扫描电镜样品

仪器信息网扫描电镜样品专题为您整合扫描电镜样品相关的最新文章,在扫描电镜样品专题,您不仅可以免费浏览扫描电镜样品的资讯, 同时您还可以浏览扫描电镜样品的相关资料、解决方案,参与社区扫描电镜样品话题讨论。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

扫描电镜样品相关的耗材

  • 扫描电镜磁性样品台
    磁性样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染,实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。磁性样品SEM效果图产品原理 超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、疏水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。
  • 扫描电镜X射线源
    这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源,非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能,允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”(x射线)。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦(35千伏和0.1毫安,取决于阳极材料)。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作,包括在同一样品上使用电子束,同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束(来自扫描电子显微镜)产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别,量化,甚至生成痕量X射线图,以查看样品中微量元素的元素分布。 应用: 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料,聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag,Mo&W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm,500μm,1000μm(其他可选) 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却,不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA,X射线开/关按钮,kV /μA显示。 连接到SEM,键控上电开关,集成高压电源,HV-On灯,警示灯
  • EMS 扫描电镜用品 样品台
    样品大小要适合仪器专用样品台的尺寸,不能过大,样本座(样本台)尺寸各仪器均不相同,一般小的样品座为Φ3~5mm,大的样品座为Φ30~50mm,以分别用来放置不同大小的样本,样本的高度也有一定的限制,一般在5~10mm左右。 扫描电镜的块状样品制备较简单,对于块状导电材料,除了大小要适合仪器样品座尺寸外,基本上不需进行什么制备,用导电胶把样品粘结在样品座上,即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料,要先进行镀膜处理,在材料表面形成一层导电膜,以避免电荷积累,影响图象质量,并可防止样品的热损伤。粉末样本的制备:先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上,再均匀地把粉末样撒在上面,用洗耳球吹去未粘住的粉末,再镀上一层导电膜,即可上电镜观察。 现在为了节约你寻找样本台的时间,我们提供全系列的样品座(样本台)产品供大家选择!客户购买样本台,首先要知道所用仪器的生产厂家,仪器型号,样本台上下面的直径、材质等。我公司经销的样品台可以匹配的仪器生厂家或者仪器型号有:AMRAY 1000/1200AMRAY 1000/1200/1400Cambridge S-4, Mark II, S-410...Cambridge, Phillips, Camscan, B&L, Etec, Zeiss, etc.Leo MicroscopeCoates & WelterHitachi S-450HitachiHitachi S-500JeolJeol, ISIJeol JSM 840Zeiss 样品台的材质:铝质样品座、光谱纯碳样品座(用于EDS,探测器探测不到它们).样品台的别名:样品座,大头钉,样品支架,基板等等。

扫描电镜样品相关的仪器

  • 国仪量子钨灯丝扫描电镜SEM2000钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm,支持升级30kV电压,可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围,适用于快速筛选待测样品,更多的扩展接口,可搭载BSED、EDS等附件,使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯,即使是新手用户,简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散,均可一键调节,提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。丰富的扩展性高灵敏度背散射探测器 多通道成像探测器设计精巧,灵敏度高,采用4分割设计,无需倾斜样品,可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。 二次电子成像和背散射电子成像对比 背散射电子成像模式下,荷电效应明显减弱,并且可以获得样品表面更多的成分信息。能谱金属夹杂物能谱面扫分析结果。电子背散射衍射钨灯丝电镜束流大,完全满足高分辨EBSD的测试需求,能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。该图为Ni金属标样的EBSD反极图,能够识别晶粒大小和取向,判断晶界和孪晶,对材料组织结构进行精确判断。应用案例产品参数
    留言咨询
  • Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。如今,研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求,希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪(FEG)确保了优异的分辨率,通过不同的探测器选项,可以调节不同衬度信息,包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示,使得单次扫描即可获得各种样品信息,从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式(高真空、低真空和 ESEM™ )使得系统极具灵活性,可以容纳任何 SEM 可用的最广泛的样品类型,包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外,ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究,例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求,它同时支持相对的双能谱(EDS)探测器、共面能谱(EDS)/电子背散射衍射(EBSD)和平行束波谱(WDS)探测器。无论什么类型的样品,在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合,无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下,均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据,同时尽可能缩短培训时间,所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能(用户向导)支持,不仅可以指导操作者,还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消(Undo)”功能,鼓励新手用户进行实验,而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究:具有环境真空模式(ESEM)的独特高分辨率场发射扫描电镜最大程度缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品, 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台,可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能,样品仓可同时安装三个 EDS 探测器,其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能:凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台,105°倾斜角度范围,可全方位观察样品 软件直观、简便易用,并配置用户向导及 Undo(撤销)功能,操作步骤更少,分析更快速全新创新选项,包括可伸缩 RGB 阴极荧光(CL)探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript(基于 Python 的脚本工具 API)
    留言咨询
  • 泽攸科技 PicoFemto系列扫描电镜液体样品台,基于MEMS芯片封装及电学芯片技术,实现扫描电镜内原位液体-电化学实验。PicoFemto 系列扫描电子显微镜 液体样品台 采用全新的O圈辅助密封设计,攻克了以往原位液体解决方案装样困难的问题。实验中,样品被密封在超薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内,池内可以承载一个大气压。芯片电极联通外接电路,从而在扫描电镜中搭建一个液体-电化学测试环境。扫描电镜液体样品台-技术指标液体电化学指标1. 液体池间隔层厚度:100nm等多种规格可选;2. 液体池可承载1个大气压;3. 电压输出:Max ±200V,Min ±5uV;4. 电流测量:Max ±1.5A,Min ±100fA;5. 恒压或恒流模式;6. 软件控制,数据自动保存; 扫描电镜液体样品台-产品选型泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、Tescan及ZEPTOOLS等主流品牌电子显微镜的不同型号液体样品台。 安徽泽攸科技有限公司是扫描电镜液体样品台生产厂家,关于扫描电镜液体样品台价格请咨询(微信同号)原文:
    留言咨询

扫描电镜样品相关的方案

  • 扫描电镜中如何观察含水样品?
    扫描电镜(SEM)用电子束扫描样品表面,收集携带电子束与样品相互作用信息的反射电子。如果样品仓内残留有空气,空气原子与电子束相互作用,部分偏转电子,并在图像上增加噪声。这就是扫描电镜成像前必须达到一定真空度的原因。但是,虽然高的真空对于准确的分析来说是至关重要的,但它也会对某些类型的材料成像产生负面影响,例如含有水分的样品。阅读这篇博客,了解如何在扫描电镜的真空环境中观察对真空敏感的样品,并保持样品结构完整。
  • 扫描电镜(SEM)是如何检测样品信息的
    扫描电镜(SEM)是一种用途广泛的科学仪器,它可以根据用户的需求提供样品不同类型的信息。在这里我们将阐述在扫描电镜(SEM)中产生的不同类型的电子,它们是如何被检测出来的,以及它们可以提供的信息等。
  • 样品导电性对扫描电镜成像的影响
    样品制备在扫描电镜分析中占有重要地位,它关系到微观图像的观察效果。如果制备的样品不适用于扫描电镜的观察条件,则很难拍摄出好的图像。众所周知,理想的扫描电镜样品一定是导电性非常好的,例如金颗粒、锡球等金属类材料。对于不导电的样品,如生物材料、纸张、塑料和陶瓷等,容易造成放电、图像漂移等现象,这些都是荷电效应产生的。

扫描电镜样品相关的论坛

  • 扫描电镜 样品测试遇到一些小问题了??

    扫描电镜植物样品制备时干燥的方法有哪些?各位前辈好,我刚开始做扫描电镜观察植物叶片和茎段,菜鸟一只。我查了好些文献,发现植物样品制备时干燥的方法都是在 HCP-2 型临界点干燥仪上干燥,然后再用双面胶把干燥后的样品粘贴于干净的样品台上 ,喷金观察。我们实验室没有这个仪器,请问各位前辈还有别的干燥方法吗?我们有一台冷冻干燥仪,可以用这个进行干燥吗?另外,因为我这个样品要拿到别的学校去看扫描电镜,那么我在自己实验室进行固定、逐级脱水、干燥以后该如何保存,我该进行到哪一步,以便我在拿去看扫描电镜的时候样品的形态不会受损害?

扫描电镜样品相关的资料

扫描电镜样品相关的资讯

  • 飞纳台式扫描电镜开通扫描电镜样品测试服务
    飞纳台式扫描电镜以表面细节丰富的高质量的优质照片,15 秒钟快速抽真空,简单人性化的操作而著称。如果您需要快速得到扫描电镜样品测试结果,却又不得不排队等候测试,那么请您致电飞纳台式扫描电镜测试中心,专业的工程师将以最快的速度为您提供最真实的数据,详情请联系我们的客服人员咨询及预约测试。联系方式(许小姐):邮箱:service@phenom-china.com电话:400 857 8882
  • 扫描电镜拍摄技巧|消除像散,提高样品成像质量
    像散对扫描电镜成像质量的影响通过之前的文章,大家了解了 “加速电压” 与 “束流强度” 对图像的成像质量有非常大的影响。其实除了加速电压、样品的导电性、电镜的束流强度,像散、图像的亮度对比度等都会影响扫描电镜图像的成像质量。 今天,这一篇文章将教大家了解消除像散的重要性,提高样品的成像质量。 像散的定义可能会比较抽像,所以,小编用近视的散光来进行对比。 当近视看月亮时,月亮会比较模糊,但仍是一个圆形。 当近视有散光看月亮时,看到的月亮会出现变形。 扫描电镜的像散就如同散光,当图像有像散时,在聚焦的过程中会发现图像拉伸变形,失去原本的形状,这也是判断像散的依据。如果在聚焦的过程中,没有发现图像出现拉伸变形,仅仅只是图像虚化,那便说明没有像散。 像散是影响图像清晰度的重要因素。尤其是高倍图片——在用高加速电压、低束流拍摄高倍率图片时,一般都需要进行消像散。下面,通过几组图片,让大家更好的理解消像散对高倍率图像的重要性。 锡球,扫描电镜放大倍数是 79000 倍,左边图像无像散,右边图像有像散 电极材料,扫描电镜放大倍数 50000 倍,左边图像无像散,右边图片有像散 炭材料,扫描电镜放大倍数 20000 倍,左边图像无像散,右边图片有像散 当扫描电镜图像出现像散时,对其进行聚焦,图像会出现拉伸感,如下图所示,消像散需要实验员具有丰富的操作经验,才能准确识别并消除象散。 飞纳电镜 Rel 4.6 的自动消像散功能可以轻松解决扫描电镜初级操作者无法熟练消像散的问题。
  • 扫描电镜能谱技巧分享|4种方法提高扫描电镜能谱的准确性
    扫描电镜能谱技巧分享|4种方法提高扫描电镜能谱的准确性能谱(EDS)结合扫描电镜使用,能进行材料微区元素种类与含量的分析。其工作原理是:各种元素具有自己的 X 射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量 E,能谱仪就是利用不同元素 X 射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。 能谱定量分析的准确性与样品的制样过程,样品的导电性,元素的含量以及元素的原子序数有关。因此,在定量分析的过程中既有一些原理上的误差(数据库及标准),我们无法消除,也有一些人为因素产生的误差(操作方法),这些因素都会导致能谱定量不准确。 飞纳能谱面扫01 根据衬度变化判断元素的富集程度 利用能谱分析能够根据衬度变化判断元素在不同位置的富集程度。 如图 1,我们获得了材料的背散射图像以及能谱面扫 Si 的分布图,其中 Si 含量为20.38%。在背散射图及面扫图中,可以看到不同区域衬度不同,这是不同区域 Si 含量不同造成的。我们选取了点 2-7,其点扫结果 Si 含量分别为 19.26%、36.37%、18.06%、1.54%、20.17%、35.57%。 这种通过衬度判断元素含量的方法在合金(通过含量进而推断合金中含有金相的种类,不同的金相含有的某种元素有固定的含量区间),地质(通过含量判断矿石等的种类)等行业有广泛的应用。 图1. 左图为材料背散射图及能谱点扫位置,右图为能谱面扫 Si 含量的分布 02 判断微量元素的分布 利用能谱,可以寻找极微量元素在材料中分布的具体位置,先通过面扫进行微量元素分布位置的判断,然后通过点扫确定。 如下图,左边为背散射图像,右边分别对应 Al、Cr、Fe、Mg、Si、Ca、Ti、P,它们的含量如表 1,通过能谱面扫描分析得到各元素含量,其中 P 的含量为 0.09%。 图2. 材料的背散射图及 Al、Cr、Fe、Mg、Si、Ca、Ti、P 元素的分布 表1. 图 2 中 Al、Cr、Fe、Mg、Si、Ca、Ti、P 元素含量 工程师对样品进行点扫确认,位置 7 是面扫结果P元素富集区,其各元素分布如表 2,这个位置的P含量高达 14.56%,局部含量比整体含量高 160 倍。 图3. 背散射图像及样品点扫位置 表2. 样品点扫位置 7 各元素的含量飞纳台式扫描电镜获得高质量面扫结果的原因1. 灯丝亮度决定能谱信号的强度,飞纳电镜采用 CeB6 灯丝,具有高亮度,可以获得高强度的能谱信号。 2. 采用新型 SDD 窗口材料 Si3N4,提高了穿透率,透过率由 30% 提高到 60%。比传统聚合物超薄窗透过率提高 35% 以上。 3. 采用 Cube 技术提高响应速度(计数率)并降低了噪音(分辨率提高),是国际上处理速度最高的能谱系统,解决了计数率与分辨率的冲突。 如图 4 所示,飞纳电镜能谱一体机可以获得更高计数率与更高分辨率的能谱结果。 图4. 飞纳能谱结果 飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 不需要液氮、制冷速度快、信号强度大、分辨率高、体积和重量小,真空密封性高,可以使用更少的能量获得更低的温度。尺寸更为紧凑,适用于不同环境需求。小技巧 - 如何提高能谱的准确性能谱使用前要校准保证样品平整保证分析区域均质、无污染保证样品导电性、导热性良好
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制