薄板在线测厚仪

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薄板在线测厚仪相关的厂商

  • 专业生产理化无损检测设备(钢结构检测设备):硬度试验机系列(洛氏硬度计、布氏硬度计、维氏硬度计)、里氏硬度计、涂层法则厚仪、超声波(钢板钢管)测厚仪、表面粗糙度仪,超声波(金属)探伤仪,射线探伤仪,磁粉探伤仪,电火花检测仪,巴氏硬度计,韦氏硬度计,邵氏硬度计,钢丝绳探伤仪,代理荷兰轶诺硬度计,德国里斯特涂层测厚仪,日立涂层测厚仪、日立光谱仪,美国混凝土防水涂料测厚仪、水浸C扫检测系统、在线探伤等,及相关配件的销售。
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  • 400-860-5168转3801
    长沙在线仪器设备有限公司服务于高端实验室需求,公司内部分为三个事业部:实验室整体解决方案事业部;Cnonline产品事业部;仪器在线媒体事业部。实验室整体解决方案事业部通过O2O平台连接“www.0731lab.net”和“中国仪器在线联盟”,采用全新的商业模式高效互惠解决行业痛点,为实验室提供咨询、建设、搬迁、维修、培训、仪器采购、耗材供应等服务,打造“硒昂氖”优质实验室服务品牌。“Cnonline”产品事业部主要利用公司技术和资金优势生产和销售:实验室清洗平台、实验室废气净化装置、实验室废液废水处理装置、手套箱、中央纯水系统、洗瓶机等。仪器在线媒体事业部是湖南省移动互联网重点领域产业化项目成员单位,是实验室资讯和交易的平台,也是实验室从业人员线上、线下聚集和交流的平台。长沙在线仪器设备有限公司被评为长沙高新区“优秀瞪羚企业”,因业务迅速发展,诚邀有志之士加盟我们的事业,“因为专业,所以精彩”是支持我们前进的动力,“合作愉快,互利互惠”是我们诚挚的追求,现急需招募各省区域经理或省级总代理。 硒昂氖 | Cnonline | 中国仪器在线网 | 仪器社区实验室整体解决方案提供者(规划、建设、搬迁、运营、耗材、维修等)高端实验室管家(High level laboratory housekeeper)邮箱:cs0731lab@163.comTel: 0731-88842528 | Tel: 0731-88842508长沙市高新开发区麓谷科技金融大厦1201室 邮编:410200网址:www.0731lab.net
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  • 里博仪器产品涵盖包括表面粗糙度仪、数字式超声波探伤仪、里氏硬度计、超声波硬度计、数显内径测量仪、覆层测厚仪、超声波测厚仪、红外测温仪、电火花检测仪、数显(凸鼻子)洛氏硬度试验机、布氏硬度压痕测量系统、显微镜、在线式探伤系统等在内的十三大系列近百个品种,应用于研究所、高校、石油、化工、冶金、热处理、压力容器、机械制造、汽车制造等工业领域以及生物、半导体、医疗领域。产品技术先进、质量可靠,受到用户广泛认可和好评。
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薄板在线测厚仪相关的仪器

  • 万深CountS2型在线自动数板仪/薄板计数仪/钢板计数仪(On-line automatic sheets counter) 一、产品概述:万深CountS2型在线自动数板仪(薄板计数仪/钢板计数仪)选用带定位触发自动拍照计数的高分辨率相机成像,采用业界领先的图像分析技术,配以精准的智能识别算法,高效准确地自动计数各类薄板。该型号适合离地300~700mm高度输送机带上的板垛在线自动数板应用,显示单次计数结果和累加数。二、主要性能参数:1、在线全自动计数0.8mm~4.0mm厚度各类板材(钢板、铝板、铜板等金属板、塑料板、PCB线路板、硬纸板等);2、单次计数薄板总高度≤200mm(板厚2.5mm~8.0mm时的总计数高度可达400mm);3、全自动触发拍照+自动识别数板时间≤2.5秒/次节拍,自动显示板子张数和累计张数;4、全自动数板误差≤±0.3%(堆垛参差不整齐度≤2个板厚。连续测试4小时的平均数板精度不低于99.7%),浏览电脑核实可快速修正到100%数板正确;5、数板结果和标记图片自动保存;6、智能识别灵敏度等特性软件可选。三、供货清单:带触发自动控制拍照计数的2000万像素工业相机1台、25mm高分辨率专业镜头1个(可换视野大些的16mm镜头)、相机三角架1付、配套照明光源1套、光电触发器1付备注:本产品需使用电脑,推荐:品牌电脑(13代酷睿i5 CPU/16G内存/512GB硬盘/无线网卡,1个USB3.0口+2个USB2.0口,运行环境Windows 10或11完整专业版)
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  • 高精度薄膜测厚仪TY-CH50高精度纸张测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测试原理:测厚仪采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围:测厚仪适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um,广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。薄膜:用于薄膜、薄片、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。铝箔:对金属箔片、硬片等硬质材料厚度测量。纸张:用于各种纸张、纸板材料厚度测试。硅片:接触式测试原理有效的检测出硅片上每个点的厚度值。技术特征:●彩色大液晶显示测试结果,及每次测量值、统计值;●测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机,快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值;●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小;●测试软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户;●配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输;●系统程序具备ISP在线升级功能,可提供个性化服务。设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)测量精度±0.5um分辨率0.1um精度0.5级接触面积50mm2(薄膜),200mm2(纸张) 注:纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸450mm×340mm×390mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准:GB/T 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996(2007) 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定配置:标准配置:测厚仪主机、标准量块、微型打印机选用配置:测试软件、通信电缆、配重砝码、自动进样器
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  • 在线XRAY薄膜测厚仪 400-860-5168转2189
    在线XRAY薄膜测厚仪用途: 在线XRAY薄膜测厚仪主要应用于:CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC、EVA等膜材生产过程中,对产品厚度的实时监测。设备原理介绍:该设备通过X-RAY发生器发出X射线,投射到被测基材.一部分被基材吸收.一部分刺穿过被测基材后被探测器接收.系统分析射线的强度变化及被测基材的厚度相关特性,计算出被测基材的厚度。技术参数项目名称检测范围10-300μm重复测量精度0.1-0.15μm射线管电压0-10KV可调射线管电流0-1000μA可调射线光斑Φ10mm(可选φ5mm,φ8mm,φ10mm)探测距离≤16mm防辐射等级《GB 18871-2002》国家安全标准扫描速度0~200mm/s可调检测宽幅2.5-5.5M(定制)
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薄板在线测厚仪相关的资讯

  • 宝钢硅钢生产线在线测厚仪最终花落韵鼎
    宝钢硅钢生产线在线测厚仪最终花落韵鼎。经过近1年的实验,论证,最终韵鼎公司总代理的日本Kurabo公在线红外测厚仪赢得了客户的信任和认可。RX400对于硅钢膜厚的测定是革命性的新产品,解决了以前产品射线对健康的影响,解决了水分的影响,解决了基材元素对膜层重要元素含量的影响。。韵鼎公司研发及技术部门正在积极工作,应对即将到来的服务。这也是韵鼎公司的新起点,新开始,必将引领中国硅钢行业膜层厚度检测的技术突破和创新。韵鼎公司市场部2011-7-16
  • 我国牵头修订的ISO 7799《金属材料 薄板和薄带 反复弯曲试验方法》在ISO/TC164/SC2正式立项
    7月12日,由中国专家提出的ISO 7799《金属材料 薄板和薄带 反复弯曲试验方法》国际标准修订项目在ISO/TC164/SC2“金属力学试验/延性试验”分技术委员会正式立项。ISO 7799:1985《金属材料 薄板和薄带 反复弯曲试验方法》适用于厚度等于或小于3mm的金属薄板和薄带反复弯曲塑性性能的测定,运行至今已近40年,在电工钢行业、铝合金行业和包装用钢带行业被广泛采用。本次修订主要计划增加关于拨杆狭缝宽度的规定,更改关于试样宽度和长度的条款,同时基于操作便利性和塑性变形性能差异材料的不同断裂特征,对试验终止判据条款进行细化。该国际标准由武汉钢铁有限公司和深圳信测标准技术服务股份有限公司提出修订,是继我国牵头修订ISO 7801《金属材料 线材 反复弯曲试验方法》后,继续牵头修订的金属材料薄板和薄带反复弯曲试验方法标准,该标准的成功立项也进一步提升了我国在金属材料力学试验领域标准化工作的国际影响力。
  • 机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试
    在塑料薄膜的生产与质量控制中,准确测量薄膜的厚度是至关重要的环节。机械接触式塑料薄膜测厚仪以其高精度、高可靠性和自动化程度,成为了行业内的首选工具。本文将深入探讨机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试,从原理、操作到应用进行全面解析。一、机械接触式测厚仪的基本原理机械接触式塑料薄膜测厚仪主要由测量传感器和测量电路组成,其工作原理基于机械接触式测量技术。测量过程中,传感器与薄膜表面直接接触,通过感受薄膜厚度的变化并转化为电信号输出,再由测量电路进行处理和分析,最终得出精确的薄膜厚度值。这种测量方式具有高精度和稳定性,能够有效避免因非接触式测量可能带来的误差。二、多点测试的必要性在塑料薄膜的生产过程中,由于原料、工艺、环境等多种因素的影响,薄膜的厚度可能会存在不均匀性。为了确保薄膜的质量,需要对不同位置进行多点测试,以获取全面的厚度数据。多点测试不仅有助于提高测量的准确性,还能及时发现生产过程中的问题,为工艺调整提供数据支持。三、实现多点测试的具体步骤1. 设备准备与检查首先,确保机械接触式塑料薄膜测厚仪电量充足或已正确连接电源,检查外观是否完好,显示屏是否清晰可见。同时,根据被测材料的类型和特性,选择合适的测量探头。对于塑料薄膜,通常选用接触面积为50mm² 的探头,以确保测量的准确性。2. 样品准备与摆放被测样品表面应平整、无污垢、油脂、氧化层或其他可能影响测量精度的杂质,确保表面干燥且无残留物。将截取好的薄膜样品平整地铺放在测量台面上,保持试样整洁、干净、平整无褶皱。为了进行多点测试,可以通过人为挪动试样,选择不同位置进行测试。3. 设定测试参数机械接触式塑料薄膜测厚仪通常具有自动化程度高的特点,用户可以根据需要设定进样步距、测量点数和进样速度等参数。在多点测试中,可以根据样品的尺寸和测试要求,合理设定这些参数,以确保测试的全面性和准确性。4. 进行多点测试启动测厚仪后,测量头会在机械装置的驱动下,按照预设的进样步距和速度,自动或手动地移动到薄膜样品的不同位置进行测试。每次测量时,传感器都会与薄膜表面紧密接触,瞬间捕捉并记录下该点的厚度数据。同时,测厚仪内部的测量电路会实时处理这些电信号,转换成直观的厚度值显示在屏幕上。5. 数据记录与分析完成多点测试后,测厚仪通常会提供数据记录功能,用户可以将所有测试点的厚度数据保存下来,以便后续的数据分析。通过对比不同位置的厚度值,可以评估薄膜的均匀性,并识别出潜在的厚度偏差区域。此外,一些高级测厚仪还具备数据分析软件,能够自动生成厚度分布图、统计报告等,帮助用户更直观地了解薄膜的质量状况。6. 结果反馈与工艺调整基于多点测试的结果,生产人员可以及时发现薄膜生产过程中的问题,如原料配比不当、挤出机温度控制不准确等。针对这些问题,可以迅速调整生产工艺参数,如改变挤出速度、调整模具间隙等,以改善薄膜的厚度均匀性。同时,这些测试数据也为后续的产品质量控制和工艺优化提供了宝贵的参考依据。综上所述,机械接触式塑料薄膜测厚仪通过其高精度、高可靠性和自动化程度,实现了对塑料薄膜的多点测试。这一技术的应用,不仅提高了薄膜厚度测量的准确性和效率,还促进了生产工艺的改进和产品质量的提升。在未来的发展中,随着技术的不断进步和创新,机械接触式塑料薄膜测厚仪将在更多领域发挥重要作用,为塑料薄膜行业的发展贡献更多力量。

薄板在线测厚仪相关的方案

薄板在线测厚仪相关的资料

薄板在线测厚仪相关的论坛

  • 与众不同的非接触激光在线测厚仪

    随着技术的进步,现在各行各业对产品的质量和精度的要求也提高了不少,因此,对设备的要求也是有所提高的,很多厂家在购买激光在线测厚仪的时候都会担心是否防辐射,对产品会不会造成损坏。大成精密通过与科研院所及高等院校的技术合作研发出了一款非接触激光在线测厚仪,因其实非接触式的,所以能确保不会对产品造成损坏,同时具有防辐射等功能,可以说是现在生产厂家测量精度的福音。  非接触激光在线式薄板厚度测量控制仪经过在多家电池极板、涂布机上的应用结果表明,测厚仪使用极其方便,运行稳定、可靠,测量数据稳定、测量精度可达到±1μm。应用该产品的企业一方面可通过提高产品质量档次获得直接的经济效益,另一方面还可通过减小原材料消耗,大幅降低废品率而为企业带来可观的间接经济效益。 http://photo26.hexun.com/p/2016/0411/573411/b_B1BC34AD253A89A6320ED1AC9D9CC493.jpg  非接触激光在线式厚度测量控制仪通过软件对测量数据进行处理和误差补偿,从而能够消除电路和传感器的长期漂移对测量精度的影响,测量数据长期稳定。  由于薄板厚度的变化可以看成是薄板的位移变化,所以利用激光传感器测量位移的原理对薄板厚度的变化进行测量是一种较为理想的非接触测量方法。与现有的射线测量方法相比,该方法环保、无射线辐射污染。

  • 在线薄膜测厚仪,求购

    求购在线薄膜测厚仪,做压敏胶带用。现在有八条线,薄膜厚度25u,涂层厚度25u。大家有没有推荐的。

  • 在线测厚仪的优势表现在哪些方面呢?

    使用过在线测厚仪的都知道,一般的在线测厚仪检测系统都是具有支持数据实时显示,自动统计,打印这多种功能,让顾客更加方便快捷的获得检测结果,从而有效的提高检测的效率。在线测厚仪的系统通常是微电脑进行控制的,而且显示器都是搭配了液晶的,还为大家提供了很多人性化的操作界面。http://photo26.hexun.com/p/2016/0411/573411/b_B1BC34AD253A89A6320ED1AC9D9CC493.jpg   大成精密在线测厚仪的优势主要表现在以下几点:  1、在线测厚仪采用的是在线实时测量监控、数字显示、自动报警以及生产过程控制调节。减少生产停机时间,提高生产效率。2、在线测厚仪采用的是,RS-CMOS传感器。实现超高速、高重复精度的测量。  3、在线测厚仪其精度非常的高,具有十分稳定的性能,施工非常的简单。  4、在线测厚仪使用的是非接触式测量方法,把激光束当成是测量的时候的机械探针,对产品无损害无污染。  5、在线测厚仪运用计算机以太网进行数据的通讯,通讯速度快、抗干扰性强。  在线测厚仪检测出来的数据会经过串口传输到计算机里面,然后通过里里面的测厚软件进行数据处理,从而能更精准的得到检测产品的厚度,这也是为什么它会这么收到各大厂家的欢迎的原因。

薄板在线测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
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