厚度均匀性分析

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厚度均匀性分析相关的耗材

  • 奥谱天成高均匀性漫射源积分球
    高均匀性漫射源是直径φ500-1000mm的积分球,出口为φ50-200mm,在球内与出口平行的圆周平面上均匀的分布着12只光源,经球内面的多次漫反射之后,出口光斑的均匀性优于99.0%。
  • 高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球如海光电
    IS-38-INT积分球IS-38-INT积分球 (高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球)通过9.5mm入光口来接收光能量(波长范围200~2500nm),再经过内部漫反射后,将均匀的光能量到传送到输出端口。输入端口采用SMA905连接器,可直接耦合到光谱仪中,方便使用。该产品可用于测量发光二极管等光源的光谱特性,光通量,色温,光谱分布等参数。产品特点? 材料:漫反射朗伯特性材料 反射率~97%? 外壳:光亮发黑? 内胆直径:38mm? 输出接口:SMA905? 固定孔位:M3, 间距25mm
  • Thorlabs精密盖玻片,厚度#1.5H(170 µ m)
    Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表),适合高性能的成像应用,比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造,这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工,具有170 ± 5 µ m的均匀厚度,能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷;我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨,厚度变得非常薄,处于85 - 115 µ m之间,适用于弱荧光或厚样品;它有方形和矩形的版本。精密盖玻片,厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片,厚度#1.5H(170 µ m),公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨,达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成,这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此,这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意,Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

厚度均匀性分析相关的仪器

  • 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏,触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)技术指标测量范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量速度:1~25 次/min(可调)测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)纸张:200mm2,50±1kPa(可选)电 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:330 mm (L)×285 mm(B)×370 mm (H)净 重:38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。
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  • 条干均匀度测试分析仪北京华昊电子有限公司(原北京嘉麓野仪器有限公司) 公司成立于2003年,位于北京中关村高新技术园区,是专门从事精密纺织仪器、纺织电子研发、生产、销售的高科技企业。公司主要产品:1:全自动毛羽条干均匀度测试仪MT4000, 2:全自动强力仪YG029PC。 3:条干仪YG138AM,4:落纱智能机器人小推车,一、产品概述YG138 系列条干均匀度测试仪融合了数字信号处理技术、高频电路精密电容测量技术、新光电毛羽测量技术、全数字电子调速技术及采用了计算机中高速 PCI 总线接口技术、网络技术、WINDOWS 操作界面。与国内同类产品相比具有高度、高集成度、高智能化和高稳定性的特点,且操作简便、功能齐全、价格优势非常明显。YG138 系列条干均匀度测试仪采用电容式测量技术,测量棉、毛、麻、化纤所纺纱线、纱条的线密度不匀及不匀的特征;采用光电式测量技术,测量纱线的毛羽不匀及不匀的特征。YG138 系列条干均匀度测试仪具有自动调零、自动调整均值、自动设置量程功能。YG138 系列条干均匀度测试仪显示和打印平均值系数 AF 值、变异系数 CV% 值、不匀率 U% 值、(细节、粗节、棉结)疵点数、毛羽指数 H 、毛羽指数标准差 SH ;显示、分析、打印质量不匀曲线图、毛羽指数不匀曲线图;显示和打印质量波谱图、毛羽指数波谱图、变异系数 - 长度曲线图、偏移率曲线图、质量分布图,三维波谱图。二、技术特色数字调速,全数字电子调速技术具有 10000 线 / 转的调速分辨率,保证纱速准;恒定转矩保证不同测试速度下纱速稳定,使测试度高、数据更;高集成度,使仪器结构简、极大提高可靠性;PCI 总线,高速 PCI 总线技术保证测试数据快速、与新技术同步;大 容 量,每组多 100 管测试功能,方便对整台细纱机各锭的考核、维护;网络功能,可与 YG029 系列强力仪, EL 系列支数称联网,支持远程查询;波谱幅度,对波谱幅度进行的 CV% 值表示:更易判断故障点、与技术同步;试样编号,可对每管纱样按车间、设备、纱锭进行编号,快速准确查找故障位置。三、具体特点网络功能:可与YG029型强力仪等仪器联网,对试验数据进行统一管理测试速度:4 、8 、25 、50 、100 、200 、400m / min存储容量:大容量硬盘存储测试数据:变异系数 CV% 、不匀率 U% 、平均值系数 AF 、五档 CV m % ( 1m 、 5m 、 10m 、 50m 、 100m )、二档偏移率 DR% ( 1m 、 ± 5% )、极差 S.L. ; 千米平均值( Mean/1Km )、管间变异系数 CV b 值、置信区间 Q95% 、大值 Max 、小值 Min 。显示图形:不匀曲线图、波谱图、偏移率 — 门限曲线(长度: 1 、 10 、 20 、 50 、 100cm 、门限: 0~±50 %),变异系数 — 长度曲线(切割长度:0~100m )、质量分布图、三维波谱图条干均匀度测试分析仪适用场合:纺部试验室,纺织试验室,中心实验室,技术中心售后服务:保修2年
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  • 北京华昊电子有限公司(原北京嘉麓野仪器有限公司)公司成立于2003年,位于北京中关村高新技术园区,是专门从事精密纺织仪器、纺织电子研发、生产、销售的高科技企业。公司主要产品:1:全自动毛羽条干均匀度测试仪MT4000,2:全自动强力仪YG029PC。3:条干仪YG138AM,4:落纱小推车,智能机器人。一、产品概述 MT-4000系列条干均匀度测试仪融合了数字信号处理技术、高频电路精密电容测量技术、新光电毛羽测量技术、全数字电子确调速技术及采用了计算机中高速 PCI 总线接口技术、网络技术、 WINDOWS 操作界面。与国内同类产品相比具有高确度、高集成度、高智能化和高稳定性的特点,且操作简便、功能齐全、价格优势非常明显。 MT-4000系列条干均匀度测试仪采用电容式测量技术,测量棉、毛、麻、化纤所纺纱线、纱条的线密度不匀及不匀的特征;采用光电式测量技术,测量纱线的毛羽不匀及不匀的特征。MT-4000系列条干均匀度测试仪具有自动调零、自动调整均值、自动设置佳量程功能。 MT-4000系列条干均匀度测试仪显示和打印平均值系数 AF 值、变异系数 CV% 值、不匀率 U% 值、(细节、粗节、棉结)疵点数、毛羽指数 H 、毛羽指数标准差 SH ;显示、分析、打印质量不匀曲线图、毛羽指数不匀曲线图;显示和打印质量波谱图、毛羽指数波谱图、变异系数 - 长度曲线图、偏移率曲线图、质量分布图,三维波谱图。二、技术特色数字调速,全数字确电子调速技术具有 10000 线 / 转的调速分辨率,保证纱速准;恒定转矩保证不同测试速度下纱速稳定,使测试度高、数据更确;高集成度,使仪器结构精简、极大提高可靠性;PCI 总线,高速 PCI 总线技术保证测试数据快速确、与新技术同步;大 容 量,每组多 100 管测试功能,方便对整台细纱机各锭的考核、维护;波谱幅度,对波谱幅度进行确的 CV% 值表示:更易判断故障点、与国际先进技术同步;试样编号,可对每管纱样按车间、设备、纱锭进行编号,快速确查找故障位置。自动校验功能及随机配备的检定规程,便于计量仪器的周期性检定,校准。三、具体特点自动功能:智能选择测量槽 智能推纱杆【自动调零】、自动均值调整;双主导纱皮辊前后匀速运动【保护皮辊】;自动废纱负压吸入处理【避免缠纱】;自动换管、自动导纱智能分析:内嵌专家分析系统、智能定位机械故障;内嵌乌斯特质量公报、自动确定质量等级测试速度:4、8 、25 、50 、100 、200 、400m / min存储容量:大容量硬盘存储数据测试数据:变异系数 CV% 、不匀率 U% 、平均值系数 AF 、五档 CV m % ( 1m 、 5m 、 10m 、 50m 、 100m )、二档偏移率 DR% ( 1m 、 ± 5% )、极差 S.L. ; 千米平均值( Mean/1Km )、管间变异系数 CV b 值、置信区间 Q95% 、大值 Max 、小值 Min 。 毛羽指数H、毛羽标准差sh显示图形:不匀曲线图、波谱图、偏移率 — 门限曲线(长度: 1 、10 、20 、50 、100cm 、门限: 0~±50 %),变异系数 — 长度曲线(切割长度:0~100m )、质量分布图、三维波谱图适用场合:纺部试验室,纺织试验室,中心实验室,技术中心售后服务:保修2年
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  • 离子减薄怎样才能减出厚度均匀的薄区?

    用双束离子减薄减出的薄膜样品在拍弱束像的时候厚度条纹特别密,习惯的减薄角度是+-4°,4.0kev减出薄区再用2Kev修几次,不知道大神们有没有什么好的减薄条件可以减出厚度均匀的样品?

  • 【原创大赛】微量金标准物质定值均匀性分析检查

    微量金标准物质定值均匀性分析检验 利用王水溶样,活性炭吸附-灰化-王水溶解-硫脲提取-原子吸收光谱法测定微量金标准物质“GAu-9b”的30个子样的含量,每个子样重复测定3次。考察了天平称量精度、玻璃器皿刻度精度和活性炭吸附率造成的测量不确定度,并估算出合成不确定度范围为1.6%(A级品)~2.2%(A级品),论证了方法的可行性;对单个样品重复分析结果的可靠性及样品均匀性进行评估,计算出样品均匀性质量参数为0.77,样品测定结果的RSD均符合地质实验室质量管理规范要求,依此判定该样品的均匀性质量等级为合格。均匀性是标准物质必须具备的特性之一,均匀性检验得到的数据实际上包含了两种不确定度,一是样品不均匀引起的不确定度,另一是测量不确定度,所以在均匀性检验中应该使用高精度的方法,本文采用吸附效果好的活性炭吸附-灰化-王水溶解-石墨炉原子吸收光谱法测定微量金标准物质,以此方法为基础,结合石墨炉原子吸收对测定介质的要求,制定了微量金标准物质的分析步骤。通过查阅不确定度有关文献,计算了样品分析的合成不确定度,将合成的相对不确定度与重复分析相对偏差允许限进行比较,确定了拟定的分析方法的可靠性;均匀性检验方法很多,有方差法、极差法区间法和三分之一法等等 ,其中方差法和摄差法经多年的实践证明是可靠的,本文采用方差法(F)检验,得到样品均匀性良好;标准物质中各成分经均匀性检验合格后可进入定值,本文采用哥拉布斯 (Grubbs)法对离群值进行剔除,.最后得到标准物质的标准参考值和不确定度。1 实验部分1.1 仪器和主要试剂日立5000石墨炉原子吸收分光光度计,其测金条件略标准溶液:(ρ)=0.1μg/ml,工作液根据需要稀释,介质为Ψ=10%(体积分数,下同)的王水;盐酸、硝酸、硫脲试剂均为分析纯,水为蒸馏水;活性炭:粒径0.074mm,化学纯(北京光华木材厂[

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  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 瓶口边厚仪是如何测量瓶口边缘厚度的?基于何种技术或原理
    在现代工业生产中,瓶口边厚仪作为一种关键的质量控制设备,广泛应用于医药、化工、食品等多个领域,尤其在玻璃瓶、塑料瓶等包装容器的生产中发挥着至关重要的作用。本文将深入探讨瓶口边厚仪的工作原理、所采用的技术或原理。一、瓶口边厚仪的工作原理概述瓶口边厚仪是一种高精度测试设备,主要用于测量玻璃瓶或塑料瓶瓶口边缘的厚度。其工作原理基于机械接触式测量技术,通过精确的传感器和数据处理系统,实现对瓶口边缘厚度的准确测量。该设备不仅具有高度的测试准确性和重复性,还能在不对被测物体造成损伤的情况下完成测量,确保测试结果的可靠性。二、机械接触式测量技术详解1. 探头组件与传感器的作用瓶口边厚仪的核心部件包括探头组件和传感器。探头组件通常采用碳纤维等轻质高强度材料制成,确保在测量过程中既能稳定接触瓶口边缘,又不会对瓶子造成损伤。传感器则负责将探头接触到的物理信号(如位移、压力等)转换为电信号,供后续数据处理系统分析。2. 信号处理与显示转换后的电信号经过信号放大器放大后,进入数据处理系统。该系统利用先进的数字信号处理技术,对信号进行滤波、去噪、线性化等处理,最终得出瓶口边缘的厚度值。测量结果通过数字显示屏实时显示,便于操作人员读取和记录。三、高精度测量的实现1. 精密的机械结构设计为了实现高精度的测量,瓶口边厚仪的机械结构设计十分精密。探头组件与瓶口边缘的接触点需保持恒定且均匀的压力,以确保测量结果的准确性。同时,设备的整体结构需具备较高的刚性和稳定性,以抵抗外界干扰和振动对测量结果的影响。2. 先进的测量算法除了精密的机械结构外,瓶口边厚仪还采用先进的测量算法对信号进行处理。这些算法能够自动校正测量过程中的系统误差和随机误差,提高测量结果的精度和稳定性。同时,算法还能实现数据的实时处理和统计分析,为质量控制提供有力支持。四、非接触式测量技术的探索虽然机械接触式测量技术在瓶口边厚测量中占据主导地位,但非接触式测量技术也在不断发展和探索中。例如,基于激光或超声波的非接触式测量技术具有不损伤被测物体、测量速度快等优点,但其在瓶口边厚测量中的应用还需进一步研究和验证。五、应用实例与市场需求1. 医药行业的应用在医药行业中,瓶口边厚仪被广泛应用于药品包装容器的质量检测中。通过测量瓶口边缘的厚度,可以评估包装容器的密封性、耐压性等关键性能指标,确保药品在储存和运输过程中的安全性和有效性。2. 化工行业的需求化工行业对包装容器的要求同样严格。瓶口边厚仪在化工瓶罐的生产过程中发挥着重要作用,通过测量瓶口边缘的厚度,可以及时发现并纠正生产过程中的偏差和缺陷,提高产品的整体质量和市场竞争力。3. 市场需求与未来展望随着工业生产的不断发展和消费者对产品质量要求的不断提高,瓶口边厚仪的市场需求将持续增长。未来,随着技术的不断进步和创新,瓶口边厚仪将更加智能化、自动化和便携化,为各行各业提供更加高效、准确的质量控制手段。六、结语瓶口边厚仪作为现代工业生产中的重要质量控制设备,其工作原理和技术特点决定了其在多个领域中的广泛应用和重要地位。通过不断的技术创新和产品优化,瓶口边厚仪将不断提高测量精度和稳定性,为企业的质量控制和市场竞争提供有力支持。同时,我们也期待非接触式测量技术在瓶口边厚测量中的进一步发展和应用,为工业生产的智能化和自动化注入新的活力。
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
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