软射线探测器

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软射线探测器相关的厂商

  • 东莞市嘉乐仕金属探测设备有限公司是一家专业金属探测器,金属探测仪,金属检测仪,金属检测器,食品金属探测器,金属分离器,x光机,x射线异物检测仪的集研发、生产、销售于一体的民营高科技企业.经过多年的经营发展和科技上的不断创新,已成为中国最大的金属探测器生产厂家之一,嘉乐仕凭借优质的产品,卓越的技术和完善的服务,产品遍及祖国各地,并远销美洲,欧洲,非洲,中东,东南亚等国际市场。   东莞市嘉乐仕金属探测设备有限公司以“诚信是我风格,质量是我生命“ 为宗旨,视用户为“上帝”,一贯秉承“质量第一、顾客满意,持续改进,争创一流”的方针,从产品的研发设计、生产制造到销售及售后服务全过程,已建立一套严谨的品质管理和质量保证体系,且采取有效的市场保护措施,确保为每个用户提供最优质的产品和最完善的服务。   展望未来,嘉乐仕将一如继往的秉承”敬业,诚信,融合,创新“的企业精神,研制出更好的产品,提供更好的服务,树立更好的形象,愿与各界新老朋友进行更广泛的合作,共创辉煌!   嘉乐仕热忱欢迎企事业单位前来参观考察,洽商合作,愿与您携手共创更辉煌的明天! 联系人:卢生15907693763(微信同号)QQ:2777469253 欢迎来电咨询!官网:www.jls668.net
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  • 400-860-5168转0668
    奥龙集团传承60余年中国射线仪器研制历史 丹东奥龙射线仪器集团有限公司是中国射线仪器行业技术力量与综合实力雄厚的民营高科技企业。奥龙集团传承60年中国射线仪器研制历史。奥龙集团旗下拥有上海奥龙星迪、丹东奥龙电子、奥龙检测服务、丹东奥龙中科传感技术四个子公司。奥龙是专业X射线仪器和材料试验仪器的开发商和产品制造商,也是X射线检测解决方案的服务商。 丹东奥龙射线仪器集团有限公司坐落于辽宁省“五点一线”沿海经济带上的丹东临港产业园区;占地面积3万平方米,建筑面积1.7万平方米;拥有一支技术过硬、行业领先、经验丰富的科技队伍;拥有完善的企业管理系统和行业领先水平的现代化生产环境和研发、生产、检测设备;是中国射线仪器制造与应用服务行业的领跑者;是无损检测行业的全球领导厂商美国GE的合作伙伴。 奥龙集团产品的技术含量和质量居国内领先地位;连续荣获辽宁省名牌产品称号并主导国内市场;中国发射的“神舟载人飞船”有多项系统使用奥龙集团生产的X射线探伤设备实施无损检测并取得成功,奥龙人为中国航天事业发展做出了贡献。奥龙主要荣誉:国家首批高新技术企业通过ISO9001国际质量体系认证ISO14001国际环境管理体系认证ISO45001:2018职业健康安全管理体系通过欧盟CE认证承担国家重大科学仪器设备开发专项国家x射线实时成像高技术产业化示范工程基地全国模范院士专家工作站 辽宁省企业技术中心辽宁省著名商标辽宁省名牌产品辽宁省软件企业拥有百余项国家专利和计算机软件著作权辽宁省工业CT仪器专业技术创新中心工业CT获改革开放40周年机械工业杰出产品奖获国家级专精特新“小巨人”企业奥龙主导产品:● 工业CT● X射线衍射仪● X射线探伤机● X射线晶体定向仪● X射线数字成像检测系统● X射线荧光光谱仪● 管道爬行器● 硬度计● 微焦点X射线检测系统● 活体小动物2D、3D成像系统● 开放式微焦点X射线管● 生物学X射线辐照仪● 安全检查仪● X射线检测服务产品应用领域:● 航空航天、兵器、船舶● 电力、电子、管道检测● 铸件检测● 安检、防爆检查● 轮胎、轮毂检测● 珠宝、文物古董,岩心检测● 直缝、螺旋钢管、锅炉焊管● 医疗、生物检测● 材料质量检测 ● 植物、种子检测● 焊接质量检测● 辐照检疫检测● 管道检测● 小动物辐照研究●气瓶、压力容器检测 ● 药品、食品检测● 火车各部件检测● 蓝宝石、单晶硅定向● 岩心检测分析● 材料分析、物相分析   奥龙长期专注于无损检测、材料试验机等系列产品的研发与运营,产品不仅畅销国内市场,而且还远销美国、德国、英国、印度、澳大利亚、荷兰、马来西亚、印尼、泰国、南非、沙特阿拉伯、香港、台湾等世界五大洲的50多个国家和地区。 产品广泛应用于国防、航空航天、造船、汽车、压力容器、机械、冶金、石油化工、电子信息、输变电、耐火材料、食品安全、科技教育、卫生等行业领域。 奥龙,一个立足丹东,产品辐射国内外市场的集团企业,正以技术、管理、品牌和规模的企业优势,紧紧围绕“提升核心能力,打造奥龙国际品牌”的战略,积极推动企业向着更高水平的目标迅猛发展。地 址:辽宁省丹东市振兴区爱河大街66号 (原丹东临港产业园区富民大街46号) 销售热线:400-168-8858电 话:0415-6278777 3141333 网 址:www.aolongcn.cn传 真:0415-3458588 3458688 电子邮件:al@aolongcn.cn
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  • 深圳市汇成探测科技有限公司始建于2007年是一家专业从事金属探测器研发、生产、销售为一体的企业。公司严格依照ISO9001国际质量标准体系的要求,从产品的研发设计、生产制造到销售及售后服务全过程,已建立一套严谨的品质管理和保证体系。目前公司主营品种齐全有地下可视成像仪、可视地下金属探测器、远程地下金属探测器、探盘式地下金属探测器、手持金属探测器。品质彰显价值,服务缔造信誉。为广大客户提供更优质的服务,公司以“专业、信誉、质量第一、用户至上”为经营宗旨,以高品质的产品与服务满足客户的梦想。追求卓越是我公司致力追求的目标。我们更坚信:有了您的支持和我们不断的努力,我们与社会各界同仁携手并进,开拓创新,共创美好未来。
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软射线探测器相关的仪器

  • 软X射线探测器 400-860-5168转1980
    仪器简介:软X射线探测器分为AXUV系列,SXUV系列 ,UVG系列 这三个系列,其中AXUV系列适用于真空紫外、极紫外和软X射线探测器。SXUV系列探测器是专门为高通量的光子探测设计的,如配合使用在第三和第四代同步加速器和准分子激光器。该系列二极管由超大规模集成电路制造而成。UVG系列PN结光电探测器可以实现100%的光生载流子收集效率,所以被使用在近紫外和真空紫外(600--160nm)。技术参数:AXUV系列 AXUV系列适用于真空紫外、极紫外和软X射线探测器,由于不同于常见的pn结二极管,这些二极管没有掺杂死区,加之零表面复合处理,可以在紫外/极紫外范围内,达到理想化的100%内部量子效率转化。 IRD还提供与Cr,W,Au,Fe,Al等滤光片耦合的探测器,可以达到探测指定波长的效果。 SXUV系列 由于在硅PN结光电二极管前耦合铂硅化物入射窗,使得探测器可以探测超紫外光子(能量范围4ev&mdash 12KeV)。这些探测器是专门为高通量的光子探测设计的,如配合使用在第三和第四代同步加速器和准分子激光器。该系列二极管由超大规模集成电路制造而成。 IRD还提供与Zr,Si3N4,Si,SiC,Mo,Al滤光片耦合的探测器,可以达到探测指定波长的效果。 当脉冲能量超过20mJ,IRD还开发了带衰减器的探测器,以减少UV/EUV脉冲射线对探测器的冲击。 UVG系列 UVG系列PN结光电探测器可以实现100%的光生载流子收集效率,所以被使用在近紫外和真空紫外(600--160nm)。与传统的二极管不同的是,这些二极管没有掺杂死区,加之零表面复合处理,可以在紫外/极紫外范围内,达到理想化的100%内部量子效率转化主要特点:1.软X射线可直接照射探测器,无需闪烁晶体做转换 2.按可检测X射线能量范围不同及应用的需要,分为AXUV,UVG和SXUV三大产品系列,最低可检测0.04nm的软X射线 3.快速响应的探测器,响应速度达到ps量级 4.多元阵列,积分放大电路,并可根据需要集成带通滤光片 5.四象限位置传感器(Quadrant PSD)
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  • XR-100CR X射线探测器 400-860-5168转2627
    XR-100CR是一种新的高性能X射线探测器,包括前置放大器和制冷系统,通过热电法冷却的Si-PIN光电二极管作为X射线探测器。在二级制冷系统上还装有输入场效应管和一个新型的反馈电路。这些组件大约-55的环境下工作,其温度由一个内置的温度传感器控制。探测器的密封TO-8包装有一个钵薄膜窗口,用于软X射线探测。XR-100T-CdTe 代表在X-射线探测器技术的一个突破,可提供"现成的"结果,而以前则只能从昂贵的低温冷却系统得到。另外XR-100T-CdTe还适用于伽马射线的测量。 X射线荧光 ROHS/WEEE标准 便携式仪器 原始设备制造 核医学成像 教学研究文物考古 程控 穆斯堡尔谱仪 空间物理和天文学 环境X射线检测 有毒物垃圾场监测 粒子诱发X射线荧光分析 XR-100CR ◇149eV的分辨率,全固态无液氮设计 ◇SI-PIN光敏二极管,二级热电冷却器 ◇内置温度控制监测检测器,密封的铍检测窗 ◇检测范围广,操作简单 XR-100SDD ◇高计数率&mdash &mdash 5000,000 CPS ◇对峰值5.9keV的分辨率为139eV ◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1 ◇规格为:7 mm2 * 500 µ m ◇无液氮 XR-100CdTe ◇CdTe二极管探测器,热电冷却器(Peltier) ◇FET冷却,温度监控器 ◇铍检测窗,密封包装(TO-8) AXAS 系统 AXAS系统集成了记录计数率在1.000.000 计数/s以上的超快MCA和SDD (硅漂泊二极管)。利用MCDWIN MCA 软件,AXASMCA可以成为非常小的完全分光计,从而使获取光谱变得很容易。它还可以通过USB接口读取数据,因此该系统可以通过便携式计算机在任何地点工作。&#61548 XR-100CR详细参数探测器类型:硅针探测器(Si-PIN)探测器尺寸:5 mm2---25 mm2硅厚度:300µ m,500µ m,680µ m能量分辨率(5.9kev,55Fe):半峰宽145eV-230eV(取决于探测器种类和形成时间常数)背景记数:〈3*10-3/s,2KeV-150KeV(针对7mm2/300um探测器)探测器铍窗厚度:1mil(25µ m)或0.5mil(12.5µ m)电荷敏感前置放大器:用户定制设计增益稳定性:〈20PPM/(典型)尺寸:3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)重量:4.9盎司(139克)总功率:〈1瓦器件寿命:5-10年操作环境:0-40认证:TUV前置放大器功率:正负8-9V,15mV(不超过50mV的蜂噪音)探测器功率: 100V-200V,1µ A(取决与探测器类型),非常稳定,偏差〈0.1%制冷器功率:电流最大值为350mA,电压最大值为4V(峰噪音〈100mV,)前置放大器灵敏度:典型值1mV/KeV(对于不同的探测器可能有差异)前置放大器极性:负信号输出(最大负载1K欧姆)前置放大器反馈:通过探测器电容进行重置温度监控灵敏度:PX4通过软件直接读取开尔文温度
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  • X射线探测器 400-860-5168转2831
    X射线探测器姓名:王工(Karl) 电话: 邮箱:X射线探测器以热电冷却的Si-Pin光电二极管作为X射线探测元器件,根据不同探测器类型和峰化时间,55Fe的5.9KeV峰值分辨率可达145eV FAST SDD 探测器峰值分辨率更可达122eV,为业界领先指标。XR-100系列探测器型号探测器材料探测器面积探测器厚度铍(Be)窗 厚度备注XY-FSG32MD-G3SPSi-PIN6 mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FS432MD-G3SPSi-PIN13mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FSJ32MD-G3SPSi-PIN25mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FSG32MD-G2SPSi-PIN6mm2500 μm0.5mil有内置准直器XY-GSH3AMD-G2SPSDD25mm2500 μm0.5mil有内置准直器XY-GSH3AMD-E1SPSDD25mm2500 μm0.3mil有内置准直器XY-GSH3AMD-UOEASDD25mm2500 μmC1 Window有内置准直器XY-GSH3AMD-E6EASDD25mm2500 μmC2 Window有内置准直器XY-HSH3AMD-G2SFAST SDD25mm2500 μm0.5mil有内置准直器XY-HSH3AMD-G1SFAST SDD25mm2500 μm0.3mil有内置准直器XY-HSH3AMD-U0EAFAST SDD25mm2500 μmC1 Window有内置准直器XY-HSH3AMD-E6EAFAST SDD25mm2500 μmC2 Window有内置准直器** Silicon Drift Detector (SDD) uses a junction gate field-effect transistor (JFET) inside the hermetically sealed TO-8 package, along with an external preamplifier. FAST SDD uses a complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) preamplifier inside the TO-8 package, and replaces the JFET with a metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET).
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软射线探测器相关的资讯

  • 跨向理想X射线探测器的一小步-高分辨、非晶硒X射线探测器及其应用
    “对于相干衍射成像(CDI),微米级像素的非晶硒CMOS探测器将专门解决大体积晶体材料中纳米级晶格畸变在能量高于50 keV的高分辨率成像。目前可用的像素相对较大的(〜55μm像素),基于medipix3芯片光子计数、像素化、直接探测技术无法轻易支持高能布拉格条纹的分辨率,从而使衍射数据不适用于小晶体的3D重建。” 美国阿贡国家实验室先进物理光子源探测器物理小组负责人Antonino Miceli博士讲到。相干X射线衍射成像作为新兴的高分辨显微成像方法,CDI方法摆脱了由成像元件所带来的对成像分辨率的限制,其成像分辨率理论上仅受限于X射线的波长。利用第三代同步辐射光源或X射线自由电子激光,可实现样品高空间分辨率、高衬度、原位、定量的二维或三维成像,该技术在材料学、生物学及物理学等领域中具有重要的应用前景。作为一种无透镜高分辨、无损成像技术,CDI对探测器提出了较高的要求:需要探测器有单光子灵敏度、高的探测效率和高的动态范围。目前基于软X射线的相干衍射成像研究工作开展得比较多,在这种情况下科研工作者通常选用是的基于全帧芯片的软X射线直接探测相机。将CDI技术拓展到硬X射线领域(50keV)以获得更高成像分辨率是目前很多科研工作者正在尝试的,同时也对探测器和同步辐射光源提出了更好的要求。如上文提到,KAimaging公司开发了一款非晶硒、高分辨X射线探测器(BrillianSe)很好的解决的这一问题。下面我们来重点看一下BrillianSe的几个主要参数1. 高探测效率 如上图,间接探测器需要通过闪烁体将X射线转为可见光, 只有部分可见光会被光电二极管阵列,CCD或CMOS芯片接收,造成了有效信号的丢失。而BrillianSe选用了具有较高原子序数的Se作为传感器材料,可以将大部分入射的X射线直接转为光电子,并被后端电路处理。在硬X射线探测效率远高于间接探测方式。BrillianSe在60KV (2mm filtration)的探测效率为:36% at 10 cycles/mm22% at 45 cycles/mm10% at 64 cycles/mm非晶硒吸收效率(K-edge=12.26 KeV)BrillianSe在60KV with 2 mm Al filtration的探测效率,之前报到15 μm GADOX 9 μm pixel 间接探测器QE 为13%。Larsson et al., Scientific Reports 6, 20162. 高空间分辨BrillianSe的像素尺寸为8 µm x8 µm,在60KeV的点扩散为1.1 倍像素。如下是在美国ANL APS 1-BM光束线测试实验室布局使用JIMA RT RC-05测试卡,在21keV光束下测试3. 高动态范围75dB由于采用了100微米厚的非晶硒作为传感器材料。它具有较大满井为877,000 e-非晶硒材料,不同入射光子能量光子产生一个电子空穴对所需要电离能BrillianSe主要应用:高能(50KeV)布拉格相干衍射成像低密度相衬成像同步辐射微纳CT表型基因组学领域要求X射线显微CT等成像工具具有更好的可视化能力。此外需要更高的空间分辨率,活体成像的关键挑战在于限制受试者接收到的电离辐射,由于诱导的生物学效应,辐射剂量显着地限制了长期研究。可用于X射线吸收成像衬度低的物体,如生物组织的相衬X射线显微断层照相术也存在类似的挑战。此外,增加成像系统的剂量效率将可以使用低亮度X射线源,从而减少了对在同步辐射光源的依赖。在不损害生物系统的情况下,在常规实验室环境中一台低成本、紧凑型的活体成像设备,对于加速生物工程研究至关重要。同时对X射线探测器提出了更高的要求。KAimaging公司基于独家开发的、专利的高空间分辨率非晶硒(a-Se)探测器技术,开发了一套桌面高效率、高分辨的微米CT系统(inCiTe™ )。可以从inCiTe™ 中受益的应用:• 无损检测• 增材制造• 电子工业• 农学• 地质学• 临床医学• 标本射线照相 基于相衬成像技术获得优异的相位衬度相衬成像是吸收对比(常规)X射线成像的补充。 使用常规X射线成像技术,X射线吸收弱的材料自然会导致较低的图像对比度。 在这种情况下,X射线相位变化具有更高的灵敏度。因为 inCiTe™ micro-CT可以将物体引起的相位变化转为为探测器的强度变化,所以它可以直接获取自由空间传播X射线束相位衬度。 同轴法相衬X射线成像可将X射线吸收较弱的特征的可检测性提高几个数量级。 下图展示了相衬可以更好地显示甜椒种子细节特征不含相衬信息 含相衬信息 低密度材料具有更好的成像质量钛植入样品图像显示了整形外科的钛植入物,可用于不同的应用,即检查骨-植入物的界面。 注意,相衬改善了骨骼结构的可视化。不含相衬信息 含相衬信息 生物样品inCiTe™ 显微CT可实现软组织高衬度呈现电子样品凯夫拉Kevlar复合材料样品我们使用探测器在几秒钟内快速获取了凯夫拉复合材料的相衬图像。可以清楚看到单根纤维形态(左图)和纤维分层情况(右图)。凯夫拉尔复合物3维透视图 KA Imaging KA Imaging源自滑铁卢大学,成立于2015年。作为一家专门开发x射线成像技术和系统的公司,KA Imaging以创新为导向,致力于利用其先进的X射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供最佳解决方案。公司拥有独家开发并自有专利的高空间高分辨率非晶硒(a-Se)X射线探测器BrillianSeTM,并基于此推出了商业化X射线桌面相衬微米CT inCiTe™ 。我们有幸在此宣布,经过双方密切的交流与探讨,众星已与KA Imaging落实并达成了合作协议。众星联恒将作为KA Imaging在中国地区的独家代理,全面负责BrillianSe™ 及inCiTe™ 在中国市场的产品售前咨询,销售以及售后业务。KA Imaging将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持,以便更好地服务于中国客户。众星联恒及我们来自全球高科技领域的合作伙伴们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯!
  • 科学家成功研制目前最薄X射线探测器
    澳大利亚科学家使用硫化锡(SnS)纳米片制造了迄今最薄的X射线探测器。新探测器厚度不到10纳米,具有灵敏度高、响应速度快的特点,有助于实现细胞生物学的实时成像。  SnS已经在光伏、场效应晶体管和催化等领域显示出巨大的应用前景。澳大利亚莫纳什大学、澳大利亚研究理事会(ARC)激子科学卓越中心的研究人员此次证明,SnS纳米片也是用作超薄软X射线探测器的极佳候选材料。这项发表在《先进功能材料》杂志上的研究表明,SnS纳米片具有很高的光子吸收系数,它比另一种新兴候选材料金属卤化物钙钛矿更灵敏,响应时间更短,只需几毫秒,并且可以调节整个软X射线区域的灵敏度。  X射线大致可分为两种:“硬”X射线可用以扫描身体观察是否存在骨折和其他疾病;“软”X射线具有较低的光子能量,可用于研究湿态蛋白质和活细胞,这是细胞生物学的关键组成部分。水窗是指软X射线的波长范围在2.34—4.4纳米之间的区域,在此范围内,水对软X射线是透明的,X射线会被氮原子和其他构成生物机体的元素吸收,因此,该波长可用于对活体生物样本进行X射线显微。  SnS X射线探测器厚度不到10纳米。相比之下,一张纸的厚度大约为10万纳米,人的指甲每秒大约长出1纳米。此前制造出的最薄X射线探测器厚度在20—50纳米之间。  研究人员称,未来这种X射线探测器或可用来观察细胞相互作用的过程,不仅能产生静态图像,还能看到蛋白质和细胞的变化和移动。  研究人员称,SnS纳米片的灵敏度和效率在很大程度上取决于它们的厚度和横向尺寸,而这些都不可能通过传统的制造方法来控制。使用基于液态金属的剥离方法,研究人员生产出高质量、大面积的厚度可控的薄片,这种薄片可以有效地探测水域中的软X射线光子,通过堆叠超薄层的过程,可进一步提高它们的灵敏度。与现有的直接软X射线探测器相比,它们在灵敏度和响应时间方面有了重大改进。  研究人员希望,该发现将为研制基于超薄材料的下一代高灵敏度X射线探测器开辟新途径。
  • 仪器情报,科学家突破钙钛矿X射线探测器性能瓶颈!
    【科学背景】随着科学技术的进步,X射线检测技术在医学成像、无损检测和天体物理等领域得到了广泛应用。X射线的不同光子能量具有不同的穿透能力,这使得在不同应用中对X射线探测器的要求也各不相同。例如,软X射线(25–50 keV)主要用于乳腺摄影和胸部X光检查,而硬X射线(80–150 keV)则用于现代计算机断层扫描和工业检测。然而,现有的商业化半导体探测器,如α-Se、Si和CdZnTe(CZT),存在吸收系数低、载流子输运性能差和高制造成本等问题,亟需开发新型的高性能X射线探测材料。近年来,金属卤化物钙钛矿因其高衰减系数、大的迁移-寿命(μτ)积以及低制备成本,成为新一代X射线探测材料的研究热点。钙钛矿材料在直接X射线检测、光子计数X射线成像和能量分辨γ射线检测等方面展示了巨大的潜力。然而,钙钛矿材料中的离子迁移会导致大噪声和基线漂移,严重影响探测器的性能。特别是,对于高能量硬X射线检测(100 keV),现有钙钛矿探测器的灵敏度和检测限仍然难以满足高性能的要求。为了应对这些挑战,山东大学陶绪堂教授、张国栋教授团队合作开发了新型气氛导模法来开展了钙钛矿单晶的优化研究。通过在Ar和HBr混合气氛中生长CsPbBr3单晶,成功地改善了材料的电阻率、离子迁移活化能以及迁移-寿命(μτ)积。与传统的垂直布里奇曼法生长的CsPbBr3单晶相比,EFG-CsPbBr3单晶具有显著更低的陷阱密度、更高的电阻率(1.61 × 1010 Ω cm)和更大的离子迁移活化能(0.378 eV),从而有效地降低了漏电流和基线漂移。基于EFG-CsPbBr3单晶的X射线探测器展示了优秀的平衡性能,包括极低的暗电流漂移(1.68 × 10-9 μA cm-1 s-1 V-1)、极低的检测限(10.81 nGyair s-1)以及在5,000 V cm-1高电场下的高灵敏度(46,180 μC Gyair-1 cm-2)。此外,该探测器在30天内保持了稳定的响应。【科学亮点】1. 实验首次采用气氛导模法,在Ar和HBr混合气氛中成功生长了高质量的形状控制CsPbBr3单晶(SCs),并获得了较低的陷阱密度、高电阻率(1.61 × 1010 Ω cm)以及较大的离子迁移活化能(0.378 eV)。2. 实验通过与采用垂直布里奇曼法生长的CsPbBr3单晶对比,验证了EFG-CsPbBr3单晶在电阻率、离子迁移活化能和漏电流控制方面的显著改进。EFG-CsPbBr3单晶显示出更低的漏电流和基线漂移,从而提高了X射线探测器的性能。3. 基于EFG-CsPbBr3单晶的X射线探测器,在5,000 V cm-1的高电场下展现出出色的性能,包括极低的暗电流漂移(1.68 × 10-9 μA cm-1 s-1 V-1)、极低的检测限(10.81 nGyair s-1)以及灵敏度高达46,180 μC Gyair-1 cm-2。此外,该探测器在30天内保持了稳定的响应,证明了其长期稳定性和高性能。4. 研究提出了一种有效的策略,通过优化铅卤化物钙钛矿单晶的生长工艺,提高了其在X射线检测和成像中的性能,为未来的高性能X射线探测系统提供了新的思路。【科学图文】图1:导模法edge-defined film-fed growth,EFG生长的CsPbBr3单晶single crystals,SCs。图2:导模法EFG-CsPbBr3和垂直Bridgman法VB-CsPbBr3的光电性能比较。图3:导模法EFG-CsPbBr3和垂直Bridgman法VB-CsPbBr3的离子迁移特性。图4: X射线检测响应和灵敏度。图5:X射线检测极限和成像。【科学结论】本文提出了一种高效的新型气氛可控导模法生长(EFG)技术,以解决钙钛矿材料在X射线检测中的关键问题。传统的钙钛矿探测器面临的主要挑战是离子迁移导致的噪声和基线漂移,这严重影响了探测性能和成像质量。通过优化生长环境,EFG技术显著降低了CsPbBr3单晶的陷阱密度,提高了电阻率和离子迁移活化能,从而减少了漏电流和暗电流漂移。这种改进不仅增强了探测器的灵敏度(46,180 μC Gyair-1 cm-2),还降低了检测限(10.81 nGyair s-1),并且设备在高电场(5,000 V cm-1)下保持了稳定的性能,能够在无封装条件下持续工作30天。此研究为提升钙钛矿材料在X射线检测和成像中的应用性能提供了一种切实可行的解决方案,展现了在高性能辐射探测器领域的广阔前景。原文详情:YWang, Y., Sarkar, S., Yan, H. et al. Critical challenges in thedevelopment of electronics based on two-dimensional transition metal dichalcogenides. Nat Electron (2024). https://doi.org/10.1038/s41928-024-01210-3

软射线探测器相关的方案

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  • X射线荧光用的探测器与X射线辐射剂量检测用的探测器有什么区别

    http://b.hiphotos.baidu.com/baike/w%3D268/sign=27a70225acaf2eddd4f14eefb5110102/2cf5e0fe9925bc310dce7dbb5edf8db1cb137005.jpg请问图中半导体探测器是在什么行业中应用的呢,这个探测器可以进行元素分析吗,这个探测器与常用的Si-Pin SDD有什么区别。另外X射线荧光用的探测器与X射线辐射剂量检测用的探测器有什么区别?

  • X射线探测器保护

    各位大侠 小妹有一个困惑 X射线探测器的铍窗很容易就破损了 为了更好的保护他 我想应该用一种高透明 机械性能好的薄膜吧 大侠们能告推荐一下吗 或者有什么更好的办法

软射线探测器相关的耗材

  • X射线探测器 X射线探测器
    X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 (Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术,而不是基于传统微光子技术,它不需要维护,不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology,这种技术的探测器噪音较大,而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题,法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器,使用钢合金替代原有材料,使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。
  • X射线探测器
    X射线探测器是一种位置灵敏性探测器 (Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术,而不是基于传统微光子技术,它不需要维护,不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology,这种技术的探测器噪音较大,而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题,法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器,使用钢合金替代原有材料,使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。http://www.f-lab.cn/radiation-detectors/psddector.html
  • AMPTEK X射线探测器FASTSDD大面积探测器 X光探测器
    匠心艺术之作70mm2 FAST SDD Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下,计数率是25mm2SDD探测器的3倍。特性 l 70mm2有效面积准直到50mm2l 123ev FWHM @5.9keVl 计数率2,000,000cpsl 高峰背比-26000:1l 前置放大器上升时间60nsl 窗口:Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)l 抗辐射l 探头晶体厚度500uml TO-8封装l 制冷ΔT 85Kl 内置多层准直器 应用l 超快台式和手持XRF光谱仪l SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品l 在线过程控制l X射线分拣机l OEM FASTSDD-70规格参数 通用探头类型硅漂移探头(SDD)探头大小70mm2准直到50mm2硅晶体厚度500um5.9keV处55Fe能量分辨率峰化时间4us时,分辨率为123-135eV峰背比20000:1(5.9keV与1keV计数比)探头窗口Be:0.5mil(12.5um)或C2(Si3N4)准直器内部多层准直器电荷灵敏前置放大器CMOS增益稳定性20ppm/℃外壳尺寸XR-100FastSDD-703.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm)重量XR-100FastSDD-704.4盎司(125g)总功率XR-100FastSDD-702W质保期1年使用寿命取决于实际使用情况,一般5-10年仓储和物流长期存放:干燥环境下10年以上仓储和物流:-40℃到+85℃,10%到90%湿度,无凝结工作条件-35℃到+80℃TUV 认证认证编号:CU 72101153 01检测于:UL61010-1:2009 R10.08 CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1输入前放电源 XR-100FastSDD-70 OEM 配置±8V@15mA,峰值噪声不超过50mV。 PA210/PA230或X-123:±5V探头电源 XR-100FastSDD-70-100到-180V@25uA,非常稳定,变化0.1%制冷电源电流电压 最大450mA最大3.5V,峰值噪声100mV注: XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器输出前放灵敏度 极性输出上升时间反馈 典型的3.6mV/keV(不同的探头灵敏度不同)正输出信号(最大1KΩ负载)60ns复位型温度监控灵敏度根据配置不同而变化当使用PX5,DP5,或X-123时,直接通过软件读取开尔文温度 FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中
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