杂质铁元素

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杂质铁元素相关的耗材

  • 杂质捕集小柱
    鬼峰描述色谱分离过程中,特别是在梯度洗脱或者仪器使用时间过久容易产生时有时无的色谱峰,我们俗称鬼峰(Ghost peak)。鬼峰的来源流动相(放置时间过长导致滋生细菌和流动相添加剂等);液相系统时间较久已不再纯净;样品前处理过程引入;色谱柱污染等。产品描述月旭科技研发的 Ghost-Buster Column 杂质捕集小柱不仅能够去除流动相中的杂质,还可以有效去除管路和混合器中的杂质,消除鬼峰对分析的干扰,提高工作效率,也一定程度上延长了色谱柱和仪器的使用寿命。月旭科技推出的第二代Ghost-Buster Column II杂质捕集小柱,通过产品进一步升级和改进,不仅可以更加卓越地吸附流动相中的杂质,消除鬼峰。同时解决以往梯度初始比例水相过高而导致的基线漂移问题,从而获得更佳平稳的基线。月旭科技推出的Ghost-Buster UP Column杂质捕集小柱可耐受90MPa压力,完美实现与超高压液相系统的兼容。注意事项1、新柱请使用80%甲醇水冲洗,1.0mL/min流速冲洗15分钟,再连接设备使用。2、请理解并不是任何杂质都可以被杂质捕集小柱吸附。3、流动相中如果使用离子对试剂时,可能会吸附离子对试剂,进而影响目标物的保留时间或峰形。这一类流动相条件,请根据色谱效果决定是否使用该小柱。4、如果发现捕集效果变差,建议及时更换,并不是连接上以后可以无限次使用。
  • 岛津 耗材配件 接头杂质捕集小柱
    UHPLC接头 ( 最高耐压: 130MPa)UHPLC 接头安装在UHPLC 系统的色谱柱入口管处,不仅可以承受130MPa的压力,还可以在更换色谱柱时拆下重新使用。 Nexlock高压接头“Nexlock” 是一种使用方便,并且在耐压和耐久性能方面很优异的高压接头。配管前端和连接头的接口直接紧贴,因此可以实现无死体积。接头易拆卸,同时配管可以更换,耐压130MPa,手拧即可,可重复操作使用100 次以上。UHPLC/HPLC 流动相杂质捕集小柱Ghost Trap DS 流动相杂质捕集小柱是由日本第一三共制药和岛津株式会社联合开发的用于过捕集流动相中杂质的小柱,将此小柱安装在泵前面,就可以有效过滤流动相中的杂质,避免鬼峰的出现,在色谱方法验证或者杂质分析过程中,往往会因为鬼峰的出现而耗费太多的时间,安装DS 捕集柱以后,可以大大缩短因鬼峰出现而浪费的时间。新型DS-HP 捕集柱可以耐受100MPa压力,从而可以与UHPLC系统兼容,有了耐高压的DS-HP 小柱之后,便可以实现UHPLC 方法与常规分析系统方法之间的互相转移。 即使是有机溶剂,也可以持续捕集杂质杂质捕集DS小柱主要的特点是能够去除溶剂包括有机溶剂中的杂质。反相色谱梯度分析时,将小柱安装在梯度混合器和自动进样器之间,不仅能够去除流动相中的杂质,还可以有效捕集管路和混合器中的杂质。
  • 杂质标准板
    gb5413.30-2016 2016年新版 乳品杂质度标准板共两张分为,乳粉乳杂质度标准板 液体乳杂质度标准板 牛乳中杂质标准板,杂质度对比对照板,乳制品标准板,杂质度标准板杂质度对比对照板,乳制品标准板,杂质度标准板 所是集研制、生产和销售乳品检测专用仪器、专用玻璃仪器、专用试剂和专用品于一体的科研企业。l 从事乳、乳制品专业检验技术工作始于1983 年。 1984 年参与制定、整理我国 首部 《乳、乳制品及其检验方法》国家标准。 1997年改版本公司是其他专用仪器仪表的专业供应商,不仅常用型号的其他专用仪器仪表备有现货,而且还能根据客户要求定制其他专用仪器仪表。本公司销售灵活,除了杂质度对比对照板,乳制品标准板,杂质度标准板,公司还供应仪器仪表行业行业的其他其他专用仪器仪表产品,欢迎洽谈相关仪器有:毛氏法:毛氏抽脂瓶,毛氏离心机,毛氏水浴锅,毛氏摇混器巴布科克法:巴布科克乳脂瓶罗兹哥特里法:罗兹哥特里抽脂瓶盖勃法:盖勃乳脂肪离心机,盖勃乳脂计,11ml和10.75ml单标牛乳吸管,10ml硫酸量取器,1ml戌异醇自动量取器乳品杂质度的测定:HL-GB2乳品杂质度过滤机,杂质度过滤板,杂质度标准板,杂质度标准板说明书,带带铝盒等乳稠度的测定:HL-15A乳稠计,乳品电子温度计乳品硝酸盐与亚硝酸盐的检测:镉柱还原装置,镀铜镉粒乳品溶解度的检测:不溶度指数搅拌器,指数搅拌杯,柱底离心管,不溶度指数离心机牛乳中杂质标准板,杂质度对比对照板,乳制品标准板,杂质度标准板杂质度对比对照板,乳制品标准板,杂质度标准板 所是集研制、生产和销售乳品检测专用仪器、专用玻璃仪器、专用试剂和专用品于一体的科研企业。l从事乳、乳制品专业检验技术工作始于1983年。 1984年参与制定、整理我国 首部 《乳、乳制品及其检验方法》国家标准。1997年改版本公司是其他专用仪器仪表的专业供应商,不仅常用型号的其他专用仪器仪表备有现货,而且还能根据客户要求定制其他专用仪器仪表。本公司销售灵活,除了杂质度对比对照板,乳制品标准板,杂质度标准板,公司还供应仪器仪表行业行业的其他其他专用仪器仪表产品,欢迎洽谈

杂质铁元素相关的仪器

  • 锂离子电池的性能与正极材料的质量息息相关,当在正极材料中存在铁(Fe)、铜(Cu)、铬(Cr)、镍(Ni)、锌(Zn)、银(Ag)等金属杂质时,这些金属会先在正极氧化再到负极还原,当负极处的金属单质累积到一定程度,其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜,造成电池自放电。负极材料中的杂质元素同样严重影响电池的电化学性能,有可能刺穿隔膜,造成安全隐患。如何精准高效确认磁性杂质的来源,以此优化生产工艺呢?ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计,整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类,以此判定是哪个生产环节出了问题。可根据不同的检测需求,灵活定制自动分析流程常见自动化分析方案仅是能谱软件中的一项功能,可更改的参数很少,无法根据客户的需求灵活调整,也无法满足客户特殊户需求。ParticleX 是一套独立运行的系统,自动分析流程、杂质分类规则、报告生成样式等都可以根据实际需求灵活定制,会给每个客户定制一套针对性解决方案。长寿命 CeB6 晶体灯丝,确保自动化分析的流畅运行常见电镜灯丝材料为钨,寿命较短(仅为100小时左右),并且灯丝后期会熔断,导致分析过程立刻终止。CeB6 灯丝寿命超过1500小时(厂家质保),灯丝后期不会发生熔断,确保了自动化分析的流畅运行。另外,CeB6 灯丝亮度更稳定,因此其结果准确性也更高。多项设计,保证高通量快速运行 100 × 100 mm 大尺寸样品台,可一次放置多个样品,一键自动全分析 三仓分离的真空设计,抽真空时间小于 1 分钟,换样速度极快 全自动电动马达台,保证位置移动的快速、精确软硬件一体化设计,保证了软硬件的协调工作 软件可以充分调用硬件权限,并针对性优化; 电镜和能谱一体化设计,工作距离一致,避免频繁调节电镜或能谱工作距离,大大提升操作便捷性; 售后问题可以在一家解决,避免互相推诿。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific),负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有专业的服务团队,提供优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。
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  • 纸尿裤杂质检测仪 400-860-5168转6216
    纸尿裤杂质检测仪/婴儿纸尿裤杂质测定仪/成人纸尿裤杂质测定仪一,用途用于检测纸尿裤在一定的强光照射下,光线透过试样其内部残留的杂质主要是用来测试纸尿裤,纸尿片纸尿垫护理垫正常组分及形态以外的物质,比如尖锐物品,金属,陶瓷,玻璃,砂砾,塑料片等使用的仪器是婴儿纸尿裤杂质测定仪二,符合标准:GB/T 28004.1-2021附录C、GB/T 28004.2-2021附录C等。三,产品特点:1、光源为LED可调节光源。2、彩色触摸屏显示、控制,中、英文界面,菜单式操作模式。3、核心控制部件采用意法公司32位单片机组成多功能主板。4、删除方式采用选中删除,方便删除任意一条测试结果。5、仪器表面采用静电喷漆,经久耐用整机外观造型美观大方,便于清洁6、进口特铝拉丝面板、并配有金属按键。三,原理如下需要配备照明装置的工作台,而且是在可调节的透射光照射下观测被测试试样。标准杂质图片,不锈钢剪刀等。四,实验步骤:1.任取2 片试样,将一个试样平铺在照明装置(C.2.1)工作台表面,四角用夹子或魔术贴固定好,在透射光下检查试样面层、芯层和背面可见的杂质,眼睛观察时的明视距离为250 mm~300 mm。可根据试样厚度调整LED灯的照度。2. 对于芯层中的杂质,用不锈钢剪刀(C.2.2)剪开试样面层后,通过对比标准杂质图片鉴定杂质的大小。用不同标记圈出不同面积的杂质,通过对比标准杂质图片(C.2.3)鉴定试样上杂质的面积大小,也可采用按不同面积的大小,分别记录同一面积的杂质个数。3. 对于成团的杂质,例如塑料膜、无纺布碎片等,应将其展开后再通过标准杂质图片鉴定杂质的面积大小。婴儿纸尿裤杂质测定仪的结果的要求,任意一片尿裤中不应有大于5.0平方毫米的杂质。
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  • 杂质分析仪 400-860-5168转1590
    Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪 行业需求塑料原材料(树脂、粉末)中如果夹杂不同的颜色,可能会对下游客户带来伤害,现在越来越多的下游加工用户对上游供应商提出产品外观的需求,比如黄色指数、黑点、黑斑粒、色粒、大小粒、拖尾、连粒等都必须达到一定的要求。 对于一些高端客户或透明的、白色的产品客户来说,原料里的杂色多少将非常影响生产工艺和最终产品的品质。把这些瑕疵挑出来,分析原因,优化工艺,并在生产环节中增添相关设备来剔除瑕疵,是高品质用户的一致需求。 在全球最新光学、影像学和图形分析数学模型的基础上,我们的产品生来就具备了先进性,自动化和准确性成为了基础,更简单的操作和更多的功能成为了客户选择的原因。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪描述 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪是对粉末或粒子进行检测分析后统计杂色和异形数量级分布的系统,从大量的产品中实时检测不同颜色及形状的杂质,同时通过报告的形式向用户提供各种杂质尺寸和颜色信息等。 一套Calpas系统可以检测的项目包括: 1、粉末(例:PVC)中的杂质; 2、粒子(例:PP、PE、ABS)中的杂质,包括黑点、异色; 3、粉末和粒子外的纤维杂质,外来杂质; 4、高透或高反射粒子(例:PC/PMMA)中的黑点、异色、凝胶点等; 5、粒子自身的尺寸和形状。 Calpas杂质扫描检测仪组成主要包括:高性能高速相机(CCD或用户指定);照明强度可调的粒子专用4光源阴影辅助照明系统(产品的透明度不同,粒径不同,光源照明有多种选择);进料速度可调的三维振动进料系统;可同时分析杂质颜色尺寸以及粒子自身尺寸及形状的分析软件。 该系统还可选配杂质自动分拣装置,进料轨道自动清洁装置,整机防尘装置等,如用户有特殊应用需求,可进行量身定做,一切以满足用户检测需求为最终目的。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪操作简便,软件界面友好,一键式全自动操作即可自动进料、检测、生成检测报告,软件可安装于普通家用电脑,检测过程噪音小,速度快,重复性高,配备Calpas标准板用来对仪器检测尺寸数据定期校准。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪的主要特点:1. 一台机同时测量黑点、杂色、异形等各种功能;2. 样品平铺滚动经过,非常快速;3. 能自定义多种杂质并命名;4. 高性能的高速相机;5. 照明亮度可调;6. 噪音低;7. 可调节产品供给速度和供给量的自动产品供给装置;8. 对检测出的杂质进行实时分析,自动登入杂质画面储存窗口,分析各种杂质信息。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪产品性能:1. 高速图像分析:500g粉末/3分钟;1kg颗粒/2分钟。2. 测量范围:50~30,000μm,用户自定义可分不同尺寸等级。3. 照明:根据阁下样品特点选择不同的照明条件,比如中心LED照明(粉末产品),方形LED照明(粒子产品),特殊照明(高透粒子)等,照明强度可手动调节。4. 进料系统:三维进料系统,可通过调节振动幅度及进料高度来调节进料速度。5. 报告:自动生成产品检测报告,显示杂质粒子异形、异色以及瑕疵点尺寸信息,杂质图片。6. 性能:STD<1%(粉末);STD<5%(颗粒) ISO14484
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  • 【求助】溶液中存在很多的杂质,尤其是铁元素问题?

    [url=http://www.instrument.com.cn/zc/aas.asp][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url][/url]杂质干扰的消除要测溶液中的锌元素含量,但溶液中存在很多的杂质,尤其是铁元素,干扰了测量结果,该如何消除杂质的影响呢,请各位老师指点

  • ICP—AES测定镀金液中的杂质元素

    镀金层具有优良的抗变色、抗氧化和耐腐蚀性能 、良好 的芯片焊接和引线键合性能以及较低的接触电阻和较好的 可焊性等优点 ,被广泛应用于军用半导体及微电子封装外 壳。但军用电子器件对镀金层质量要求很高 ,而镀 金液中 的金属 杂质 则 直 接 影 响 镀 金 层 质 量 ,这 些 杂 质 主要 有 铅 、 铜 、铁 、镍等 ,往往在金结晶过程 中共沉积。其 中铅最有害 , 1~10mg/L就能造成非常有害的影响 ,特别是在低 电流密 度区 ;铜可使低电流密度区变暗,与金共沉积使颜色异常 , 纯度下降 ;铁 、镍等在酸性溶液或碱性亚硫酸盐槽液里 与金 共沉 积 的倾 向要 比在 碱 性氰 化 物 槽液 里 大得 多 ,对 金 的纯 度及颜色有害 。因此 ,准确测 定镀金液 中杂质元素 的含量 具有 重 要意 义 。目前 ,国内外对镀金液中杂质元素的测定虽有报道,但 多针对镀金液中单元素的分析研究 ,多元素的同时测定 多采 用 ICP—AES法 和 ICP—MS法 ,由 于镀 金 液 中大 量 基体元素金的存在对杂质元素测定的干扰和抑制作 用,高 盐样品直接进样导致进样系统堵塞和金的记忆效应等诸 多 问题,使得用 ICP—AES法直接测定镀金中杂质元素浓度相 当困难 。为此 ,研究 了用甲基异丁基酮(MIBK)有机试剂萃 取分离 了镀金液中的金后,采用 ICP—AES法测定镀金液中 Pb,cu,Fe,Ni4种杂质元素的方法 。为寻找镀金液中杂质元素的测定方法 ,运用甲基异丁基 酮(MIBK)萃取分离金 ,采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP—AES)法对镀金液中的杂质元素进行了分析。对分析谱线、基体元素和等离子体参数等进行了讨论。结果表 明,这种方法的检出限为 0.008—0.019 g/mL,回收率为 89.4% 一102.3%,相对标准偏差 (RSD)小于 3.12% 。该法准确 、快速 、简便 ,应用于镀金 液 中杂质元素的测定 ,结果令人满意 。

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  • 锂电池正极材料中杂质元素的准确测定,很难吗?
    锂电池的正极质量影响着电池的充放电性能,其中正极的主量元素配比以及杂质元素的浓度尤为重要。当正极材料中存在铁 (Fe)、铜 (Cu)、铬 (Cr)、镍 (Ni)、锌 (Zn)、铅 (Pb) 等金属杂质时,电池化成阶段电压达到这些金属元素的氧化还原电位后,它们就会先在正极氧化,然后再到负极还原成单质。当负极处的金属单质累积到一定程度,其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜,造成电池自放电,对电池造成损害,甚至致命影响。因此,从正极源头上保证其纯度,防止金属杂质异物的引入,对电池生产质控就显得格外重要。目前的锂电池企业通常采用电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 测定主量元素配比以及杂质元素含量。ICP-OES仪器相对较低的购买和使用成本,使之在相关企业有着广泛的使用。随着锂电池产业升级加速,生产质控愈发严格,对正极材料中元素杂质含量限度要求越来越苛刻。ICP-OES由于其自身原理的局限性,在部分含量较低的杂质元素如Cr、Cu、Fe、Zn、Pb的准确检出方面出现瓶颈。例如,在某些生产工艺控制严格的企业,上述5个元素的控制浓度在1ppm左右(个别厂家Fe含量在10ppm以内),在日常检测中,经过100倍固液稀释比的样品前处理后,样品上机测定时的浓度低至10ppb以下。由于在主要检测观测区的谱线干扰严重,能否实现上述杂质元素浓度的准确分析,对ICP-OES的性能提出了非常大的挑战。与ICP-OES相比,电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)的测定灵敏度更高,检出能力更强,检测下限更低,更加符合锂电池企业高效率准确检测低含量杂质元素的需求。ICP-MS的工作原理决定了其受到的干扰与ICP-OES有较大的区别。ICP-MS受到的干扰主要分为基体干扰和质谱干扰。通常情况下,锂电池正极样品前处理的固液稀释比例在100~200倍,而且前处理时使用较多的酸,使得样品中的固溶含量和酸度都很高,造成ICP-MS的空间电荷效应和电离抑制,待测元素受到基体干扰;对于正极材料样品来说,较高浓度的主量元素会与O、Cl、N等元素结合,形成分子量为M+16、M+35、M+14等质谱干扰。另外,主量元素的高浓度还会产生拖尾,影响分子量M±1元素的测定。如何帮助锂电池企业使用ICP-MS有效克服上述诸多干扰,提高生产效率以及产品质量和性能,成为ICP-MS供应商面临的重要任务。标配全基体进样系统 (AMS) 的珀金埃尔默NexION系列ICP-MS,配合大锥孔三锥设计,QID四极杆离子偏转器,以及具备标准、碰撞和反应三种模式的UCT通用池,可以获得优异的基体耐受性、仪器稳定性和更低的记忆效应。通过进行简单易行的仪器参数优化、干扰消除模式选择和同位素质量数选择,有效消除基体和质谱干扰,准确测定锂电池正极样品中的低含量杂质元素。下述表格显示了NexION 1000G ICP-MS对来自锂电池生产企业的正极材料样品中Cr、Cu、Fe、Zn、Pb杂质元素含量的测定结果,以及仪器方法的优异性能。表1.锂电池正极样品测定结果表2.锂电池正极样品加标回收率测定结果** Cu、Pb、Cr加标5μg/L;Zn、Fe加标50μg/L如何简单有效地做到准确测定锂电池正极材料中低含量杂质元素?请扫描下方二维码即刻获取《ICP-MS测定锂电池正极材料中Cr,Cu,Fe,Zn,Pb杂质元素含量》。扫描上方二维码即可下载右侧资料➡
  • PerkinElmer推出元素杂质检测解决方案应对美国药典232/233杂质元素检测要求
    美国药典(U.S.Pharmacopeia,简称USP) 是一家制定法定公共医药保健产品标准的权威机构,主要药品质量标准和检定方法作出的技术规定。美国食品药品监督管理局(Food and Drug Administration,简称FDA)的职责是对药品进行管理和监督,在管理和监督过程中就会引用USP相关标准。很多没有法定药典的国家通常都采用美国药典作为本国的药品法定标准,因此国内相关药厂向美国以及这些国家出口的药品或原材料或辅料时就必须符合美国药典的要求。药物杂质按其性质可以分为有机杂质、无机杂质、残留溶剂三大类,其中对于无机杂质主要涉及杂质元素的检测,美国药典2008年9月份提出对杂质元素的检测进行修改,正式实施的日期是2015年12月1号。美国药典USP232明确要求测定各元素杂质含量,并规定了15 种金属元素杂质(Cd、Pb、As、Hg、Ir、Os、Pd、Pt、Rh、Ru、Cr、Mo、Ni、V和Cu)的每日允许暴露值(PDE),USP233提供了两种基于现代分析仪器的检测方法,并已由USP 下属的分析开发部门验证。新通则中所述两种方法分别是电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES法或ICP-OES法)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS 法),样品均采用封闭容器微波消解法。对于准备进入美国或相关市场或已在该市场有销售的原料药或制剂厂家,必须在新法规执行之前做好充分的准备,提前对即将上市申报的产品进行金属元素杂质风险评估;同时需要做好硬件和软件上的升级,按照法规的要求,开发和验证适合自己公司产品的金属杂质检测方法,保证上市产品符合法规要求。否则,即使现在药品申请已被FDA批准,在2015 年12 月1日新法规正式执行生效后,还需对工艺中的各个阶段潜在的、加入的或不经意引入的金属元素杂质进行风险评估,并再次经FDA批准,后续工作将非常烦琐。针对以上情况,PerkinElmer推出针对USP 232/233的解决方案来应对美国药典元素杂质的检测要求。解决方案下载地址:http://go.perkinelmer.com/l/32222/2014-08-26/28svh/32222/57362/PerkinElmer_USP232233.pdf
  • 美国药典(USP)公布其新的元素杂质标准
    日前,美国药典(USP)公布了其新的元素杂质标准,并公开征求意见,新的标准将于2010年4月15日执行。   USP计划将在2010年执行新修订的3个专论,即关于元素杂质限度、检测方法和饮食补充剂金属残留限度专论。这些新标准已经在USP论坛和标准研讨会上进行了讨论,修订的原因和标准的适用性已经药典委员会专家一致通过。   这些修订更新了药品和饮食补充剂中元素杂质检测方法,要求采用现代分析技术进行元素检测。设定了金属杂质限度,这些金属杂质包括但不限于已知明显毒性的铅、汞、砷和镉,这4个元素的限度值分别是1.0ppm、1.5ppm、1.5ppm和0.5ppm。
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