热变形

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热变形相关的耗材

  • Iris分段式可变形镜
    产品信息Iris自适应光学系统Alpao自适应光学系统ALPAO 可变形镜Iris分段式可变形镜所属类别: ? 调制器 ? 可变形反射镜/自适应光学系统所属品牌:美国Iris AO公司产品简介分段式MEMS可变形镜,全球第一个由制造商提供完整校正的变形镜,在价格,尺寸,功耗,耐用性,灵活性,精度,损伤阈值等方面具有显著优势。关键词:变形镜,DM,deformable mirror,MEMS,可变形反射镜,可变形镜,PZT压电陶瓷驱动,Iris,Iris AO,磁性变形镜,magnetics actuator Iris可变形镜美国Iris AO公司生产小型化,基于微机电技术(MEMS)的变形镜,在价格,尺寸,功耗,耐用性和灵活性等方面具有显著优势。Iris的产品设计初衷就针对大行程,价格实惠,体积小巧且具有可扩展性等特点出发,以符合成像应用领域的所有要求。Iris的可变形镜技术由于光路偏差导致入射波前产生扭曲,该扭曲可能来自畸变媒介,如光学系统与成像物体之间,或者由光学系统本身带来的。 变形镜(DM)通过补偿光路偏差达到校正波前畸变的作用。Iris使用专利的MEMS技术生产变形镜。变形镜采用100到500个内切孔径从3.5mm到7.7mm的驱动器。下图所示为PTT489变形镜,共489个驱动器组成。由于尺寸小的优势,MEMS变形镜在可以,工业和商业系统中是最佳选择。Iris AO变形镜由紧密封装的镜子单元组成的阵列,每一个镜子单元可以在三个自由度方向上,伸缩,翻倒,倾斜独立控制。上图显示如何安置变形镜阵列,下图列出了Zernike多项式模型下,镜子可以实现光滑形变的形状。除了光滑的镜面面型外,变形镜也能产生相位跳变的形状,如相位阵列,菲涅尔反射器,甚至涡旋光。 在涡旋光应用中,研究人员使用PTT111变形镜(111个驱动器,37 PTT单元)产生的涡旋光比使用典型的相位板产生的涡旋更纯净(如下图示)。由于变形镜是主动元件,只要不超过变形镜行程的涡旋信息都可以实时读入变形镜,并获得干净的图样。分段技术比连续式变形镜有很多优势。分段式变形镜校正时比任何其他技术的变形镜更精确。区别于大部分变形镜制造商,Iris AO可以校正变形镜所有项目。(Iris AO是第一个可以提供完整校正的变形镜系统的制造商)校正后,变形镜可以使用直观的位置命令(piston/tip/tilt)或者Zernike系数设定位置。Iris的变形镜独立单元质量极好,分段间隙非常小,校正很精确,研究人员把Iris AO PTT111变形镜(111个驱动器,37 PTT单元)的性能表现作为其他连续式变形镜的标准 [REF Roorda paper]。 分立单元变形镜质量如此好,以至于NASA的研究人员正使用Iris AO DMs研发天基望远镜系统,最终将实现探测轨道靠近恒星的极小行星 [REFERENCE RICK LYON PAPERS 2012],[REFERENCE RICK LYON PAPERS 2010]。可见,Iris AO分立式变形镜可以用于所有连续变形镜使用的领域,也可以用于只能用分立式变形镜的应用中。Iris AO技术的核心优势是能适应很大的温度变化,可以做各种光学镀膜。目前,活跃领域是带介质膜的变形镜。测试表明变形镜可以承受300W/cm^2平均功率密度而不需要热沉。分析表面,如果加上热沉和轻微改良的镀膜,变形镜可以承受3KW/cm^2的平均功率密度。其他测试表明,对于脉冲激光,可以承受峰值功率密度1.7GW/cm^2。这些测试数据如此可喜,以致Iris AO赢得了国家自然基金的Phase II SBIR ,进一步发展变形镜在科研和工业激光器方面的应用。变形镜的应用正稳步增长,Iris AO正积极发展变形镜以符合新应用要求。1.PTT111 DM系统包括*出厂校正过的PTT111-5变形镜 *Smart Drier Ⅱ驱动器*PCB界面板*机械安装台*接口电缆PTT111 变形镜可选项:*大行程:8μm*高速电脑界面支持帧频 6.5kHz*188-1550nm介质膜*几何上匹配夏克-哈特曼微透镜阵列2. PTT111L DM系统包括*出厂校正过的PTT111L-5变形镜*Smart Drier Ⅱ驱动器 *PCB界面板*机械安装台*接口电缆PTT111L 变形镜可选项:*大行程:8μm*高速电脑界面支持帧频 6.5kHz*188-1550nm介质膜*几何上匹配夏克-哈特曼微透镜阵列3. PTT489 DM系统包括*出厂校正过的PTT489-5变形镜*Smart Drier Ⅱ-512 USB驱动器*PCB界面板*机械安装台*接口电缆 PTT489 变形镜可选项:*大行程:8μm*高速电脑界面支持帧频 6.5kHz*188-1550nm介质膜*降低阶数的配置:183,255,或者363个驱动器*几何上匹配夏克-哈特曼微透镜阵列详细参数PTT111PTT111LPTT489Number of segments3737 163Number of actuators111111489stroke5 or 8μm5 or 8μm5 or 8μmTilt angle ±4 or ±6.4 mrad±2 or ±3.2 mrad±4 or ±6.4 mradOptical coatingGold, protected-aluminum,protected-silverGold, protected-aluminum,protected-silverGold, protected-aluminum,protected-silver coatingOpen-loop flat surface figure20nm rms20nm rms30nm rmsInscribed aperture3.5mm7.0mm7.7mmMechanical response200μs500μs200μsMaximum operating temperature80℃80℃Drive electronicsLow noise ,14-bit resolution with USB interfaceC/C++ interface libraries , MatlabTM compatible functions 分享到 : 人人网 腾讯微博 新浪微博 搜狐微博 网易微博
  • 适用于高功率激光加工的Iris变形镜
    产品信息Iris自适应光学系统Iris分段式可变形镜Alpao自适应光学系统适用于高功率激光加工的Iris变形镜所属类别: ? 调制器 ? 可变形反射镜/自适应光学系统所属品牌:美国Iris AO公司产品简介Iris AO公司针对激光加工应用专门设计的分立镜面MEMS变形镜具有专业的水冷系统与镀膜技术,大幅提高了损伤阈值,适用于高功率激光加工系统,可对光学元件带来的像差予以校正,并有效提高激光的光束质量!关键词:变形镜,DM,deformable mirror,MEMS,分立镜面变形镜,分立式变形镜,分立式MEMS变形镜 ,分离镜面变形镜,Discrete MEMS deformable mirror,Iris变形镜,微变形镜,MEMS变形镜,静电变形镜,像差校正、场镜像差校正、F-Theta Lens像差校正适用于高功率激光加工的Iris变形镜在高功率激光精细加工领域,光束质量对于加工精度与质量至关重要。通常光束质量的影响主要来自激光器本身的光束质量的波动与激光加工系统中光学元器件引入的光学像差。在该领域,所使用的激光器的腔镜会受到激光的直接辐照而产生对激光能量的吸收,特别是随着功率的提高,腔镜吸收的能量也随之增加,腔镜温度升高而产生热变形。腔镜热变形将引起腔内光束的光程发生变化,使得谐振腔的工作参数偏离设计值,从而引起腔内模式发生改变,致使波前相位高频成分及Zernike高阶像差增大,波前畸变程度也将变大,输出光束质量退化,输出功率下降,从而影响激光微加工的精度和质量。而激光加工系统中的光学元器件所引入的光学像差则不可避免地会导致激光光束质量下降。Iris分立镜面MEMS变形镜,采用全球领先的分立镜面混合表面微加工工艺技术,是美国Iris AO公司专门为高功率激光精细加工过程中腔镜热变形和光学器件像差造成的波前畸变进行校正补偿而开发的新型封装变形镜器件,是改善高功率激光精细加工应用中光束质量,提供加工精度与加工质量的有效工具。Iris使用独创MEMS专利技术制造的变形镜采用111个内切孔径3.5或7.0mm的驱动器,37片PTT镜片单元组成蜂窝状阵列。每一个镜面单元可以在三个自由度方向上,伸缩,翻倒,倾斜独立控制。产品特点和优势: 专业介质镀膜可承受高功率激光 配有水冷散热系统,更利于散热并提高产品寿命 配有清除有机物的清洗口,避免水冷系统阻塞 体积紧凑,方便集成 高性价比权威测试结果:1. 全球领先的激光微加工系统制造商使用紫外脉冲激光器(355nm,15W平均功率,ps脉冲)对Iris AO的新型封装并镀膜的PTT111变形镜进行测试显示: Iris变形镜在5W激光功率下测试60小时,10W激光功率下测试70小时,15W激光功率下测试80小时,均没有显示影响光束质量的损坏迹象。在激光功率15W测试时入射到变形镜上的是一束光斑直径大约1mm的激光。测试显示即使在更高的功率强度上,变形镜也没有出现永久损坏的迹象。2. 另一位业内领先的激光加工系统制造商 Raydiance Inc.( http://www.raydiance.com/)公司利用平均功率10W的1550nm飞秒脉冲激光器成功对镀金薄膜的PTT111DM和采用新型封装PTT111DM进行测试对比。测试显示这种专为激光应用开发与优化的最新封装,进一步增大镀金薄膜变形镜所能承受的平均功率。3. 测试显示Iris分立镜面MEMS变形镜无需热沉就可以承受300W/cm2平均功率密度,在进行热沉和改善镀膜后,变形镜可以承受3KW/cm2的平均功率密度。对于脉冲激光,变形镜可以承受峰值功率密度1.7GW/cm2。在使用新型封装后,变形镜所能承受的功率密度进一步增大,并且无损连续工作时间显著延长。以上测试均表明专业表面介质薄膜以及为适应恶劣环境进行的新型封装对提高变形镜的损伤阈值与高功率激光下的工作性能非常有效。Iris AO公司下一步将进行1000小时的超长时间测试,来进一步验证和改善这种新型封装镀膜变形镜的承受高功率激光的性能。目前Iris AO由于出色的研发实力,已赢得了美国国家航空航天局的Phase II SBIR项目资金,用来支持其进一步发展变形镜在高功率激光器方面的应用。Iris AO将进一步开发适用更宽波长范围的镀膜技术,适用从288nm到1600nm激光器,(深紫外准分子激光器到ND:YAG激光器),为激光微加工、激光精细加工和激光整形行业应用提供优秀的波前校正与光斑整形方案。分享到 : 人人网 腾讯微博新浪微博 搜狐微博 网易微博
  • 大变形
    大变形主要用来精密测量塑料薄膜,橡胶等延伸率较大的试样的变形。

热变形相关的仪器

  • 仪器简介:SWB-300系列维卡软化点&热变形温度测定仪,是测定塑料试样的热变形温度和维卡软化点温度的专门设备。符合GB1633热塑性塑料软化点(维卡)试验方法与GB1634塑料弯曲负载热变形温度(简称热变形温度)试验方法。通过更换不同的测量头,可分别用于测量维卡软化点温度或热变形温度。它们都是测定塑料耐热性的指标之一。技术参数:温度范围:室温~300℃;升温速率:5± 0.5℃/6min,12± 1.0℃/6min;温度显示准确度:± 0.5℃;温度检测点:3个;温度分布:± 0.5℃ ;浴槽容积:25L;测试单元数 3;变形测量装置:位移传感器,0.01mm;热变形压头尺寸:R=3± 0.2mm;热变形试样支点跨度:100± 0.5mm;软化点压针头尺寸:1.000± 0.015mm2(d=1.128± 0.0085mm);负载杆质量:88.35g;试样架热变形量:&le 0.01mm,超过部分计算机自动修正;加热功率:4kW电 源: 220VAC,20A外形尺寸: 830*500*540 mm3 (长*宽*高,不包括计算机系统)整机重量:C型 58kg(不包括加热用油)/D型 63kg(不包括加热用油)主要特点:SWB-300C/D,由精密位移传感器检测试样的软化或变形情况,并由计算机记录温度-位移对应关系,以曲线形式显示于屏幕上,因此,不但可以根据试验方法确定软化点或热变形温度点,还可根据温度-变形曲线,分析样料的热物理性能,这是A/B型测定仪所无法具有的功能。变形曲线可通过打印机打印出来。仪器同时提供用户用于校正仪器自身热变形的标准样棒、样块。SWB-300D具有测试架电动升降机构。本机由恒温槽、测试单元、计算机、计算机接口及打印机组成。
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  • 仪器简介: SWB-300A/B维卡软化点&热变形温度测定仪,是测定化纤塑料(PE、PET、PP、尼龙等)试样的热变形温度和维卡软化点温度的专门设备。技术参数: 温度范围:室温~300℃; 升温速率:5±0.5℃/6min,12±1.0℃/6min; 温度显示准确度:±0.5℃; 温度分布:±0.5℃ ; 浴槽容积:25L; 测试单元数 3; 变形测量装置:百分表,0.01mm; 热变形压头尺寸:R=3±0.2mm; 热变形试样支点跨度:100±0.5mm; 负载杆质量:88.35g; 软化点压针头尺寸:1.000±0.015mm2(d=1.128±0.0085mm); 试样架热变形量:≤0.01mm,超过部分给出修正值; 加热功率:4kW 电 源: 220VAC,20A 外形尺寸: 830*500*540 mm3 (长*宽*高) 整机重量:A型 58kg(不包括加热用油)/B型 63kg(不包括加热用油)主要特点: 符合GB1633热塑性塑料软化点(维卡)试验方法与GB1634塑料弯曲负载热变形温度(简称热变形温度)试验方法。通过更换不同的测量头,可分别用于测量维卡软化点温度或热变形温度。它们都是测定塑料耐热性的指标之一。分辨率为0.01mm/0.001mm的百分表/千分表检测试样的软化或变形情况。 仪器同时提供用户用于校正仪器自身热变形的标准样棒、样块。 SWB-300B具有测试架电动升降机构。 本机由恒温槽、测试单元、电动升降机构(B型)组成。 加热油由用户自备(20L)。根据使用的不同最高温度,选用低粘度的合适的加热用油。一般,如使用最高温度300℃,可选用KF90-50硅油。
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  • XRW-300UB热变形、维卡软化点测定仪 XRW-300UB热变形、维卡软化点测定仪运用PLC可编程控制器进行温度调节采用触摸屏显示操作。该产品操作简单、使用方便、性能稳定、产品精度高,并在试验过程中可时实监控试验温度和变形量;试验结束时系统自动停止加热,该机可设定目标温度具有温度保护功能。该机是各质检单位、大专院校和各企业自检的必备仪器。 该机主要用于非金属材料如塑料、橡胶、 尼龙、电绝缘材料等的热变形温度及维卡软化点温度的测定。产品符合IS075(E)、IS0306(E)、GB/T8802、GB/T1633、GB/T1634等标准要求。 XRW-300MB型具有试样架升降功能,可在试验开始或结束时对试样架进行提升或下降。 主要技术参数: 温度控制范围:环境温度—300℃ 升温速率:(120±10)℃/h (12±1)℃/6min (50±5)℃/h (5±0.5)℃/6min 温度示值误差:0.1℃ 温度控制精度:±0.5℃ 形变示值误差:±0.01mm, 变形测量范围:0—1.5mm 试样架个数:3个 负载杆及托盘质量:68g 加热介质:甲基硅油(运动粘度一般选择200厘斯)或变压器油 冷却方式:150以上自然冷却,150以下水冷或自然冷却。 加热功率:4kw 仪器尺寸:540mm×520mm×970mmGB/T1633热塑性塑料维卡软化温度(VST)的测定 热变形维卡温度测试仪1、范围:本标准规定了四种测定热塑性塑料维卡软化温度(VST)的试验方法。A50法一一使用10N的力,加热速率为50℃/hB50法——使用50N的力,加热速率为50℃/hA120法——使用10N的力,加热速率为120℃/hB120法——使用50N的力,加热速率为120℃/h本标准规定的四种方法仅适用于热塑性塑料,所测得的是热塑性塑料开始迅速软化的温度。 热变形维卡温度测试仪2、引用标准:下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准zui新版本的可能性。GB/T 2918—1998 塑料试样状态调节和试验的标准环境(idt ISO 291:1997)GB/T 9352—1988 热塑性塑料压塑试样的制备( neq ISO 293:1986)GB/T 11997—1989 塑料多用途试样的制备和使用( eqv ISO 3167:1983)GB/T 17037.1—1997 热塑性塑料材料注塑试样的制备 第1部分:一般原理及多用途试样和长条试样的制备(idt ISO 294-1:1996)ISO 2818:1994 塑料机械加工试样的制备 热变形维卡温度测试仪3、原理:当匀速升温时,测定在第1章中给出的某一种负荷条件下标准压针刺入热塑性塑料试样表面1mm深时的温度。 热变形维卡温度测试仪4、仪器:仪器主要包括:4.1 负载杆,装有负荷板,固定在刚性金属架上,能在垂直方向上自由移动,金属架底座用于支撑负载杆末端压针头下的试样(见图1)。 图1 VST测定仪示意图负载杆和金属架构件应具有相同的膨胀系数,部件长度的不同变化,会引起试样表观变形读数的误差。用低膨胀系数钢性材料(如瓦镍铁合金或硅硼玻璃)制备的试样,对每台仪器包括其使用的温度范围做空白试验进行校正,并对每个温度确定一个校正项。如果校正项为0.02mm或更大,应注意其代数符号,并通过代数方法将其加到表观针入度上,将此校正项应用于每项试验中。建议使用低膨胀合金制造的仪器。4.2 压针头,zui好是硬质钢制成的长为3mm,横截面积为1.000m2±0.015mm2的圆柱体。固定在负载杆的底部,压针头的下表面应平整,垂直于负载杆的轴线,并且无毛刺。4.3 已校正的千分表(或其他适宜的测量仪器),能够测量压针头刺入试样1mm±0.01mm的针入度,并能将千分表的推力记为试样所受推力的一部分。 注1 在此类型的仪器中,千分表弹簧力向上,要从负荷中减去;如果这种力向下,应加到负荷上。2 在整个冲程过程中,由于千分表弹簧上所施加的力明显地变化,所以要在整个冲程中测定这个力。4.4 负荷板,装在负载杆上,中央加有适合的砝码,使加到试样上的总推力,对于A50和A120达到10N±0.2N,对于B50和B120达到50N±1N。负载杆、压针头、负荷板千分表弹簧组合向下的推力应不超过1N。4.5 加热设备,盛有液体的加热浴或带有强制鼓风式氮气循环烘箱。加热设备应装有控制器,能按要求以50℃/h±5℃/h或120℃/h±10℃/h匀速升温。在试验期间,每隔6min温度变化分别为5℃±0.5℃或12℃±1℃,应认为加热速率符合要求。调节仪器使其在达到规定的压痕时,自动切断加热器并发出警报。4.5.1 加热浴,盛有试样浸入的液体,并装有高效搅拌器,试样浸入深度至少为35mm;确定选择的液体在使用温度下是稳定的,对受试材料没有影响,例如膨胀或开裂等现象。当使用加热浴时,将测得靠近试样液体的温度作为维卡软化温度(VST)(见7.5)。液体石腊、变压器油、甘油和硅油都是合适的传热介质,也可以使用其他液体。4.5.2 烘箱,能使空气或氮气以60次/min的速度在烘箱内循环。每台烘箱的容积不少于10L,箱内空气或氮气以1.5~2m/s的速度垂直于试样表面流动。试验结果取决于循环空气或氮气与试样间的热传递速度。因试样相对较小以及试样下表面与试样架接触的原因,所以空气或氮气的温度不应作为VST,而将靠近压针头的负载杆上或试样架上的传感器所示的温度作为VST。初始校准时,应通过试验证明,传感器所显示的温度与放在空白试样附近附加校正传感器所显示的温度差在±0.1℃范围内。商业用烘箱常常装有适合的空气或氮气循环装置。如果没有,必须通过装配垂直于试样表面的定向循环气流板,以保证热传递速度。4.6 测温仪器4.6.1 加热浴,部分浸入型玻璃水银温度计或测量范围适当的其他测温仪器,精度在0.5℃以内。应按照7.2要求的浸入深度校正玻璃水银温度计。4.6.2 与空气或氮气烘箱相匹配的测温仪器,精度在0.5℃以内。将传感器(热电偶或Pt100)放在靠近压针头负载杆或试样架的适当位置。 热变形维卡温度测试仪5、试样:5.1 每个受试样品使用至少两个试样,试样为厚3~6.5mm,边长10mm的正方形或直径10mm的圆形,表面平整、平行、无飞边。试样应按照受试材料规定进行制备。如果没有规定,可以使用任何适当的方法制备试样。5.2 如果受试样品是模塑材料(粉料或粒料),应按照受试材料的有关规定模塑成厚度为3~6.5mm的试样。没有规定则按照GB/T 9352、GB/T 17037.1或GB/T 11997模塑试样。如果这些都不适用,可以遵照其他能使材料性能改变尽可能少的方法制备试样。5.3 对于板材,试样厚度应等于原板材厚度,但下述除外;a)如果试样厚度超过6.5mm,应根据ISO 2818通过单面机械加工使试样厚度减小到3~6.5mm,另一表面保留原样。试验表面应是原始表面。b)如果板材厚度小于3mm,将至多三片试样直接叠合在一起,使其总厚度在3~6.5mm之间,上片厚度至少为1.5mm。厚度较小的片材叠合不一定能测得相同的试验结果。5.4 所获得的试验结果可能与制备试样所用的模塑条件有关,虽然此依从关系并不常见。当试验的结果依赖于模塑条件时,经有关方面商定后可在试验前采用特殊的退火或预处理步骤。 热变形维卡温度测试仪6、状态调节:除非受试材料有规定或要求,试样应按GB/T 2918进行状态调节。 热变形维卡温度测试仪7、操作步骤:7.1 将试样水平放在未加负荷的压针头下。压针头离试样边缘不得少于3mm,与仪器底座接触的试样表面应平整。7.2 将组合件放入加热装置中,起动搅拌器,在每项试验开始时,加热装置的温度应为20~23℃。当使用加热浴时,温度计的水银球或测温仪器的传感部件应与试样在同一水平面,并尽可能靠近试样。如果预备试验表明在其他温度开始试验对受试材料不会引起误差可采用其他起始温度。7.3 5min后,压针头处于静止位置,将足量砝码加到负荷板上,以使加在试样上的总推力,对于A50和A120为10N±0.2N,对于B50和B120为50N±1N。然后,记录千分表的读数(或其他测量压痕仪器)或将仪器调零。7.4 以50℃/h±5℃/h或120℃/h±10℃/h的速度匀速升高加热装置的温度;当使用加热浴时,试验过程中要充分搅拌液体;对于仲裁试验应使用50℃/h的升温速率。 对某些材料,用较高升温速率(120℃/h)时,测得值可能高出维卡软化温度达10℃。7.5 当压针头刺入试样的深度超过7.3规定的起始位置1mm±0.01mm时,记下传感器测得的油浴温度,即为试样的维卡软化温度。7.6 受试材料的维卡软化温度以试样维卡软化温度的算术平均值来表示。如果单个试验结果差的范围超过2℃,记下单个试验结果并用另一组至少两个试样重复进行一次试验。 热变形维卡温度测试仪8、试验报告:试验报告应包括以下内容:a)受试材料的完整标识;b)使用的方法(A50或A120;B50或B120); c)由一层以上试样制成的复合试样应注明厚度和层数;d)试样制备方法;e)使用的传热介质;f)状态调节和退火方法;g)材料的维卡软化温度(VST),以℃表示。(如果两次测定后,单个测定结果之差大于7.6中规定的范围,应报告单个测定结果)。在试验中或从仪器中移出后,记录试样的任何异常特征;h)试验日期及检验人员。
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    图1. 热变形前后磁体的X射线衍射图谱 图2. 热变形磁体的扫描电子显微镜照片 当前使用的稀土永磁体其制备方法主要有粘接、烧结和热变形三种。粘接磁体的能量密度较低,烧结磁体虽然性能优异,但制备工艺相对比较复杂。相比之下,热变形磁体具有能量密度高、抗腐蚀性能好、工艺简单、生产效率高的优点。因此,热变形磁体的研究进展一直受到学术界和企业界的高度关注。 目前,国内制备的热变形磁体的磁性能与国际上相比仍存在较大差距,这一差距首先体现在矫顽力和磁能积两个方面。而且对于热变形磁体而言,磁能积的提高通常会显著降低材料的矫顽力,这两个性能指标犹如鱼和熊掌一样不可兼得。这成为近几年来制约热变形磁体发展的主要因素之一。 为了提高热变形磁体的磁性能,磁材事业部永磁团队热压小组群策群力,提出了多项措施方案,并积极开展尝试。目前他们已经成功制备了磁能积为47.3 MGOe、矫顽力达16.17 kOe的高性能热变形磁体以及矫顽力达22.7 kOe、磁能积为37.8 MGOe的高矫顽力热变形磁体。 图1给出了热变形磁体变形前后的的X射线衍射图谱。从中我们可以清楚地看出,热变形之后,磁体的(004)、(006)和(008)三组同族晶面以及(105)晶面的强度大大增强,说明在热变形过程中这些晶面发生了明显的择优取向生长。图2给出了热压磁体轴向断面的扫描电子显微镜(SEM)照片。可以看出,热变形后磁体中存在大量规则排列的片状Nd-Fe-B纳米晶,其厚度约为80nm。这些纳米晶的片层面对应XRD图谱中衍射峰强度加强的晶面,即Nd-Fe-B晶粒中发生择优取向生长的晶面。由于工艺优化后磁体内片状晶的变形程度增大,取向更加一致,从而导致磁体的性能得到了大幅度提升。 该研究的部分结果已发表在Journal of Magnetism and Magnetic Materials, Journal of Applied Physics等期刊上,当前最新工作进展的2篇论文也被第56届国际磁学与磁性材料大会接收。
  • 热变形维卡软化点温度测定仪:原理、结构、操作方法
    热变形维卡软化点温度测定仪是一种用于测量材料在高温环境下的热变形和软化点的实验设备。这种设备在质量控制、材料科学、塑料工业等领域都有广泛的应用。本文将详细介绍热变形维卡软化点温度测定仪的原理、结构、操作方法以及可能出现的误差和处理方法。和晟 HS-XRW-300MA 热变形维卡软化点温度测定仪热变形维卡软化点温度测定仪主要由加热装置、测试系统和测量仪器等组成。加热装置包括电炉、热电偶和加热炉壳等部分,用于提供高温环境。测试系统包括试样、加载装置和位移传感器等,用于测量材料的热变形和软化点。测量仪器则是用于记录和显示测量数据的设备。操作热变形维卡软化点温度测定仪需要遵循一定的步骤和注意事项。首先,选择合适的试样和试剂,确保试样在高温环境下能够充分软化和变形。其次,将试样放置在加热装置中,并使用加载装置施加一定的压力。然后,逐渐升高温度,并记录试样的变形量和温度变化。最后,通过测量仪器输出测量结果,并进行数据处理和分析。在使用热变形维卡软化点温度测定仪时,可能会出现一些误差。例如,由于加热不均匀或加载压力不一致,可能会导致测量结果出现偏差。此外,由于试样本身的性质和制备方法也会对测量结果产生影响。因此,在进行测量时,需要采取一些措施来减小误差,例如多次测量取平均值、选择合适的加热方式和加载压力等。热变形维卡软化点温度测定仪的测量结果可以反映材料在高温环境下的性能和特点。因此,正确理解和使用测量结果是至关重要的。在实践中,需要根据具体的实验条件和要求,选择合适的测定仪器和试剂,并严格按照操作规程进行测量。同时,需要充分考虑误差和处理方法,以确保测量结果的准确性和可靠性。总之,热变形维卡软化点温度测定仪是一种重要的实验设备,可以用于测量材料在高温环境下的热变形和软化点。了解其原理、结构、操作方法以及可能出现的误差和处理方法,对于科学研究和实际应用都具有重要意义。
  • 高铁检测仪器发布高温维卡热变形温度试验机新品
    1 机台说明: 本试验机用于测定塑料试片加负荷(三点加荷下的弯曲应力)的变形温度(负荷变形温度的测定)和塑料样品在规定的受控测试条件下,发生规定的针穿透现象时的温度(塑料Vicat软化温度测试法),最高测试温度可达500℃。2 原理:? HDT热变形温度的测定法:标准试样在规定荷重下,平放位置(首选)或侧向位置,承受三点弯曲而产生曲折应力,在均匀升温速率(120℃/Hr),测试达规定变形量时温度;? 塑料Vicat软化温度测试法:使用一选定的均匀温度上升率(50℃或120℃/Hr)于一规定的负荷下,横截面积为1平方毫米的平头针穿透一热塑性样品时的温度.此测试方法在质量控制,发展和塑料材料的表现特性领域中有比较好的作用,可以用此测试方法取得的数据与热塑性材料的加热软化质量相比较。3 符合标准:本机器符合ASTM-D648,ASTM-D1525; ISO-75 / ISO-306;DIN 53461 / DIN53460相关标准要求制作。创新点:创新点:温度:常温~500℃,采用特殊的空气动力介质加热系统。 目前国内外的维卡软化点试验机:常温~300℃,油浴加热。 有如下优势: 1.加热方式升级:避免了使用油介质,在升温速率较高的情况下,油会出现分解、冒烟、烧焦的现象,长期使用会出现杂质,影响油的传热,长期使用会出现趋势性数据偏离; 2.数据稳定:传热介质的消耗量很小,不会因温度变化而分解,数据稳定; 3.使用范围更广:可以测试航空航天用特种塑料,如PEK(聚醚酮)、PEEK(聚醚醚酮)、PI(聚酰亚胺)等,也可用于常规塑料。 4.材料优势:有些高分子材料在油浴中会溶胀或者溶解,采用HV-5000则没有任何影响。 高温维卡热变形温度试验机
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