高速扫描振镜

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高速扫描振镜相关的厂商

  • 南京凯迪高速分析仪器有限公司是一家集科研、生产及销售为一体的专业化科技企业。专业生产各类多元素分析仪,碳硫分析仪,炉前碳硅分析仪,高频红外碳硫分析仪,炉前铁水质量管理仪,炉前铁水分析仪,合金分析仪,矿石分析仪,不锈钢分析仪,有色金属分析仪,红外碳硫分析仪,五大元素分析仪,金属元素分析仪,电脑碳硫分析仪,元素分析仪,三元素分析仪,铁水质量管理仪,铁水在线分析仪,铁水碳硅分析仪,热分析仪,碳硅分析仪,炉前快速分析仪器,红外碳硫仪,钢铁分析仪,钢铁成分分析仪,智能电脑碳硫联测分析仪,定硫仪,碳硫仪,定碳仪,化验设备,分析仪器,实验设备,化验设备,生铁化验仪器,碳硫高速分析仪,五金分析仪器,五金化验仪,高速分析仪器,三元素检测仪,微机元素分析仪,微机碳硫分析仪,铁合金分析仪,铜合金分析仪,铝合金分析仪,铝合金化验仪器,锌合金分析仪,镁合金分析仪,不锈钢分析仪器,矿石成分分析仪器,矿石化验仪器,铁矿石化验仪器,矿石分析仪器,矿石成分分析仪器,铝矿石分析仪器,铝土矿分析仪器,镁矿分析仪器,铝矿石化验仪,锌矿石分析仪器,锌矿石化验仪器,磁铁矿化验仪器,磁铁矿品位分析仪,镍矿石品位分析仪,铁矿石品位分析仪,矿石品位分析仪器,镁矿化验仪器,磁铁矿分析仪器,铁矿石分析仪器,矿石元素分析仪器,铁矿分析仪器,锌矿化验设备,铁矿化验设备,镁矿化验仪器,矿石品位分析仪器,铁矿石品位分析仪,镍矿石品位分析仪,矿石元素测定仪,矿石化验设备,采矿分析仪器,开矿化验仪器,精矿粉分析仪器,矿粉分析仪器,铁矿粉分析仪,铁粉化验仪器,铝矿石分析仪,铜矿石分析仪,铁矿石分析仪,微量元素分析仪,现场分析仪器,焦炭分析仪,铸造分析仪,黑色金属分析仪,光谱仪,分光光度计,金相显微镜,元素分析,元素化验,制样设备等金相仪器。其产品广泛应用于冶金,铸造,采矿,建筑,机械,电子,环保,卫生,化工,电力,技术监督、质量监督及大专院校等部门对钢铁分析、冶金化验、铸造分析、化工设备、矿石分析等一系列产品的分析,深受用户喜爱。可测定生铁、铸铁、球铁、普碳钢、合金钢、合金铸铁、不锈钢、各种矿石、有色金属中碳、硫、锰、磷、硅、镍、铬、钼、铜、钛、锌、钒、镁、稀土等多种材料中各种化学成份的百分含量 。与传统法比较,其速度和精度已有了极大提高,常规的炉前控制元素检测速度达到了"读秒"水准. 仪器测量范围广、精度高,高、中、低档齐全,并能接受用户特殊定货。
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高速扫描振镜相关的仪器

  • 国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术,实现了高速图像采集和成像,同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计,使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业,综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴,实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术,实现低落点电压,同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV,SE;2.2 nm @ 1 kV,SE; 1.9nm @ 3 kV,BSE;3.3 nm @ 1 kV,BSE;加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制,无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ; 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台(*可选配压电驱动样品台) 行程 X、Y轴:110mm;Z轴:28mm;重复定位精度 X轴:±0.6 um;Y轴:±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 <15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪;大图拼接;三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室,实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师,提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品,在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目,致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时,实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。
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  • 扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜(Scanning nitrogen-vacancy probe microscope,SNVM)是一款结合了金刚石氮-空位色心(Nitrogen-Vacancy, NV)光探测磁共振(Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR)技术和原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)扫描成像技术的量子精密测量仪器,可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例
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  • 美国CTI公司成立于1978年,是世界顶级的光学扫描振镜制造商,其产品型号齐全,广泛用于激光打标、雕刻、焊接,打孔等加工领域,以及激光成像,医疗系统等领域。产品包括:高速扫描振镜,适合从2mm光斑到100mm以上的光斑,以及新一代的全数字扫描系统。美国CTI高速光学扫描振镜检流计精度和定义CTI最佳性线性度整个运动过程中的定位精度99.9%步响应时间小角度定位时间从命令发出开始到99%到达位置的时间100uS短期重复度经过一些短时间的运动后回到原位置的能力1uRad温度漂移由于温度影响的光学位置的漂移10ppm/° C零漂由于温度等引起的中心位置的漂移5uRad/° C主要技术指标:适合光斑直径3mm4mm5mm6mm7mm8mm9mm10mm12mm15mm20mm25mm27mm30mm50mm75mm75mm动磁式振镜6200H6210H6215H
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高速扫描振镜相关的资讯

  • 高速电镜新品!国仪量子推出高速扫描电镜HEM6000
    仪器信息网讯 8月8日,国仪量子官宣推出一款专为大规模成像而生的新产品——高速扫描电子显微镜HEM6000。高速扫描电子显微镜HEM6000在大规模成像场景中,常规扫描电镜成像速度和自动化程度都无法满足应用需求。例如,在芯片结构成像应用中,需要在几周内完成数百平方毫米区域的连续拍摄;在人类脑图谱研究中,需要对百亿级神经元进行高分辨成像。对于此类场景,常规扫描电镜效率严重不足,为解决客户痛点,国仪量子推出此款专为大规模成像而生的新产品——高速扫描电子显微镜HEM6000。产品亮点HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术,实现了高速图像采集和成像,同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计,使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。可广泛应用于半导体工业、生命科学、材料科学、地质科学等领域。图像采集速度:10 ns/pixel,2*100 M pixel/s加速电压:100 V~6 kV(减速模式);6 kV~30 kV(非减速模式)分辨率:1.3 nm@3 kV,SE;2.2 nm@1 kV,SE视场大小:最大视场1*1 mm2,高分辨微畸变视场32*32 um2样品台精度:重复定位精度:X ±0.6 um;Y ±0.3 um产品优势高速自动化:全自动上下样流程和采图作业,综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍;大场低畸变:跟随扫描场动态变化的光轴,实现了更低的场边缘畸变;低压高分辨:样品台减速技术,实现低落点电压,同时保证高分辨率。应用案例
  • 高速外延片PL谱扫描成像仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 高速外延片PL谱扫描成像仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 北京中拓机械集团有限责任公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 1.75em " 徐杰 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 1.75em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 1.75em " ct_kfjx@126.com /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □正在研发 √已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □技术转让& nbsp & nbsp □技术入股& nbsp & nbsp □合作开发& nbsp & nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 成果简介: /strong & nbsp & nbsp & nbsp /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/599fc25d-25b2-407e-9598-71f126d093d8.jpg" title=" 高速外延片PL谱扫描成像仪- 北京中拓.jpg" width=" 350" height=" 280" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 280px " / /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp 高速外延片PL谱扫描成像仪利用线激光器激发荧光光谱,利用光谱仪及面阵EMCCD对线荧光采集和光谱分析。这种荧光光谱采集方式较传统点扫描方式,采集速度快,可在短时间内获得高密度点的光谱信息,即1分钟内实现4万点的扫描采集,采集速度提高20倍,波长测量重复精度优于± 0.5nm,光强度稳定性优于± 0.75%。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该设备主要用于LED半导体晶片的荧光光谱检测及太阳能晶片的检测,其中LED半导体晶片荧光光谱检测的市场年需求量约50台,市场销售额约为4000万元人民币,针对太阳能晶片荧光光谱测量领域,目前己有设备只能测得荧光光谱强度,并不能获得荧光光谱谱线形状,及光谱波长等细信息,该设备可快速获得太阳能晶片的荧光光强及光谱信息,具有独特的技术优势,预计太阳能晶片的市场年需求量约在20台左右,市场销售额约为2000万元人民币。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 知识产权及项目获奖情况: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该产品获得3项发明专利:半导体晶片的高速荧光光谱检测装置、半导体晶片的托起装置、半导体晶片的检测装置。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该项目获得北京市科委“2014年首都科技条件平台科学仪器开发培育项目”的专项资金资助。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 高鸿钧院士团队成果:多探针扫描隧道显微镜分时复用切换技术
    科学仪器的发展,不断促进对新材料的探索,从而直接或间接影响各科技领域的方方面面。工欲善其事必先利其器,深化与落实科学仪器的自主研发,更是科技攻关的桥头堡。扫描隧道显微镜(STM),及一系列扫描探针显微镜(SPM) :原子力显微镜(AFM)、扫描近场光学显微镜(SNOM) 等,掀起一场纳米技术革命,广泛应用于材料表面纳米尺度局域电子态、形貌以及分子振动等丰富物性的研究。电输运性质作为材料的关键参数,被广泛关注。集成多个独立STM的多探针STM系统,通过施加电/力等调控手段,实现纳米尺度、原位表征材料局域电子态与局域电输运性质,有望加速后摩尔时代新器件的基础研究。四探针 STM 可实现微观体系的四端法测量,有效消除接触电阻带来的测量误差,获得材料的本征电导率。多个独立探针的协同操纵和成像,往往需要相同数量的多套STM控制系统。随着STM探针/压电驱动部件的增加,多探针控制系统的成本和复杂度急剧增加。因此,发展低成本、高效率、可扩展的通用控制解决方案,实现STM控制系统分时操纵多个探针、乃至探针阵列的技术十分必要。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心高鸿钧研究团队多年来一直致力于扫描探针显微学及其在低维量子结构方面的应用,在前沿科学研究取得一系列重要成果。同时,他们也在相关高精尖仪器自主研制方面不断积累,奠定了扎实的基础。物理所技术部郇庆/刘利团队一直致力于科研仪器设备的自主研发,与所内外多个课题组紧密合作,在核心关键部件、成套系统等方面取得了一系列成果(包括一台商业化四探针系统的彻底升级改造【Review of Scientific Instruments, 88(6):063704, 2017】、光学-低温扫描探针显微镜超高真空联合系统【Review of Scientific Instruments 89, 113705 (2018)】和新一代高通量薄膜制备及原位表征系统【Review of Scientific Instruments 91, 013904 (2020)】的自主研制)。两个团队再次密切合作、联合攻关,共同指导N04组博士生严佳浩(已毕业,爱尔兰科克大学博士后)、马佳俊、王爱伟(已毕业,国家纳米中心博士后)、马瑞松(已毕业,物理所关键技术人才)等同学成功研制并搭建了一台多探针STM分时复用切换系统,完成单个STM控制系统依次操纵多个探针在纳米尺度下的成像与定位,以及维持探针位置后的局域电输运测量。该系统采用的核心思路为研发团队首次提出,软硬件均完全自主研发,采用了ARM + DSP + FPGA多核数字平台来兼备复杂切换逻辑、多路高精度高速并行采样与数据处理,涉及C/C++与Verilog HDL编程语言,并提供图形操作界面以提高易操作性,具备多项独特优点:1)单个探针内大、小扫描管及多个探针间的无缝切换,无瞬态抖动;2)皮安级电流切换;3)任意单个探针具备毫米级移动范围与原子级空间分辨;4)多个探针可无限靠近,最小距离仅取决于针尖曲率半径;5)原位、纳米尺度、相同区域内,STM成像与电输运测量。该联合研发团队用6年多时间对系统进行了反复地设计优化和改进,并进行了全面性能测试。该研发成果所涉及的多项关键技术,如微弱信号的放大与切换、高稳定电压保持、复杂控制逻辑等,是未来大规模探针阵列应用的重要技术基础。分时切换的核心思路具有可扩展性强、成本低廉的特点,有望在材料基因组研究高通量表征领域有广泛的应用。该系统的详细介绍发表在近期的《科学仪器评论》杂志上【Review of Scientific Instruments 92, 103702 (2021) doi: 10.1063/5.0056634】。该工作得到了中国科学院关键技术研发团队项目(GJJSTD20200005)、国家自然科学基金国家重大科研仪器研制项目(11927808)和国家自然科学基金委青年基金项目(12004417)等的支持。图1:分时复用切换方案图2:分时复用系统硬件设计图3:分时复用切换系统软件架构图4:分时复用切换系统部分图形用户界面图5:单STM探针空间定位图6: 多探针切换与空间定位附:Rev. Sci. Instrum. 92, 103702 (2021).pdf

高速扫描振镜相关的方案

高速扫描振镜相关的资料

高速扫描振镜相关的论坛

  • 【求助】请教电子探针和扫描电镜的区别

    单位最近要安装一台电子探针,我想找点资料看一下,请问电子探针是扫描电镜吗?在仪器信息网上能找到电子探针的资料吗?如果能的话,告诉我在哪个版块?知道的请说一下,谢谢了!

  • 扫描电镜的减震方法?

    最近看到扫描电镜的减震方法非常多,其中最常见的大家说的是机械减震和气垫减震,还有主动减震,请教一下,这几种减震方法主要原理是什么呢?各种减震方法的优缺点在哪里?听说气垫减震时间长了以后,橡胶会老化,若是气压太大,则会损坏气垫,若是气压小,则又起不到减震的效果,请问会不会存在这样的问题呢?

  • 【求助】扫描电镜防震性问题

    刚引进的一台扫描电镜据说有防震功能,但是在使用时发现,每次使用都需要打气重新找平衡,否则电镜主腔体部分左右发生倾斜,请问这属于正常现象吗?

高速扫描振镜相关的耗材

  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • 微阵列芯片扫描仪配件
    微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片,蛋白质芯片等微阵列芯片而设计,是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片,如DNA芯片,蛋白质芯片和细胞和组织,并适用于各类型的应用研究,如基因表达,基因分型,aCGH,芯片分析片内,微RNA检测的SNP,蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统,兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm(玻璃基板,塑料,透明和不透明),可以扫描生物芯片,有3 1.mu.m/像素的分辨率,同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟(10.mu.m/像素,最大扫描区域),InnoScan900是市场上最快的扫描器,扫描速率可调节,达10到35行每秒。 微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管(PMT),非常敏感,整个工作范围(0至100%)线性完美,允许用户简单地改变PMT,调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统,提供的是不敏感的基板的变形,整个扫描表面上完美,均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能,特别是在灵敏度和信噪比方面。 微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序,四扫描器(710,710 U,900 U和900)。该Innoscan® 900和900AL系列(磁带自动加载机)是专为现在和未来的高密度微阵列发展。
  • 大面积扫描开尔文探针系统配件
    大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器
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