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  • NBS 5分辨率靶、NBS 1963A分辨率靶
    NBS 5分辨率靶又称NBS 1963A分辨率靶,提供26个线组,从1个/毫米到18个/毫米,对应的线大小为1.0 mm到55.6 μm.图样上的每一组线含有水平线和垂直线。如图所示。通过识别系统能分辨的频率最高的线组,可以确定光学系统的分辨率。分辨靶正靶片是将铬图样电镀到透明玻璃(B270玻璃 )上而制成的,适合用于前向照明和普通应用。板大小75mm×75mm。欢迎登陆海德网站或来电获取详细信息。?订购信息:货号产品描述规格R67NBS 5 Bar Test Chart(BS4657),正片,75mm×75mm 个 价格请电询
  • NBS 5分辨率靶
    NBS 5分辨率靶又称NBS 1963A分辨率靶,提供26个线组,从1个/毫米到18个/毫米,对应的线大小为1.0 mm到55.6 μm.图样上的每一组线含有水平线和垂直线。如图所示。通过识别系统能分辨的频率最高的线组,可以确定光学系统的分辨率。分辨靶正靶片是将铬图样电镀到透明玻璃(B270玻璃 )上而制成的,适合用于前向照明和普通应用。板大小75mm×75mm。欢迎登陆海德网站或来电获取详细信息。 订购信息:货号产品描述规格R67NBS 5 Bar Test Chart(BS4657),正片,75mm×75mm 个
  • HR4000高分辨率光谱仪
    HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪,是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析,气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器,光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点: 高分辨率,最高分辨率可达0.02nm(FWHM) 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率(FWFM)可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪,它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD,光学分辨率可达0.02nm(FWHM)。HR4000光谱范围为200-1100nm,具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定,它类似于一个照相机的快门速度:积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为,Toshiba探测器有一个电子快门,你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒,这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。 板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器,您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数:控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口,以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。 即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下,HR4000需要额外的5伏供电电源(不包含在产品中)。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中,可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要,所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸,探测器,滤光片和光栅等。 采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块,提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如:外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。 Specifications

分辨率相关的仪器

  • 国内首推科学级制冷型高分辨率ICCD 相机,在像增强器与科研制冷型的CCD相机之间,采用高分辨率的镜头耦合方式耦合成像, 获得60lp/mm 空间高分辨率,实现对高分辨率成像或高分辨瞬态光谱采集。 ● 科学级制冷型ICCD● 18mm口径二代高效像增强器● 宽光谱响应范围:S20:200-850nm & S25R:400-1100nm● 光学快门: 3ns● 延迟与门控调节精度:10ps● 阴极门控*高外同步频率 300KHZ ● 内置时序控制器DDG● 高空间分辨率:Std 50lp/mm,Option :60lp/mm● CCD芯片: 高分辨2750*2200像素阵列● 位深: 16bit● 制冷温度: -10℃ @ 风冷● 配合高分辨光谱仪实现瞬态光谱采集● 专业化数据采集控制软件独特亮点制冷型ICCD-10度芯片制冷温度,有效减低芯片暗噪声,安静读出超快光学门宽3ns 阴极光学门宽,实现**测量内置DDG内置精度10ps 门控与延迟控制发射器,方便随心控制自动步进STEP延迟和门控自动Step 步进功能,一键完成时间分辨光谱采集高空间分辨率高空间分辨率像增强器及镜头耦合,获得60lp/mm 空间分辨IOC 模式300kHZ阴极快门外同步频率,IOC 芯片累积模式提升信噪比Binning and ROI实现芯片FVB Binning以及 多通道光谱同时采集专业化软件采集控制&光谱仪控制,数据处理专业化界面,简单快捷ICCD像增强型高分辨率相机技术参数 CCD相机像素阵列2750*2200阵面尺寸12.48*9.98mm (15.972 mm Diag.)像素大小4.54um*4.54um传感器类型CCD Sensor读出噪声5e-暗电流0.02e- / pixel / s @-10℃位深16bitBining& ROIFVB: 垂直方向全Binning光谱模式& 多通道 ROI及FVB数字接口UBS2.0像增强器MCP光阴极S20BS25R有效口径18mm18mm光谱范围200-850nm400-1100nm峰值量子效率20% @440nm22%@720nm等效噪声(EBI) 2 x 10-7 lux @ 20 °C ± 2 °C 5 x 10-7 Lux光子增益1*1041.4*104荧光屏P20 /P43P43空间分辨率标准:50lp/mm ; 高分辨率选项: 60lp/mm光学门控宽度3ns (Mesh)Fast10ns, Slow 100ns内部DDG 控制延迟和门宽调节范围0-10s延迟和门宽调节精度10ps同步接口外触发输入,触发输出,直接触发输入(Direct gate)触发信号触发阈值 1-5V, 阻抗50欧姆,抖动100ps触发固有延迟40ns @ Direct gate , 120ns@ Ext外触发*增强器光阴极量子效率曲线型号选择SIC: Scientific Intensified Camera● 18/25 18或25m 口径增强器● U/F/S Ultrfast gate =3ns , Fast gate 10ns, Slow gate: 100ns● UV/VN:UV-VIS 200-900nm;VIS-NIR : 400-1100nm● 6M/4M : 600万像素 CCD 2750*2200 400万像素sCMOS 2048*2048● L/F: L高分辨镜头耦合 F 高通量光纤面板耦合 ICCD像增强型高分辨率相机常见型号列表
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  • SYNAPT XS高分辨率质谱仪没有研究,就制定的决策,容易是盲目的在科研领域,研究进展缓慢和成本不断上升俨然已成为一项挑战。SYNAPT XS质谱仪具有极致灵活性,可提供更大的选择自由度,能够打破这些壁垒,支持任何应用的科学创新和技术成功。 • 创新技术作为基石,提供最优异的分析性能• SONAR和HDMSE提供一套独特的工具包,用于解析复杂混合物• 离子淌度功能大大增加了峰容量和分析选择性• CCS测量可提高化合物鉴定的准确性创新技术提供最优异的分析性能凭借沃特世高级质谱“SELECT SERIES”传承下来的技术基石,内置先进的创新技术,确保使用该平台的科学家处于质谱分析的最前沿,同时维持SYNAPT的易用性和成熟的客户端工作流程。StepWave XS重新设计的分段四极杆传输光学元件,提升棘手化合物的分析灵敏度,同时进一步提高分析稳定性。Extended ToF 针对最复杂的样品,提供兼容UPLC的质量分辨率、耐受各种基质的动态范围和定量分析结果,同时提供卓越的性能指标。更大的分析选择自由度为有效解决固有难题,分析人员对各种分析策略的需求不断增加,因此,SYNAPT XS将高性能与极致灵活性相结合。竞争对手的系统大多存在入口选项有限、扫描功能局限性或需要多个平台等问题。与之相比,只有沃特世能够提供全方位的高性能LC-MS解决方案,该方案经过专门设计,能够提供更大的分析选择自由度以支持科学研究。SONAR和HDMSE提供了一套独特的工具包,用于解析复杂混合物完整的分析策略需要结合适当的互补技术才能得到更全面的数据信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非数据依赖型采集(DIA)操作模式,分析人员能够利用互补机制,以独一无二的方式解析复杂混合物。两种类型的采集均提高了分析峰容量,提供“清晰明了”的碎片数据,但它们基于不同的分子特性。这提供了一种真正独有的研究工具包,适用于深入解析复杂混合物。离子淌度和CCS测量传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中,使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数,对分子进行分离。 除离子淌度能提供额外的分离维度、增加峰容量和分析选择性以外,CCS测量还可提供额外的分子标识。离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。运用离子淌度技术,显著提高了科学家分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。CID与ETD碎裂功能TriWave的双碰撞室结构可进行碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂,且分辨率高、质量测定准确,能够拓展MS/MS检测能力。 高解析度四极杆包括4 KDa、8 KDa或32 KDa质量数范围,适用于从小分子到大分子的MS/MS分析TAP碎裂时间校准平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS设计所独有的采集模式。它使用户能够利用TriWave配置,允许将IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作为两个单独的碰撞室运行。得到的CID-IMS-CID仪器操作有助于对组分进行超高可信度的结构表征。TAP碎裂与传统MSn或MS/MS技术相比,具备卓越的碎片离子覆盖率、灵敏度和准确性,在构建完整结构方面有着不容置疑的优势。
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  • 超分辨率显微镜 400-860-5168转2045
    简介: 随机光学重建显微(STORM)技术通过探测显微标本内的各荧光团的精确定位信息重建超分辨率荧光影像。 N-STORM利用NIKON的强大Ti-E倒置式显微镜应用3维高精度多通道分子定位和重建,从而实现了比传统显微镜 高10倍(横向约20nm)的超高分辨率。此强大技术能够观察到纳米级分子相互作用,开启研究的全新境界。 主要特点: &bull 比传统光学显微镜高10倍的超高分辨率(横向约20nm) N-STORM利用显微镜样本内部数以千计的离散荧光体分子,实现2D或3D高精度定位信息,展现无比壮观 的超高分辨率图像,与传统光学显微镜相比,空间分辨率可提高10倍。 &bull N-STORM还能提供比标准光学分辨率高10倍的纵向分辨率(约50nm) 除了侧向超高分辨率之外,N-STORM更运用专有技术,令轴向分辨率也同样提高十倍,有效提供纳米 级3D信息 &bull 使用各种荧光探针的多色成像 通过将各种&ldquo 活化&rdquo 探针和&ldquo 报告&rdquo 探针组合在一起,实现了多色超分辨率成像。从而能够对多个蛋白质 的共定位分析和相互作用进行重要的分子级研究。
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  • 前沿技术 | 当时间分辨率遇上空间分辨率
    4D前沿技术原位动态听客户说 CUSTOMER唯一一款适合实验室的动态显微CT揭秘革命性X射线显微CT显微CT,是现有的唯一一种能够对样品的内部结构和成分进行成像的显微镜方法。如今,显微 CT 的无损成像技术可以随着时间的变化跟踪记录样品的动态行为,时间就是第四维,这是最新的时间分辨显微CT(4D CT)。尽管4D CT向科学界展示了一种全新的研究方法,能够以微米级分辨率从内到外跟踪样品的变化过程,但该方法仍有一些局限性:实验室中的传统显微CT 是一种相对较慢的成像方法。在CT 360度旋转扫描过程中,采集的时间需要快于样品内部发生变化的时间,否则重建出的三维结果会有运动伪影,这意味着传统实验室中的时间分辨 CT 只能用于跟踪监测非常缓慢的过程,例如金属腐蚀,蠕变过程或缓慢结晶现象。在破坏性实验情况下,例如压缩实验,这类实验需要在不同阶段停止,以便进行准静态成像,传统时间分辨CT无法跟踪快速和不间断的变化过程。如今,最快速的解决方案是用同步加速器显微CT,它的时间分辨率远小于每秒一圈。然而,它们的可用范围相当有限、运行成本也十分昂贵。相对以上2种方案,动态显微 CT 解决方案DynaTOM,适用范围更广,性价比更高,目前,是市场上唯一一款介于传统实验室显微 CT 和同步加速器显微 CT 之间的桥梁。DynaTOM动态显微CT不仅具有高读取速度且高功率的 X 射线源和探测器,能够在几秒钟内采集完整的 3D 断层图像。更重要的是可实现样品或射线源-探测器的连续、无限旋转。解决哪些痛点FEATURES终于可实现不间断的3D原位实验的CT系统达到低至0.6微米的空间分辨率能构建出完整的层析图像,以秒为单位终于将实验室的显微CT时间分辨率极限降低到几秒钟应用场景 APPLICATION已经被成功应用于:一、作为验证计算模型的工具动态 CT 被用作数值模型的验证工具,预测和模拟泡沫金属的机械性能。这些泡沫金属是我们日常生活中存在的许多物体和材料的关键材料。它们在轻型车辆中使用但不会影响强度(航空航天、汽车),也可用于减振(作汽车的车前防撞缓冲区)。然而,表征这些泡沫金属并非易事,因为它们是不透明的、复杂的3D 结构。传统的机械测试只能从宏观角度测试材料性能,无法完全了解微观细节。因此,通常将数值建模作为一种新的工具来模拟实验和预测泡沫金属的应力应变行为。但到目前为止,还没有真正的方法可以验证这些数值模型的结果,因此引入了动态显微CT 来评估泡沫金属压缩模拟结果的有效性。(泡沫支柱的屈曲在实验(左)和模拟(右)中展现)二、作为量化药片快速结构变化的工具动态 CT 用于更好地了解药物固体剂型(片剂或胶囊)的溶解过程。剂型是控制患者的活性药物成分的主要形式,通常由压实的粉末和添加的赋形剂组成。为了将活性药物成分输送给患者,压实的片剂需要机械破碎成更小的颗粒。而辅料的混合是必不可少的,因为它可以控制药物在体内的释放过程并确保产品的品质。因此,固体剂型是在不同长度尺度上具有高度异质性的复杂结构。大多数了解片剂溶解行为的定量研究都是基于测量整个片剂或单个颗粒的体积增加。通常,体积增加是由于产品与水接触时的溶胀机制。可以通过液滴方法或直接通过毛细管吸收来添加水,并且通常可以直观地记录体积变化。然而,为了同时研究水在片剂内部的渗透、崩解和溶胀,需要以非破坏性和全 3D 方式可视化该过程。(动态实验在时间轴上的三个不同阶段。水锋在平板电脑上移动得非常快;吸水后,样品中存在大的裂缝和空隙,并且观察到体积增加。)三、更多应用实例,请搜索bilibili视频号:TESCAN中国实验室中的动态显微 CT 是时间分辨、无损成像的新前沿。在实验室显微 CT 系统上快速、不间断地成像的能力为先进材料开辟了新的评估方法,并使工程师能够通过原位实验验证或纠正材料行为。结合使用专业解决方案的数值模型,这种新的分析方法将显着提高新材料和设备的开发速度,同时降低其开发成本。(以上文章已被科技界4大杂志巨头之一Wiley旗下的Wiley Analytical Science收录。具体应用内容请关注下一期“前沿分享”) 敬请期待下一期...
  • CT分辨率知多少—高分辨率微纳CT的精确度量
    在 X 射线 CT 中,空间分辨率是重要的量化参数之一,它被定义为重建图像中两点之间可以区分的最小线性距离。因此,对空间分辨率的适当评估是至关重要的,特别是对于微纳 CT 这种高精度要求的成像系统。目前有两种最常见的空间分辨率评估方法:第一种是利用分辨率测试卡评估,其包含了可进行直接视觉评估的图案结构,在工艺上可制成二维和三维结构,适用于 X 射线断层和 X 射线 CT。测试卡的优势在于操作简单,可直观评估分辨率。但测试卡有一个明确定义的结构分布,只能评估测试卡上所列的图案尺寸;第二种是利用遵守 ASTM E1695-95 标准(Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance)的斜边法或边缘瞬变法,光源扫描圆柱体或球体边缘,随后基于一套标准的数据处理方法计算空间分辨率。该方法需严格遵守测试标准,能够精确度量空间分辨率且不受测试卡的图案尺寸限制。1Resolution-spirit—微纳 CT 空间分辨率测试捷克CACTUX公司推出的 Resolution-spirit 是按照 ASTM E1695-95 标准制造的微纳 CT 模体,并由超精密三维测量机 nano-CMM 标定。Resolution-spirit 是一个高精度的红宝石球(Φ=0.5~5 mm),粘在一根碳棒上,如下图(左)所示。为评估 XY 平面的分辨率,只需对模体成像,如下图(右)所示,其中绿点为计算的质量中心。用户只需对模体边缘像素的数据进行处理,即两个红色圈内的数据,以质量中心为准,获得不同半径下强度分布—边缘响应函数(ERF)。这里最大挑战是以非常高的精度确定质量中心,如果没有正确地定义中心,那么根据中心对像素进行分组将不准确,错误将导致边缘模糊。然后依次通过求导和傅里叶变换得到点扩散函数(PSF)和调制传递函数(MTF),根据体素大小和 MTF 精确算出空间分辨率。最后类推到其他平面,可获得 CT 系统的三维空间分辨率。例如,布尔诺理工大学的研究人员利用传统 2D 分辨率测试卡和模体对 Heliscan 微米 CT 进行分辨率测试,如下表所示,模体能提供更精确的度量。2 Voxel-spirit—纳米 CT 体素校准在锥束 X 射线 CT 中,光源、样品和探测器之间的距离(SOD和SDD)影响重建体的视觉保真度和体素大小。除了这两个距离的估计存在偏差外,体素大小的真实值还受到 X 射线源漂移、CT 组件热膨胀、探测器和转台倾斜等因素的影响。因此,使用参考样品进行校准是防止在估计体素大小时出现误差的适当工具。对于视场在 10 mm及以上的锥束CT,体素尺寸校准已经很好地建立起来,并且有大量合适的参考样品可用。然而,对于小视场、高分辨率的微纳 CT 来说,很难找到合适的参考样品。CACTUX 的 Voxel-spirit 可以对 SOD 和 SDD 的误差进行精确校准,从而提高重建质量和体素大小的准确性,其适用于视场较小且锥束放大倍率接近 1 的微纳 CT。voxel-spirit由两个高精度的红宝石球(Φ=0.3 mm)组成,它们粘在一根碳棒上,球中心间距(约0.5 mm)并且经过 nano-CMM 严格度量,精度约 70 nm,如下图所示。首先保证两个球体完全在视场内,光源中心与探测器平面正交,两球中心连线平行于探测器平面。在对 Voxel-spirit成像后,可根据下图公式 1 计算体素大小。根据这种关系,在体素大小上的误差可能是由于 SOD 和 SDD 的不精确以及像素大小 p 的不精确造成的,而这些在实验中都是难以精确测量的。因此,在给定的 CT 测量条件下,利用图像中两球中心间距 lCT 和真实度量过的球中心间距 lref,可以获得体素修正因子 cf,算出修正后的体素大小,如下图公式 2、3。3 R1-shadow—微纳 CT 机械误差校正在微纳 CT、双能 CT 或 4D CT中,旋转转台同样会引入误差,即旋转中心的不对准、装台的不稳定或移动等等。尤其是针对颗粒、粉末样品,更容易受到这些机械误差的影响。CACTUX 的 R1-shadow 可以快速直观地纠正这些机械误差,并且提供配套的数据处理软件。R1-shadow是一个由 kapton 制成的样品基底(Φ=25~100 um),在中心处有一根碳纤维增强棒(Φ=2.5~10 um)作为机械误差校准的参考基准点,如下图所示。在确保基准点获得较高对比度的图像后,即可开始 CT 测量。下图展示了胶囊颗粒在机械误差修正前后的图像,可以清晰看到修正后的红色区域伪影消除了。 点击获取产品详细信息:捷克 CactuX—致力于提升您微纳 CT 系统的成像质量和测试效率参考文献:1. Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance: E 1695–95. 1st edition. United States: American Society for Testing and Materials, 2013.2. Bla&zcaron ek P, &Scaron rámek J, Zikmund T, et al. Voxel size and calibration for CT measurements with a small field of view. Proceedings of the 9th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2019), Padova, Italy. 2019: 13-15.3. Zemek M, Bla&zcaron ek P, &Scaron rámek J, et al. Voxel size calibration for high-resolution CT. 10th Conf. on Industrial Computed Tomography. 2020: 1-8.4. Laznovsky J, Brinek A, Salplachta J, et al. 3D spatial resolution evaluation for helical CT according to ASTM E1695–95. 10th Conference on Industrial Computed Tomography. 2020.5. Laznovsky J,Brinek A, Salplachta J, et al. Comparison of two different approaches for Spatial Resolution determination for X-ray Computed Tomography with helical scanning trajectory.
  • 「中智科仪新品」撕掉像增强相机低空间分辨率的“标签”- TRC428高分辨率像增强相机
    在科技的不断进步与创新中,像增强相机已成为众多科学问题探索过程中不可或缺的工具。像增强相机是一种利用像增强器对弱信号进行增益放大的特殊相机,它可以极大提高相机的成像灵敏度。但是由于像增强器中起增益放大作用的微通道板(MCP)会极大的限制相机的分辨率,因此,目前市面上的像增强相机空间分辨率一般低于30lp/mm,这大大限制了很多有着较高分辨率要求的应用场景。今天,我们自豪地宣布,中智科仪的最新力作——TRC428高分辨率像增强相机即将面世。这款革命性的产品将带来卓越的空间分辨率、出色的性能表现以及无与伦比的可靠性,将满足您对高分辨率需求的一切期待。TRC428 高分辨率像增强相机搭载了全新的图像传感器芯片,分辨率高达3200x2200,单像素尺寸4.5um,为用户提供了前所未有的图像质量和分辨率,同时,我们集成了新一代的高空间分辨率、高量子效率、低噪声像增强器,且成功突破了高分辨率CMOS相机与增强器实现光纤锥耦合工艺的技术壁垒。这一突破性的技术提升使得相机的整机空间分辨率高达45lp/mm以上,重新定义了像增强型相机成像分辨率的标准。TRC428高分辨率像增强相机具有特点及优势:高空间分辨率:TRC428高分辨率像增强相机采用新一代高空间分辨率像增强器,以及3200x2200高分辨率CMOS图像传感器,利用4um芯径光纤面板将二者进行光学耦合,借助先进的耦合工艺,整机空间分辨率优于40lp/mm,为用户提供了极致的图像分辨率,使您能够捕捉到每一个细微的细节。TRC411相机(左)和TRC428相机(右)空间分辨率测试对比超短光学快门:TRC428高分辨率像增强相机可实现低至500ps的光学快门,可以以皮秒精度捕捉瞬态现象,并大幅降低背景噪声;针对瞬态吸收荧光光谱应用场景,可以实现更高的时间分辨率;针对门控拉曼光谱采集应用场景,抑制荧光和背景光能力更加卓越。特别适用于各种时间分辨成像以及超快过程探测。500ps光学门宽高时间同步精度:TRC428高分辨率像增强相机内置10皮秒精度的3通道同步时序控制器,可以进行相机与外部设备的高精度延迟和同步,无需额外的同步触发设备即可轻松实现多台设备之间的精准同步控制;各个通道可独立控制同步信号脉宽及延时,延迟精度高达10皮秒,通道间同步时间抖动小于35ps(RMS)。10ps延时精度高快门重复频率:TRC428高分辨率像增强相机快门工作重复频率可高达500kHz,可以更高效的实现高频信号采集;且支持片上积分(IOC)模式,一次CMOS曝光时间内可以支持更多次的“Burst”累积,这在可重复的弱信号采集应用中可有效提高信噪比。在激光诱导荧光光谱采集应用场景下,可以同步更高频率的激发光源,提高光谱信号激发和采集效率;在量子关联成像应用场景下,更高的快门工作频率可以适应更高的光子发生率,从而获取更丰富的成像信息,更快实现关联成像。片上积分(IOC)模式工作示意图方便易用的软件:TRC428高分辨率像增强相机的控制与操作可以完全兼容SmartCapture软件,功能丰富,方便易操作。SmartCapture软件界面及功能特点高分辨率像增强相机的以上特点和优势除了在成像应用领域为用户带来革命性的应用体验外,在门控光谱仪系统中也将发挥重要的优势。众所周知,探测器的分辨率对于光谱采集系统的光谱分辨率至关重要,但是在一些与时间分辨相关的光谱以及极弱单光子光谱信号采集系统中,单色仪需要配置具有门控功能的像增强相机做为探测器,从而实现时间分辨光谱和极弱单光子光谱信号采集测量。但是,像增强相机的低空间分辨率会极大限制光谱分辨率,相对于普通探测器,配置门控型像增强相机做为探测器的光谱仪分辨率将会降低约1.5倍左右(经验值)。高分辨率像增强相机的问世将在一定程度上解决这一问题。我们将TRC428高分辨率像增强相机与MS5204i光谱仪集成,形成一套纳秒门控光谱仪,利用这套门纳秒控光谱仪进行了极限光谱分辨率测试,并与集成了标准像增强相机的纳秒门控光谱仪测试结果进行了对比:结果如下:TRC428高分辨像增强相机,分辨率26.73pm@546.075nmTRC411像增强相机,分辨率35.64pm@546.075nm集成了TRC428高分辨率像增强相机的纳秒门控光谱仪,极限光谱分辨率可达26.73pm;但集成TRC411标准像增强相机的纳秒门控光谱仪,采用同样的光谱仪设置,对同样的光谱信号进行采集,能够达到的极限光谱分辨率仅为35.64pm。其他更多波长的光谱分辨率对比如下所示(不同波长对应的增益有所不同):波长(nm)253.652365.015404.656435.833546.075579.066TRC411相机35.10pm40.50pm39.96pm32.40pm35.64pm39.69pmTRC428相机24.57pm23.63pm23.31pm25.92pm26.73pm28.35pm由以上对比数据可以看出,使用TRC428高分辨率像增强相机做为探测器的纳秒门控光谱仪,相对于使用TRC411相机做为探测器的纳秒门控光谱仪,在光谱分辨率上有30%以上的提升。配合更长焦距的单色仪,预期光谱分辨率可提升至10pm以内,可应用于等离子光谱以及同位素光谱分析等超高精度要求的应用场景。TRC428高分辨率像增强相机的推出标志着中智科仪对高分辨率成像技术的持续投入和创新。我们相信,TRC428将成为像增强相机行业内的新标杆,为用户提供前所未有的视觉体验和应用价值。同时,TRC428高分辨率像增强相机的问世也证实了像增强相机的空间分辨率有进一步提升的空间,中智科仪将继续努力,持续研发,推动像增强相机的空间分辨率进一步提升。
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