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带有EH2000加热夹具的Microtest 2000EW品牌： Deben 名称型号： MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台制造商： Deben公司 经销商：欧波同有限公司产品综合介绍：产品功能介绍扫描电镜中的材料允许我们在微结构层级进行动态的机械特性研究。当同时装备EBSD设备，可以通过对晶体的结构的分析，，实时研究材料的织构等随拉伸载荷和/或温度的变化而发生的变化。MICROTEST 2000E系列拉伸台设计可以对金属样品施加高达2000N的拉力，用户EBSD分析，或者对一些其他材料进行常规的应力-应变分析和SEM成像。试样夹具70度角度倾斜，为EBSD分析提供了最佳的设置。MICROTEST 2000E系列拉伸台可直接安装在一些SEM的标准样品台上，或者在某些情况下可能需要C1000XYX替换样品台。该样品台页可以在电子显微镜之外使用。 MICROTEST 2000E可以在拉伸或者压缩模式下工作。配备的功能丰富的软件能够进行恒速、恒载荷或低频循环操作，以其他功能，例如按斜坡达到预设载荷。应力应变曲线可以在显示器上实时图形绘制，图形显示带有特性游标，可选多量程和缩放功能。MTVideo选项同步视频和数据采集，从而允许随后对变形样品的视频进行详细分析。对于可变温度研究。可以在MICROTEST 2000EW（水冷版本）平台上EBSD的几何位置上选配加热夹具，加热夹具的温度可高达500℃。经销商介绍欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品主要技术特点： 1、载荷：2000N测力传感器，精度1%量程，解析能力0.1%量程2、长度和拉伸量：夹具间距：10mm，伸长量：10mm，线性延伸计：3μm解析能力和10μm精度3、速度范围：0.033mm/min – 0.4 mm/min4 、最大样品尺寸：29×27×5（L,W,H mm）对EBSD样品夹具5、产品规格：196 ×96×53（L,W,H mm）重量~3.4kg（2000ES）；~3.9kg（2000EW）产品主要应用领域：1、 金属与合金：研究与应力-应变分析相关的晶粒的晶体学旋转。缺陷的演变和应变的积累；加热样品，研究再结晶2、其他（非晶）材料：在SEM中动态研究微裂纹扩展及在微观尺度上其他失效和变形机制；安装了可选的BH2000E水平4-点弯曲夹具的MTEST2000ES 显示铝合金试样在加载之后的晶粒旋转和匹配的晶粒取向的EBSD面分布 注：也可选择MICROTEST 5000系列拉伸台用于EBSD的材料测试系统

品牌： GATAN 名称型号：ChromaCL2阴极发光系统制造商： GATAN公司经销商：欧波同有限公司产品综合介绍：产品功能介绍在全球的矿物分析实验室里，实时彩色阴极发光成像发挥着重要的作用。从石油天然气勘探到地质年代学再到矿物生长的研究各种新老问题，ChromaCL2都有新的帮助。ChromaCL2是Gatan第二代实时彩色阴极发光成像系统。这是一款独特的产品。它具有高效的光学采集和色散能力，采用阵列光电倍增管得到高增益光探测能力。通过DigitalMicrograph软件实时地将光子脉冲信号混合成实时彩色阴极发光图像。彩色的CL图像能提示矿物的组成变化，包括相和痕量元素的分布，从而能够方便地观察化学印记和过生长、生长环带、内部愈合裂缝等等。并且，对于ChromaCL2来说，所有的这些，只需要电子束扫描一次即可全部揭示出来。品牌介绍美国GATAN公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。GATAN公司以其产品的高性能及技术的先进性在全球电镜界享有极高声誉。作为世界领先的设计和制造用于增强和拓展电子显微镜功能的附件厂商，其产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。产品应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学，能源科学等领域， 客户范围涵盖全球的科研院所，高校，各类检测机构及大型工业企业实验室，并且在国际科学研究领域得到了广泛认同。经销商介绍欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品主要技术特点：1、实时彩色成像—单次扫描可获取彩色CL图像，以快速清楚地诠释数据；2、所有波长并行探测—单次扫描即可获取彩色CL图像，以快速清楚地诠释数据；3、金刚石加工的收集镜—大固体角收集CL信号，提高效率和空间分辨率；4、固定的增益、集成的电子学系统—点击鼠标，即可轻松采集数据；5、可伸缩性—达到150mm的伸缩范围；6、固定的插入位置—简单设置即可达到最优化光学采集；7、增强的动态范围—像素强度可高达600，000计数/秒8、实时彩色和紫色成像—灵敏度扩展到紫光范围9、多视场拼接—用自动蒙太奇软件可获取大视场；10、集成的BSED—同时采集二次电子、背散射电子和阴极发光信号；11、消除磷光现象—含有盐酸盐样品的成像；12、电脑平台—Windows7,32-或64-位操作系统产品主要技术参数：1、腔式探测器，可伸缩、可拆卸、金刚石加工的抛物面型采集镜和光导管2、可调插入位置，可锁定回缩位置和定义插入位置。回缩距离为150mm。3、光栅光学系统将光色散到高增益阵列探测器4、可探测的光谱响应范围为~400-800nm5、集成的脉冲放大与甄别电子器件6、配有DigiScan II – 高级数字电子束控制系统。它包含4路TTL脉冲探测电子器件(其中3 路供ChromaCL使用)和2 路高位深模拟输入，用于同时检测SEM信号7、带有DigiScan和ChromaCL插件的DigitalMicrograph软件，用于实时彩色成像、后处理及图像数据的显示与保存8、主流PC，Window 7 32位和22”纯平显示器产品主要应用领域：地质科学矿物化学石油天然气开发光电材料：氮化物半导体薄膜，磷化锢和稀有掺杂材料 图1 页岩图2 单个锆石晶粒中的生长震荡条纹图3 混合起源的油藏石英，显示愈合裂纹和化学增生二次电子像 背散射电子像 ChromaCL2 图4 经过Gatan Ilion+制样后的页岩横截面图像，chromacl2揭示石英颗粒混合来源荧光粉 ChromaCL成像图5 商用高亮度LED

品牌： GATAN名称型号：Gatan SmartEMIC 电子束感应电流测量系统制造商： GATAN公司经销商：欧波同有限公司 产品综合介绍： 产品功能介绍EBIC分析系统，可以实时软件控制全自动采集电子束感生电流（EBIC）信号，获得EBIC图像信息，还可以获得IV曲线信息，最终可以测试PN结位置，宽度，少子扩散长度，材料或器件的失效点定位，广泛应用于电子半导体领域。品牌介绍美国GATAN公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。GATAN公司以其产品的高性能及技术的先进性在全球电镜界享有极高声誉。作为世界领先的设计和制造用于增强和拓展电子显微镜功能的附件厂商，其产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。产品应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学，能源科学等领域， 客户范围涵盖全球的科研院所，高校，各类检测机构及大型工业企业实验室，并且在国际科学研究领域得到了广泛认同。经销商介绍 欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品系统特点：高性能、地噪声EBIC系统，进行定量EBIC测量。界面友好的智能分析软件运行于DigitalMicrograph软件平台。用于SEM的SmartEBIC 系统包括：?计算机控制的、充电电池供电的EBIC放大器?高级EBIC样品座(ASH)，并配有可调节的钨探针以进行台式接触。配以适当的Gatan适配器还可以通过空气锁来装载试样*? 与SEM样品台接口?链接插座及4个BNC型的电缆链接，低噪声这空馈通，适于EBIC和电子束流的测量?具有Fireware技术的DigiScan II数字电子束控制系统。它包括两个模拟输入，可同时采集摄影质量的图像，并可灵活控制像素强度、每点驻留时间、扫描旋转等。对于某些SEM，它还可以通过软件通讯SEM的操作参数。?配有先进的SmartEBIC应用插件的Digital Micrography软件，以进行定量测量、线性轮廓的实时和后处理分析 产品主要技术参数： SmartEBIC可以对EBIC信号进行自动控制采集和定量分析: 扫描控制系统: 1、1-, 2- or 4-比特数据采集提供了超大的动态范围 2、从 16 x 1 至 8000 x 8000 像素扫描分辨率 3、电子束停留时间，在0.5毫秒/像素到300毫秒/像素之间可调4、自动调节图像显示大小，使得EBIC实验过程变得更方便*5、配置Digi-Scan控制器，实时软件控制全自动采集，可以在EBIC信号的采集时就对信号进行定量分析，无需附加的后处理，*6、不仅获得EBIC图像信息，还可以获得IV曲线信息。噪音控制: 1. 特别设计的EBIC附属样品台2. 同轴绕线方式3. 可重复使用的铅酸电池 (15小时续航时间)4. 可以改变放大器的增益，从而最优化数据采集的信噪比和带宽5. 两种可选的一阶RC滤波器 ，低通或高通滤波6. 低漂移放大模式7. 在与PC通讯的时间以外，系统的微处理器会自动切换到睡眠状态8. 丰富的图像处理工具。包含锐化工具、平滑工具和傅立叶变换工具等。 9. 可以适配与Lock-in技术（本系统并不提供，这样的配置系统将不会对EBIC信号定量分析）追踪:通过软件实现。在12bit（1.22mV）采集分辨率模时为+/-5V。自动化:即使在放大器参数设定欠佳的条件下，系统也能自动优化图像的显示大小，从而提供更方便的图像浏览可以对放大器的偏移/增益进行自动设置软件:流程式一维扩散长度测量广泛的面扫/线扫描分析工具，包括数学分析工具，滤波应用等广泛的图像显示方案选项，包括二次电子图像与EBIC图像的叠加编程语言可助您为自己的实验编写定制化软件 产品主要应用领域： 测试PN结位置，宽度，少子扩散长度金属材料材料或器件的失效点定位测试半导体材料的位错密度IV特性测试应用实例：应用一：测试PN结位置，宽度，少子扩散长度应用二：材料或器件的失效点定位