纳米级透射电镜

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纳米级透射电镜相关的厂商

  • 400-801-6576
    泽攸科技是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司致力于向客户提供台式扫描电子显微镜、台阶仪、二维材料全套解决方案、低温探针台、原位透射电镜解决方案、纳米操纵手、MEMS传感器、高精度源表等产品,并立志成为国际一流的微纳操纵、显微、加工设备制造商。 我们有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供最卓越的设备。
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  • 南京牧科纳米科技有限公司目前主要由10位具有海外留学经历和国内顶尖研究课题组多年研究经验的博士团队组成。牧科是国内唯一一家专门从事二维材料单晶CVD合成和二维半导体纳米片溶液及冷干粉末合成的(类石墨烯类材料)合成与研发的专业技术咨询和服务的纳米科技公司。公司现有产品主要包括:(1)各类人工合成二元、三元和四元二维单晶材料;单层机械剥离二元、三元和四元二维单晶材料,及定制类相关拓扑绝缘二维材料;(2)CVD法生长各类单层类石墨烯二维半导体材料MoS2,WS2,MoSe2,WSe2以合金CVD定制, CVD-BN薄膜定制,定做横向,纵向结构二维异质节(3) CVD生长二六族(Zn,Cd)+(S,Se,Te), 三五族(Ga,In)+(Sb,As,P) 纳米线以及异质节结构;(4)石墨烯单晶系列100um-2mm,5mm,1cm 大六边形单晶 (5)氧化石墨烯溶液、氧化石墨烯干粉,石墨烯干粉,石墨烯溶液,热还原石墨烯干粉,碳纳米管阵列衬底。(6)CdSe, CdSe/ZnS, CdSe/Cds,ZnSe-ZnS量子点/近红外PbS量子点/InP-ZnS量子点/水溶性发光量子点/上转换发光纳米粒子/LED用量子点 全光谱量子点溶液,(7)有机无机杂化钙钛矿单晶。尺寸可根据需要定制。(8)基团修饰氧化铁、四氧化三铁、三氧化二铁、聚苯乙烯磁性粒子、金纳米棒、三角纳米笼、银纳米颗粒生物制剂(8)实验用SIO2/SI,掺杂硅,本征硅衬底,镀金衬底,M面,C面,R面蓝宝石衬底,MgO、Zno、GGG晶体,TiO2等单晶衬底,激光切割等服务等亦可提供最先进相关测试服务(AFM,SEM,TEM ,XPS,Raman,BET,XRD,常温及变温PL,紫外-可见-近红外吸收/反射/透射光谱等常规测试服务)。如需获得更多的了解,欢迎您咨询QQ:2984216964 025-66171690 18052095282,或者A直接访问我们的公司网址是:http:www.mukenano.com
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  • 欧波同集团成立于2003年,是一家材料分析数字化解决方案服务商。旗下拥有科学仪器、智慧实验室、第三方检测、技术服务等业务板块。欧波同坚持“让实验更简单”的发展主线,充分掌握计算机视觉和图像识别技术,实现AI技术和工业分析技术的跨界融合,帮助中国企业在世界级竞争中取得成功。为世界材料分析贡献中国力量!SEM扫描电子显微镜、双束聚焦离子束显微镜、赛默飞扫描电镜、场发射扫描电镜、聚焦离子束电镜、赛默飞双束电镜、台式扫描电镜、FEI扫描电镜、FIB扫描电镜、FIB双束电镜、TEM透射电镜、球差电镜、工业三维扫描仪、氩离子抛光测试及制样设备中国区授权代理商,旗下拥有国际贸易、行业解决方案研发、第三方技术服务、融资租赁等业务板块。
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纳米级透射电镜相关的仪器

  • 日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800,操作的一体化和自动化程度都有明显提高。随着时代的发展和科技的进步,全数字化必将是透射电镜的发展趋势。数字化的优势具体表现在以下几个方面:一、HT7800采用日立全新设计的第二代双隙物镜,很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念,即兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察可在同一仪器上一键切换等。对比于其他厂家的独立模式设计,HT7800可在同一台透射电镜上实现两台电镜的功能。集高衬度和高分辨两种模式于一体,可同时满足软材料/纳米材料类和生命科学类客户对电镜的需求。二、使用高速高灵敏度的CMOS荧光屏相机取代了传统的荧光屏观察窗,将 TEM 操作统一于显示器上,实现透射电镜操作的全数字化,可以在明亮的室内进行观察。 三、标准搭载涡轮分子泵(TMP),实现绿色真空。HT7800所使用的真空泵包括机械泵和涡轮分子泵,均为标准配置。四、标配三维重构功能及±70°倾转样品台。一般情况下透射电子显微镜只能提供样品的平面投影图像,而无法直接获知其三维立体信息。在标准配置下,HT7800就可以通过±70°的连续倾转、拍摄及电脑重构,得到样品的立体形貌信息。五、强大的自动拼图功能。这是数字化带来的另一个优势。HT7800可通过样品台移动和电子束移动两种方式实现全倍率下的自动拼图,可得到像素16倍于主相机的无缝拼接大视野样品图片。图片存储时,自动保存样品位置与样品杆旋转信息,在自动拼接过程中实现高精度对中。自动连拍和自动拼图速度快,举例来说,一次3×3的拼接,全过程可在4min左右完成。六、方便而准确的自动连续拍摄功能。HT7800具有自动聚焦、自动定位并拍摄多张图片的功能。自动连拍功能可以一次性设置多达10000个拍摄的位置及放大倍数,通过快速的自动聚焦系统和智能化定位系统, 自动的完成拍摄任务,而无需人员看管。
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  • Glacios 2 冷冻透射电镜概述Thermo Scientific Glacios 2 冷冻透射电子显微镜 (cryo-TEM) 可帮助您从各种生物靶标中轻松收集近原子数据。与上一代产品相比,Glacios 2 冷冻透射电镜具有更高的通量,而且提升了冷冻电镜的易用性。其配备了集成式 Thermo Scientific Falcon 4i 直接电子探测器、Thermo Scientific EPU 软件和全新的完整机身,致力提高图像质量、实现数据采集自动化并简化您的工作流程。Glacios 2 冷冻透射电镜非常适用于单颗粒分析、冷冻电子断层扫描 (cryo-ET) 和微电子衍射 (MicroED)。Glacios 2 冷冻透射电镜的优势结果更优Falcon 4i 直接电子探测器、新设计的机身和智能 EPU 软件合力为显微镜和用户提供指引,帮助用户从样本中获得最佳结果。实操时间更短智能 EPU 软件的自动化功能和 AI 驱动型插件可在关键决策点为您提供指导,在某些情况下还可自动做出决策,从而减少在手动干预上的需求数据收集更快Falcon 4i 直接电子探测器的采集速率可达 320 fps,而无条纹成像 (FFI) 和自动化操作搭配智能插件可帮助您加快实验流程。简化的工作流程智能 EPU 软件可协助进行实验设置,并在整个实验过程中提供实时反馈,从而减少了对事先专业知识的需求。Glacios 2 冷冻透射电镜的主要特点高分辨率 TEMGlacios 2 冷冻透射电镜提供近原子分辨率。以经改进的硬件和具有可将对环境影响降到最低的全新机身,现在 Glacios 2 冷冻透射电镜的信息限制为 2.1 &angst 。同样,已将24小时内因冰生长而导致的透射损耗减少到 2%,让您在收集高分辨率图像时事半功倍。如果 Glacios 2 冷冻透射电镜配有 Thermo Scientific Selectris X 成像过滤器,还可进一步提升速度和分辨率。高通量冷冻透射电镜图像采集与上一代产品相比,集成式 Falcon 4i 直接电子探测器以更的时间提供更佳的图像质量。为进一步提高生产率和图像质量,Glacios 2 冷冻透射电镜配备了无条纹成像 (FFI) 功能(它可消除电子束边缘的条纹效应)、更稳定的载物台,并加快了自动数据采集。借助这些改进,您可在每个铝箔孔处收集更多图像,加快每个铝箔孔的单颗粒分析,进而加快单颗粒分析和冷冻电子断层扫描。添加 Selectris X 成像过滤器后,您可使用非常稳定的窄缝宽度 (10 eV) 在单颗粒冷冻电镜和冷冻电子断层扫描中获取更佳的对比度,不仅可提高分辨率,还可以更少的数据获得更快的结果,最大限度提高您的解析效率。最大程度提高易用性和效率智能 EPU 软件可实现更快、更简单的设置和处理,显微镜专业用户和非专业用户均可得益于此。已自动化几个关键设置步骤,例如在可能的情况下镜筒对齐和系统状态修复。此外,该软件和各种可选插件还可让用户充分利用操作显微镜时的时间并获取最佳结果。带有 EPU 质量监测软件的可选智能 EPU 软件是一种 AI 型软件解决方案,可分析中间结果、提供即时反馈并指导进行实时数据收集。带有嵌入式 CryoSPARC Live 的可选智能 EPU 软件是一种对数据质量进行实时结构性反馈的整体解决方案,它附带了全方位服务和应用支持。可选 EPU 多重载网软件可在远离显微镜的情况下完成多达12个载网的数据采集,从而确保生产率最大化。开放式应用编程接口 (API) 可让用户自己定制 Glacios 2 冷冻透射电镜功能。工作流程连通性样本筛选是成功冷冻电镜工作流程的重要组成部分,可在生化和玻璃化方面验证样本质量。Glacios 2 冷冻透射电镜可无缝集成到单颗粒分析和冷冻电子断层扫描工作流程中,并且可在整个工作流程中实现便捷、无污染的样本转移。Glacios 2 冷冻透射电镜可轻松接入其他 Thermo Scientific 仪器上的工作流程,包括:Thermo Scientific Krios 冷冻透射电镜Thermo Scientific Tundra 冷冻透射电镜Thermo Scientific Talos Arctica 冷冻透射电镜Thermo Scientific Aquilos 2 冷冻 FIBThermo Scientific Arctis 冷冻等离子体 FIB除了最佳的机械连通性外,由 Thermo Scientific Athena 软件提供支持的智能 EPU 数据管理还可实现数据连接,以便进行可重现的操作及存储采集的数据。占用空间更小Glacios 2 冷冻透射电镜的硬件结构经过专门设计,与其他配备自动上样系统的 200kV 显微镜相比,占用空间更小,样本取放更容易。
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  • 纳米级透射电镜拉伸压缩样品杆 杆 搭配机台 Tensil、3D/4D、SEM产品特点 将样品放入拉伸盒中,我们依据盒子变形结构作为拉伸测试数据。它是特制能够以 1 纳米级长原位拉伸试验的支架,能根据用户的要求提供特制拉伸盒。原位拉伸试验---納米级高分辨率图像 拉伸+断层扫描系统= 4D数据 位拉伸试验在安全易操作样品操作台 一般来说,样品安装至样品杆是一项非常精细的操作。经过Mel-Build公司研发和使用研究人员的反馈持续进行改良,目前该支架能提供样品安装安全的操作环境。A. 桥式样品操作台设计考虑到双眼操作方便性,特别设计使用桥式方便放置样品至透射电镜样品杆来做拉伸压缩试验。B. 解除锁定按钮为了装置样品时的稳定性及安全性,每个样品操作台皆安装此功能,当装置样品完成后按下解除锁定按钮即可方便取出样品杆。C. 固定小插孔样品杆前端轻压至孔座,在更换样品时可免于造成意外伤害。D. 掌托设计能够更好的使手掌增加支撑与稳定性,更方便安全移动样品。产品参数 Tilt angle(α,X)FEI Model ±65°JEOL Model ±60°(HR)Minimum Tensile step1 nm or less (calc.value 0.6 nm)Minimum continuous feed ability3 nm/s Max.Continuous feed ability10 μm/s or less Max.Distance200 μm(Depend On cartridge Type)ControlRemote PC (32/64bit)AccessorySafety Operation Stand and etc.
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纳米级透射电镜相关的资讯

  • 日本电子全自动高速纳米级分析型透射电镜问世
    2011年7月12日,日本电子株式会社全球同步推出一款高度自动化的透射电镜JEM-2800.它一改以往透射电镜操作复杂的缺点,可进行简单高速观察与分析。 JEM-2800不再使用传统的荧光屏观察,通过计算机实现高分辨的TEM, STEM, 和SE 图像观察。高度自动化设计和即为人性化操作导航,使得操作透射电镜不再需要非常专业的培训。 最适合半导体企业对于简单高速分析的实际需求。
  • 【标准解读】透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径
    透射电子显微镜(TEM)具有原子水平的分辨能力,它不仅可以在观察样品微观形态,还可以对所观察区域的内部结构进行表征,成为纳米技术研究与发展不可或缺的工具。特别是TEM配合图像分析技术对多相体系中纳米颗粒粒度进行分析具有一定的优势。本文将对已实施的GB/T 42208-2022 《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法》进行解读。多相体系是指体系内部不均匀的体系,在物理化学中也称为非均相体系、混相体系或者复相体系。而纳米颗粒受尺寸限制往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性,这可能关系到后续产品的性能和安全性,因此对多相体系中纳米颗粒的评价尤为重要。透射电镜能作为最直观、准确的设备能够对样品内部进行评价,在多相体系中的纳米颗粒粒径表征中不可或缺。本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的多相体系中纳米颗粒粒径分析评价方法,不仅对于多相体系中纳米颗粒的粒径这种需要探讨体系内部的颗粒测量给出了方案,而且对于不同TEM的颗粒测量结果一致性评判具有重要的参考价值。本文件适用于固相多相体系中的粒径测量。考虑到多相体系的多样性,胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件.一、背景纳米材料由于表面效应、量子尺寸效应、体积效应和量子隧道效应等,使材料表现出传统固体不具有的化学、电学、磁学、光学等特异性能。同时,受到尺寸的限制,纳米材料单独使用的场合有限,往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性。但是由于纳米颗粒粒径较小、比表面积较大、表面能较大,极易团聚,致使其在多相体系中很难表征和评价。研究多相体系中纳米颗粒的粒度测量,对优化材料结构,改善材料的性能有着极大的促进作用,对推动纳米材料的应用和发展具有重要的意义。多相体系中纳米颗粒不同于单一的纳米颗粒,它对检测方法、样品处理及样品制备都有较高的要求。扫描电子显微镜和原子力显微镜由于成像原理的问题,不利于多相体系中纳米颗粒的测量。因此在本标准发布之前,国内该内容处于空白,本标准聚焦透射电镜的成像原理,对样品制备、图像获取、图像分析、结果表示、测量不确定度等技术内容给出了充分的、系统的说明。二、规范性引用文件和参考资料本标准在制定过程中,在符合GB/T1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》国家标准编写要求的基础上,充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述,包括颗粒系统术语、纳米材料术语、微束分析、粒度分析、纳米技术等各个专业领域;同时,在规范表达上,也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议,力求做到专业、通俗、易懂。 三、制定过程本标准涉及的领域较为专业,因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构合作完成。牵头单位为国家纳米科学中心,主要参加单位包括国标(北京)检验认证有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、深圳市德方纳米科技股份有限公司、中国计量大学、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容,如实验步骤、不同多相体系样品的制备方法、图像获取方式、图像分析、数据处理等均进行了实验验证,确定了标准中相关技术的操作可行性。四、适用范围本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件。 五、主要内容本标准描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法的全流程,包含了标准所涉及的术语和定义,TEM的成像原理,不同类型样品的制备方法,详尽的实验步骤,结果表示以及测量不确定度的来源,并在附录中针对不同的样品类型给出了实用案例。术语及定义:即包括了纳米颗粒、分散的术语定义,还包括了TEM中明场相、暗场像、扫描透射电子显微图像和高角环形暗场像等几种成像方式的定义。一般原理:利用透射电镜图像评估纳米颗粒在多相体系中的粒径测量,主要基于透射电子显微镜中电子束穿透样品成像的原理,并对图像进行处理,通常需要借助粒径分析软件进行粒径测量,以避免人为因素的干扰。样品制备:纳米颗粒在多相体系中的分散,由于多相体系材料不同,样品制备方法不同,系统的介绍了纳米复合材料的制备、多相固态金属材料的制备以及多相生物材料的制备方法,这包含了超薄切片技术、离子减薄技术、生物染色技术等。实验步骤:包含了装样、仪器准备、图像获取的全过程。需要注意的是根据多相体系材料及其中纳米颗粒的种类和状态的不同,在测试过程中要明确选用明场、暗场、高角环形暗场等合适的成像技术,并保证有足够清晰度和对比度的透射图像,能够准确识别到图像中的纳米颗粒。除此之外,为了使拍摄所得的图像中包含有足够的样品数量进行粒径测量,需要在不同的位置多次拍摄。具体的过程,本标准在附录A中以镍基高温合金多相体系中纳米颗粒为例,给出了详细过程。粒径测量:多相体系中的纳米颗粒的透射电子显微镜图像通常存在背景亮度不均匀、分散相边界与图像背景灰度差小的特点,因此需要图像处理将样品图像从背景中区分出来。总体目标是将数字显微照片从灰度图像转化为由离散颗粒和背景组成的二值化图像。重点采用阈值算法进行单个颗粒的测量。同时,颗粒粒径测量时测量颗粒数量对测量不确定的影响较大,因此需要确认最少测量颗粒数,这也取决于实际的测量需求。在结果表示方面,实验室可以根据实际需求,只评价纳米颗粒粒径的大小,也可以以纳米颗粒的分布范围为评价目标。在标准的附录中给出了两种分布范围方式。不确定度:对多相体系中纳米颗粒的粒径测量的测量不确定度主要来源包含了样品均匀性、样品制备、图像处理和测量所需的颗粒数不足等。在上述基础上,给出了测量报告的信息及内容。本文作者:常怀秋 高级工程师;国家纳米科学中心 技术发展部Email:changhq@nanoctr.c
  • 可视化原位透射电镜技术 见证纳米颗粒舞动之美
    p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201606/insimg/4afc0317-e9f0-488f-acc8-55f85320fe4d.jpg" title=" Kydt_Wyc_20130514.jpg" width=" 600" height=" 400" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 600px height: 400px " /    /p p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 随着对纳米尺度的理解,中国研究者团队研发了一种可视化的基于原位透射电镜技术,该技术直接将原子尺度的结构和物化性能联系起来,可提供新颖而强大的功能。 /p p   在纳米世界里的生活是很快的,就致力于纳米尺度的基本机制研究而言,其发展更加迅速,这个世界,便是尺寸只有十亿分之一米的原子和离子之类的颗粒的舞蹈。 /p p   随着对纳米尺度的理解,中国研究者团队研发了一种可视化的基于原位透射电镜技术,该技术可以提供新颖而强大的功能,它能够直接将原子尺度的结构和物化性能联系起来。 /p p   在这周AIP出版的Applied Physics Letters期刊里,研究者们说明了他们的发现对新一代科技设备的设计和制造的重要性。这项研究具有广泛的应用潜力,从基于电致色变科技的智能窗到管理能源、信息和环境的新型器件。 /p p   团队负责人、中科院物理所白雪冬研究员介绍道, span style=" color: rgb(0, 0, 0) " “目前,应用于能源、信息和环境方面的新设备的原子机制是一个重要的议题。物化现象中原子过程的实时成像是原位透射电镜技术的任务。我们研究的目标之一是理解从原子尺度可获得的设备的基本原理,另一个目标是探索基于原子过程中原位透射电镜成像的革新的设备。” /span /p p   在诺贝尔奖透射电镜科技中,电子束取代了用于传统电镜中的光束,通过一个金属试样传输。与光学显微镜相比,由于电子具有更短的波长,透射电子显微镜提供给研究者更高的分辨率,以至于他们可以观察到更多的信息。 /p p   白强调了结构和性能之间的关系是材料科学一个根本的关注。然而,研究这种关系的约束之一是使用传统的方法,结构表征和性能测定通常是分开的,对于纳米材料来说尤其如此。他们的创新之处在于将这些步骤结合起来。 /p p   白还说道,“过去的十五年来,我们的研究工作集中于原位透射电镜技术的构造和应用,所以在不同的物理因素(包括电的和光的)下原子尺度的性能都通过透射电镜进行了研究。” /p p   该团队尤其对于应用最广泛的电化学材料之一—氧化钨和其产物的一个关键相转变进行了研究。通过使用他们简化了的内含电化学电池的透射电镜技术,他们的微观的、动态的观察显示了实时的详细机理,涉及了电化学氧化钨纳米线的形成和演变,并且在工业上有很多应用。 /p p   他们的研究最有趣的方面之一是探究离子电迁移过程和其诱导的动态结构转变。他们发现这些与电化学性能密切相关,加深了原位透射电镜成像研究的广泛应用潜力。 /p p   白说道,“新特性和重要的科学问题可以通过原位透射电镜成像来显示,例如,电驱动的氧化还原反应过程,锂离子电池中锂原子的占据位点和电机学反应电池中的物质转移都能从原位透射电镜成像中观察到。” /p p   接下来,研究者们将扩展原位透射电镜原子尺度成像技术,使之与超快光谱结合起来。通过这个扩展,高分辨成像在空间和时间上都将成为可能。 /p p   论文地址: span style=" color: rgb(0, 112, 192) " a href=" https://www.sciencedaily.com/releases/2016/06/160607113110.htm" target=" _blank" title=" " In-situ transmission electron microscopy imaging of formation and evolution of LixWO3 during lithiation of WO3 nanowires /a /span /p p br/ /p

纳米级透射电镜相关的方案

  • 低气压线性控制技术在防止同步辐射光源和原位透射电镜氮化硅薄膜窗口破裂中的应用
    氮化硅薄膜窗口广泛应用于同步辐射光源中的扫描透射软X射线显微镜和原位透射电镜,但氮化硅薄膜只有几百纳米的厚度,很容易因真空抽取初期的快速压差变化造成破裂。为此,本文提出了线性缓变压力控制解决方案,即控制安装有氮化硅薄膜窗口的真空腔内的气压,按照固定的速度进行缓慢减压,从而实现氮化硅薄膜窗口的防止。同时本解决方案对以往的高精度控制方案进行了简化,简化为只用一只皮拉尼真空计和只控制电动球阀。
  • 日立扫描透射电镜 HF3300在原位催化中的应用
    近年来,在催化领域中,真实的催化反应过程成为广大学者研究热点。 原位扫描透射电镜能够实现时 观察 样品的反应过程,监测变化。 样品的反应过程,监测变化。其 中日立的 冷场300KV的HF3300型扫描透射电镜配备了独特的真空系统 (差分 泵)。
  • 等离子清洗仪处理TEM透射电镜样品清洗和活化
    SEM/TEM电镜样品对于前处理有如下三点应用需求:1.等离子清洗;2.等离子活化;3.高真空存储。针对扫描电镜领域,导电差的样品易于在场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)和聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中形成“积碳”的问题;以及在透射电镜领域,有机污染物影响高分辨成像及STEM成像产生“白框”碳污染的问题,可以通过RF射频离子源在样品放入扫描电镜或透射电镜观察表征之前,对样品进行真空等离子清洗的工艺来减轻甚至消除积碳影响。离子清洗的工作原理为:RF射频离子源通入氧气后产生的等离子体被电磁场束缚于离子源内部;只有部分电中性的活性氧原子由于气压差的作用源源不断地被“挤压”进入到样品腔室内,与样品表面残留的有机污染物发生化学反应,生成CO2,CO,H2O并被真空泵组抽出;最终实现样品成像无积碳之目的,同时提高成像分辨率及衬度。离子活化原理与离子清洗原理类似,RF射频离子源通入氧气后产生的等离子体被电磁场束缚于离子源内部。只有部分电中性的活性氧原子由于气压差的作用源源不断地被“挤压”进入到样品腔室内,与样品表面发生作用,提高表面能使之亲水(表面氧原子与水形成氢键,使后者有序平铺)。但样品的表面能量高,处于不稳定状态,故亲水效果不会维持太久(~几十分钟)。高真空存储电镜样品及透射样品杆的原理为:真空泵组选用无油分子泵和无油隔膜泵,可以避免油污染的影响。并且由于采用分子泵+隔膜泵两级真空系统设计方案,系统能够实现高本底真空度,将样品表面残留气体及污染物抽走,避免样品前处理导致的二次污染问题。

纳米级透射电镜相关的资料

纳米级透射电镜相关的试剂

纳米级透射电镜相关的论坛

  • 【求助】贵金属纳米颗粒透射电镜

    大家好,我是做的贵金属纳米颗粒直径大概在5纳米左右,我们学校的透射电镜下能观察的到,但老板让去做高分辨的时候,同一个样却怎么都看不到先前在学校看见的东西了,不知道大家有没有遇见这样的问题?非常急,希望大家能给予帮助~

纳米级透射电镜相关的耗材

  • 大和电子科技 透射电镜圆形光阑
    产品介绍用途:用于透射电镜(TEM),扫描透射电镜(STEM)尺寸:如图所示后期处理: ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点: ■微细深孔的高精密加工 ■去除小孔边缘的小突起 ■小孔内壁实现镜面加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化,加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 交货期:根据产品规格另作商量,一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商,从事耗材制作50余年。除了上述的扫描透射电镜光阑,透射电镜光阑外,我们可以制作用于扫描电镜、聚焦离子束和X射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001mm。欢迎您的咨询,期待为您服务!大和电子科技株式会社是仪器信息网银牌会员,已合作1年,提供的大和电子科技 透射电镜用圆形光阑 ,请放心选择。大和电子科技株式会社还可为用户供应优质的大和电子科技 走查电镜用光阑、等产品,欢迎在线咨询。
  • 透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
    透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口 产品概述: 与X射线用氮化硅窗口类似,透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时NTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 现在可以提供透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸: &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:0.5 mm,薄膜厚度:30 nm) &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:1.0 mm,薄膜厚度:50 nm) 边框厚度: 200µ m、381µ m。 Si3N4薄膜厚度: 50nm、100nm 可以为用户定制产品(30-200nm),但要100片起订。 本产品为一次性产品,不建议用户重复使用,本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标: 表面平整度: 我们认为薄膜与其下的硅片同样平整, TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为:0.6-2nm。完全适用于TEM表征。 亲水性: 该窗格呈疏水性,如果样品取自水悬浮液,悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理,可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试,但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格,但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。 温度特性: 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性: 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点: 1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。 2、 大窗口尺寸,适合TEM大角度转动观察。 3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。 4、 背景氮化硅无定形、无特征。 5、 耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,(薄膜直接沉积在窗口上)。 6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。。 7、 耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细请咨询:021-35359028/ admin@instsun.com
  • 透射电镜胶片
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