光学常数

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  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 光学玻璃(N-BK7等)窗片
    光学玻璃(N-BK7等)窗片N-BK7是由Schott设计用于多种可见光应用的最常见的硼硅酸盐冠状玻璃。 这里的基本数据给出了N-BK7。详细参数:透射范围: 350nm至2.5μm折射率: 1.51680 @ 587.5618nm(黄氦线)反射损耗: 8.1% at 587.5618nm(2个表面)吸收系数: - 吸收峰: - dn / dT: 见Schott表dn /dμ= 0: - 密度: 2.51熔点: 557℃导热系数: 1.114 W m-1 K-1热膨胀: 7.1×10-6 K-1硬度: Knoop 610比热容: 858JKg-1K-1介电常数: n / a杨氏模量(E): 82GPa剪切模量(G): n / a体积模量(K): 34GPa弹性系数: n / a表观弹性极限: 63.5MPa(9206psi)泊松比: 0.206溶解性: 不溶于水分子量: n / a类别/结构: 非晶玻璃订购信息:订购型号规格(D×L)(mm)材质S/D材料等级BK7P10-210.0mm×2.0mm BK760/40VISB270P25.4-125.4mm×1.0mm B27060/40VISB270P32-332.0mm×3.0mm B27060/40VIS
  • CsI(碘化铯)光学窗片
    CsI(碘化铯)光学窗片CsI(碘化铯)是最为熟知的红外透射材料,能应用于最宽范围分光光度计的组分。 CsI一种非常软的材料,极难抛光,因此其性能受到限制。 通过铊(Tl)掺杂,CsI(Tl)是一种有用的闪烁体,其发射波长与硅光电二极管很好地匹配。 铯碘化物阵列应用于安全成像系统中。详细参数:透射范围: 0.25?55μm(1)折射率: 1.73916(10μm)(1)(2)反射损耗: 13.6% at 10μm 吸收系数: n / a吸收峰: 145.8μmdn / dT: -99.3×10-6 /℃(2)dn /dμ= 0: 6μm密度: 4.51g / cc熔点: 621℃热导率: 1.1 W m-1 K-1 at 298 K(3)热膨胀: 48.3×10-6 /℃ at 293K(3)硬度: Knoop 20介电常数: 5.65 at 1MHz杨氏模量(E): 5.3GPa剪切模量(G): 6.24GPa体积模量(K): 12.67GPa弹性系数: C11 = 24.6 C126.7 C44 = 6.24表观弹性极限: 5.6 MPa(810psi)泊松比: 0.214溶解度: 44g / 100g water at 0℃分子量: 259.83类/结构: 立方CsCl,Pm3m,无裂解,变形折射率:No = Ordinary Rayμm Noμm Noμm No0.5 1.80641.0 1.75722.0 1.74663.0 1.74404.0 1.74315.0 1.74246.0 1.74187.0 1.7412 8.0 1.74069.0 1.739910.0 1.739211.0 1.738412.0 1.737513.0 1.736514.0 1.735515.0 1.734416.0 1.733217.0 1.731918.0 1.730619.0 1.729120.0 1.727621.0 1.726022.0 1.724423.0 1.722624.0 1.720725.0 1.718826.0 1.716827.0 1.714728.0 1.712529.0 1.710130.0 1.707731.0 1.705232.0 1.702733.0 1.700034.0 1.697235.0 1.694336.0 1.691337.0 1.688238.0 1.684939.0 1.681640.0 1.678141.0 1.674642.0 1.670943.0 1.667144.0 1.663145.0 1.659146.0 1.654947.0 1.650548.0 1.646049.0 1.641450.0 1.6366产品规格:参数:IR Polished Caesium Iodide (CsI) optical window 25mm ? x 2mm

光学常数相关的仪器

  • 介电常数/介质损耗测试系统系统组成:1. 主机:LJD-C/LJD-B/LJD-A 高频Q表功能名称:LJD-BLJD-ALJD-C信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz 100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H , 分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF~2.5uF1pF~2.5uF1pF~25nF调谐电容误差分辨率±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct波段等F,L,C,Q,Lt,Ct波段等F,L,C,Q,Lt,Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一最小介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mmUSB接口不支持不支持支持 2. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一) 液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)3. LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率LJD-B-ALJD-C10.1μH±0.05μH2005pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz1014NH±5%808pF100MHZ注意: 可定制100MHz电感. LJD-A主机和LJD-B/LJD-C区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值 三 LJD高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等 四 介电常数和介质损耗界面显示 LJD-C介电常数显示 LJD-A/LJD-B/LJD-C介质损耗系数显示
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  • 产品介绍 介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。 高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、JD-100A/JD-100B/JD-100C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入JD-100A/JD-100B或JD-100C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美标ASTMD150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。  可试材料绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等 适用标准1. GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法2. GB/T1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法3. ASTM-D150-介电常数测试方法4. GB/9622.9-88/SJT11043-1996电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法 售后服务按相关标准和技术要求验收,客户另加技术要求逐项认可。 上海埃提森仪器科技有限公司负责设备的运输及安装指导。客户负责设备的现场起吊、搬运等工作。 上海埃提森仪器科技有限公司免费提供远程操作培训和简单设备维修培训,以及任何时候的电话咨询。质保时间整机质保期为最终验收后一年。在质保期内由于机器品质而发生的故障停机,正常情况下,上海埃提森仪器科技有限公司应免费修复。但试验设备因需方人为损坏,机器零配件费用则由需方承担。一年质保期后,由上海埃提森仪器科技有限公司负责售后服务。每年每季度埃提森技术中心都有专职人员进行电话回访,提供坚强的技术保障。
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  • 绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A工作频率范围 100Hz~100kHz(6个频点)精度:±0.05% 20Hz~1MHz数字合成,精度:±0.02%电容测量范围 0.0001pF~99999μF四位数显 0.00001pF~9.99999F六位数显电容测量基本误差 ±0.05% ±0.05%损耗因素D值范围 0.0001~9.9999四位数显 0.00001~9.99999绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A离子气流量 (L/min) 0.1-1 保护气流量 (L/min) 1-10 外形尺寸 (cm) 46*54*72 脉冲频率 (Hz) 2-50 脉冲占空比 五档可调 起弧电流 (A) 1-50 收弧电流 (A) 1-50 电流上坡时间 (s) 0.5-5 电流下降时间 (s) 0.5-5 滞气时间 (s) 2-8 绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A波长准确度: ±2nm(200nm-900nm) 波长再现性: <0.2nm波长分辨率: 0.1nm 光谱宽带: 4nm光度测量范围: 3.0Abs(200-900nm) 光度测量准确度: ±0.5%T光度重复性: 0.2%T 杂散光: <0.05%T光度漂移: ±0.002A/h 样品池兼容性: (10nm,20nm,30nm比色皿)曲线数量: 218条(160条标准曲线,58条拟合曲线) 数据存储: 4500个显示方式: 5.6寸彩色液晶触摸屏 操作界面: 中文显示绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985可测试材料  绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A技术指标1.Q值测量a.Q值测量范围:2~1023;b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;c.标称误差频率范围 10kHz~10MHz固有误差 ≤5%±满度值的2%工作误差 ≤7%±满度值的2%频率范围 10MHz~70MHz固有误差 ≤6%±满度值的2%工作误差 ≤8%±满度值的2%2.电感测量范围:1nH~8.4H3.电容测量:直接测量范围 1~520p主电容调节范围 30~550pF准确度 100pF以下±1pF;100pF以上±1%注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。4.信号源频率覆盖范围:频率范围 10kHz~70MHzCH1 10~99.9999kHzCH2 100~999.999kHzCH3 1~9.99999MHzCH4 10~70MHz频率指示误差 3×10-5±1个字5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~10006.Q表正常工作条件a. 环境温度:0℃~+40℃;b.相对湿度:c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。7.消耗功率:约25W;8、选配液体杯,可做液体材料的检测。
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  • 【原创】测量薄膜厚度和光学常数的方法

    摘要: 借助于不同的色散公式, 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线, 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4,以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试, 结果表明测得的光学常数和厚度, 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便, 而且不需要输人任何初始值, 具有全局优化的能力, 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度, 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

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  • 我国破解阿伏加德罗常数测量一大难题
    准确测量硅摩尔质量有了新判据   最新发现与创新   近日,中国计量科学研究院、中国科学院地质与地球物理研究所及香港科技大学展开的一项联合研究,完成了对单晶硅摩尔质量准确测量,并提出准确测量化学组成的基本原理——物质的量测量均匀性原理。这一结果在国际计量学权威杂志《计量学》在线发表。   物质的量是国际单位制中7个基本量之一,摩尔是其的单位。一摩尔物质中包含的实物粒子数被称为阿伏加德罗常数。准确测定阿伏加德罗常数对于用基本物理常数来重新定义国际基本单位摩尔和千克至关重要。目前,国际上阿伏加德罗常数的测定主要是根据完整晶格单晶硅球的摩尔体积和单个硅原子的体积之比(X射线晶体密度法)来实现。但用自然丰度单晶硅X射线晶体密度法和功率天平法测量阿伏加德罗常数存在1.1×10-6不一致性。   我国科学家易洪等在实验中发现原先国际阿伏加德罗常数工作组所采用的碱溶法制样过程中存在有分馏效应,并且准确测量了这一分馏效应的大小。这一偏差可用于解释两种方法产生的测量误差。针对上述问题,我国科学家在理论上提出了准确测量硅摩尔质量的新判据,即:化学反应完全转化 无分馏效应 分子水平上的均匀性 更少的污染。   准确测量物质的组成一直是化学研究的基础课题之一。物质的量测量均匀性原理支配着化学测量的采样过程、样品化学制备过程和检测过程,它对于在分子水平上最高准确度情况下测量物质的量具有普遍的指导意义。相关评审专家认为,我国科学家的最新发现解开了10年来阿伏加德罗常数测量领域的一大难题,是对阿伏加德罗常数测量非常有价值的贡献
  • 中国科学家测出国际最精确的万有引力常数
    1687年,牛顿发现了万有引力定律。 p   有人说这个发现得益于一颗砸到牛顿脑袋上的苹果,也有人说这种说法纯属虚构,但无论如何,牛顿成功地让世界各地的中学课本里多了一个描述万有引力的公式:F=G(m1m2)/r2,其中G是万有引力常数。 /p p   万有引力定律认为,大到宇宙天体,小到看不见的粒子,任何物体之间都像苹果和地球之间一样,具有相互吸引力,这个力的大小与各个物体的质量成正比例,与它们之间距离的平方成反比。 /p p   定律虽好,要想派上实际用场,还得知道G的值。然而,这个值到底是多少,连牛顿本人都不清楚。 /p p   300多年来,不少科学家在努力测量G值并让它更精确。就在8月30日凌晨,《自然》杂志发表了中国科学家测量万有引力常数的研究,测出了截至目前最精确的G值。 /p p   卡文迪许的尝试 /p p   G值不明确,万有引力定律就算不上完美。但是,地球上一般物体的质量太小,引力几乎为零,而宇宙里的天体又太大,难以评估其质量。于是,在万有引力定律提出后的100多年里,G值一直是个未解之谜。 /p p   1798年,一位名叫卡文迪许的英国科学家,为了测量地球的密度,设计出一个巧妙的扭秤实验。 /p p   他制作了一个轻便而结实的T形框架,并把这个框架倒挂在一根细丝上。如果在T形架的两端施加两个大小相等、方向相反的力,细丝就会扭转一个角度。根据T形架扭转的角度,就能测出受力的大小。 /p p   接着,卡文迪许在T形架的两端各固定一个小球,再在每个小球的附近各放一个大球。为了测定微小的扭转角度,他还在T形架上装了一面小镜子,用一束光射向镜子,经镜子反射后的光射向远处的刻度尺,当镜子与T形架一起发生一个很小的转动时,刻度尺上的光斑会发生较大的移动。这样,万有引力的微小作用效果就被放大了。 /p p   根据这个实验,后人推算出了历史上第一个万有引力常数G值——6.67× 10-11N· m2/kg2。 /p p strong   十年十年又十年 /strong /p p   卡文迪许测出了常数值,但科学家们并不满足。在他们看来,万有引力常数G是人类认识的第一个基本常数,而G值的测量精度却是所有基本常数中最差的。 /p p   而G值的精度在天体物理、地球物理、计量学等领域有着重要意义。例如,要想精确回答地球等天体有多重,就要依赖于G值 在自然单位制中,普朗克单位定义式的精度同样受G值测量精度的限制。 /p p   怎么让这个数值更精确,是卡文迪许之后的科学家们努力的方向。利用现代技术完善扭秤实验,则是他们提升测量精度的办法。 /p p   就在牛顿万有引力定律提出后的300年,中国科学家罗俊及其团队加入了这支寻找引力常数的队伍,此后他们几乎每十年会更新一次引力常数的测量精度。 /p p   上世纪八十年代,华中科技大学罗俊团队开始用扭秤技术精确测量G值。十年后的1999年,他们得到了第一个G值,并被国际科学技术数据委员会(CODATA)录用。 /p p   又十年后,2009年,他们发表了新的结果,成为当时采用扭秤周期法得到的最高精度的G值,并且又一次被CODATA收录。 /p p   如今,经过又一个十年的沉淀,罗俊团队再次更新了G值。“30多年的时间里,我们不断地对完全自制的扭秤系统进行改良和优化设计。”罗俊告诉《中国科学报》记者。 /p p   在精密测量领域,细节决定成败。光是为了得到一个实验球体,团队成员就手工研磨了近半年时间,最后让这个球的圆度好于0.3微米。 /p p   不仅如此,论文通讯作者之一、华中科技大学引力中心教授杨山清告诉记者,实现相关装置设计及诸多技术细节均需团队成员自己摸索、自主研制,在此过程中,他们研发出一批高精端仪器设备,其中很多仪器已在地球重力场的测量、地质勘探等方面发挥重要作用。 /p p   《自然》杂志发表评论文章称,这项实验可谓“精确测量领域卓越工艺的典范”。 /p p strong   G的真值仍是未知 /strong /p p   为了增加测量结果的可靠性,实验团队同时使用了两种独立方法——扭秤周期法、扭秤角加速度反馈法,测出了两个不同的G值,相对差别约为0.0045%。 /p p   《自然》杂志评论称,通过两种方法测出的G值的相对误差达到了迄今最小。目前,全世界很多实验小组都在测量G值,国际科技数据委员会2014年最新收录的14个G值中,最大值和最小值的相对差别约在0.05%。 /p p   尽管数值的差距在缩小,但真值仍是未知。“不同小组使用相同或者不同的方法测量的G值在误差范围内不吻合,学界对于这种现象还没有确切的结论。”罗俊说。 /p p   科学家推测,之所以测出不同的结果,一种概率较大的可能是,实验中可能存在尚未发现或未被正确评估的系统误差,导致测量结果出现较大的偏离,另一种概率较低但不能排除的可能是,存在某种新物理机制导致了目前G值的分布。 /p p   罗俊告诉记者,要解决目前G值测量的问题,需要进一步研究国际上测G实验中各种可能的影响因素,也需要国际各个小组的共同努力和合作。 /p p   “只有当各个小组实验精度提高,趋向给出相同G值的时候,人类才能给出一个万有引力常数G的明确的真值。”罗俊说。 /p p br/ /p
  • ADVANCE RIKO发布激光闪光法热常数测量系统新品
    激光闪光法热常数测量系统TC-1200RH采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。使用红外金面炉替代传统电阻炉加热,大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 仅需1/4的时间(与使用电阻炉的传统型号相比)。因控温灵敏度提高,温度稳定性大大增加。设备特点红外金面炉的使用使得加热和冷却速度大大提高1. 使用红外线直接加热样品可以迅速使温度稳定;2. 控温的灵敏度提高使得低温区间内的温度稳定性得到改善,从而减少温度波动,进而太高测量精度。符合JIS/ISO标准要求1. 激光闪光法测定精细陶瓷的热扩散系数、比热容及热导率(JIS R 1611) 2. 精细陶瓷热电材料的测定方法 – 第3部分:热扩散系数、比热容及热导率(JIS R 1650-3) 3. 激光闪光法测定铁的热扩散系数(JIS H 7801)应用方向• 热电材料的研究与开发 • 陶瓷、金属及有机材料的研究与开发 • FPD散热材料的热扩散率和比热容评价 • 半导体器件和模制器件的材料热扩散研究设备参数1. 测量参数:热扩散系数,比热容2. 样品尺寸:φ10mm×1mm~3mm(厚度)测量方向:厚度方向3. 测量氛围:真空(*不高于150℃时,可在大气下测量)4. 温度范围:室温至1150℃(最高1200℃)最大升温速度目标温度~100℃~300℃~1150℃升温速度10℃/min20℃/min50℃/min安装条件1. 主机尺寸:约 W900mm×D1050mm×H1700mm2. 主机质量:约 350kg3. 电源:AC200V 单相 8kVA(主机) AC100V 单相 1kVA(PC)4. 冷却水:城市用水 >5L/min 压力>0.15MPa可选件• 方形样品托 • 多样品上样装置:最多3个样品 • 基体测量附件 室温:SB-1 200℃:SB-2• 多层材料分析软件FML系列 如果其中一层材料的热物理参数已知,可根据测量结果分析多层材料 (多层材料分析的模型在JIS H8453中已列出) • 高温炉:最高可达1500℃创新点:使用红外加热炉直接加热样品可以迅速使温度稳定,大大缩短测量时间;控温的灵敏度提高使得低温区间内的温度稳定性得到改善,从而减少温度波动,进而提高测量精度。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 激光闪光法热常数测量系统
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