闪烁室测氡仪

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闪烁室测氡仪相关的厂商

  • 青岛海测检测技术有限公司,成立于2010年7月,是一家专业的第三方检测机构,拥有中国合格评定国家认可委员会(CNAS)、国家计量认可(CMA)军可认证等多种认证资质,连续2年成为青岛市政府重点扶持企业,作为一家与军方联合组建的第三方检测试验机构,从成立之初就把“科学、严谨、精确、公正”的工作作风定位海测人的基本行为准则! 海测,在行业内率先引进了国际试验室管理经验,和行业高端人才,目前已经建成力学试验室,环境可靠性试验室,强度计算,三大主题实验室,建筑面积6000平米,总投资额4500万元,拥有一大批国际一流品牌设备(WEISS、LDS、QUALMARK、ATLAS、JOEL、BUEHLER等等)。海测将人才战略视为企业生存和发展的生命线,95%%以上人员具有本科及本科以上学历,技术人员中具有工程师资制的有50多人,拥有丰富的测试分析经验,并具有不同行业的技术背景,可以针对不同类型的产品提供全面技术分析能力。企业提供研发、计算、试验、技术支持一条龙服务,做企业的流动研发中心。我们可为您提供机械设计与技术支持、仿真计算、软件开发、测试技术、人才输出等服务。完成了大量的机械设备及产品的开发、设计、计算及试验验证等工作。并自主开发、销售多种专业应用软件,提供软件定制服务。实验室按照ISO/IEC17025国际规范严格进行管理及运作,所有检验及测试均依据ISO/IEC/EN/DIN/JIS/ASTN/EPA/FDA灯国际标准以及中国国家标准进行,具有较强的公信力。 海测检测项目: ★机械可靠性试验 □振动试验 □机械冲击 □碰撞试验 □疲劳试验 □强度试验 □跌落试验 ★环境可靠性试验 □高低温存储 □恒温恒湿 □交变湿热 □冷热冲击 □快速温变 □温湿度组合 □盐雾试验 □晶间腐蚀 □气体腐蚀 □高温老化 □紫外辐照 □氙灯辐照 □臭氧老化 □高压蒸煮 □低温低气压 □三综合试验 □高加速寿命 □高加速应力筛选 □沙尘试验 □防水试验 ★电磁兼容EMC 电磁干扰EMI □辐射骚扰 □传导骚扰 □谐波电流 □电压波动和闪烁 □骚扰功率 电磁抗干扰EMS □静电放电 □射频电磁场辐射 □电快速瞬变脉冲群 □浪涌冲击 □传导骚扰抗扰 □工频磁场抗扰 □电压跌落抗扰 □振荡波、振铃波抗扰度 ★失效分析 □X光检测 □超声波检测 □金相切片 □显微观察 □焊点染色 □扫描电镜/能谱分 □红外分析 □腐蚀分析 □无损检测 ★化学测试 □成分分析 □ROHS六项 □重金属残留 □耐汗液试验 □耐油品 □耐清洁剂 ★材料性能试验 金属材料及部件 □硬度测试 □拉伸试验 □弯曲试验 □金相分析 □冲击试验 □剪切试验 □镀层厚度 □插拔力试验 □扭转试验 □X光探伤 □超声波探伤 □磁粉探伤 □渗透探伤 高分子材料及部件 □密度试验 □硬度试验 □拉伸试验 □撕裂试验 □压缩试验 □弯曲试验 □低温脆性 □弹性模量 □热变形试验 □阻燃试验 □剥离强度 □涂层厚度试验 如有需要我们协助的地方,欢迎来电咨询,谢谢!
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  • 我公司于2017年6月由北京市海淀区迁至河北省保定市,公司主要经营溴化镧铈闪烁晶体与探测器的研发、生产和销售,目前公司是国家认定的科技型中小企业、河北省军民融合型企业、并在中国双创大赛中荣获20强。除了核心发明专利《溴化镧铈闪烁晶体》,截止目前我公司已授权核心专利27项,软件著作权4项。我公司为国内首个成功研制并稳定量产大尺寸溴化镧铈闪烁晶体的公司,使我国成为世界上除美国外,第二个能工业化生产溴化镧晶体的国家。溴化镧探测器被称为“高能射线的眼睛”, 是射线探测仪器的关键组成部分,主要进行材料元素种类与含量的分析,现已被应用于军工、安全检查、环境监测、核医学、工业计量、石油测井等国民经济的各个领域。公司产品供不应求,目前我们也在积极进行二期生产基地建设的相关工作,同时也在进行例如溴化铈、溴化镧锂铯等晶体的研发。未来将打造中国核探测新技术研发基地、中国新型核探测器制造基地、中国核探测技术人才培训基地,建立国际型的企业及研发基地。
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  • 北京高能科迪科技有限公司是中国科学院高能物理研究所投资的国家级高新科技型企业。依托高能所雄厚的科研技术实力,在科研领域中发挥自己的特长,开展以粒子探测器,辐射防护器材,射线监测为主的各种仪器及装置的研究和开发。上个世纪90年代中国科学院高能物理研究所与中核联合研制了国产第一台低本底αβ测量仪。 现有产品包括低本底αβ测量仪,低本底多道γ能谱仪,中子剂量仪,智能x-γ剂量率仪等;安检设备有通道式车辆放射性监测系统,门式行人放射性检测监测仪等。各种规格塑料闪烁体,还有液体闪烁体探测器,阻性板探测器(RPC),多重阻性板探测器(MRPC),GEM探测器等多门类产品。公司集合了物理、化学、机械、信息技术等多方面高科技力量,本公司愿与各界朋友精诚合作,共谋发展。
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闪烁室测氡仪相关的仪器

  • 闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的材料,可分为有机和无机两大类,按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁,且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时,一个X射线光子,可以产生多个光子,与紫外可见光不同,因为X射线的能量足以使物体电离,使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子,通过产生俄歇电子,康普顿散射等产生更多的电离电子(二次电子),二次电子热能化退至激发能级,通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上,闪烁体是核医学影像设备的核心部件,通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料,它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息,是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门,在辐射光源最大功率下关闭快门时,样品位置辐射剂量小于10uSv/h,辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时,分辨率可以达到20pl/mm以上。
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  • 近年来,钙钛矿型闪烁体及钙钛矿型 X 射线直接探测器被广泛研究及报道。在发光闪烁体层面,钙钛矿纳米晶闪烁体通过溶液即可制得,成本极低,且具备全色彩可调谐辐射发光的特点。在直接探测层面,铅卤钙钛矿材料因其具备较大的原子序数、高吸收系数等优点,在 X 射线直接探测领域同样表现出非常优异的性能。卓立汉光能够提供基于 X 射线的稳态发光光谱,荧光寿命,瞬态光谱以及 X 射线探测成像的相关测量方案。能够提供全套涵盖 X 射线激发源、光谱仪、稳态及瞬态数据处理、成像测量(CMOS 成像,单像素成像,TFT 面阵成像)、辐射剂量表、辐射安全防护等,辐射防护防护满足国标《低能射线装置放射防护标准》(GBZ115-2023)。如下陈述我们几种测量方案及相关配置明细( 一 ) 稳态光谱及荧光寿命采集基于皮秒 X 射线和 TCSPC 测量原理的方法纳秒脉冲 X 射线 稳态和寿命测量数据( 二 ) X 射线探测成像X 射线探测成像光路图X 射线探测成像及脉冲 X 射线实现光电流衰减测量TFT 集成的面阵 X 射线成像 成像测量结果( 三 ) 技术参数稳态光谱及荧光寿命采集基于皮秒X 射线和TCSPC 测量原理的方法包含:皮秒脉冲激光器、光激发X 射线管、TCSPC 或条纹相机。 由皮秒脉冲激光器激发“光激发X 射线管”发射出X-ray 作用于样品上,样品发射荧光,经光谱仪分光之后,由探测器探测光信号,数据采集器读取数据。皮秒X 射线测量荧光寿命原理图纳秒脉冲X 射线150KV 纳秒脉冲X 射线* 安全距离要求:a:3 米,b:6 米,c:30 米稳态和寿命测量数据NaI 样品在管电压50KeV,不同管电流激发下的辐射发光光谱 纳秒X 射线激发的荧光衰减曲线X 射线探测成像X 射线探测成像光路图X 射线探测成像及脉冲X 射线实现光电流衰减测量TFT 集成的面阵X 射线成像TFT 传感芯片规格TFT 读取系统规格成像测量结果 CMOS 成像实物图分辨率指标:TYP39 分辨率卡的X 射线图像。测试1mm 厚的YAG(Ce) 时,分辨率可以优于20lp/mm 手机充电头成像测试密码狗成像测试技术参数稳态X 射线激发发光测量光源 能量:4-50KV,功率:0-50W 连续可调,靶材:钨靶,铍窗厚度 200μm样品位置辐射剂量:0-25Sv/h光路透射和反射双光路,可切换 光谱范围200-900nm(可扩展近红外)监视器内置监视器方便观察样品发光,可拍照快门可控屏蔽快门,辐射光源最大功率下,关闭快门,样品位置辐射剂量小于10uSv/h辐射防护满足国标《X 射线衍射仪和荧光分析仪卫视防护标准》(GBZ115-2023)样品支架配备粉末、液体、薄膜样品架成像测量模块成像面积:直径20mm(可定制更大面积:120mm×80mm)成像耦合光路附件,样品测试夹具相机参数:颜色:黑白,分辨率:20MP, 5472 (H) x 3648 (V),像元尺寸:2.4μm×2.4μm,量子效率:84%@495nm,暗电流:0.001e-/pixel/s,制冷温度:-15℃,成像分辨率:优于20lp/mm瞬态X 射线激发发光测量光源皮秒脉冲X 射线源纳秒脉冲X 射线源*405nm ps 激光二极管:波长:100Hz-100MHz 可调,峰值功率:400mW@ 典型值,脉冲宽度:100ps光激发X 射线光管:辐射灵敏度:QE10%(@400nm),靶材:钨,操作电压:40KV,操作电流:10μA@ 平均值,50μA@ 最大值 电压:150KV脉冲宽度:50ns重复频率:10Hz平均输出剂量率:2.4mR/pulse数据采集器TCSPC 计数器条纹相机(同时获得光谱和寿命)示波器瞬时饱和计数率:100Mcps 时间分辨率(ps):16/32/64/128/256/512/1024/…/33554432通道数:65535死时间:< 10ns支持稳态光谱采集数据接口:USB3.0最大量程:1.08μs @16ps,67.1μs@1024ps, 2.19s@33554432ps 光谱测量范围:200-900nm时间分辨率:=5ps,( 最小档位时间范围+ 光谱仪光路系统)探测器:同步扫描型通用条纹相机ST10测量时间窗口范围:500ps-100us( 十档可选)工作模式:静态模式,高频同步模式以及 低频触发模式;系统光谱分辨率:0.2nm@1200g/mm单次成谱范围:=100nm@150g/mm静态(稳态)光谱采集,瞬态条纹光谱成像及荧光寿命曲线采集模拟带宽:500 MHz通道数:4+ EXT实时采样率:5GSa/s( 交织模式),2.5GSa/s( 非交织模式)存储深度:250Mpts/ch( 交织模式),125 Mpts/ch( 非交织模式) 寿命尺度500ps-10μs100ps-100μs 100ns-50msX 射线探测成像 方式CMOS 成像单像素探测器TFT 集成的面阵探测器配置成像耦合光路附件,样品测试夹具相机参数:颜色:黑白分辨率:20MP, 5472 (H) x 3648 (V) 像元尺寸:2.4μm×2.4μm量子效率:84%@495nm暗电流:0.001e-/pixel/s制冷温度:-15℃XY 二维电动位移台:XY5050:行程:X 轴50mm,Y 轴50mm,重复定位精度1.5μm,水平负载4Kg;XY120120:行程:X 轴120mm,Y 轴120mm,重复定位精度3μm,水平负载20KgTFT 阵列传感芯片(可提供直接型和间接型芯片):背板尺寸(H×V×T):44.64×46.64×0.5 mm,有源区尺寸(H×V):32×32mm,分辨率(H×V):64×64, 像素大小:500×500μmTFT 读出系统:成像规格:解析度:64 行×64 列,数据灰阶:支持256 灰阶显示,数据通信方式:WIFI 无线通讯,数据显示载体:手机/ 平板(Android 9.0以上操作系统、6GB 以上运行内存)辐射剂量测定辐射计量表探测器:塑料闪烁体, Ø 30x15 mm连续长期辐射:50 nSv/h ... 10 Sv/h连续短期辐射:5 μSv/h ... 10 Sv/h环境剂量当量测量范围:10 nSv ... 10 Sv连续的短时辐射响应时间:0.03 s相对固有误差:连续和短期辐射:±15% 最大137 Cs 灵敏度:70 cps/(μSvh-1 )剂量率变化0.1 to 1 μSv/h 的反应时间 ( 精度误差 ≤ ±10%) 2 s全光产额测量方案 闪烁晶体的光产额(也称为光输出或光子产额)是指晶体在受到电离辐射(如γ 射线、X 射线或粒子)激发后,发射光子(通常是可见光)的数量。光产额通常以每单位能量沉积产生的光子数来表示,单位可以是光子/MeV。光产额是衡量闪烁晶体性能的重要参数之一,它是衡量闪烁体材料性能的重要指标之一,也直接关系到该材料在实际应用中的灵敏度和效率。常见的闪烁晶体包括碘化钠(NaI),碘化铯(CsI),和氧化镧掺铈(LaBr3)等。不同的晶体材料会有不同的光产额,这取决于其发光机制、能带结构、以及材料的纯度和缺陷等因素。研究闪烁体材料的光产额对于提高其性能、拓展其应用具有重要的意义。一些常见闪烁晶体的光产额值如下:碘化钠(NaI(Tl)):约38,000 photons/MeV氯化铯(CsI(Tl)):约54,000 photons/MeV氧化铈掺杂的氧化镧(LaBr3):约63,000 photons/MeV钇铝石榴石掺杂铈离子(YAG:Ce):约14,000 photons/MeV 光产额越高,意味着该晶体能够在相同的能量沉积条件下产生更多的光子,从而在探测器中生成更强的信号,通常也会导致更好的能量分辨率。卓立汉光提供一整套包含同位素源、屏蔽铅箱(被测器件及光路)、光电倍增管、高压电源、闪烁体前置放大器、谱放大器、多道分析仪及测试软件,实现闪烁体的光产额测量。同位素源Na-22(或 Cs-137 可选),屏蔽铅箱(被测器件及光路),充分保证测试人员安全 光电倍增管 光谱范围:160-650nm,有效面积:46mm 直径,上升时间:≤ 0.8ns 高压稳压电源 提供:0-3000V 闪烁体前置放大器 :上升时间< 60ns积分非线性≤ ±0.02%计数率:250 mV 参考脉冲的增益偏移 0.25%,同时应用 65,000/ 秒的 200 mV 随机脉冲的额外计 数速率,前置放大器下降时间:信号源阻抗为 1 MΩ,则下降时间常数为 50 μs 谱放大器高性能能谱,适合所有类型的辐射探测器(Ge、Si、闪烁体等) 积分非线性(单极输出): 从 0 到 +10V0.025%噪声:增益 100 时,等效输入噪声 5.0uV rms;手动模式下,增益> 1000 时,等效输入噪声 4.5uV rms;或者自动模式下,增益 100 时,等效输入噪声 6.0uV rms温度系数(0 到 50° C)单极输出:增益为 +0.005%/'C,双极输出:增益为 +0.07%/'C,直流电 平为 +30μV/° C误差:双极零交叉误差在 50:1 动态范围内 ±3 ns增益范围:2.5-1500 连接可调,增益是 COARSE(粗调)和 FINE GAIN(微调增益)的乘积。单极脉冲形状:可用开关为 UNIPOLAR(单极)输出端选择近似三角形脉冲形状或近似高斯脉冲形状。配置专用 3kv 高压电源 2K 通道多道分析仪ADC: 包括滑动标度线性化和小于 2us 的死区时间,包括存储器传输 积分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内≤士 0.025%。 差分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内小于士 1%。 增益不稳定性 : 士 50 ppm/° C死区时间校正 : 根据 Gedcke-Hale 方法进行的延长的实时校正。 USB 接口 :USB 2.0 到 PC 的数据传输速度最高可达 480Mbps操作电脑/ 光学平台 尺寸:1500*1200*800mm台面 430 材质,厚度 200mm,带脚轮。固有频率:7-18Hz,整体焊接式支架
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  • 独立操作100m~4.5km量程内置数据记录仪内置数据处理功能LAS MkII大口径闪烁仪大口径闪烁仪用于测量大气湍流状况。其工作原理基于大气中的闪烁现象。出现闪烁现象时,热通量导致大气折射率变化,继而引起热路上可看到的闪光效果。 新型LAS MkII大口径闪烁仪可持续测量100m~4.5km路径沿线的感热通量。测量过程直接简单,并且能够快速得出测量结果。由于该装置仅需极少电力支持,大多数情况下使用一块简单的太阳能充电电池即已足够。LAS MkII接收机内部有数字处理装置,可以自动计算所有相关参数,例如Cn2和感热通量。通过显示屏上显示的实时数据,您可以在短时间内了解试验状况。内置的数据记录仪则存储数月内获得的测量数据和结果。通过数字接口,您可以远程实时显示并全面控制仪器的操作设置。通过模拟输出,您也可以将仪器与任何数据采集系统实现虚拟连接。这样便于和新的或现有的测量网络相集成。如果随身携带仪器进行现场部署,会耗费大量人力,更不用说安装各种笔记本电脑、接口电缆和软件了。LAS MkII可以采取内置显示屏和键盘的安装方式,无需任何其他额外设备。闪烁计数器本身对大气折射率变化Cn2进行测量,但是如果选装有气象传感器套件,则可以计算出感热通量。该套件由风速、温度和压力传感器以及各配套插头组成,直接安装在LAS MkII接收机内。EVATION® 软件套装属于标准交付件,用于查看以数字和图形方式显示的实时数据以及对高级数据进行事后处理。
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  • Science|一种纳米光子学闪烁体:闪烁数量级增强 推进电镜等技术发展
    仪器信息网讯 2月25日,麻省理工学院电子研究实验室和物理系等在Science发表一种纳米光学的闪烁体架构最新成果:A framework for scintillation in nanophotonics。该闪烁体架构在电子诱导和x射线诱导的闪烁中都获得了近一个数量级的增强,有助于开发出一种更亮、更快、更高分辨率的新型闪烁体。这或将推动医学成像、x射线无损检测、电子显微镜和高能粒子探测器等技术的发展。(DOI: 10.1126/science.abm9293 )闪烁体纳米光子学当高能粒子与材料碰撞时,能量会传递给材料中的原子,从而可以发光。这种闪烁过程被应用于从医学成像到高能粒子物理学等的许多探测器中。Roques-Carmes等人将纳米光子结构集成在闪烁材料上,以增强和控制其光发射。作者展示了纳米光子结构如何塑造闪烁的光谱、角度和偏振特性。这种方法将有助于开发更亮、更快和更高分辨率的闪烁体。摘要高能粒子对材料的轰击通常导致光发射,这一过程称为闪烁。闪烁在医学成像、x射线无损检测、电子显微镜和高能粒子探测器中有广泛的应用。大多数研究集中在寻找更亮、更快、更可控的闪烁材料。团队发展了一个统一的纳米光子闪烁体理论,该理论解释了闪烁的关键方面:高能粒子的能量损失,以及纳米结构光学系统中的非平衡电子的光发射。然后,我们设计了一种基于将纳米光子结构集成到闪烁体中来增强其发射的方法,在电子诱导和x射线诱导的闪烁中都获得了近一个数量级的增强。该框架预期能够开发出一种更亮、更快、更高分辨率的新型闪烁体,具有定制化和优化的性能。纳米光子闪烁体:( A ) 纳米光子闪烁体由与闪烁体集成的纳米光子结构组成。通过结合能量损失动力学、占据水平动力学和纳米光子学建模,可以对闪烁进行建模、定制和优化。( B ) 光子晶体纳米光子闪烁体增强x射线闪烁的数量级。( C ) 使用纳米光子闪烁体(白色虚线正方形)进行的 X 射线扫描。简介高能粒子对材料的轰击通常导致光发射,这一过程称为闪烁。闪烁体广泛应用于电离辐射的检测,具有广泛的应用,包括用于医学成像、无损检测的 X 射线探测器、用于正电子发射断层扫描的伽马射线探测器、夜视系统和电子显微镜中的荧光屏以及高能物理实验中的电磁热量计。因此,人们对开发具有更高光子产率和更高空间和能量分辨率的“更好的闪烁体”非常感兴趣。一般来说,更好的闪烁体会导致上述所有应用技术的明确改进。比如在医学成像技术中,更亮的闪烁体可以实现极低剂量的 X 射线成像,从而减少对患者的潜在伤害。大多数对改进闪烁体问题的研究都涉及合成具有更好固有闪烁特性的新材料。基本原理高能粒子转化为光子是一个复杂的多物理过程,其中入射粒子在闪烁体中产生一连串的二次电子激发。然后这些二次激发在发射闪烁光子之前放松为非平衡分布。通过在闪烁体中在闪烁光子波长的尺度上产生空间不均匀性,从而在波长尺度上调制材料的光学特性,可以控制和增强光发射。在这种“纳米光子闪烁体”中,由于电子可用于发光的光学态的局部密度的增强,闪烁体中的发光电子可以更快地发光。还可以使用这些纳米光子结构将捕获的光“引导”出闪烁体,从而检测到更多的光。这两种效应都导致闪烁光子发射率的提高。这些纳米光子效应与材料无关,原则上可以增强任何闪烁体,并且原则上也可以对任何类型的高能粒子观察到这些效应。纳米光子成形和增强电子束诱导闪烁实验演示:(a) 使用改进的扫描电子显微镜(SEM)诱导和测量电子束(10-40 keV)轰击闪烁纳米光子结构的闪烁。(b) 通过Monte Carlo模拟计算了绝缘体上硅晶片中的电子能量损失。插图:放大闪烁(硅)层中的电子能量损失。(c) 光子晶体(PhC)样品(蚀刻深度35nm)的SEM图像。倾角45◦.比例尺:1µm(顶部),200 nm(底部)。(d) 具有不同蚀刻深度(但厚度相同)的薄膜(TF)和PhC样品的闪烁光谱。(e) 闪烁信号通过物镜从真空室耦合出来,然后在相机上成像,并用光谱仪进行分析。(f-g)绿色和红色闪烁峰的理论(左)和实验(右)闪烁光谱之间的比较。插图:计算出的正常发射方向的闪烁光谱(每个立体角),显示出在单个发射角度上可能有更大的增强。成果该团队建立了纳米光子闪烁体的第一性原理理论,理论考虑了导致电子激发的复杂过程以及任意纳米光子结构中非平衡电子的光发射。使用该理论作为指导,在两个不同的平台上通过实验证明了数量级的闪烁增强:通过硅缺陷产生的电子诱导闪烁,以及传统闪烁体中通过稀土掺杂引起的 X 射线诱导闪烁。两种情况下的增强都是通过对闪烁体或闪烁体上方的材料进行二维周期性蚀刻来实现的,以创建二维光子晶体平板几何形状。该理论解释了实验观察到的增强,以及其他需要对发射过程的潜在微观动力学进行第一性原理描述的影响。例如,我们可以将观察到的光谱形状解释为光子晶体板的几何参数的函数。此外,使用该框架,我们可以解释信号与入射粒子通量的非线性关系,以及主要闪烁波长可能随高能粒子通量而变化的影响。此外,团队使用纳米图案 X 射线闪烁体来记录各种样本的 X 射线扫描,并观察到图像亮度的增加。这直接转化为更快的扫描,或者相当于实现给定亮度所需的更低 X 射线剂量。X射线闪烁的纳米光子增强结论该框架可以直接应用于在许多现有实验中的纳米光子闪烁模型,可解释任意类型的高能粒子、闪烁体材料和纳米光子环境。除此之外,该框架还允许发现用于增强闪烁的最佳纳米光子结构。成果展示了如何使用拓扑优化和其他类型的纳米光子结构来寻找可以呈现更大闪烁增强的结构。该团队期望这里展示的概念可以部署在使用闪烁体的所有应用领域,并在整个应用领域提供引人注目的应用,包括医学成像、夜视和高能物理实验等。实验设置和校准测量示意图.(A)实验设置示意图,扫描电镜SEM室内,1:电子束与样品相互作用;2:法拉第杯,链接外接皮安计,测量入射电流;3:6轴,同心圆工作台,由SEM控制;4:XYZ目标阶段。5:X射线遮挡窗口,SEM室外;6:镜面;7:管状镜头;8:分束器;9:CCD摄像机,成像样品表面;10:偏振片(可选);11:XYZ框架组件,带两个聚焦透镜和一个光纤耦合器,内部分光仪;12:光栅转台;13,14:(聚焦)镜;15:光谱仪CCD,绿色激光馈通对准臂;16:绿色激光源;17:光纤耦合直通,真空兼容;18:光纤输出照明样品。(B)校准实验(其余设置与(A)类似)。19:AVA校准光源。(C)测量校准转换功能。
  • 世界最小尺寸闪烁氙灯开拓应用新希望
    在世界芸芸的闪烁氙灯中如今有一张十分显眼的面孔,并且因其稳定性和长寿命已经获得高度认可,那就是世界上最小的电池供电的滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列。这张世界上最小的“面孔”已经出现在滨松的闪烁氙灯阵列中,闪烁氙灯是由充满高压氙气的玻璃封装组成。这是一个具有特殊的立方形外形的2W闪烁氙灯模块,并能够在电池电源下工作。现在让我们一探这款融合了创新思维和高科技制造含量的产品吧!滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列充分利用同时可分析多种波长的优势闪烁氙灯是在极短时间内发射高强度光的脉冲放电灯。它们作为光源在工厂自动化中被用于血液分析、环境分析以及产品检查。滨松公司原有的5、10、20和60W闪烁氙灯,由于稳定性高、寿命长,都能提供世界上顶级的性能特性,但是滨松工程师发现近来LED也是潜在的光源,其具有紧凑、价位低等特性,自然成为市场上的宠儿。因此滨松公司开始了LED光源的研究,滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列的开发工程师之一山下雄一(滨松电子管部门,第4制造部,负责设计与工程) 在介绍这款产品的时候曾说道:“这项工作使我们充分了解了LED光源的优劣。简单的说,LED是单色光源。如果想要同时分析多个波长,就需要多个LED光源。另一方面,在单个闪光内,闪烁灯的输出可以从紫外光到可见光,这对于同时分析多波长是理想的。”于是项目工程师们提出设想:如果可以利用这个特殊的特性来创造能与LED竞争的闪烁灯,那么它将开启更加宽广的应用。怀揣着这种可能性,山下与另一位负责生产的滨松工程师斋藤展彰(滨松电子管部门,第4制造部)开始了评估产品外形。滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列研发工程师斋藤展彰(左)、山下雄一(右)山下认为,滨松研制的闪烁氙灯已经回应了市场需求。但是对这种2W模块,滨松现在要尝试一些新的东西,这能够使其在竞争中前进一步,所以这是一件很值得去做的事,虽然市场上已经有了2W模块的产品,但是滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列在尺寸和外形上是完全不同的,开创世界前所未有的闪烁氙灯模块使用体验。面积42平方毫米——挑战世界上最小的尺寸滨松的之前研发的5W模块的外形是水平方向较长,并有两种类型:一种是灯在较长边,另一种是灯在较短边。虽然具有两种类型更符合市场的需求,但是具有相同性能的两种不同类型可能给一些使用者造成不便。所以,如今滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列则选择了一种能够满足任意客户需求的外形,即骰子状的外形,而这种外形几乎可以在任意的结构中使用。而且,将其制成一个单独的模块也能降低生产成本。这可以为使用者带来方便和实惠的双重好处。滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列研发工程师竹内望但实现这个外形,并不是一个简单的事情。对于此,负责评估与测试的滨松工程师竹内望(滨松电子管部门,第4制造部)曾说:“外形当然是个难题,而制造比其他产品更小的尺寸也使我们面临之前从未处理过的问题。不像滨松5W闪烁氙灯模块42*42*100毫米的尺寸,滨松2W闪烁模块L12336系列的目标尺寸是42平方毫米和小于一半的体积比。基本上所有的元件和布局都必须要从草图开始进行决定,为了得到正确的组合,努力和尝试的过程是重复而又艰难的。”2w的模块体积小于之前的5w模块的1/2滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列和以前的5W型是完全不同的,这不仅仅是缩小和最小化元件尺寸的事,研发团队使用了以前完全没使用过的新的电子元件来重新设计电路。所以,尽管设备变得更小,但是也采取了措施来提高对整个新标准的可靠性评估。研发工作启动的6个月后进行了设计更改在开发过程中,滨松公司曾得到来自设备制造商的请求,他们想要能够进行室外现场测量的便携式或手持式设备。研发团队意识到,这个趋势将会蔓延到全世界的设备生产商,而他们必须制造拥有世界上最小尺寸的产品,并且该产品应使用电池供电已达到便于携带的目的。鉴于研发思维的变化,在距离研发工作开始大概半年的时候,整个滨松2W闪烁氙灯模块研发团队投入到了更改设计的工作中。而在研制产品的过程中,电池供电是最难的一个课题,但研发团队确信,电池供电这个特性是满足新的需求的要点。提供5V的电池电源要求电源供给的改变,但改变输入功率会破坏整体平衡,所以这迫使团队不得不重新选择元件来进行再次调整,以获得最优的性能。而元件之间也是有变化的,所以即使规格相同,每个产品的性能也有细微的差异。如果没有考虑到这些差异,闪烁氙灯模块将不能提供全部的性能。山下在描述这段经历的时候曾回忆:“当我们终于完成了艰难的重新选择和元件调整后,然后给竹内去评估它。但是第二天他一脸失望地出现告诉我,我们无法得到想要的性能……”,在该阶段这种问题一直反复发生,山下和竹内两人严肃地窃窃私语,这种严肃的氛围持续了很长一段时间。只要客户想要,那么就永不言弃单位时间内闪烁频率越高,测量和分析时间就可以缩短得越多,这个特性也可为客户带来更多的方便,因此发光重复规格高达1250HZ亦成为滨松2W闪烁氙灯模块研发团队的另一个需要攻克的课题。在此之前,滨松所有闪烁灯都没有达到1250HZ,并且该模块还必须使用5V的低电压,在山下的报告中,经常出现:“斋藤先生,我无法给电源充电”的话语,而且报告也有一些其他不乐观的结果。给电路充电的研发工作花费了团队最多的时间。每秒发光1250次需要大量的电能,但是没有充足的供电,光每秒只能发射1000次。为了得到1250HZ的闪烁频率,研发团队不断地评估主要元件和电路系统。在降低电源电压、电流,选择保持低电流的元件的同时,还想减小灯模块的尺寸,所以保持平衡十分必要。研发过程艰难而又坎坷,但如果说放弃使用电池,可以增大电流,但相应的产品的性能就不能为客户带去便利,所以在这个问题上团队未有屈服过,“甚至光发射速率达到了1250HZ,我们的客户也很快会要求在室外用电池供电使用这个设备,所以即使老板让我放弃,我也一直在努力。”斋藤在谈到这个问题的时候曾说到。来之不易的灯的稳定性滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列和普通成人小指的尺寸差不多,包括电极在内的每一个部分都非常小,这些连安装过程都要用新的技术和技巧。使灯保持稳定是其中最难的一个任务。山下和负责装配灯的人会面,让其做些小的调整,而自己继续修改零件、安装并评估模块,并花费了无数的时间来重复这个过程,最后终于得到了一个令人满意的零件组合方案,通过装配后,最终实现了想要的规格,这对于整个团队来说无疑是一个激动人心的时刻。可同时进行多波长分析,因为一个闪光输出包含从紫外线到红外线。如果时间是微秒级的,脉冲照明型将从直流照明型获得大约1000倍的光输出。 技术难题的解决,是通过团队重新探讨了机械与电路设计,并在之后进行了多次检查电源匹配并对零件布局和方向做精确的调整来实现的。而工程师山下的经验也起到了重要的作用。在日常生产和进行研发工作的同时,富有经验的山下始终在检查在各产品中元件体现出的微小差异,当团队遇到困难时,这便成为了一个有力的帮助。这和滨松公司提倡将研发工作和日常生产工作联系在一起的理念有很大关系。广泛应用开拓的新希望滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列的诞生,让闪烁氙灯模块有了一个新的高点,并为新型的应用提供了无限的可能性。如今,实验分析仪器已经从原来大型的分析中心或者设备发展成为紧凑的桌面仪器。鉴于市场趋势,下一阶段手持设备将越来越多地用于现场分析和测量,而滨松2W闪烁氙灯模块L12336系列便可以参与到其中。在医疗诊断领域把L12336结合在紧凑的设备中,更益于设备在病人护理现场或附近使用,例如闪烁氙灯作为宽光谱光源可以在小型生化分析设备中使用、作为激发光光源用在荧光检测领域,作为诊断设备中的光源产品,闪烁氙灯会把功耗小、小型化、长寿命、光产额高等优势发挥的淋漓尽致。在“即时检测”(即POCT)设备如火如荼发展的今天,光源、探测器等元器件的高集成化、微型化已经是一个必然的趋势,而将滨松公司2W闪烁氙灯模块L12336和滨松研制的世界上最小的光电倍增管“Micro PMT”(μPMT)结合在一起,以滨松μPMT作为光探测,滨松2W闪烁氙灯模块作为光源,使医学探测更加快速便捷,而这也有可能对新的医学治疗诊断做出真正的贡献。滨松该两类产品,均会在2015年3月的第12届中国检验医学展滨松中国展台(D区505、506展位)隆重展出,进一步向业内人士展示其在检验医学上的更多更广的应用可能。除此之外,滨松的高集成化、微型化的世界最小微型光谱仪C12666MA,以及最新多通道MPPC模块(硅光电倍增管模块)亦会出现在该展会上,共同印鉴“微”时代的到来。另外,关于滨松2W闪烁氙灯模块,滨松工程师竹内还曾谈到:“当我们首次在产品展览中展示该滨松2W闪烁氙灯模块时,客户首先对它用电池驱动感兴趣。在减小设备尺寸成为主要趋势时,产品紧凑的设计成为另一个受到高度评价的特性。我们也听到了客户的评价,他们想在测量生物活体中尝试使用这个闪烁氙灯模块。”而在环境检测方面,滨松亦在研发不同的光源来替代在紫外区域发射高强度的汞灯,而一个有效的产品就是氙灯。根据不同的原因,这款滨松2W闪烁氙灯模块被认为是十分有效的。山下也希望,能够听到更多来自客户的对这款滨松2W型号闪烁氙灯模块L12336系列的建议。 更多滨松2W闪烁氙灯模块—L12336系列产品详细信息:
  • 新型闪烁体材料让X射线检测与成像技术灵敏度大幅提升
    p style=" line-height: 1.5em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 记者8月28日从西北工业大学、福州大学获悉,西北工业大学博士生导师、中国科学院院士黄维教授和新加坡国立大学刘小钢教授与福州大学杨黄浩教授联合带领下的科研团队,发现了一类全无机钙钛矿纳米晶闪烁体,其对X射线具有非常高效的彩色辐射发光显示,在超灵敏X射线检测和高分辨X射线成像技术领域可以获得应用,这一原创性成果日前在《自然》杂志上在线发表。 br/ /p p style=" line-height: 1.5em "   据介绍,X射线成像技术在医学诊断、国防工业、核技术和辐射安全检测等众多领域均有着重要的应用。闪烁体材料是X射线技术应用中的核心器件,它可将高能X光子转化为低能量的可见光,以实现X射线检测与成像。目前绝大多数的闪烁体材料在高温条件下煅烧合成,不仅价格昂贵,而且对X射线光子能量的转化效率有限,同时其辐射发光波长也不易调控。 /p p style=" line-height: 1.5em "   科研人员在研究中发现,含有铯和铅重原子成分的钙钛矿纳米晶闪烁体具有较强的X射线吸收能力、高效的三重态发光特征、可调控的电子能级结构以及较快的辐射发光速率。基于该类无机材料的本征特性,利用较之传统方法更为简易廉价的纳米合成技术,该合作团队实现了对X射线光子的高效转化和发光颜色的精细调控,为多彩辐射发光显示技术和超灵敏X射线检测与成像技术发展提供坚实的基础。此外,该类钙钛矿纳米晶闪烁体的发现为制备大面积柔性闪烁体膜提供了可能性,可极大地提高X射线检测与成像灵敏度,降低X射线在医学诊断和X光机安全检查等方面的辐射使用剂量,使得基于X光的应用更加安全。 /p p br/ /p

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  • 【原创大赛】闪烁瓶测量法测定空气中氡浓度

    【原创大赛】闪烁瓶测量法测定空气中氡浓度

    [align=center][b]闪烁瓶测量法测定空气中氡浓度的方法验证报告[/b][/align][align=center]国联质检:张福霞[/align]1范围本标准规定了空气中氡(222Rn)浓度的闪烁瓶测量方法。本标准适用于室内外及地下场所等空气中氡浓度的测量。2术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。2.1放射性气溶胶 radioactive aerosol 含有放射性核素的固态或液态微粒在空气或其他气体中形成的分散系。2.2闪烁瓶 scintillation flask 一种氡探测器和采样容器。由不锈钢、铜或有机玻璃等低本底材料制成。外形为圆柱形或钟形,内层涂以ZnS(Ag)粉,上部有密封的通气阀门。2.3瞬时采样 grab sampling 在几秒到几十分钟短时间内,采集空气样品的技术。 2.4 氡室 radon chamber一种用于刻度氡及其短寿命子体探测器的大型标准装置。由氡发生器、温湿度控制仪和氡及其子体监测仪等设备组成。3方法概要按规定的程序将待测点的空气吸入已抽成真空态的闪烁瓶内。闪烁瓶密封避光3h,待氡及其短寿命子体平衡后测量222Rn、218Po和214Po衰变时放射出的α粒子。它们入射到闪烁瓶的ZnS(Ag)涂层,使ZnS(Ag)发光,经光电倍加管收集并转变成电脉冲,通过脉冲放大、甄别,被定标计数线路记录。在确定时间内脉冲数与所收集空气中氡的浓度是函数相关的,根据刻度源测得的净计数率-氡浓度刻度曲线,可由所测脉冲计数率,得到待测空气中氡浓度。4 测量装置典型的测量装置由探头、高压电源和电子学分析记录单元组成。4.1探头由闪烁瓶、光电倍加管和前置单元电路组成。4.1.1典型的闪烁瓶(2.2条)简图见图1:4.12必须选择低噪声、高放大倍数的光电倍加管,工作电压低于1000V。4.13前置单元电路应是深反馈放大器,输出脉冲幅度为0.1~10V。4.14探头外壳必须具有良好的光密性,材料用铜或铝制成,内表面应氧化涂黑处理,外壳尺寸应适合闪烁瓶的放置。4.2高压电源输出电压应在0~3000V范围连续可调,波纹电压不大于0.1%,电流应不小于100mA。4.3记录和数据处理系统可用定标器和打印机,也可用多道脉冲幅度分析器和X-Y绘图仪。[align=center] [img=,554,440]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808031039490246_2428_2904018_3.png!w554x440.jpg[/img][/align]a. 通气阀门应经过真空系统检验。接入系统后,在1×103Pa的真空度下,经过12h,真空度无明显变化;b. 底板用有机玻璃制成。其尺寸与光电倍加管的光阴极一致,接触面平坦,无明显划痕,与光电倍加管的光阴极有良好的光耦合;c.ZnS(Ag)粉必须经去钾提纯处理,使其对本底的贡献保持在最低水平;d.在整个取样测量期间,闪烁瓶的漏气必须小于采样量的5%;e.测量室外空气中氡浓度时,闪烁瓶容积应大于0.5×10-3m3。5 刻度5.1 刻度源 刻度源采用226Ra标准源(溶液或固体粉末)。 标准源必须经过法定计量部门或其认可的机构检定。标准源应有检验证书,应清楚表明参考日期和准确度。5.2 刻度装置刻度装置除采用专门的氡室(见2.4条)以外,还常用本条描述的玻璃刻度系统(简称刻度系统,见图2)。[align=center] [img=,630,593]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808031040051800_917_2904018_3.png!w630x593.jpg[/img][/align]5.2.1刻度系统应有良好的气密性。系统在1×103Pa的真空度下,经过24h,真空度变化小于5×102Pa。5.2.2压力计的精度应优于1%。5.2.3流量计采用浮子流量计,精度应优于3%,量程为0~2×10-3m3/min。5.2.4清洗和充气气体应为无氡气体(如氮气、氩气或放置二个月以上的压缩空气)。5.2.5真空泵如采用机械真空泵,必须使刻度系统真空优于5×102Pa。5.3刻度曲线5.3.1按规定程序清洗整个刻度系统。密封装有标准镭源溶液的扩散瓶的二端,累积氡浓度达到刻度范围内所需刻度点的标准氡浓度值。刻度点要覆盖整个刻度范围,一个区间(量级宽)至少3个以上刻度点。详见附录A(资料性附录)。5.3.2必须先把处于真空状态的闪烁瓶与系统相连接。按规定顺序打开各阀门,用无氡气体把扩散瓶内累积的已知浓度的氡气体赶入闪烁瓶内。在确定的测量条件下,避光3h,进行计数测量。5.3.3由一组标准氡浓度值及其对应的计数值拟合得到刻度曲线即净计数率-氡浓度关系曲线。并导出其函数相关公式。5.3.4各种不同类型的闪烁瓶和测量装置必须使用不同的刻度曲线。6测量步骤6.1在确定的测量条件下,进行本底稳定性测定和本底测量。得出本底分布图和本底值。6.2将抽成真空的闪烁瓶带到待测点,然后打开阀门(在高温、高尘环境下,须经预处理去湿、去尘),约10s后,关闭阀门,带回测量室待测。记录取样点的位置、温度和气压等,详见附录B(资料性附录)。6.3将待测闪烁瓶避光保存3h,在确定的测量条件下进行计数测量。由要求的测量精度选用测量时间。6.4测量后,必须及时用无氡气体清洗闪烁瓶,保持本底状态。7测量结果7.1典型装置刻度曲线在双对数坐标纸上是一条直线,公式为:logY = alogX + b …………………………(1)式中:Y——空气中氡的浓度,Bqm-3; X——测定的净计数率,cpm; a——刻度系数,取决于整个测量装置的性能; b——刻度系数,取决于整个测量装置的性能。由式(1),可得:Y=ebxa ………………………………(2)由净计数率,使用图表或公式可以得到相应样品空气中的氡浓度值。7.2结果的误差主要是源误差、刻度误差、取样误差和测量误差。在测量室外空气中氡浓度时,计数统计误差是主要的。按确定的测量程序,报告要列出测量值和计数统计误差。8 方法检出限空白值测定结果:[table][tr][td][align=center]编号[/align][/td][td][align=center]1[/align][/td][td][align=center]2[/align][/td][td][align=center]3[/align][/td][td][align=center]4[/align][/td][td][align=center]5[/align][/td][td][align=center]6[/align][/td][td][align=center]7[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]测定结果(Bq/m[sup]3[/sup])[/align][/td][td][align=center]18.8[/align][/td][td][align=center]20.6[/align][/td][td][align=center]17.1[/align][/td][td][align=center]19.7[/align][/td][td][align=center]20.6[/align][/td][td][align=center]19.7[/align][/td][td][align=center]14.5[/align][/td][/tr][tr][td]平均值(Bq/m[sup]3[/sup])[/td][td=7,1][align=center]18.71[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]标准偏差[/align][/td][td=7,1][align=center]2.21[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]检出限[/align][/td][td=7,1][align=center]6.63[/align][/td][/tr][/table]9 方法精密度[table][tr][td][align=center]测定次数(n)[/align][/td][td][align=center]1[/align][/td][td][align=center]2[/align][/td][td][align=center]3[/align][/td][td][align=center]4[/align][/td][td][align=center]5[/align][/td][td][align=center]6[/align][/td][/tr][tr][td]测定值(Bq/m[sup]3[/sup])[/td][td][align=center]18.8[/align][/td][td][align=center]20.6[/align][/td][td][align=center]17.1[/align][/td][td][align=center]19.7[/align][/td][td][align=center]20.6[/align][/td][td][align=center]14.5[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]平均值(Bq/m[sup]3[/sup])[/align][/td][td=6,1][align=center]18.71[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]标准偏差[/align][/td][td=6,1][align=center]2.21[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]相对标准偏差[/align][/td][td=6,1][align=center]12%[/align][/td][/tr][/table]10结论 本方法采用经过国家计量部门校准、验收合格的仪器进行氡的测定,结果真实可靠。

  • 大家有用到闪烁瓶吗?

    大家有用到闪烁瓶吗?都是用来检测什么的呢?就知道有些同位素标记的用液闪来计数,还查到了空气中氡的检测要用到,还有什么其他用的多的地方吗?

闪烁室测氡仪相关的耗材

  • 闪烁探测器
    这款标准闪烁探测器采用YAG:Ce闪烁体,YAP:Ce晶体,LuAG:Ce晶体,BGO晶体, CaF:Eu晶体,CsI:Tl闪烁晶体制作而成,百分之百欧洲进口,具有全球一流的闪烁转换效率,是电子、X射线、伽玛射线、UV和EUV成像或探测的理想闪烁探测器。标准的闪烁体探测器是圆形薄片,典型的直径范围为2mm到50mm,厚度范围为0.1mm到5mm.当然我们也可以提供其他各种形状和大小的闪烁探测器,闪烁体探测器, 闪烁晶体,包括:棱镜型/球形或薄片型,并提供当面抛光,双面抛光和多面抛光。并提供铝、鋯或氧化铟锡的窗口等多种选择。 这些闪烁体探测器和闪烁晶体可用于电子、X射线、伽玛射线、UV和EUV的探测。闪烁探测器我们提供的闪烁探测器,闪烁体探测器,闪烁晶体由YAG:Ce, LuAG:Ce和YAP:Ce闪烁晶体材料构成。目前提供如下三种选择:*标准的闪烁晶体:直径可达50mm,厚度0.5-0.1mm.用于:X射线、电子、UV和EUV的成像。*带衬底闪烁体探测器:超薄YAG:Ce屏厚度可小到为0.005mm,耦合到光纤光学、玻璃、石英等衬底上使用。可用的规格是:厚度为0.010mm直径最大为40mm, 厚度为0.005mm直径最大为25mm.*独立薄YAG:Ce闪烁探测器: 这种超薄成像屏是独立使用的闪烁屏,不需要耦合到衬底上。目前可用的规格如下:YAG:Ce闪烁晶体:厚度0.050mm的屏直径最大是50mm,厚度为0.025mm的闪烁屏的最大直径是10mm YAP:C闪烁体探测器:厚度0.1mm的屏直径最大是50mm, 厚度为0.050mm的屏的最大直径是10mm.这种独立使用的闪烁探测器非常脆,极易损坏,为此,我们为您提供了一种刚玉外壳用于保护闪烁晶体,或者提供陶瓷或钢铁外壳保护的闪烁体探测器。Standard detectors usually have the shape of cylindrical plates. Typically, diameters range from 2 mm up to 50 mm and thickness from 0.1 to 5 mm. A variety of other shapes and sizes, including prisms, spheres and thin plates can be made. An optional (one) face, both faces, or all surfaces can be polished. A thin aluminum, carbon or ITO (Indium Tin Oxide) entrance window can be made as an optional extra. An optional Zr layers can be applied on the entrance window for EUV radiation. Also see Optional extras.These detectors are intended to be used for the detection of electrons, X-ray, gamma, UV and EUV radiation.
  • YAG:Ce闪烁晶体
    YAG:Ce闪烁晶体也叫作YAG:Ce闪烁体或YAG:Ce晶体。我们提供优质欧洲进口的YAG:Ce闪烁晶体,并可以在YAG:Ce晶体基础上支撑Ce:YAG闪烁晶体和YAG:Ce晶体作为衬底,从而保证具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。YAG:Ce闪烁晶体材料具有衰减快以及具有良好的化学、力学和温度性能。Ce:YAG闪烁体和Ce:YAG闪烁晶体发出的光非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这些YAG:Ce闪烁晶体成像荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。光学衬底上的YAG:Ce晶体高分辨率的成像屏实际上是高铝成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce晶体或YAG:Ce闪烁晶体的超薄显示屏.超薄YAG:Ce浸提屏(左图) 和超薄LuAG:Ce超薄屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的超薄成像屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏 我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。
  • YAP:Ce闪烁晶体
    YAP:Ce晶体也叫作YAP:Ce闪烁晶体。我们提供优质进口的YAP:Ce闪烁晶体。并可以在YAP:Ce晶体基础上支撑YAP:Ce闪烁晶体和YAP:Ce作为衬底,从而保证具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种材料具有衰减快以及具有良好的化学、力学和温度性能。YAP:Ce晶体YAP:Ce闪烁发出的光非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这些成像荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。光学衬底上的成像屏高分辨率的成像屏实际上是高光谱铝成像系统的主要元件.我们提供基于Ce:YAP闪烁晶体或Ce:YAP晶体的超薄显示屏.超薄Ce:YAP闪烁晶体屏(左图) 和超薄Ce:YAP晶体超薄屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的超薄成像屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏 我们可以提供耦合到FOP上的YAP:Ce闪烁晶体和YAP:Ce晶体,也可与CCD耦合一起。
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