双折射测定仪

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双折射测定仪相关的厂商

  • 上海拓精工业测定仪器有限公司,是一家具有独立进出口权的股份制责任有限公司,公司成立于2004年,公司自成立以来致力于不断提高品质检测水平并秉承“诚信合作,专业经营,服务第一”的经营理念, 公司员工专业化,技术人员经验丰富。我们还吸取了日本及欧美国家一些优秀公司的先进技术理念,利用坚实的技术基础,提供准确可靠的产品售前售中和售后服务;主要为汽车制造、航天航空业、第三方实验室、国家检测机构、高校院校研究所、化工制药、医疗、能源等领域提供品质检测仪器设备、非标自动化检测设备及相关技术服务。 拓精仪器是一家专业实验室检测分析仪器研发、生产、销售一体化股份制有限公司并同时代理国际一线品牌检测分析仪器,主要产品:实验室分析仪器、动态分析检测仪器、光学检测分析仪器、材料试验机、X- ray检测分析仪器、环境试验箱实验箱、实验室设备及工业仪器设备及耗材同时也为广大客户提供实验室综合解决方案服务!公司的产品在众多行业领域迅速推广并得到客户的认可,公司将不断的把世界最先进的检测设备及工业制造设备以最直接最快捷的方式传达给我们的客户,并帮助我们的客户提高产品检测能力和制造工艺。
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  • 食品 添加剂 发酵产品 食品测量仪器生产销售的产品主要有:德国MN原装进口测试条、糖度计、工业电导率仪、水质检测系列、工业PH计、重金属检测、COD测定仪、氨氮的测定、臭氧比色计、PH试纸、双氧水试纸、过氧乙酸检测试纸、余氯试纸、DPD余氯测试盒、亚硝酸盐试纸、臭氧试纸、COD比色管、水硬度试剂盒 糖度计、切削液、冰点仪、酸度计、PH计、盐度计、折光仪、折射仪。同时代理德国MACHEREY-NAGEL (MN)公司原装进口QUANTOFIXR半定量测试条 系列产品。   广泛应用于城市供水、食品饮料、环境、医疗、化学、制药、热电、造纸、养殖、生物工程、发酵工艺、纺织印染、石油化工、水处理等领域的水质现场快速检测。
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  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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双折射测定仪相关的仪器

  • 双折射应力仪 400-860-5168转3086
    PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述: 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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  • 双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述:日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术领先世界,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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  • 双折射显微成像系统 400-860-5168转2831
    双折射显微成像系统所属类别: ? 光学检测设备 ? Hinds偏振成像设备所属品牌:美国Hinds Instruments公司 产品简介双折射显微成像系统 生物组织/材料 双折射分布显微成像系统 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合CCD多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性,可以用来分析检测生物样品/材料特定。 偏振显微成像系统、显微偏振成像系统、偏振显微镜、偏振成像、双折射显微成像 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统也可以并配合CCD多个像素元,从而Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以详细细致的显示这个分布。结合不同组织的双折射偏振特性,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以用来分析检测生物样品/材料特定。 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以配合多个波长实现多波长扫描的实现和应用(三波长或者四波长)。Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统在配合高速偏振调制成像和CCD多像素计算方案有着独到的解决技术。 产品特点? 不需要荧光/染料标记? 支持客户需求定制光谱扫描? 支持客户需范围求点/面/线成像? 同一幅面内双折射分布/强度分布/偏振角分布成像可选? 三色(可到2400nm谱段)四色(可到3500nm谱段成像)可选 相关产品 磁光克尔效应测量系统 成像型穆勒矩阵测量系统
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双折射测定仪相关的资讯

  • Photonic Lattice发布online双折射测量仪WPA-KAMAKIRI新品
    主要简介:Photron集团公司是日本大型相机,视频,软件控制供应商,其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛,欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点:可用来评估高相位差产品,PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件,满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域:相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)树脂成型玻璃主要参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度6测量尺寸97×77mm ~ 2900×2310mm7定制选项光学配件,可测量超过10000nm的高相位差创新点:可用来评估高相位差产品,PET薄膜和树脂成品 三波长测定双折射范围可达3000nm 可选配高相位差配件,满足10000nm的超过相位差测定需求 online双折射测量仪WPA-KAMAKIRI
  • 40年坚持,打通双折射双频激光器及干涉仪全技术链条
    双频激光干涉仪是先进制造业、半导体芯片制造等行业不可或缺的纳米精度的尺子,应用广泛。张书练教授团队(先清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,后镭测科技有限公司),以解决双频激光干涉仪关键技术为线,经近40年坚韧攀登,研究完成了“可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双折射双频激光干涉仪”的全链条技术,并批产。该技术开国内可伐-玻璃组装式氦氖激光器之先,吹制工艺或成历史。开国内外应力激光腔镜产生双频激光之先,解大频差和高功率不可得兼之难,频率差可以在1~40 MHZ范围选择而功率大于1 mW。双折射双频激光干涉仪测量70 m长度误差小于5 μm,非线性误差小于1 nm,测量速度高于3 m。1 研究背景激光干涉仪是当今纳米时代的长度基准,也是先进制造业(机床、光刻机,航空、航天等)制造的精度保证。制造精度和生产效率越来越高,对激光干涉仪的测量精度和测量速度提出了更高的要求。激光干涉仪的“激光”是(HeNe)氦氖激光器,至今无可替代。传统HeNe双频激光干涉仪存两个难点,成为瓶颈:1)国内外,我们之前,双频激光器靠塞曼效应产生两个频率,频率之差小(在3 ~ 5 MHz之间),频差越大激光功率越小,不能满足光刻机等应用的更大频率差要求(如10、20、40 MHz),频率差大,测量速度高,效率高;2)不论是单频还是双频激光干涉仪,国产还是外购,各型号都有几纳米甚至十几纳米的非线性误差,一直没有找到解决办法。通常,在单频激光器的光增益路径上加磁场后(塞曼效应)就变成双频激光器。可是,相当长的期间,购买到的大部分单频激光器因为常出现跳模,用于单频激光干涉仪时淘汰率很高,此外,加上磁场后单频并不呈现双频,双频激光干涉仪难有好的光源。经近40年坚持,研究打通了单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双频激光干涉仪的全技术链条,批产,获得了广泛应用和认可。2 双折射双频激光器及干涉仪的关键和全链条技术2.1 双折射双频激光器置晶体石英片(图1a中的Q双面增透)或有内应力的玻璃元件(图1b中的M2右表面镀反射膜)于激光器谐振腔内,这些元件的双折射使激光频率分裂,一个频率分裂成两个频率,两个频率的偏振方向互相垂直(正交偏振)。反复实验证明,激光器可输出频率差大于但不能小于40 MHz两个频率。如果频率差稍大于40 MHz,在改变(调谐)激光频率谐振腔长(即用压电陶瓷1纳米一步“距”的推动M2改变激光谐振腔长)过程中看到的是一个频率振荡会陡然变成两个频率振荡,而前者功率陡然下降一半,刚升起的频率则获得同样的功率。继续调谐腔长,最早振荡的频率会陡然消失,而后起振的频率功率升高到最大。如果频率差小于40 MHz,两频率则有你无我。图2示出了频率差20 MHz时o光和e光的光强度此长彼消得过程。理论和实验一致。图1 激光频率分裂原理图。(a)晶体石英片Q于激光谐振腔内,(b)激光输出镜为M2右表面,对M2加力使激光反射镜内产生应力图2 频差20 MHz时的强烈模竞争。激光强度随腔长调谐(改变)的实验曲线。理论和实验一致图3给出了两个频率的频率差多大时,在频率轴上两个频率的共存区的宽度,也即两个频率差大小对应的共存频域宽度。曲线最左侧可见,在约40 MHz时,共存宽度迅速下降趋于0 Hz,也即小于40 MHz时,两频率之一熄灭,频率差消失。图3 实验测得的两个频率共存的频域宽度和激光频率差的关系2.2 双折射-塞曼双频激光器塞曼双频激光器的频率差一般在5 MHz以下,功率随频率差增大而减小,7 MHz时的激光功率仅0.2 mW以下。作者团队研发的双折射双频激光器频率差大于40 MHz,研制成的双折射-塞曼双频激光器可以输出百KHz到几十MHz的频率差,而功率不因频率差增大而改变,可以达到1.5 mW。双折射-塞曼双频激光器包括两项关键技术,先由双折射造成激光器频率分裂,决定了激光器输出为两个偏振正交频率以及它们的间隔(频率差)的大小。再因激光器上加了横向磁场,横向塞曼效应使增益原子分成两群——π群和σ群。π群和σ群光子的偏振对应双折射互相垂直的主方向,也即正交偏振的光“各吃各粮”,它们之间的相互竞争不存在了,无论频率差大小都能振荡。频率差可以是3、5、7、10、20、40 MHz或更大。2.3 内雕应力双折射-塞曼双频激光器提出了“内雕应力”的概念和产生双频的原理,即用窄脉冲激光器对激光腔镜表面或基片内部造孔(或穴),造成激光腔镜内的应力精确改变(图4所示),“雕刻”提高了频率差的控制精度。“内雕应力”双折射双频激光器不仅用于国产双频激光干涉仪,也用于运行中的光刻机的激光器替换。同时,提供了科研单位的科学研究。该激光器替换正在服役的光刻机的原有激光器,使光刻机机台误差由24 nm下降到6 nm。图4 内雕应力双折射-塞曼双频激光器。M2内部雕刻出的孔造成激光器的双频,磁条PMF1和PMF2消除激光器强模竞争2.4 可伐-玻璃组装式(无吹制)双频激光器国内,研制生产HeNe激光器历史很长,但我国一直靠吹制工艺制造氦氖激光器,而且不能制造可伐-玻璃组装式氦氖激光器。北京镭测科技有限公司研制成可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器,功率大于1 mW,满足单频和双频激光器的需求。同时,这一技术将使整个国产氦氖激光器告别吹制,进入一个新的技术高度(如图5所示)。图5 可伐-玻璃组装内雕应力双频激光器(镭测科技提供)2.5 研制成的双频激光干涉仪技术指标作者强调的是,我们有了可伐-玻璃组装式激光器和双折射(内应力)-塞曼双频激光器,双频激光干涉仪有了强力的“心脏”,有了自主可控的基础。团队又全面设计干涉仪的光、机、电、算。时至今日,可伐-玻璃组装式双折射(-塞曼)双频激光器(非吹制)和干涉仪已批量生产,正在满足科学研究和产业的需求。中国计量科学院对双折射-塞曼双频激光干涉仪的测试结果:频率稳定度为10-8,分辨力为1 nm,非线性误差小于1 nm(图6所示),12小时漂移35 nm(图7所示),70 m长度测量误差小于5 μm。这些数据来自中国计量科学院测试证书:CDjx 2014-2352, CDjx 2018-4810, CDjx 2020-04463等。图6 双频激光干涉仪非线性误差图7 双折射-塞曼双频激光干涉仪12小时零点漂移3 展望在实现“可伐-玻璃组装式激光器”→“内雕应力双折射-塞曼双频激光器”→“双折射-塞曼双频激光干涉仪”全链条技术基础上,进一步发展各种规格的可伐-玻璃组装式激光器,以开拓双折射-塞曼双频激光干涉仪的应用深度和应用范围。
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。 视野范围内可一次测量,测量范围广。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 PA系列双折射测量仪

双折射测定仪相关的方案

双折射测定仪相关的资料

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双折射测定仪相关的耗材

  • 低双折射旋转光纤
    低双折射旋转光纤LB650 | LB1060 | LB1300 | LB1300RC | PME1300-10 Spun fiber:Rotating glass preform during fiber drawing process produces a waveguide with unique properties: all fiber non-uniformities are averaged along all possible directions, effectively cancelling out total fiber birefringence. With total (but not local) birefringence close to zero, we obtain a fiber that will hold circular polarization (even when bent or twisted). Unlike conventional PM fibers that can hold only linearly polarized light, or annealed fiber that requires special handling, this low-birefringence fiber preserves both linear and circular polarization and can relay it with minimum error over large distances. Highly-birefringent preforms with incorporated stress produce spun fibers that can withstand significant bending and twisting and hold polarization over large number of coils with reasonable accuracy (without costly annealing process). Polarization accuracy in this case depends on local (instant) birefringence that introduces a small constant error, independent of fiber length. Elliptical core fiber Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Elliptical core fiber:Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Features:- High extinction ratio- Reduced coupling loss- Low temperature dependence Applications - Fiber-optic gyros- Optical current sensors - Fiber amplifiers需要咨询更多的服务请与我们的市场人员联系。
  • PR-32a折射仪 PR-32a折射仪 PR-32a折射仪
    PR-32a折射仪 日本ATAGO 产品详细介绍 高品质RX-5000数字式折射计系列之一,带有漏斗槽,可以灌入样品进行连续测量。也可对不同样品进行连续测量,不需每次清洗棱镜,提高测量效率。 产品功能描述 测量范围:   折射率(nD) 1.32700 to 1.58000 Brix 0.00 to 95.00% 最小标度:   折射率(nD) 0.00001 Brix 0.01% 测量精度:   折射率(nD) ± 0.00004 Brix ± 0.03% 温度校正 5~60℃ 输出接口 RS-232, CDP-62数字式打印机(另售) 损耗 40VA 电源需求 电压 AC100~240V, 50/60Hz 产品特征 长度 21cm 宽度 29cm 高度 34cm 重量 11.0kg(除漏斗槽) 产品持有证书   CE
  • 迷你数显折射仪数显折射计PAL-α
    数字手持袖珍折射仪PAL-&alpha ATAGO庆祝公司成立65周年特别上市的PAL-&alpha (alpha) 价格优惠,具有糖度(糖度( Brix ))范围广的产品(0-85%). 该产品可测定大部分液体.具有防水功能(可使用流动水清洗), 拥有其他PAL系列产品所具有的各项功能. Model PAL-&alpha 型号 3840 测量范围 糖度( Brix )0.0 至85.0 % 温度9.0 至99.9° C 溶解值 糖度( Brix ) 0.1 % 温度0.1° C 测量准确度 糖度( Brix ) ± 0.2 % 温度± 1° C 环境温度 10 至40° C 测量温度 10 至100° C ( 自动温度补偿) 样本量 0.3 毫升 测量时间 3 秒 电源 2 × AAA 电池 国际保护等级 IP65 无尘且对喷射水柱具防护作用 尺寸重量 55(W) × 31(D)× 109(H)毫米, 100公克(不含零件的重量) 选件 &bull PAL保管箱: RE-39409&bull 携带连: RE-39410&bull 10% 蔗糖溶液(± 0.03%) : RE-110010&bull 20% 蔗糖溶液(± 0.03%) : RE-110020&bull 30% 蔗糖溶液(± 0.03%) : RE-110030&bull 40% 蔗糖溶液(± 0.04%) : RE-110040 50% 蔗糖溶液(± 0.05%) : RE-110050&bull 60% 蔗糖溶液(± 0.05%) : RE-110060
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