西他列汀

我公司为美国DNAstar公司的国内指定代理。DNASTAR 致力于为当今生命科学家提供创新且易于使用的桌面软件工具。我们的Lasergene软件提供基因组学、结构生物学和进化生物学研究需要的所有工具，您既可购买完整软件包，也可以根据您的具体需求购买单独软件套件。软件套件包括：Lasergene Genomics Suite-新一代序列组装和分析软件Lasergene Genomics Suite在一个单独的集成软件包里囊括了新一代序列组装和分析所需的所有工具。我们支持所有主要的新一代测序技术、简化了您对各类项目的数据处理工作，其中包括de novo或参考指导基因组组装、目标区域重测序、宏基因组和群体组装、大规模多样本SNP分析、RNA-Seq、ChiP-Seq和miRNA比对和分析等。Lasergene Structural Biology Suite-大分子结构分析软件Lasergene Structural Biology Suite为结构生物学家提供了一套用于蛋白序列分析、大分子可视化和结构预测的强大工具。Lasergene Structural Biology Suite 是基于Protean 3D和NovaFold设计的软件套件。前者是一种用于探索大分子结构、运动和功能的应用程序，后者可预测蛋白序列的三维结构。Lasergene Evolution Suite-序列比对、分析和编辑软件Lasergene Evolution Suite使进化生物学家易于执行多序列和成对序列的比对、确认基因、组装Sanger序列重叠片段、创建虚拟克隆和设计引物，充分利用多种综合性分析工具。Lasergene Evolution Suite 以用于DNA和蛋白序列比对和分析的MegAlign，以及其配套应用程序MegAlign Pro 为基础进行设计，还包括另外几种强大的序列分析工具和应用程序。Lasergene Cloning Suite-克隆、引物设计和序列编辑软件Lasergene Cloning Suite为其他Lasergene软件包奠定了坚实基础。使用Lasergene Cloning Suite，您可以编辑和注解序列、创建详细的环状图或线性图、利用各种克隆方法（包括Gatewany Multisite、TA、TOPO和限制克隆）实现自动虚拟克隆。此套件还包括为PCR、测序和杂交实验设计最适合引物对所需的所有工具。有需要的公司或单位可致电我们申请试用序列号。

IMEXT FTAFission Track Analysis System裂变径迹显微分析系统IMEXT FTA产品介绍IMEXT FTA裂变径迹分析系统Fission Track Analysis System1、 裂变径迹技术原理 Fission Track Principle矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA原理示意裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA样品示意图2、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备；项目化管理、流程化操作；主要用于矿物裂变径迹分析。系统所配软件包，专为裂变径迹应用开发，可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄；可满足裂变径迹测量的各种需求。设备图：控制软件主界面图：测量分析流程：1) 新建样品项目，开始裂变径迹分析；或者打开已有样品项目，继续分析；2) 样品全貌图扫描；3) 样品光薄片/云母片定位；4) 样品观察方式配置；样品拍照模式配置；5) 目标颗粒选择；6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描；7) 目标颗粒裂变径迹参数测量；8) 裂变径迹数据统计；9) 专用裂变径迹分析报告；3、 样品全貌图扫描 Sample MAP 系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片，生成样品全貌图；包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。4、 样品定位&切换 Relocation & SWAP 系统支持样品粗定位和精细定位两种模式；确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时，需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析，需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位，让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察，该模块提供了记录功能，可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置，对目标颗粒进行重定位，方便下次观察和分析。5、 智能显微镜控制 Digtal Microscope Control 系统支持智能显微镜控制，支持透射/反射、明场/偏光等观察方式，与样品位置Grain/Mice随动，支持智能光强管理，支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。6、 目标颗粒选择 Object Grain Select 系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒，用于后续拍照和测量。7、 自动目标颗粒扫描Auto Scanning/Snap支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列，支持单颗粒超景深照片合成；支持多颗粒批量扫描，提高工作效率。扫描过程照片自动抓拍、自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；提供图片浏览功能，可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能；8、 径迹参数测量 Track Measurement支持多种径迹参数的自动测量和人工测量，包含径迹数量、面积、最大，最小卡规直径及其比率等颗粒参数，且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。9、 径迹统计&报告 Statistics&Report支持多种径迹参数的标准统计，包含最大值、最小值、平均值、标准差等。10、 数字薄片 Digital Slice支持按照样品项目管理，扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化，方便长期保存和后期分析，以及数据追溯。11、 用心服务放心使用全面的服务在于您的需要不只是一件产品，而在于您的企业或科研发展的同时，有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您领先便是我们成功之处。系统自问世以来，深受广大学及研究所等用户的信赖和支持；一旦获取，终生免费升级。

阵列MEMS光开关工作波长范围Operating wavelength range1260-1650nm工作波长Operating wavelength1310nm/1550nm插入损耗Insertion loss≤2.0dB波长相关损耗Wavelength dependent loss≤0.8dB温度相关损耗Temperature dependent loss≤0.5dB偏振相关损耗Polarization dependent loss≥0.3dB回波损耗Return loss≥50dB串扰值Crosstalk value≥50dB重复性Repeatability±0.1dB切换时间Switching time≤10ms最大承受光功率Maximum optical power≤500mW光纤类型Fiber typeSM-9/125光接口类型Optical interface typeFC/APC/法兰盘接口控制接口Control interfaceRS232工作电压Operating voltageDC5V使用寿命Service time≥10 billion times功耗Power consumption≤10W工作温度Operating temperature-20℃ ~ +70℃贮存温度Storage temperature-40℃ ~ +85℃模块尺寸Size200x100x22mm〖订购信息Ordering information 〗工作波长Operating wavelength光纤类型Fiber type工作电压Operating voltage光接口类型Optical interface type1310nm/1550nmSM-9/125DC5VFC/APC法兰盘接口Others