双折射

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  • 低双折射旋转光纤
    低双折射旋转光纤LB650 | LB1060 | LB1300 | LB1300RC | PME1300-10 Spun fiber:Rotating glass preform during fiber drawing process produces a waveguide with unique properties: all fiber non-uniformities are averaged along all possible directions, effectively cancelling out total fiber birefringence. With total (but not local) birefringence close to zero, we obtain a fiber that will hold circular polarization (even when bent or twisted). Unlike conventional PM fibers that can hold only linearly polarized light, or annealed fiber that requires special handling, this low-birefringence fiber preserves both linear and circular polarization and can relay it with minimum error over large distances. Highly-birefringent preforms with incorporated stress produce spun fibers that can withstand significant bending and twisting and hold polarization over large number of coils with reasonable accuracy (without costly annealing process). Polarization accuracy in this case depends on local (instant) birefringence that introduces a small constant error, independent of fiber length. Elliptical core fiber Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Elliptical core fiber:Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Features:- High extinction ratio- Reduced coupling loss- Low temperature dependence Applications - Fiber-optic gyros- Optical current sensors - Fiber amplifiers需要咨询更多的服务请与我们的市场人员联系。
  • PR-32a折射仪 PR-32a折射仪 PR-32a折射仪
    PR-32a折射仪 日本ATAGO 产品详细介绍 高品质RX-5000数字式折射计系列之一,带有漏斗槽,可以灌入样品进行连续测量。也可对不同样品进行连续测量,不需每次清洗棱镜,提高测量效率。 产品功能描述 测量范围:   折射率(nD) 1.32700 to 1.58000 Brix 0.00 to 95.00% 最小标度:   折射率(nD) 0.00001 Brix 0.01% 测量精度:   折射率(nD) ± 0.00004 Brix ± 0.03% 温度校正 5~60℃ 输出接口 RS-232, CDP-62数字式打印机(另售) 损耗 40VA 电源需求 电压 AC100~240V, 50/60Hz 产品特征 长度 21cm 宽度 29cm 高度 34cm 重量 11.0kg(除漏斗槽) 产品持有证书   CE
  • 数字袖珍折射仪药品折射仪PAL-RI
    数字手持袖珍折射仪PAL-RI 数字手持袖珍折射仪PAL-RI是PAL系列中唯一可测量折射率的新款产品.适合在药品及化工制品等以折射率来管理产品质量的过程中使用. Model PAL-RI 型号 3850 测量范围 折射指数 1.3306 至1.5284 溶解值 折射指数0.0001 测量准确度 折射指数± 0.0003 (在20度摄氏使用水时) 环境温度 10 至40° C 测量温度 5 至45° C (溶解值1° C ) 样本量 0.3 ml 测量时间 3 秒 电源 2 × AAA 电池 国际保护等级 IP65 无尘且对喷射水柱具防护作用 尺寸重量 55(W) × 31(D)× 109(H)毫米, 100公克(不含零件的重量) 选件 &bull PAL保管箱: RE-39409&bull 携带连: RE-39410

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  • 双折射应力仪 400-860-5168转3086
    PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述: 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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  • 双折射显微成像系统 400-860-5168转2831
    双折射显微成像系统所属类别: ? 光学检测设备 ? Hinds偏振成像设备所属品牌:美国Hinds Instruments公司 产品简介双折射显微成像系统 生物组织/材料 双折射分布显微成像系统 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合CCD多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性,可以用来分析检测生物样品/材料特定。 偏振显微成像系统、显微偏振成像系统、偏振显微镜、偏振成像、双折射显微成像 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统也可以并配合CCD多个像素元,从而Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以详细细致的显示这个分布。结合不同组织的双折射偏振特性,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以用来分析检测生物样品/材料特定。 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以配合多个波长实现多波长扫描的实现和应用(三波长或者四波长)。Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统在配合高速偏振调制成像和CCD多像素计算方案有着独到的解决技术。 产品特点? 不需要荧光/染料标记? 支持客户需求定制光谱扫描? 支持客户需范围求点/面/线成像? 同一幅面内双折射分布/强度分布/偏振角分布成像可选? 三色(可到2400nm谱段)四色(可到3500nm谱段成像)可选 相关产品 磁光克尔效应测量系统 成像型穆勒矩阵测量系统
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  • 150AT应力双折射测量系统所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 应力双折射测量仪所属品牌:美国Hinds Instruments公司 产品简介150AT全自动应力双折射测量系统 全自动应力双折射测量系统 150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置,使得测量更有针对性(高精度/大范围相位延迟量),系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力(1 mm grid spacing ),150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。 产品特点自动X/Y位移平台扫描二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果台式整机设计组装灵活位移平台设计,满足个性化定制需求强大数据拟合分析功能和友好用户界面 参数高精度测量系统选项大范围相位延迟量测量选项相位延迟量范围:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延迟量测量分辨率/ 重复精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.01 nm / ± 0.015 nm角度测量分辨率 / 重复精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°测量速率 / 时间4:up to 100 pps / sample size dependent尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)光源波长5:Various (632.8 nm standard)测量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm)内置测量调制频率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz解调分析技术:Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)1 Typical performance at 5 nm retardation2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.5 Custom wavelengths available6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 选项: * Additional Polarization Parameters * 超高速扫描选项 * 光谱扫描测量和RGB测量 * 客户定制内置波长选项(紫外/红外) * 手动/自动倾斜位移平台装置 * 定制样品平台加持谁记 * 定制化显示界面 (UI or DLL) * 应力计算评估软件 相关产品 光弹调制器
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  • 40年坚持,打通双折射双频激光器及干涉仪全技术链条
    双频激光干涉仪是先进制造业、半导体芯片制造等行业不可或缺的纳米精度的尺子,应用广泛。张书练教授团队(先清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,后镭测科技有限公司),以解决双频激光干涉仪关键技术为线,经近40年坚韧攀登,研究完成了“可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双折射双频激光干涉仪”的全链条技术,并批产。该技术开国内可伐-玻璃组装式氦氖激光器之先,吹制工艺或成历史。开国内外应力激光腔镜产生双频激光之先,解大频差和高功率不可得兼之难,频率差可以在1~40 MHZ范围选择而功率大于1 mW。双折射双频激光干涉仪测量70 m长度误差小于5 μm,非线性误差小于1 nm,测量速度高于3 m。1 研究背景激光干涉仪是当今纳米时代的长度基准,也是先进制造业(机床、光刻机,航空、航天等)制造的精度保证。制造精度和生产效率越来越高,对激光干涉仪的测量精度和测量速度提出了更高的要求。激光干涉仪的“激光”是(HeNe)氦氖激光器,至今无可替代。传统HeNe双频激光干涉仪存两个难点,成为瓶颈:1)国内外,我们之前,双频激光器靠塞曼效应产生两个频率,频率之差小(在3 ~ 5 MHz之间),频差越大激光功率越小,不能满足光刻机等应用的更大频率差要求(如10、20、40 MHz),频率差大,测量速度高,效率高;2)不论是单频还是双频激光干涉仪,国产还是外购,各型号都有几纳米甚至十几纳米的非线性误差,一直没有找到解决办法。通常,在单频激光器的光增益路径上加磁场后(塞曼效应)就变成双频激光器。可是,相当长的期间,购买到的大部分单频激光器因为常出现跳模,用于单频激光干涉仪时淘汰率很高,此外,加上磁场后单频并不呈现双频,双频激光干涉仪难有好的光源。经近40年坚持,研究打通了单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双频激光干涉仪的全技术链条,批产,获得了广泛应用和认可。2 双折射双频激光器及干涉仪的关键和全链条技术2.1 双折射双频激光器置晶体石英片(图1a中的Q双面增透)或有内应力的玻璃元件(图1b中的M2右表面镀反射膜)于激光器谐振腔内,这些元件的双折射使激光频率分裂,一个频率分裂成两个频率,两个频率的偏振方向互相垂直(正交偏振)。反复实验证明,激光器可输出频率差大于但不能小于40 MHz两个频率。如果频率差稍大于40 MHz,在改变(调谐)激光频率谐振腔长(即用压电陶瓷1纳米一步“距”的推动M2改变激光谐振腔长)过程中看到的是一个频率振荡会陡然变成两个频率振荡,而前者功率陡然下降一半,刚升起的频率则获得同样的功率。继续调谐腔长,最早振荡的频率会陡然消失,而后起振的频率功率升高到最大。如果频率差小于40 MHz,两频率则有你无我。图2示出了频率差20 MHz时o光和e光的光强度此长彼消得过程。理论和实验一致。图1 激光频率分裂原理图。(a)晶体石英片Q于激光谐振腔内,(b)激光输出镜为M2右表面,对M2加力使激光反射镜内产生应力图2 频差20 MHz时的强烈模竞争。激光强度随腔长调谐(改变)的实验曲线。理论和实验一致图3给出了两个频率的频率差多大时,在频率轴上两个频率的共存区的宽度,也即两个频率差大小对应的共存频域宽度。曲线最左侧可见,在约40 MHz时,共存宽度迅速下降趋于0 Hz,也即小于40 MHz时,两频率之一熄灭,频率差消失。图3 实验测得的两个频率共存的频域宽度和激光频率差的关系2.2 双折射-塞曼双频激光器塞曼双频激光器的频率差一般在5 MHz以下,功率随频率差增大而减小,7 MHz时的激光功率仅0.2 mW以下。作者团队研发的双折射双频激光器频率差大于40 MHz,研制成的双折射-塞曼双频激光器可以输出百KHz到几十MHz的频率差,而功率不因频率差增大而改变,可以达到1.5 mW。双折射-塞曼双频激光器包括两项关键技术,先由双折射造成激光器频率分裂,决定了激光器输出为两个偏振正交频率以及它们的间隔(频率差)的大小。再因激光器上加了横向磁场,横向塞曼效应使增益原子分成两群——π群和σ群。π群和σ群光子的偏振对应双折射互相垂直的主方向,也即正交偏振的光“各吃各粮”,它们之间的相互竞争不存在了,无论频率差大小都能振荡。频率差可以是3、5、7、10、20、40 MHz或更大。2.3 内雕应力双折射-塞曼双频激光器提出了“内雕应力”的概念和产生双频的原理,即用窄脉冲激光器对激光腔镜表面或基片内部造孔(或穴),造成激光腔镜内的应力精确改变(图4所示),“雕刻”提高了频率差的控制精度。“内雕应力”双折射双频激光器不仅用于国产双频激光干涉仪,也用于运行中的光刻机的激光器替换。同时,提供了科研单位的科学研究。该激光器替换正在服役的光刻机的原有激光器,使光刻机机台误差由24 nm下降到6 nm。图4 内雕应力双折射-塞曼双频激光器。M2内部雕刻出的孔造成激光器的双频,磁条PMF1和PMF2消除激光器强模竞争2.4 可伐-玻璃组装式(无吹制)双频激光器国内,研制生产HeNe激光器历史很长,但我国一直靠吹制工艺制造氦氖激光器,而且不能制造可伐-玻璃组装式氦氖激光器。北京镭测科技有限公司研制成可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器,功率大于1 mW,满足单频和双频激光器的需求。同时,这一技术将使整个国产氦氖激光器告别吹制,进入一个新的技术高度(如图5所示)。图5 可伐-玻璃组装内雕应力双频激光器(镭测科技提供)2.5 研制成的双频激光干涉仪技术指标作者强调的是,我们有了可伐-玻璃组装式激光器和双折射(内应力)-塞曼双频激光器,双频激光干涉仪有了强力的“心脏”,有了自主可控的基础。团队又全面设计干涉仪的光、机、电、算。时至今日,可伐-玻璃组装式双折射(-塞曼)双频激光器(非吹制)和干涉仪已批量生产,正在满足科学研究和产业的需求。中国计量科学院对双折射-塞曼双频激光干涉仪的测试结果:频率稳定度为10-8,分辨力为1 nm,非线性误差小于1 nm(图6所示),12小时漂移35 nm(图7所示),70 m长度测量误差小于5 μm。这些数据来自中国计量科学院测试证书:CDjx 2014-2352, CDjx 2018-4810, CDjx 2020-04463等。图6 双频激光干涉仪非线性误差图7 双折射-塞曼双频激光干涉仪12小时零点漂移3 展望在实现“可伐-玻璃组装式激光器”→“内雕应力双折射-塞曼双频激光器”→“双折射-塞曼双频激光干涉仪”全链条技术基础上,进一步发展各种规格的可伐-玻璃组装式激光器,以开拓双折射-塞曼双频激光干涉仪的应用深度和应用范围。
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。 视野范围内可一次测量,测量范围广。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 PA系列双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 应力双折射测量仪
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