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为什么要检测半导体材料呢?因为在大部分电器的电路板上都存在半导体材料,他们在使用过程中都会发生老化,为了解其使用周期,厂家会使用[url=http://www.linpin.com/][b]老化试验箱[/b][/url]进行检测,以延缓老化的周期。 首先,我们要明确测试半导体材料的真正含义:在一般情况下,半导体电导率随温度的提升而提升,恰好与金属导体相反。通常测试半导体材料时,需要使用到昂贵的高速自动设备,然后使其在电性能条件下可调的测试台上进行测试。若是大于标称性能范围,可以进行功能(逻辑)和参数(速度)测试,此时,信号升降、时间等参数能够达到皮秒级。当可控测试环境中只有一个设备作为电负载时,信号转换很快,能够测量到设备的真实参数。[align=center][img=,348,348]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206091615019967_7392_1037_3.jpg!w348x348.jpg[/img][/align] 但在进行老化测试时,需要考虑到产品的产量和同时测试多个设备。我们可以在大型印刷电路板上安装多个设备,这种大型印刷电路板称为老化板,这些设备在老化板上并联在一起。由于老化板上安装的设备较多,进行老化测试时,容性和感性负载会给速度测试带来阻碍。所以我们通常不能用老化来测试所有的功能。只能在某些情况下,使用老化试验箱特殊的系统设计技术来测试老化环境下的速度性能。 老化试验箱进行的老化试验可以指的任意一方面,无论是每一件器件还是所有的器件都可以进行,但使用这一方法需要减少老化板的密度,当密度降低就会减少产量。 对于使用老化试验箱对半导体进行测试是必不可少的,因为他不仅能测试其性能参数,更重要的是它能检验其产品质量,保障设备质量,为设备的出厂报价护航。
[b][url=http://www.linpin.com/]换气老化试验箱[/url][/b]又称空气热老化试验箱,它可以测试其材料的老化、延伸率和抗张力,比较试片老化前后的抗拉强度和伸长率。适用于测试样品在高温和大气压力下的空气老化,并与未老化样品的性能进行比较。P.I.D自动计算功能可以减少人为设置带来的不便;在操作或设置中,如果出现错误,将提供警告信号,以确定产品或部件的耐高温老化性能。 针对于如何计算换气老化试验箱的温度结果?以下做出简要说明,供您参考,希望能对您有所帮助![align=center][img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/04/202204271636520259_343_1037_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/align] 1.用30分钟内测16次试验数据,求出其均匀度,并作为基准温度。又以24小时为单位测量的六个温度值,再计算出每小时六个温度的算术均匀值,并作为标称温度。然后,计算出基准温度与24个标称温度的差异,其中较大的差异是通风老化试验箱在24小时内的温度不混乱。 2.以20分钟各测试点的五次测试数据为依据,求其算术均匀值,再从所有测试数据中选取两个或两个较小值,并以两个较大值减去算术均匀值,以两个较小值减去算术均匀值,再选取两个较大差值,求其算术均匀值,也就是换气老化试验箱内温度的平均值。 3.通过对每一项试验20分钟内的五次试验数据,找出五项试验中每一项试验的最大值和最小值之差,从所有试验中选出两个较大差,并求出其算术均匀值,即换气老化试验箱标温度波动。 4、根据测试的修正值修正换气老化试验箱测得的温度值。
uv老化测试箱模拟户外湿热自然大气中主要因素的人工气候加速试验方法。荧光紫外线/冷凝试验方法(以下简称荧光紫外线方法) uv老化测试箱适用于机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料不同种类材料或同种类不同配方材料的耐湿热户外气候性能(以下简称耐候性)比较;也可用于已知耐候性材料进行质量等级评定试验。 一般试验可采用荧光紫外线/冷凝试验方法;试验结果能简单直接地推断材料的使用寿命。只需要几天或几周的时间,设备可以再现户外需要数月或数年所产生的破坏。这样可以节省不少的人力以及物力。 紫外线-冷凝试验 uv老化测试箱采用荧光紫外灯为光源,模拟并强化对高分子材料劣化影响最显著的紫外光谱,并适当控制温度、湿度使在样品上周期性的产生凝露的试验。