油层厚度

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油层厚度相关的耗材

  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒
  • 薄层层析微晶纤维素板, F254, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2±0.02mm, 微晶纤维素粒径: ≥300目, 10片/盒
    薄层层析微晶纤维素板, F254, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2±0.02mm, 微晶纤维素粒径: ≥300目, 10片/盒
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。

油层厚度相关的仪器

  • 作为德国一家中型公司,INFRALYTIC提供针对不寻常或严苛环境下的高质量计量创新和解决方案。INFRALYTIC开发和生产高精度传感器,用于无接触,非破坏性和快速化合物识别和定量,尤其适用基于红外光谱学下的光学科技。INFRALYTIC冰传感器能够检测风力涡轮机转子,道路上,结构上以及空调系统中的结冰程度。INFRALYTIC的油膜计确定金属板上的油层厚度。INFRALYTIC的IOS NG代油膜计量器早已成为钣金生产和加工行业中*的用于测量油膜厚度的标准。产品特征:内部自动持续验证审查内部自动材料滚动方向确定可以通过带有照片文档的智能手机进行操作电池供电超过十二小时便于使用在各种环境中灵活使用应用领域:●可测量的油层厚度介于 0.05 和 6 µ m(约 g/m² )油层厚度之间。校准是以下各项的标准:●未经处理的冷板●热镀锌板●防火铝板●电解镀锌板(自动磷化检测)●镀锌退火●铝(抛光和 EDT)产品参数:测量方法:红外光谱测量范围:0,05 – 6 克/平方米测量精度:0.02 – 0.3 克/平方米:+/- 0.015 克/平方米; 0.3 – 2 克/平方米:+/- 0.2 克/平方米2 g/m² :测量值的 +/- 10%重复性: 0,0010 g/m² 测量分辨率:高达 0.001 克/平方米表面:冷轧钢带、热镀锌、电解镀锌、磷化、镀铝 ZnMg 表面,镀锌铝 – 未涂层,预处理润滑剂:矿物油、触变性矿物油、热熔胶、蜡、特殊校准后的其他有机润滑剂测量距离:8 毫米 +5 / -2 毫米环境温度:+0°C 至 45°C防护等级 65
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  • 浮子式油层监测系统 400-860-5168转2390
    浮子式油层监测系统 (射频导纳电容式)浮油监测系统)-油水分界面检测系统-油水分离液位监测系统- 先进的数字射频导纳技术,浮子式传感器随水位的升降而升降,继电器内置回环、延时设置,灵敏度高,抗干扰能力强,信号传输距离远,可达1KM,适用于任何种类的油品,本安型防爆设计,可使用在危险场合,特氟龙和不锈钢材质耐腐蚀性强,标定和设置简便,通过CSA Class 1,Zone 2,Div 2,Groups A,B,C,D认证. 可实现水油分界面上浮油厚度的连续监测 性能及特点 ● 无活动部件 ● 标准双绞线连接 ● 1个控制器可连接2个探测器 ● 拥有可在危险区工作的内部防护措施 ● 高抗腐蚀性Tef lon、不锈钢材料的接液部件 ● 使用的电容技术可用于任何类型油类 ● 高频电容技术无需日常清洁 ● 标定、设置方法简洁 技术指标 ● 控制单元 工作温度:0℃-55℃ 电 源:24VDC或110VAC、220VAC 模拟输出:4-20mA 与油层厚度成比例 接 口:RS-485 Modbus 显 示:带背光液晶显示油层厚度 继电器:4*10mA,SPDT 认 证:UL CSA CE 外 壳:Type 4X,IP65 ●检测单元 环境温度:0℃-55℃ 测量范围:0-600mm or 0-25mm. +/- 1mm 认 证:CSA Class 1, Zone 2 Div 2, Groups A,B,C,D
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  • 涂层厚度CATc 400-860-5168转1766
    紧凑型 Calotest 可快速测定涂层的厚度。CATc 广泛用于分析厚度介于 0.1 μm 和50 μm 之间的涂层。简单的球压坑法可快速准确地检查所有类型涂层(无论是单层还是多层膜)的厚度。通常包括 CVD、PVD、等离子喷涂涂层、阳极氧化层、化学镀层和电镀层、聚合物、油漆和清漆。轴转速:10 rpm 到 3000 rpm磨损时间范围:1 秒至 10000 秒标准球直径:10、15、20、25.4、30 mm国际标准:ISO 1071, VDI 3198 andISO 26423:2009
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油层厚度相关的方案

油层厚度相关的论坛

  • 镀层厚度测试

    大家能否分享一下镀层厚度测试的经验?诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受?请不吝赐教!

  • 测量镀层厚度--设备

    求助:在金属表面测镀层厚度,镀的是同一种物质比如镍;镀两层,这两层镍的物理属性不同,晶粒大小不一样,请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢!

  • 多层涂镀层厚度测量用什么仪器

    基体是陶瓷,陶瓷上有层钼和锰的氧化物层,厚度10UM--50多UM,外层是镍层,厚度是1-10UM,请问用什么仪器可以测两层或多层厚度,暂时我了解了X荧光测厚仪,换有别的仪器可以测量吗

油层厚度相关的资料

油层厚度相关的资讯

  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]   通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。      日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。   对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。   为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。   近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。   精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。 [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。 [主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 国家气象探测中心开展激光雷达霾层厚度观测
    中国气象报记者王晨 通讯员赵培涛 季承荔报道 针对近日全国较大范围重污染天气,中国气象局气象探测中心(以下简称“气象探测中心”)依托正在开展的超大城市综合观测试验,与相关单位利用10余台激光雷达系统开展联合协同观测;同时利用激光雷达综合观测数据进行激光雷达霾层厚度观测产品的综合加工处理,制作的霾厚度观测产品在央视《新闻联播》后的《天气预报》节目中使用。  据了解,在中国气象局紧急启动三级应急响应后,气象探测中心充分发挥在激光雷达观测上的技术优势,依托正在开展的超大城市综合观测试验,联合中国科学院安徽光学精密机械研究所、北京理工大学、安徽蓝盾光电子股份有限公司等单位,组建北京地区激光雷达观测网,在北京理工大学、北京南郊、健德桥等地开展激光雷达霾观测试验。连日来,北京地区共计10余台激光雷达系统开展了联合协同观测,实时监控观测北京地区霾层厚度的变化,获取了丰富的大气垂直高度及气溶胶颗粒等信息。 激光雷达霾层厚度观测设备。   在开展观测数据服务工作的同时,观测服务效益也凸显。利用激光雷达综合观测数据,气象探测中心开展激光雷达霾厚度观测产品的综合加工处理,每日制作并提供北京地区霾层厚度激光雷达观测产品,供全国天气会商及编制决策服务材料使用。其中,12月19日加工制作的激光雷达霾厚度观测产品在《新闻联播》后的《天气预报》节目中得以使用和展示。节目中,一张直观清晰的北京城区霾层厚度监测图出现在屏幕上,横轴显示不同的时间点,纵轴显示霾层在不同公里数上厚度的差别,上方配以消光系数,同时主持人深入浅出的讲解,使观众对“激光雷达霾层厚度观测”建立起感性认识。 新闻联播天气预报节目展示北京城区霾层厚度监测情况。   据悉,下一步,气象探测中心将根据服务需求,继续改进探测产品,积极探索新型探测设备的产品开发及应用,更加充分地发挥综合观测效益,同时全力做好综合观测系统的运行监控、技术保障工作,为气象预报预测服务提供有力支撑。  北京健德桥的激光雷达霾层厚度连续观测结果。北京南郊的激光雷达霾层厚度观测结果。 (责任编辑:栾菲)
  • 珍珠珠层厚度无损检测研究有重大突破
    从广西质量技术监督局获悉,2009年3月15日,该局承担的“X射线和近红外光珍珠珠层厚度无损检测仪研究与应用”科技成果项目鉴定验收会在广西产品质量监督检验院召开。此次项目验收鉴定会由广西科技厅组织,全国有关方面的权威专家对项目进行了审定。   据了解,该课题技术在珍珠检测领域具有较高的创新性。 一是国内首创微焦斑(Φ=8μm)X射线透射技术和CCD光电成像技术相结合,实时整体成像;二是珠层图像自动甄别采集,根据灰度级差原理,自动由外向内搜索(图像由白到黑)之最大梯度处视为珍珠核与珍珠层边缘;三是用测量误差理论最小二乘法圆度拟合,自动获取最接近珠核与珠层平均圆,实现准确和快速自动检测;四是用计算机技术实现尺寸自动匹配,以消除点光源引起不同尺寸珍珠的投影与其真正直径测量偏差的问题;五是研究出仪器的校准标准,建立量传溯源体系,确保测量准确度;六是实现珍珠球体多截面测量;七是控制测量误差,实现仪器测量准确度≤0.02mm。   参会专家一致认为:该课题在全国率先开展采用X射线和近红外光学相干层析成像技术对珍珠进行无损检测综合对比研究,并取得突破性进展,成功研制出两种珍珠无损检测高精度新仪器,把先进的测量理论成功转化为具有广泛应用意义的技术创新成果和测量仪器,属于国内首创,技术水平达到国内领先,国际先进水平。   目前该项目所研究的两种无损检测方法已被纳入国家技术标准在全国推广应用。对提高珍珠产品质量,促进广西珍珠产业的发展将具有深远的社会效益和经济效益。
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