电子探针能谱分析

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电子探针能谱分析相关的厂商

  • 企业简介武汉上谱分析成立于2013年1月,拥有CMA资质认证,GeoPT、G-Probe国际盲样分析检验水平全球领先,是专业的地球化学分析综合测试平台,提供微区原位分析(U-Pb同位素定年、原位Rb-Sr等时线定年、主微量元素分析、S-Sr-Nd-Pb-Hf-B同位素分析)、全岩主微量元素分析、Sr-Nd-Pb-Hf-Ca-Fe-Cu-Zn-Li-Mg同位素分析、电子探针分析、样品前处理等测试服务。累计服务国际SCl论文超2800篇,包括NC、PNAS、EPSL、GCA等。发展历程2013年,上谱成立,初建50平米千级超净实验室,引进第一套质谱分析设备,可完成锆石制靶、微量元素检测,初步形成地化分析能力。2014年,取得CMA认证,参加GeoPT国际盲样比拼,测试结果处于国际一流水平。2015年,引进第一台激光分析设备,可提供U-Pb同位素定年和微区主微量元素分析。2016年,建成形貌分析实验室,引进IT100扫描电镜和第二套质谱,检测效率进一步提升。2017年,主量实验室成立,引进X荧光光谱仪和第二套激光、第三套质谱,正式开展全岩Sr、Nd、Pb、Hf同位素前处理,形成微区原位、全岩主微量两大分析板块。2018年,乔迁2000平实验楼,建成220平米千级超净实验室,引入第一套MC(NeptunePlus)和第三套激光,开启同位素分析时代,开展微区Sr、Nd、Pb、Hf、S同位素分析。2019年,建成电子探针实验室,引进JAX-8230探针和IT300电镜,丰富地学测试项目。2020年,建立前沿同位素方法,第二套MC(NeptuneXT),建立Ca、Fe、Cu、Zn等前沿方法。2021年,成立上谱地质开展制片、岩矿鉴定、矿物分选、无污染碎样等,引进第四套激光和质谱,打造一站式地学综合分析平台。2022年,地学分析综合测试平台,新建200平超净仪器房,300平实验室,进一步提升测试能力,健全地学分析项目服务国际SCI文章超过1500篇。2023年 走向世界 服务全球测试项目上谱分析测试项目包括激光微区原位分析、电子探针分析、全岩主微量元素分析、同位素分析以及地质样品前处理等,样品类型涵盖岩石、矿物、土壤、水、珠宝、材料、生物样品以及高纯物质等。全心服务上谱分析始终坚持“专业、快速、贴心”的服务理念,依托标准化的实验硬件设施、规范化的样品管理制度、精细化的优质服务体系,为广大科研工作者提供地学样品一站式服务,实现“上门取样→样品前处理→分析测试→数据处理”全流程一站解决!
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  • 400-860-5877
    日本电子株式会社(JEOL)是世界顶级科学仪器制造商.50年来坚持为科学探索和技术进步提供最佳设备和解决方案.其产品广泛用于医学、生物、生化、农业、材料科学、冶金、化学、石油、制药、半导体和电子器件等领域的研究中。对这些学科的发展做出了卓越贡献。主要产品有透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描探针显微镜、电子探针、核磁共振谱仪、质谱、电子自旋共振谱仪、能谱、X荧光光谱仪等大型尖端设备。 日本电子株式会社在中国的第一个电镜用户时中科院武汉病毒所,该单位于1956年购买了我公司的透射电镜,到现在为止,日本电子株式会社在中国已经有超过2000个用户。 2010年,日本电子株式会社在中国成立了独立法人的全资子公司--捷欧路(北京)科贸有限公司,将销售和售后进一步规整统一,实现了产供销服一体化。
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  • CAMECA SAS 铜牌12年
    400-860-5168转2751
    自1929年成立以来,CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器,并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取,精益求精,所提供的设备包括: 二次离子质谱仪(SIMS) ,三维原子探针断层分析术(APT) ,电子探针微量分析 (EPMA) ,低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES) CAMECA的总部邻近法国巴黎,分支机构遍及美国,德国,日本,韩国,中国,中国台湾,以及一个全球代理商网络,充分保证我们的支持服务惠及所有用户。 2007年,CAMECA加入AMETEK Inc.,成为这家全球电子和机电产品领先供应商的一部,隶属 AMETEK 材料分析部。
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电子探针能谱分析相关的仪器

  • 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ,最高水准的EPMA诞生! [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV),分析条件下No.1的二次电子分辨率。(加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA(加速电压30kV)的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式,自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1 高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度,还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2  EPMA专用电子光学系统电子光学系统,聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧,交叉点不是靠聚光透镜形成,而是由安装在与物镜光阑相同位置上,具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定最合适的打开角度,将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3 超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔(orifice)间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小,以控制流入中间室的气体,使电子枪室始终保持着超高真空,确保发射体稳定工作。4 高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。(加速电压:10kV;照射电流:20nA)Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像(COMPO)的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨(红色虚线圈出)。同时可确认Cu颗粒的存在(黄色虚线圈出)。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂(Pt)元素图像,通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂(铂络合物)导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合,阻碍DNA的分裂(复制)以杀灭癌细胞,我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据
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  • 电子探针简介:电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线,对特征性X射线进行分光和强度测定,得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器(WDS),与能量色散型X 射线分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特点。因此,EPMA与扫描型电子显微镜(SEM)配置EDS 检测器比较,可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。 技术特点:岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术,可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台,可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能,电子束的设定简单易行。集多年分析经验于一体的控制?分析软件,实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。对于初学者,装备了从SEM 观察到定性分析?成图分析的简易可行的简单模式。数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。
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  • 电子探针是电子光学产品中唯一进行准确定量分析的仪器,利用波谱的高分辨率和能谱的高速度,可以很快将材料中的成份进行精准分析。 详情请咨询捷欧路(北京)科贸有限公司各分公司。
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电子探针能谱分析相关的资讯

  • JEOL正式发布扫描电镜、电子探针用软X射线分析谱仪
    日本电子株式会社(JEOL)近期发布了扫描电镜和电子探针用软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer),将扫描电镜和电子探针对材料分析水平、能力和精度大大扩宽。 电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用,产生各种信号,收集不同信号进行分析,可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV,远高于能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)的分辨率;对轻元素的定量分析非常准确,比如B元素的检出极限可达20ppm;还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路(北京)科贸有限公司及其各分支机构。上图:EDS-WDS-SXES谱峰分辨率比较上图:各种氮化物的谱图检测分析上图:各种碳化物的谱图分析上图:锂电池充电过程观察
  • 550万!中南大学冶金与环境学院电子探针显微分析仪采购项目
    项目编号:HZ20220201-0143项目名称:中南大学冶金与环境学院电子探针显微分析仪采购项目预算金额:550.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称分项项目名称(标的名称)是否核心产品是否接受进口数量(台套)采购项目预算(人民币)交货要求代理服务收费标准交货时间交货地点1中南大学冶金与环境学院电子探针显微分析仪电子探针显微分析仪电子探针显微分析仪主机(5通道10块晶体)是是1台550万元免税手续办理完成后45个工作日内湖南省长沙市中南大学新校区金贵楼具体收费标准详见本项目“投标须知前附表2配套电子探针能谱仪否是1台3配套电子探针高真空喷碳仪否是1台4配套电子探针循环水冷机否否1台5配套电子探针外置整机不间断电源否否1套6配套电子探针除湿机否否1台7配套电子探针电子防潮柜否否1台8配套电子探针激光打印机否否1台9配套电子探针用标准参考物质否否1套 注:具体详见本项目招标文件第五章采购需求。合同履行期限:具体内容详见招标文件第五章的“采购需求”。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 电子探针分析稀土矿物的难点与重点
    矿产资源是自然资源的重要组成部分,是经济发展和科技进步的重要物质基础。运用现代分析测试技术能够获取详实准确的矿石和矿物数据信息,掌握区域内矿石和矿物的分布情况,阐明岩石矿物的经济价值和应用价值,进而为矿产资源的开发和利用提供科学决策,为保障国家能源安全和实施新一轮找矿突破战略行动提供技术支撑。 为促进学术交流和思想碰撞,国家地质实验测试中心主办期刊《岩矿测试》携手仪器信息网于2023年8月24日组织召开新一期“现代地质及矿物分析测试技术与应用”网络研讨会。期间,中国地质科学院矿产资源研究所研究员陈振宇将分享报告,介绍电子探针分析稀土矿物的难点与重点。电子探针分析稀土矿物的难点包括:单个稀土元素被激发出来的特征X射线线系繁多(包括L线系和M线系,每种线系中还有α线系、β线系等,以及它们不同等级的线系),而且线系之间分布密集;稀土元素由于其原子结构和晶体化学性质相近而经常共生在同一个矿物中;多个稀土元素的线系之间相互重叠的现象极为严重……。电子探针分析稀土矿物的重点包括:详细的定性分析,以确定矿物中所含元素、确定元素分析适合的谱线、确定分析谱线的背景位置、选择合适的分光晶体等,选择合适的标样也非常重要,另外还要注意有些标样和样品在电子束轰击下容易受损、有TDI效应等问题。欢迎大家报名参会,在线交流。附:“现代地质及矿物分析测试技术与应用”网络研讨会 参会指南1、进入会议官网(https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/geoanalysis230824/)进行报名。扫描下方二维码,进入会议官网报名2、报名开放时间为即日起至2023年8月23日。3、报名并审核通过后,将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。4、本次会议不收取任何注册或报名费用。5、会议联系人:高老师(电话:010-51654077-8285 邮箱:gaolj@instrument.com.cn)6、赞助联系人:张老师(电话:010-51654077-8309 邮箱:zhangjy@instrument.com.cn)

电子探针能谱分析相关的方案

电子探针能谱分析相关的资料

电子探针能谱分析相关的论坛

  • 电子探针与能谱和波谱的区别

    我是新手,做过钨灯丝shu-150,jsm6700,但是一直不知道能谱的点扫是不是就是电子探针?问了很多做sem-eds的老师,他们也说不清楚什么是电子探针?电子探针就是能谱的点扫?还是电子探针是波谱的点分析(做标样的精确点分析)?还是都不是?求助大神解释。谢谢

  • 【求助】求电子探针定量分析的一些标准!!

    1、标准编号:GB/T 15074-2008 标准名称:电子探针定量分析方法通则简介: 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号:GB/T 15244-2002 标准名称:玻璃的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样(包括含碱金属玻璃)的定量分析。3、标准编号:GB/T 15245-2002标准名称:稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号:GB/T 15246-2002标准名称:硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析;其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号:GB/T 15616-2008标准名称:金属及合金的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析,分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号:GB/T 15617-2002 标准名称:硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号:GB/T 17360-2008 标准名称:钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法,即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号:GB/T 17362-2008标准名称:黄金制品的电子探针定量测定方法简介: 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种K金制品含金量的测定,也适用于表面含金层厚度大于3μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号:GB/T 17365-1998标准名称:金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号:JJF 1029-1991标准名称:电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号:SY/T 6027-1994 标准名称:含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号:GB/T 16594-2008标准名称:微米级长度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法,适用于测量0.5~10μm的长度,也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号:GB/T 17359-1998标准名称:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介: 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的X射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜X射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号:GB/T 17722-1999标准名称:金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号:JB/T 7503-1994标准名称:金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介: 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

  • 电子探针分析仪

    本公司需做黄金检测的无损检测 需要 电子探针分析仪 请问那个牌子的比较好 ?? 大概是什么价位??

电子探针能谱分析相关的耗材

  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力探针高分辨/智能成像探针/ SCANASYST-FLUID+/液下环境
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