红外膜测量仪

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红外膜测量仪相关的厂商

  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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红外膜测量仪相关的仪器

  • 中红外FROG超短脉冲测量仪所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 超短激光脉冲测量系统 所属品牌: 产品简介 中红外FROG超短脉冲测量仪 中红外FROG超短脉冲测量仪,能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围,最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率,动态范围达到75dB。 红外超短脉冲测量仪,超快脉冲测量仪,超短脉冲测量仪,FROGScan,频率分辨光学快门,FROG,飞秒激光脉冲测量,Grenouille 中红外FROG超短脉冲测量仪,能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围,最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率,动态范围达到75dB。 中红外FROG超短脉冲测量仪可以通过自由更换SHG晶体及光谱仪拓展探测范围,大幅降低多波段超短脉冲测量的采购成本 应用: 1. 改善激光系统2. 测量脉冲啁啾计算色散补偿量3. 实时测量数皮秒啁啾短脉冲4. 实时测量脉宽低至12fs的脉冲5. 测量其它FROG系统无法测量的复杂脉冲 工作原理: 将待测脉冲经分束器分为两束,一束作为探测光,另一束作为光开关,并且让作为开关的光射入到高速、高精度光延迟线,引入一个时间延迟τ,然后再让两束光聚焦在一块SHG二倍频晶体,产生相互作用。脉冲重叠区域的SHG信号光谱通过海洋光学USB4000或USB2000+光谱仪进行展开,用CCD进行测量,得到相互作用的光强随频率和时间延迟变化的空间图形,称为FROG迹线。利用脉冲迭代算法从FROG迹线中恢复脉冲的振幅和相位分布。 产品特点: 1. 实时测量系统,使用高度精确,高速的机械光学延迟,比其它光延迟线快至少10倍。2.因为集成一个16位数据接收器,具有比同类产品更高的动态范围,可以测量高度规整的脉冲和高阶相位畸变。3. F脉冲测量系统可以通过灵活更换SHG晶体和光谱仪测量波长范围450nm-3400nm和12fs到数十皮秒脉宽范围的脉冲。4.可同时测量脉冲长度与带宽。4.和配套的软件VideoFROGScan,使用的专利PCGP算法还原脉冲,这一算法是SHG FROG还原的最稳健算法,并且VideoFROGScan包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性。 VideoFROG Scan Software 多功能数据采集,处理和显示软件。 超快激光脉冲测量系统中,软件和硬件装置同样重要。VideoFROG Scan是最佳的实时FROG脉冲测量软件,包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性,允许FROG Scan直接接入到用户的实验中。VideoFROGscan虽然操作简单,但包含极其强大的功能,能够很容易测量复杂脉冲。 软件特色: 1.VideoFROG Scan软件不仅控制硬件,还为用户独特的应用提供信息摘要,使用户能够很容易的控制和评估测量过程。VideoFROG scan的概括面板提供了这些特性的显示,并且便捷的选项界面能够获得更多信息。通过鼠标点击显示主菜单上的提示框和帮助说明,将提供每一个您想知道的条目。2.使用弹出窗口,可以很容易聚焦到最相关问题的信息。利用这一功能您也可以定制显示布局。您可以将它们移动到前面,重新排列,调整大小和最小化。平面图向您提供完整的控制结果显示的方式。3.软件可以显示瞬时脉冲波形的同时显示脉冲频谱,您还可以还可以聚焦在监视的瞬时光谱中感兴趣的区域,或仅简单的监控脉冲统计。4.选项式用户界面使软件操纵简单明了。您可以更容易注意到当前您所需的信息,不同的部分为您提供您的激光器工作的独特视图,无论是脉宽,脉冲波形,谱形,谱宽,视场,或FROG迹线。指针放在显示脉冲上可以得到监视运行中的数据分析。缩放控制可以让您选择需要看到布局中任意区域。 相关产品 FROG 超短脉冲测量分析仪 光延迟线 自相关仪 自相关仪
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  • ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计,内置积分球、红外光源、微型控制处理器等,采用电池供电、触摸屏显示,具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时,只需将仪器对准物体表面,扣动扳机后,自动进行反射率测量,测量完成后,会在显示屏上显示测量结果,同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内,可供用户后续处理和分析数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角,6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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  • ET10 高精度便携式发射率测量仪,可测量任何不透明材料的发射率;获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时,不同温度下的反射率与波长是不变的,所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来,ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时,将仪器对准测量样品表面,按下扳机即可记录数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。
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红外膜测量仪相关的资讯

  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行,此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室(陕西应用物理化学研究所)联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展,扩大中外学者在科学研究层面的合作水平,同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法,该方法具有低能源消费与高环境保护的特点,所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率(PLQY)的集成化全新产品,通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体,大大提高了空间利用率,产品的软件操作自动化,让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品,包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上,Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm,覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同,滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合,结合JCSS级别的校准技术,可以让双通道结果无缝接合,得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源,可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料,满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛,包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务,近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。
  • 700万!宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目
    一、采购项目名称:宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目二、项目编号:CBNB-20221203三、公告期限:2022年5月31日至2022年6月8日止四、采购组织类型:分散采购委托代理五、采购方式:公开招标六、招标项目概况(货物名称、数量、简要技术要求、采购预算/最高限价):品目号货物名称数量简要规格描述采购预算/最高限价一红外折射率测量仪1台用于测量光学材料的折射率特性,具体详见招标文件450万元二中波红外干涉仪1台用于红外玻璃均匀性检测,球面、非球面以及自由曲面等面型透镜加工精度检测,具体详见招标文件250万元
  • 我国首台红外天光背景测量仪研制成功
    p style="text-align: justify margin-top: 10px margin-bottom: 10px line-height: 1.5em "  中国科学技术大学近代物理系“strong核探测与核电子学国家重点实验室/strong”王坚课题组经过两年的攻关,攻克了红外观测微弱信号检测、高增益灵敏放大、暗流及背景噪声抑制、高真空低温封装、高精度数字锁相放大等关键技术,成功地研制出红外光谱扫描的天光背景测量装置。相关成果日前发表在该领域知名期刊《JATIS》上,同时申请专利并获得授权。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 600px height: 421px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/82433bdd-6501-47fa-8e9e-ee8c6e7f3efe.jpg" title="1 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" alt="1 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" width="600" vspace="0" height="421" border="0"//pp style="text-align: justify margin-top: 10px margin-bottom: 10px line-height: 1.5em "  红外观测是天文研究的重要手段。长久以来,受限于优良台址和探测器的缺乏,我国红外天文研究发展严重落后。随着我国天文研究领域的不断扩展,中国天文界拥有红外天文观测能力的愿望也更加迫切。近期我国多项大型光学红外天文观测设备项目获得天文界支持,为了保证这些大型设备建设成功后,能顺利高效地开展红外观测仪器的研制和红外天文观测研究,必须对相关候选站址进行红外天光背景的测量。在红外波段的天光背景辐射强度很大程度上限制着红外望远镜及其他观测设备的一些重要性能,如巡天深度、能够观测的极限星等、天文成像系统曝光时间等。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 541px height: 532px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/d935f67b-0331-4759-bfe2-2e035a2324b3.jpg" title="2 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" alt="2 红外观测是天文研究的重要手段.jpeg" width="541" vspace="0" height="532" border="0"//pp style="text-align: justify margin-top: 10px margin-bottom: 10px line-height: 1.5em "  2.5—5微米是热红外波段的开始,是地面观测的重要窗口所在区域。由于天光背景强度极其微弱,探测器输出信号低于nA量级,研究团队采用锁相放大技术成功提取出淹没在噪声中的信号;为了降低探测器暗电流的影响,探测器制冷到-150℃以下 为了克服由于仪器带来的背景热噪声,进行了适应低温的斩波器和光学设计。为了克服地面大气的吸收效应,地基红外望远镜只能从若干大气窗口进行观测。研究团队根据探测器在2.5—5微米波段上高响应的性能,利用线性可变滤波片在此波段线性可变的特点,研制出了此波段上连续扫描观测的红外天光背景测量仪。/p

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红外膜测量仪相关的资料

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  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 【转帖】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 【原创】OUM-智能Ⅱ型近红外纸张定量水分测量仪

    在造纸行业中,定量水分测量仪是纸张生产过程中监测及控制系统的眼睛,红外定量水分测量仪是一种用于造纸生产线上进行在线连续动态检测纸张定量、水分的专用仪表。仪表采用一个传感器同时测量纸张定量水分两个参数,克服了传统的同位素测量仪对周围环境造成放射性污染,危害人体健康的缺点。仪表传感器采用多光束测量技术,测量面积大,克服了色差变化,环境因素变化对测量精度的影响,从而保证了测量结果的准确性。仪器采用红外线测量原理,不受静电影响。信号全数字化处理,仪器采用进口器件,优化设计,从而进一步保证了工作的稳定性和可靠性。另外,仪表具有四十五种标定曲线存储功能,使得使用更加方便。方便的标准物理量标定,提高了仪表测量的准确性。同时,仪表还具有自检功能和超限报警功能,使用和维护更加方便。仪表配有0~10mA, 4~20mA标准输出接口,还配有国际标准的RS485标准串行输出接口。便于与控制系统及其它记录设备连接。一、仪表结构仪表分为传感器和信号处理两大部分。传感器分为发射探头和接收探头。探头安装于造纸生产线上,主要完成测量光信号的生成、光电信号的转换及信号放大。信号处理单元安装于控制室或其它便于观察的地方,主要完成将探头接收到的数据信号处理,以数字方式显示出被测纸张的定量、水分值。同时,输出信号给控制系统。 发射探头234mm×153mm×266mm传感器结构尺寸: 接收探头232mm×153mm×144mm信号处理单元结构尺寸: 356mm×160mm×400mm二、定量水分测量仪性能指标:★、测量范围:纸页定量10~500g/㎡★、定量测量精度Q: 10g/㎡≤纸页定量100g/㎡ Q ≤±0.5g 100 g/㎡≤纸页定量500g/㎡ Q ≤±1%★、水分测量精度Q′:纸页定量200 g/㎡ Q′≤±0.2% 200 g/㎡≤纸页定量500g/㎡ Q′≤±0.5%★、测量响应时间:t≤50ms★、输出接口配置: 0 ~10mA、 4~ 20mA标准输出信号标准RS485串行通信接口三、仪器适用范围:★、环境要求:环境温度 ≤ 55℃ 环境湿度 ≤ 80%★、工作电压:~220V±10% 50Hz (最好使用稳压电源)★、消耗功率:30W四、仪器配置 发射探头主机:传感器 接收探头信号处理单元 附件:通信电缆(长度根据厂家使用要求而定)电源电缆导纸辊(为防止打断纸页而特殊设计)精密净化交流稳压电源(选配)部分标准件(紧固件)轴流风机(两台)输出配置:标准接口0~10mA 或 4~20mA 标准RS485串行接口五、安装要求将传感器的发射探头与接收探头分别安装在纸张的两侧,发射头和接收头之间的距离为10~15mm,发射探头和接收探头的相对位置不能改变,否则,应对仪表重新标定。六、仪器特点1、仪器电气性能特点:仪器内部所使用的电子元件,都是经过严格老化处理及筛选,其它光学零件终身无需调校。这样使得仪器能长期稳定的工作,使用户使用成本极低。仪器探头为铸铝外壳,其密封性能良好,可安装于恶劣的生产现场。2、仪器可组成检测系统该仪器是一种智能仪器,可提供准确的测量信号,其探头也可作为最基本的测量单元构成一个检测系统。检测系统将探头输出的测量信号通过计算机显示出被测纸页水分的变化情况,系统可将各测量点的数据贮存、打印。3、本仪器安装方便,成本低,并克服了传统的同位素测量仪对周围环境造成放射性污染,危害人体健康的缺点。所以,被广泛应用于造纸行业。七、计算机远程实时动态监控系统该系统将红外线定量水分测量仪输出的定量、水分信号及生产过程中的其它参数传输给计算机。计算机采集这些参数,经过专用程序处理,并将这些参数变化曲线按时间顺序在计算机上显示出来,并能将显示值与曲线存贮起来,以备调用。这样,管理人员办公室可通过计算机随时了解生产过程中的纸张定量、水分变化情况及整个纸机的生产状况,更加方便地指导生产,使产品的产量、质量得以提高。

红外膜测量仪相关的耗材

  • testo 835-T1 红外测量仪器
    testo 835-T1 红外测量仪器产品参数:红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度,热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C,不带激光和背光显示)10小时(一般25°C,不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光:30 s仪器:120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年,延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器
  • testo 835-T2 红外高温测量仪器
    testo 835-T2 红外高温测量仪器产品参数:红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度,热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C,不带激光和背光显示)10小时(一般25°C,不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光:30 s仪器:120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年,延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltesto 835-T2 红外高温测量仪器
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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