提供光学系统设计和特种工业镜头定制的服务,全方位满足您的各种要求。公司拥有优秀的光、机、电设计团队和生产队伍。采用国内外光学冷加工设备、镀膜设备、机械加工设备、高精度检测设备为国内外客户加工生产各种光机电产品。
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  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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反射式吸收仪相关的仪器

  • 透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
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  • 反射式膜厚仪 400-860-5168转5895
    QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器,操作简单,极易上手,应用广泛,快速准确的提供各种薄膜厚度的测量,如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。产品特点 多参数测量可测量材料厚度、折射率(Refractive Index)、 消光系数(Extinction Coefficient)和反射率。 各种形状样品测量可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。 软件功能丰富友善的用户界面以及灵活丰富的软件功能,各种丰富的数据分析及查看功能。 简单、易用测量流程简单,用户极易上手建立测量程式。 产品参数 ★Si基底上对厚度约500nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差 定制功能可根据客户需求搭配自动运动平台可根据客户需求配置小光斑
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  • 反射式空间光调制器 400-860-5168转3512
    反射式空间光调制器产品介绍:反射式液晶光阀是LCD与CMOS集成电路有机结合的反射型新型显示技术,反射式液晶光阀作为新型SLM具有高对比度,高光效、高分辨率、省电等诸多优势。因为反射式液晶光阀技术借硅基CMOS集成电路技术,在单晶硅片上CMOS阵列取代a-SiTFT-LCD中玻璃基板上a-SiTFT阵列,而且可以周边驱动电路集成一体,甚至可以集成信息处理系统。反射式的空间光调制器不仅可以对振幅进行调制,而且可以实现纯相位调节。产品特点: 采用美国LCOS的液晶光阀具有优良的反射波前特性(每一片液晶光阀都通过干涉仪进行严格的检验)高光学效率(一般都能达到60%以上)开口率高(一般都能达到90%以上)高对比度(一般都能达到2000:1以上)高衍射效率灵活的系统配置安静、低振动操作 全固态器件结构即插即用简易安装安全的低电压操作有好的图形界面全用户编程 系统配置表: 根据客户需要选定适合的LCOS液晶光阀选择配套的驱动控制器高性能PBS(可选配件)连接组件:/1.5m串口电缆1.5m视频电缆基于Windows XP/Windows 2000系统下控制软件电源适配器:DC+4.5V~+5.5V/2A空间光调制器使用说明书,控制软件的数据光盘 型号参数一:型号RSLM-HD70-A/PRSLM-2K55-A/PRSLM-4K70-ARSLM-4K70-P调制类型振幅兼相位振幅兼相位振幅调制纯相位液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10804096×24004096×2400像元大小8.0μm6.4μm3.74μm3.74μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm12.29mm×6.91mm15.32mm×8.98mm15.32mm×8.98mm相位范围 2π 632mm 2π 632mm对比度>2000:1>1000:1>1000:1>1000:1填充因子>87%>93%>89%>89%帧频60Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz使用温度-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C衍射效率75% 550mm75% 550mm75% 550mm75% 550mm最大光强2w/cm22w/cm22w/cm22w/cm2光谱范围420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm数据接口DVIHDMIHDMIHDMI 型号参数二:型号RSLM-HD70-VISRSLM-HD70-NIRRSLM-HD70-NIR2RSLM-HD70-TELCO调制类型纯相位调制纯相位调制纯相位调制纯相位调制液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10801920×10801920×1080像元大小8.0μm8.0μm8.0μm8.0μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm相位范围2π2π405mm 7.7π2π543mm 4.9π633mm 3.7π850mm 2.7π1064mm 2π对比度 ≥2000:1填充因子>87%87%87%90%帧频60Hz60Hz60Hz60Hz响应时间25ms30ms30ms40ms衍射效率60%60%60%60%最大光强2W/cm22W/cm22W/cm22W/cm2光谱范围420nm-700nm1000nm-1064nm400nm-1100nm1550nm数据接口DVIDVIDVIDVI
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反射式吸收仪相关的资讯

  • 西安交大张留洋老师课题组《Laser & Photonics Reviews》:3D打印的反射式手性
    手性是一种有趣的几何概念,指物体不能通过平移、旋转和缩放等变换与其镜像重合的特性,其应用范围涉及光学、生物学、化学、医药和生命科学等领域。在光学领域,当手性介质被不同旋向的圆极化光激发时,表现出不同的手性光学效应:当左旋圆极化 (LCP) 光和右旋圆极化 (RCP) 光经过手性介质后的透射率或反射率不同,从而显示出圆二色性(Circular dichroism, CD);若这两种光在手性介质中的折射率不同,导致透射光相比于入射光的偏振面发生旋转,则显示出旋光性(Optical activity, OA)。尽管光学手性在自然界中无处不在,但天然材料中的手性响应极其微弱,且难以灵活控制,这严重阻碍了极化相关器件的微型化和集成化应用。由于具有比自然材料高几个数量级的手性光学响应,由人工设计的亚波长单元结构阵列构成的手性超材料/超表面为实现可控手性光学响应提供了一条途径。然而,尽管常见多层手性超表面具有很强的本征光学手性,但其设计过程相对复杂,且加工所需的多步光刻工艺存在技术要求和加工成本高的问题。近日,西安交通大学张留洋老师课题组提出了一种反射式手性超表面的简单、通用的设计方法及其低成本、无光刻的制备策略,该工作与深圳大学范殊婷老师课题组合作完成。通过结合新型微立体光刻技术实现了手性超表面的3D打印,实验测试结果验证了手性响应机理的准确性相关成果以“Chiral Metasurfaces with Maximum Circular Dichroism Enabled by Out-of-Plane Plasmonic System”为题发表于国际期刊Laser & Photonics Reviews上, 影响因子10.9。 图1. 反射式手性超表面通用设计流程示意图对于任意的谐振器,跟随提出的通用设计流程,仅需简单两步即可打破其n重旋转对称性(n 1)和镜像对称性,从而获得一个具有面外形态的反射式手性超表面。以工作于太赫兹频段的U型手性超表面为例,其圆极化反射谱和圆二色性谱如图2所示。不同的面外形态方向,可获得具有相反手性响应的对映体A和B。 图2. 基于U型共振器的太赫兹手性超表面及其手性响应通过调控超表面的偏置高度可实现对其损耗的调控,根据耦合模理论可知,当其辐射损耗等于耗散损耗时,此时一种圆极化波被近完美的选择性吸收,而另一种圆极化波被非共振地反射,从而可获得最强的圆二色性值(图3(d))。 图3. U型太赫兹手性超表面圆极化反射谱和圆二色性谱通过结合微尺度3D打印技术,提出的手性超表面可由简单的三步工艺制备得到。其中,周期性阵列的面外形态结构采用面投影微立体光刻3D打印技术(nanoArch S130,摩方精密)加工得到。实验结果表明:得益于高精度的微尺度3D打印技术,加工得到的手性超表面具有良好的表面质量和形状精度,测试所得的太赫兹反射谱与圆二色性谱与数值模拟结果较为吻合。 图4. 太赫兹手性超表面制造策略及表征结果 图5. 太赫兹手性超表面实验验证
  • 软X射线吸收谱在材料科学研究中的应用
    软 X 射线是波长介于 0.1nm 到 10nm 之间的 X 射线,由于在这个能量波段的光子能够特异性地激发元素周期表上大多数元素的原子共振能级,并发射出特征荧光或俄歇电子,因此,软 X 射线吸收谱能够适用的材料研究非常广泛。利用软 X 射线吸收谱进行材料结构及其变化过程研究的一个非常重要的因素就是它可以在不破坏研究材料结构的前提条件下同时获得材料近表面和亚表面的结构信息,另一方面,由于软 X 射线吸收谱对原子的轨道电子结构具有高度的敏感性,可以同时实现研究材料中元素价态、轨道电子自旋态以及轨道杂化等信息的探测。基于这些特点和优势,软 X 射线吸收谱在材料科学、生物科学、能源科学及环境科学等多学科及交叉学科领域复杂体系材料结构表征中发挥了非常重要的作用,为重大科学问题的研究提供了重要的实验数据支持。传统光谱表征技术(像 UV-Vsi、FT-IR 等)受激发波长的限制,其对材料结构的表征往往止步于分子层面。软 X 射线吸收谱能够以亚原子的分辨能力,通过选择性地激发原子芯能级轨道电子,实现对同一元素在不同环境条件下的键荷分析。这里以辐照前后的 PET 聚合物的结构表征为例,通过特征元素吸收边附近的能量激发,可以获得材料在二维图像上的元素分布信息和特征元素原子与周围原子的轨道杂化信息,继而解决了传统光谱表征技术对材料结构分析的局限。在能源催化领域,软 X 射线吸收谱能够定性和定量地解析催化剂材料中的活性官能团,为催化剂材料的构效关系建立提供必要的数据支撑。在这篇文章的工作中,伦敦大学 Parkin 教授的研究团队利用 SiO2 作为模板制备了氧官能团修饰的多孔碳催化剂,通过 C 和 O 的 K 边吸收谱,精确地揭示了催化剂材料中氧官能团的轨道电子结构在不同退火温度条件下的可控变化,并结合电化学分析,为醌基官能团在双电子氧还原制备 H2O2 中的优越性提供了重要的实验证据。在能源电池领域,软 X 射线吸收谱对解析正极材料中阴离子的电荷补偿行为同样表现出了独特的优势。传统的观点认为,锂电池材料中锂的脱嵌过程只涉及金属离子得失电子,因而金属离子中可转移的电子总数决定了正极材料的理论电容。但在这篇文章的工作中,东京大学 Mizokawa 教授小组通过 O 的 K 边和 Co 的 L 边吸收谱同时研究了 LixCoO2 正极材料在不同脱锂状态下的轨道电子结构变化。结果发现,不仅 Co 离子在这个过程中发生了氧化还原反应,O 阴离子同样也参与了这个反应过程。更有意思的是在 0° 和 60° 的不同入射角度条件下的 O 的 K 边吸收谱表征结果表明,材料在脱锂状态下的 Co-3d 和 O-2p 轨道杂化表现出明显的各向异性,从微观层面上揭示了 LixCoO2 正极材料在充放电过程中具有良好导电性的根本原因。在生物科学领域,利用软 X 射线吸收谱研究土壤和岩石矿物中金属和有机质的组成结构演化,有利于打破传统土壤腐殖质学对土壤有机质过程和功能认识的局限,让我们能够从生命活动的本质及其代谢产物与矿物的相互作用重新审视土壤和岩石矿物与生命耦合的协同关系。此外,基于水窗波段的软 X 射线对水分子的高透性,软 X 射线吸收谱能够实现生物膜上不同磷脂分子层的结构表征,对针对性地设计和研发生物体的靶向纳米药物具有重要的指导意义。在生命医疗领域,从亚细胞水平研究人体骨组织的结构和病理机制,有利于骨关节炎的前期诊断和治疗。在这篇文章的工作中,圣彼得堡国立大学的 Sakhonenkov 教授团队通过 Ca 的 L 边和 O 的 K 边吸收谱研究了正常骨组织与受损骨组织中羟基磷灰石的结构差异。发现骨质的硬化过程伴随着新的氧价态的生成和 Ca-O、磷酸键的增加,这不仅让我们对骨关节炎发生过程中骨组织的微观结构变化有了新的认识,同时也为骨关节炎的前期诊断和治疗提供了新的思路。总的来说,软 X 射线吸收谱在多学科领域复杂体系的材料结构表征中扮演了非常重要的角色,且随着 X 射线显微技术的发展,STXM-NEXAFS 技术联用为材料结构的多尺度高分辨表征提供了可能。但相比于硬 X 射线吸收谱而言,由于软 X 射线本身在材料中的强吸收效应,要在常规实验室条件下实现软 X 射线吸收谱表征,其难度非常之高。不仅要求高的真空操作环境,高亮的软 X 射线发射光源,同时要求各光学组件对射线的吸收也要小。因此,目前软 X 射线吸收谱表征主要还是依赖同步辐射光源。但矛盾的是,同步辐射光源的机时紧张,很难满足日益增长的科学研究需求。近年来,随着实验室 LPP、DPP 等软 X 射线光源及高精度光学组件(例如反射式波带片、平场光栅等)的开发,基于激光驱动等离子体光源的软 X 射线吸收谱仪系统也逐渐发展成熟,并成功应用到多学科领域的材料结构表征。其中,基于平场光栅几何的软 X 射线吸收谱仪系统以其紧凑的结构设计、宽的摄谱范围以及高的光谱分辨率脱颖而出,并成功实现了商业化应用,基本能够满足实验室软 X 射线吸收谱表征的需求。由德国 HP Spectroscopy 公司推出的实验室软 X 射线吸收谱,尤其适用于薄膜材料的结构表征。同时我们也可以提供针对 5-12 keV 能量波段的实验室硬 X 射线吸收谱,希望能够给相关老师和研究人员在科学研究中提供帮助。HP Spectroscopy德国 HP Spectroscopy 公司成立于 2012 年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳 X 射线解决方案,是全球领先的科研仪器供应商。现可提供 5-12keV 的非扫描式桌面 X 射线吸收精细结构谱仪 hiXAS,以及200-1200eV 的平场光栅软 X 射线吸收精细结构谱仪 proXAS,产品线还包括 XUV/VUV/X-ray 光谱仪,beamline 产品等。主要团队由 x 射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline 等领域的专家组成。长期与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。众星联恒作为 HP Spectroscopy 中国区 XAS 系统授权总代理商,为中国客户提供所有产品的售前咨询,销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的 EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题,欢迎联系我们进行交流和探讨。 相关阅读 小尺度,察纹理!实验室软X射线显微和吸收光谱探索微观结构的奥秘非扫描台式X射线吸收精细结构谱仪,加速非晶材料结构及其演化过程探索的步伐“足不出户,走进XAFS” proXAS高分辨实验室桌面NEXAFS谱仪助力材料化学结构表征分析太强了!看最新非扫描式桌面XAFS谱仪在催化领域出神入化的应用 参考文献 1. Prasad S., et al. Intl. J. Spectrosc. 7, 249 (2011)2. Wachulak P., et al. Spectrochim. Acta Part B At. Spectrosc. 145, 107 (2018)3. Liu L., et al. Angew. Chem. Int. Ed.20234. Mizokawa T., et al. Phys. Rev. Lett. 111, 056404 (2013)5. Holburg J. et al. Anal. Chem. 94, 3510 (2022)6. Novakova E., et al. Biointerphases, 3, FB44 (2008)7. Sakhonenkov S., et al. Nano. Ex. 2, 020009 (2021)8. Jonas A., et al. Opt. Express, 27, 36524 (2019) 9. Holburg J. et al. Anal. Chem. 94, 3510 (2022)
  • 反射高能电子衍射仪
    反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时 监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑 点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中 监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。   R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以 及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。 特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转 ◆带有安全闭锁装置 ◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩 ◆拥有高亮度衍射斑点 ◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率 ◆经久耐用,稳定可靠 ◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技 术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。 特长 ◆大幅度减少电子束对样品的损伤 (相当于普通RHEED的1/500-1/2800) ◆带有安全闭锁装置 ◆搭载高亮度微通道板荧光屏 ◆可搭载差动抽气系统 ◆kSA400 RHEED分析系统兼容 ◆符合欧盟RoHS指令

反射式吸收仪相关的方案

  • 偏振调制红外反射吸收光谱法(PM-IRRAS)测量薄膜
    本文介绍了偏振调制红外反射吸收光谱(PM-IRRAS)的概况、系统以及薄膜测量的样品数据。
  • 采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
    我们通过配有自动反射/透射分析仪附件的LAMBDA 950分光光度计评估了3M® 可见镜膜在新型曲面光伏模块领域的潜在应用。在应用过程中,3M® 薄膜必须将可见光反射至模块焦点(在焦点处,可见光将被吸收,如用于驱动加热电机的的热吸收器),并同时将近红外光传送至底层的硅太阳能电池(在硅太阳能电池内,红外光将被直接转化成电能)。通过自动反射/透射分析仪进行的角分辨反射和透射测量显示:当入射角小于等于50° 时,3M® 自支撑薄膜是s-偏振光和p-偏振光的有效光学薄膜。当薄膜与所述模块曲面玻璃胶合时,为了保持薄膜效能,应将薄膜紧密贴合于玻璃之上(不得起皱)。利用带探测器的狭窄光阑自动反射/透射分析仪进行的测量能够表明所评估的胶合程序在多大程度上能产生预期结果。我们目前正在利用自动反射/透射分析仪生产的光谱预估在焦点采用热接收器的曲面模块的发电站的年度发电量,评估过程考虑到了太阳日常运动和年度运动,以及模块上入射角的相关变化。我们也在寻求能够反射可见光和红外线的光学滤光器(同时还可以透射近红外线),并使用积分球和自动反射/透射分析仪研究光学滤光器的性能。
  • 模块化光谱仪反射应用解决方案
    模块化光谱仪为不同物质的测试提供简单、易操作、易更换的样品测试系统,可以帮助客户实现实验室、现场的一体化解决方案。 使用光谱仪进行反射测量,就类似于人眼对所看到的物体反映一样(红色还是绿色呢?),但是更具量化和客观性。通过反射光谱测量我们可以对两个颜色相近或者不同质地的物体进行对比分析。基于不能从样品表面反射的光是由于样品本身特定化学物质的吸收或者散射或透射引起,所以我们还能通过反射光谱信息获得样品的成分组成。

反射式吸收仪相关的资料

反射式吸收仪相关的试剂

反射式吸收仪相关的论坛

  • 【求助】反射式X射线管相关问题

    反射式X射线管(侧窗型)又采用正高压工作,也有采用负高压工作,这两种方式各有什么利弊?其阳极倾斜的角度好像有一个范围,是多少?为什么要限制在此范围内?

  • MITEQ反射式PIN二极管开关

    [font=Calibri]PIN[font=宋体]二极管开关是最常用的开关二极管,通常由三个引脚组成,其中两个引脚用于控制电流开关,另一个引脚用作电路的接地装置。[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关的优点在于其速度快、低阻抗、灵敏度高等优点,可以在高频下快速控制电路,从而使[/font][/font][font=宋体]电源[/font][font=Calibri][font=宋体]电路的响应速度更快。[/font][/font][font=Calibri][font=宋体]反射型[/font]PIN[font=宋体]二极管开关是指具有至少一个反射表面的[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关。光学设备中的[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5271.html]MITEQ[/url][font=Calibri][font=宋体]反射式[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关具有转向光路、缩减仪器体积、改变图像的正反关系等等。[/font][/font]

反射式吸收仪相关的耗材

  • 反射式光纤探针系统
    反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。
  • 透射反射式光纤探头
    透射反射式光纤探头产品简介:FlexiSpec® 产品线包括最新一代的单通道和双通道的光纤探针兼容所有光谱仪和光度仪。单通道和双通道的光纤探针兼容所有的可自动清洗的过程接口,可实时监控实验室,实验工厂和全自动的工艺控制。产品应用:实时反应监测 / 实验在线分析(PAT)/ 结晶过程的监测 / 特性分析 / 生物制药分析 / 生物燃料的开发与生产产品特点:* 在液体中长距离传输在线光谱;* 紫外、可见至中红外光谱透过率高;* 恶劣工业环境工作稳定;* 使用光谱仪/自动化控制接口兼容产品示意图:产品技术参数:UV-Vis石英红外 Vis-NIR硫系玻璃CIR间隙直径,mm2 5 10 20 2 5 10 2 5 10 2 5 10 0.05 – 2.0 温度范围≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 100°C最小弯曲半径120 mm 探头类型透射半透反射式光谱范围,μm0,2 – 1,3 0,4 – 2,2 0,2 -1,30,4 – 2,2 1,6 – 5,5 光纤类型石英紫外 UV-Vis石英红外 Vis-NIR石英紫外 130 mm总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *轴长230mm (其它选项: 50 – 500mm) *轴直径12mm轴材料SS, Hastelloy C22保护管材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA FC/PC ST兼容工艺接口Ceramat-FOS或SensoGate-FOS*直径可以根据客户要求定制
  • 气室透反射式光纤探头
    气室透反射式光纤探头产品简介:FlexiSpec® 系列包括可以用于任何光谱仪、光度计的新一代传输红外光纤探头。气体传输光纤探头的设计是基于一个分叉的光纤束。由于气体的准直光束设计,使得双通低的中红外衰减(或多通)气室需要增加光路长度10–40cm。本设计是由准直物镜和反射镜单元的平均来实现的。产品应用: 实时反应监测 / 特性分析 / 废气监测 / 溶剂蒸发监测 / 相关石油气监测产品特点:* 在液体中在线传输光谱;* 近红外/中红外光谱段透过率高;* 灵活稳定的工业应用;* 兼容各种光谱仪产品技术参数:探针类型双通道气相传输传输范围0,5 – 2,2μm1,6 – 5,5μm3 – 18μm光纤类型SiO2硫化物光纤CIR银化物光纤PIR温度范围-50°C +200°C-50°C +90°C-50°C +140°C灵敏度1ppm根据不同的光路,光谱仪性能,测试气体总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *传输长度100mm (其它选项: 5 – 200mm) *传输直径25mm轴材料不锈钢, Hastelloy C22保护套材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA **直径可以根据客户要求定制
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