美司钠参考光谱

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  • 上海微系统所在自参考太赫兹双光梳研究方面取得进展
    近日,中国科学院上海微系统与信息技术研究所研究员曹俊诚、黎华团队与华东师范大学教授曾和平团队合作,在高稳定自参考太赫兹双光梳方面取得研究进展。研究团队提出自参考方法,完全消除了THz双光梳共有载波噪声,同时抑制了重复频率噪声,将THz双光梳梳齿线宽由未稳频的2-3 MHz量级压缩至14.8 kHz,大幅提升了THz双光梳光源的稳定度。相关成果以Terahertz Semiconductor Dual-comb Source with Relative Offset Frequency Cancellation为题发表在《激光与光子学评论》(Laser & Photonics Reviews)上,并被遴选为封面论文。双光梳由两个重复频率略有不同的光频梳组成,通过多外差采样将光谱信息直接映射在微波波段,这种不依赖机械扫描的时间延迟结构令双光梳天然具有高速、高分辨等优势,在高精度光谱、成像、测距以及大容量高速通信方面具有重要应用。在THz波段,基于电泵浦的半导体量子级联激光器(quantum cascade laser,QCL)是实现THz光频梳与双光梳的理想载体。当前,THz QCL双光梳通常工作于自由运行模式,具有较高的相位噪声,限制其高精度应用。提高双光梳频率稳定性的主要思路是分别控制两个光频梳基础频率分量,即载波包络偏移频率和重复频率。要完全锁定THz QCL双光梳需要同时锁定四个不同频率,即两个载波包络偏移频率和两个重复频率。尽管研究团队在前期工作中将THz双光梳一根梳齿通过锁相环实现了锁定,提升了双光梳的稳定性,但是还未实现THz双光梳的完全硬件锁定,而要在实验室实现四个频率的完全锁定,将涉及复杂的硬件系统。该工作中,研究人员提出了自参考“软锁定”方法,不采用任何硬件锁模模块,对双光梳整体信号进行操控,实现了高稳定自参考THz QCL双光梳光源。双光梳梳齿噪声来源于两个未锁定的光频梳的载波包络偏移频率和重复频率噪声,通过多外差拍频产生的双光梳的每根梳齿都享有相同的载波包络频率及噪声。通过消除共有的载波包络频率噪声,则可以显著提高每根双光梳梳齿的稳定性。研究通过窄带滤波器将双光梳的一根梳齿滤出并将其与整个双光梳信号进行混频,从而彻底消除双光梳梳齿的共有载波噪声,同时还可以抑制重复频率噪声,构造出无载波包络偏移频率的零偏双光梳,显著提高双光梳信号的长期稳定性【图1(a)】。未稳频THz双光梳光谱在15 s的测试时间内,测得的梳齿“最大保持”线宽为2 MHz【图1(b)】。施加自参考稳频之后测得的THz双光梳光谱,在60 s内,测得的“最大保持”线宽为14.8 kHz,比未稳频的THz双光梳梳齿线宽提升了130倍以上【图1(c)】。研究工作提出的自参考稳频方法,不依赖任何锁定元件,同时可方便移植于其他激光系统中,为提高光谱、成像等各种应用的稳定性提供一种简单有效的稳频方法。 相关研究工作得到国家自然科学基金重点项目、国家优秀青年科学基金项目、中科院稳定支持基础研究领域青年团队计划、中科院“从0到1”原始创新项目、中科院科研仪器设备研制项目、上海市优秀学术带头人计划等的支持。  图1(a)自参考稳频原理。其中frep1和frep2分别是两个光频梳的重复频率,其中frep2通过微波注入锁定到fRF。“彩虹”频谱表示MHz范围内的下转换双光梳信号,通过带通滤波器将其中一根梳齿滤出(虚线框),从而采用混频实现零偏自参考双光梳。(b)未稳频THz双光梳“最大保持”频谱,测量时间为15 s。(c)自参考双光梳“最大保持”频谱,测量时间为60 s。
  • 上海微系统所在自参考太赫兹双光梳方面取得重要进展
    近日,中国科学院上海微系统与信息技术研究所曹俊诚、黎华研究员领衔的太赫兹(THz)光子学研究团队与华东师范大学曾和平教授团队合作,在高稳定自参考太赫兹双光梳方面取得重要研究进展。项目团队提出自参考方法,完全消除了THz双光梳共有载波噪声,同时抑制了重复频率噪声,将THz双光梳梳齿线宽由未稳频的2-3 MHz量级压缩至14.8 kHz,大幅提升了THz双光梳光源的稳定度。相关成果于2023年2月3日以“Terahertz Semiconductor Dual-comb Source with Relative Offset Frequency Cancellation”为题发表在Laser & Photonics Reviews期刊,并被遴选为封面论文。双光梳由两个重复频率略有不同的光频梳组成,通过多外差采样将光谱信息直接映射在微波波段,这种不依赖机械扫描的时间延迟结构令双光梳天然地具有高速、高分辨等优势,在高精度光谱、成像、测距以及大容量高速通信方面具有重要应用。在THz波段,基于电泵浦的半导体量子级联激光器(quantum cascade laser, QCL)是现实THz光频梳与双光梳的理想载体。当前,THz QCL双光梳通常工作于自由运行模式,具有较高的相位噪声,限制其高精度应用。提高双光梳频率稳定性的主要思路是分别控制两个光频梳基础频率分量,载波包络偏移频率和重复频率。因此,要完全锁定THz QCL双光梳需要同时锁定四个不同频率,即两个载波包络偏移频率和两个重复频率。四个不同频率的复杂系统。尽管项目团队在前期工作中将THz双光梳一根梳齿通过锁相环实现了锁定,并提升了双光梳的稳定性,但是还未实现THz双光梳的完全硬件锁定。而要在实验室实现四个频率的完全锁定,将涉及非常复杂的硬件系统。在本工作中,研究人员提出了自参考“软锁定”方法,不采用任何硬件锁模模块,对双光梳整体信号进行操控,实现了高稳定自参考THz QCL双光梳光源。双光梳梳齿噪声来源于两个未锁定的光频梳的载波包络偏移频率和重复频率噪声,通过多外差拍频过程,双光梳的每根梳齿都共享相同的载波包络频率及噪声。通过消除共有的载波包络频率噪声,则可以显著提高每根双光梳梳齿的稳定性。如图1(a)所示,通过窄带滤波器将双光梳的一根梳齿滤出并将其与整个双光梳信号进行混频,从而彻底消除双光梳梳齿的共有载波噪声,同时还可以抑制重复频率噪声,构造出无载波包络偏移频率的零偏双光梳,显著提高双光梳信号的长期稳定性。图1(b)为未稳频THz双光梳光谱,在15 s的测试时间内,测得的梳齿“最大保持”线宽为2 MHz。图1(c)为施加自参考稳频之后测得的THz双光梳光谱。在60 s内,测得的“最大保持”线宽为14.8 kHz,比未稳频的THz双光梳梳齿线宽提升了130倍以上。本工作提出的自参考稳频方法,不依赖任何锁定元件,同时可方便移植于其它激光系统中,为提高光谱、成像等各种应用的稳定性提供一种简单有效的稳频方法。本论文共同第一作者为中科院上海微系统所副研究员李子平、博士生马旭红,黎华研究员、曹俊诚研究员、曾和平教授为论文共同通讯作者。同时,上海理工大学李敏副教授和华东师范大学闫明研究员为该工作也做出了重要贡献。该研究工作得到了国家自然科学基金重点项目(62235019)、国家优秀青年科学基金项目(62022084)、中科院稳定支持基础研究领域青年团队计划(YSBR-069)、中科院“从0到1”原始创新项目(ZDBS-LY-JSC009)、中科院科研仪器设备研制项目(YJKYYQ20200032)、上海市优秀学术带头人计划(20XD1424700)等支持。图1(a)自参考稳频原理。其中frep1和frep2分别是两个光频梳的重复频率,其中frep2通过微波注入锁定到fRF。“彩虹”频谱表示MHz范围内的下转换双光梳信号,通过带通滤波器将其中一根梳齿滤出(虚线框),从而采用混频实现零偏自参考双光梳。(b)未稳频THz双光梳“最大保持”频谱,测量时间为15 s。(c)自参考双光梳“最大保持”频谱,测量时间为60 s。图2 论文封面论文链接:https://doi.org/10.1002/lpor.202200418封面链接:https://doi.org/10.1002/lpor.202370016
  • CNAS认可的医学参考测量实验室被列入JCTLM国际参考测量实验室列表
    2013年底,在法国巴黎国际计量局(BIPM)举行的国际检验医学溯源联合委员会(JCTLM)执委会议上,获中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可的我国医学参考测量实验室顺利通过JCTLM专家评审,进入JCTLM医学参考测量实验室列表。这是我国第1个,同时也是全球酶学类第5个、代谢物和底物类第9个进入JCTLM列表且可为全球提供医学参考测量(计量)服务的医学参考测量实验室,表明我国的医学参考测量实验室认可制度和获认可实验室达到了国际先进水平。   JCTLM由国际计量学会(CIPM)、国际临床化学与实验室医学联合会(IFCC)和国际实验室认可组织(ILAC)联合成立,致力于向全球公布满足其相关技术要求的国际参考物质、参考测量程序和参考测量实验室。根据JCTLM程序要求,通过ILAC互认框架下认可机构的ISO/IEC17025和ISO15195认可是医学参考测量实验室进入其实验室列表的必要条件之一。CNAS于2011年建立了医学参考测量实验室认可制度。 文章转载自:中国合格评定国家认可委员会

美司钠参考光谱相关的仪器

  • Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪采用激发和检测技术的新成果,是低成本小型台式XRF仪器。Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪能生成快速、具有成本效益、准确的数据,基本不需要操作员干预和样品制备。 因此,与成本高昂、同时需要技能熟练的操作员操作的湿式化学方法和其他分析技术(如 AAS 和 ICP)相比,总体运行成本会下降很多。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪是手持 xrf 分析仪或 xrf 枪的便携式安全替代品。 请阅读选择我们的五大理由,了解为什么您应考虑 Epsilon 1 而不是其他手持设备。可靠且灵活的定量分析Epsilon 1 可以使用与常规样品成分相匹配的参考材料进行校准。 经过专门的校准后,可以提供准确可靠的数据。 Epsilon 1 可针对各种工业设施进行校准。 Epsilon 1 是一款高性能的台式 XRF 仪器,非常适合对周期表中从钠到镅的主量、微量和痕量元素进行分析。增强的数据安全性Epsilon 系统软件的增强的数据安全性选项可帮助您加强审计跟踪,显著降低误差风险,并证明 XRF 仪器能够按预期方式工作。 功能包括高级用户管理、操作记录和数据保护。特点非破坏性分析几乎不需要进行样品制备,即可直接在样品上执行测量。 由于 XRF 是一项无损技术,因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。高灵敏度薄窗 Ag 阳极 X 射线光管,由马尔文帕纳科设计和制造,确保高质量和高灵敏度。 50 kV X 射线光管和发生器非常适合激发重元素,可加快分析速度并提高准确性。方便的通信进行 USB 和网络连接,以使用用于扩展使用、应用程序开发和固定的操作员的标准计算机外围设备。空气变化钠、镁、铝、硅、磷和硫的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化,确保在各种气候条件下结果不受影响。溢漏保护为了保护系统核心部分免于溢漏,准备好保护膜。 发生溢漏时,操作员可以方便地更换保护膜。主要应用矿业和矿产 &bull 对岩石、矿石和钻芯进行直接定量分析&bull 使用 FingerPrint 软件快速识别阳性材料&bull 无标分析,无需专门校准即可定量分析多种矿物质 金属 &bull 使用 Stratos(多)层分析解决方案对涂层进行简单检查&bull 阳性材料鉴定套件,快速实现金属分类和提供合格/不合格报告 &bull 矿碴的元素定量分析&bull 快速筛查含铁和非含铁金属 石化产品 &bull Epsilon 1 燃料含硫测量仪遵循 ASTM D4294、ISO 8754、20847、IP 336、496 和 JIS K2541-4 测试方法&bull 即用型润滑油测量仪符合 ASTM D6481 规定性能&bull 一站式光谱仪服务,符合石油和燃料标准的认证 食品 &bull 快速定量分析食品和动物饲料产品中的营养素&bull 缩短食品和动物饲料过程控制的反馈回路&bull 可靠准确的奶粉定量分析 建筑材料 &bull 水泥、熟料和原材料的现场流程和质量控制&bull 使用无标分析筛选多种替代燃料和原材料 (AFR) 学术界 &bull 一台仪器适合各类样品,无需专门校准&bull 安全的设计和较低的公用设施要求,是理想的教育工具&bull 即用型学术界解决方案,通过使用 Omnian 无标分析进行预校准 制药 &bull 对残留物元素直接分析,加速流程开发&bull 利用可用的“增强数据安全性”软件,达到 FDA 21 CFR Part 11 的 要求&bull 高效的原材料检查,可快速识别供应变化&bull 可选“安装和操作鉴定”套件(IQ 和 OQ) 环保 &bull 现场识别受污染的土壤&bull 对采样器所在位置的空气过滤器上的无机化合物进行分析&bull 快速分析废水 塑料和聚合物 &bull RoHS-3 分析依据 ASTM F2617 要求&bull Epsilon 1 具有小微区分析功能,可对非均质样品进行详细直接的分析&bull CRM 解决方案可用于分析聚乙烯中的添加剂、受限元素和有毒元素
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  • SYNAPT所具备的无需妥协的定性与定量性能、精简的工作流程和无与伦比的平台通用性,为复杂混合物和分子的详尽表征开辟了新的途径。极佳的UPLC/MS/MS性能强大的数据独立型和数据依赖型解决方案CID与ETD碎裂功能多种实验类型选择升级至三维的数据分辨率极佳的UPLC/MS/MS性能将StepWave和UPLC分离与定量飞行时间(QuanTof)技术相结合,实现最高的峰容量和数据质量。StepWave是目前最灵敏和最可靠的离子源,具有&ldquo 主动&rdquo 选择离子和&ldquo 被动&rdquo 防止中性污染物的独特功能。与其他所有质谱分析器不同,QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围(谱图内和定量)和m/z范围,并且都可以在最快的采集速率实现,即便是对于高基质负荷的样品也是如此。强大的数据独立型和数据依赖型解决方案无与伦比的适用范围和效率,适用于复杂混合物的分析。通用型UPLC/MSE采集技术可以记录每个可检测的分子离子的碎片离子数据,与其它&ldquo 数据独立型分析&rdquo (DIA) 技术相比,具有卓越的占空比;同时我们的信息学技术可以为各种各样的应用提供精简的数据分析流程。要想获得更高效、更有效的靶向MS/MS,请选用最新的&ldquo 非数据独立型&rdquo 工作流程。使用高分辨率MRM工作流程,可获得更低的定量限;而使用FastDDA可实现更高的MS/MS灵敏度,扩大研发实验中的化合物覆盖范围。CID与ETD碎裂功能TriWave的双碰撞室结构可提供碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂,并且同时得到高分辨率和精确质量数,从而获得更好的MS/MS检测结果。ETD选件性价比高,可以实现最佳性能(碎裂效率)和灵活性,且易于和使用和维护。高解析度四极杆包括4KDa、8KDa或32KDa质量数范围,适用于从小分子到大分子的MS/MS测定。多种实验类型选择沃特世的离子源结构可与各种技术相结合:对于分离,可结合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2;对于电离,可结合ESI、APCI、APPI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它们可快速互换,在几分钟内即可使用。对于直接进样分析方法,可升级至HDMS功能和T-Wave 离子淌度技术,后者可提供最佳的电离后选择性与特异性。在与高性能可以与大气压离子源快速切换MALDI选件结合时,这一点具有非常明显的优势。升级至三维的数据分辨率!保留。迁移。质量。某些情况下,色谱和质量数分辨率还不能满足要求。可简单、快速、独特地升级至SYNAPT 高清晰质谱功能和高效T-Wave离子淌度技术,从而可在分子大小和形状的基础上获得另一个分离维度。利用分子碰撞截面特性这一项独特的功能,可以提供最高水平的选择性、特异性、灵敏度和结构分析。其优点还包括同分异构体分离、消除干扰、生成更干净的谱图,以及更准确地识别化合物ID。注意:本页面内容仅供参考,所有资料请以沃特世官方网站()为准。
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  • 首创、独有的纳米红外功能和性能Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了纳米级红外光谱(nanoIR)技术和扫描探针显微镜(SPM)技术的系统。它整合了数十年的技术创新和研究成果,可以在单一平台上提供无与伦比的纳米级红外光谱、物理和化学性能表征。该系统具有超高的单分子层灵敏度和化学成像分辨率,在保留DimensionIcon最佳的AFM测量能力的同时,还提供了极大的样品尺寸灵活性。Dimension IconIR利用Bruker独有的PeakForce Tapping纳米级物性表征技术和专利的纳米红外光谱技术,使得它能够在纳米尺度下对样品进行纳米化学、纳米电学和纳米力学的关联性表征。只有Dimension IconIR具备:与FTIR完全吻合的红外光谱,优于10 nm的空间分辨率和单分子层灵敏度的高性能纳米红外光谱化学成像可与Peakforce Tapping纳米力学和纳米电学属性表征相关联高性能的AFM成像功能和极大的样品尺寸灵活性广泛适用的应用配件和AFM功能模式专利技术保证真实的红外吸收光谱AFM-IR通过采集样品的热膨胀信号(PTIR)还原样品的红外吸收光谱。由于检测区域的热膨胀只与样品在该波长下的吸收强度有关,而常规的傅里叶红外光谱(FTIR)检测的也是样品在该波长下的吸收强度,因此AFM-IR获得的红外吸收光谱与传统的红外吸收光谱高度吻合。红外吸收成像除采集指定区域的红外吸收光谱外,Dimension IconIR同时提供了固定红外脉冲波长,检测样品表面某一区域在该波长下吸收强度的功能。在该工作模式下,Dimension IconIR会将红外脉冲激光固定在研究者所选的波长,用AFM探针扫描需要检测的表面,记录探针针尖在每个位置检测到的红外吸收强度,并同时给出AFM形貌和该波长下的红外吸收成像。专利保护的接触共振技术专利保护的共振增强技术将测量灵敏度提高到单分子层级别,达到最高的光谱检测灵敏度。因为基于原子力系统的红外技术是以探针来检测样品表面在红外激光作用下的机械振动,随着厚度的减小,这种位移量变得极其微小,超出了原子力显微镜的噪音极限。我们利用专利保护的可调频激光优化脉冲信号频率,使之与探针和样品的接触共振频率吻合,那么这种单谐振子共振模式就能把微弱信号放大两个数量级。。智能光路优化调整,保证实验效率红外激光和AFM联用系统的最大挑战在于光路的优化,为了得到最佳的信号,在实验过程中光斑中心应该始终跟随探针针尖位置并保持良好的聚焦。但是在调频过程中,激光光束的发射角度会随着波长的变化而改变,进而改变光斑位置,聚焦状态也会变化。布鲁克采用全自动软件控制automatic beam steering和自动聚焦系统来修正光斑位置的偏移和聚焦,大大改善了传统联用系统需要手动调节的不便和低效率。同时全自动动态激光能量调整保证信号的稳定性,避免红外信号受激光不均匀功率的影响。
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美司钠参考光谱相关的耗材

  • 用于反射光谱的参考反光镜 N1010504
    用于反射光谱的参考反光镜订货信息:产品描述部件编号用于反射光谱的参考反光镜N1010504在对珀金埃尔默和非珀金埃尔默的反射附件进行镜面反射校准时,需要使用这种反光镜。这种带有氟化镁涂层的铝制反光镜是一种次级标准品并按照GLP规定在250-2500 nm的波长范围内进行了校准;本品也包括关于进行%RC反射校正所需的便捷转移介质的光谱数据。
  • 杂散光溶液的参考材料套装 B2500099
    杂散光溶液的参考材料套装订货信息:产品描述部件编号杂散光溶液的参考材料套装B2500099这套参考材料由4种装在密封样品池内的溶液组成:1种参考溶液和3种测试溶液。样品池可用于大多数UV/Vis和UV/Vis/NIR光谱仪的10mm标准比色皿夹具。由碘化钠、氮化钠(亚硝酸钠)和氯化钾组成的测试溶液用作一种具有非常精确波长的截止滤光器。这些参考材料附带一份校准证书并装在一个可重复使用的防紫外线储存容器内。由于UV/Vis和UV/Vis/NIR参考材料需要定期再认证,因此珀金埃尔默的再认证中心实验室提供一种快速且方便的再认证程序。
  • 用于光度和波长准确度测定的参考材料套装
    用于珀金埃尔默和非珀金埃尔默光谱仪的校准参考材料  珀金埃尔默的参考材料可加快UV/Vis和UV/Vis/NIR光谱仪*的校准审核速度,从而为实验室经理提供他们能够通过最严格质量稽查的证据。  一整套经过认证的可追溯式滤光器和密封型比色皿可安装进珀金埃尔默和非珀金埃尔默仪器的10mm标准比色皿夹具内,从而允许用户生成用于核对纵坐标和横坐标准确度、杂散光辐射度以及光谱分辨率的简单试验方案。所有参考材料均以可追溯的方式被认证为NIST初级参考材料,并附带一份校准证书以详细描述相关的校准方法和结果。  珀金埃尔默的一家装备有最先进仪器技术的再认证中心实验室可确保能对珀金埃尔默和非珀金埃尔默参考材料提供快速的定期再校准服务,从而使实验室能始终符合其校准SOP的要求。特点和优势:种类齐全的参考材料可追溯至NIST直接使用我们为珀金埃尔默和非珀金埃尔默的参考材料提供快捷的再认证服务*不是二极管阵列光谱仪用于光度和波长准确度测定的参考材料套装订货信息:产品描述部件编号用于光度和波长准确度测定的参考材料套装B0507805这套参考材料用来验证UV/Vis和UV/Vis/NIR光谱仪的纵坐标和横坐标(波长)准确度。本套装所包含的密质中性玻璃滤光器达到AL2AISO 17025的标准。  这套产品包括固定在精确铝弹簧支架上的4个玻璃滤光器。样品池可用于大多数UV/Vis和V/Vis/NIR光谱仪的10 mm标准比色皿夹具。本品有3个密质中性玻璃滤光器用来检查纵坐标的准确度以及1个氧化钬玻璃滤光器用来检查光谱仪的波长准确度。每个滤光器都有一个标识码。每个滤光器的纵坐标和横坐标数值均标注在附带的校准证书中, 标称值为1 A ( 1 0 % T ) 、0.5A(30%T)和0.3A(50%T)。参考材料装在一个可重复使用的防紫外线储存容器内。由于UV/Vis和UV/Vis/NIR参考材料需要定期再认证,因此珀金埃尔默的再认证中心实验室提供一种快速且方便的再认证程序。
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