导电导热性能

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导电导热性能相关的耗材

  • 石墨烯碳导电胶(水基)
    碳导电胶(水基) 新配方,新工艺,这款水性碳导电胶水具有优良的导电性和导热性。安全无害,干燥迅速,只要15分钟。包装在一个30克的刷盖瓶里。使用简单,刷上胶水使其覆盖表面,适用于印刷电路的制造和维修以及科学研究中。货号产品描述规格12660-26碳导电胶(水基)30g
  • 电极、压环
    电极/压环 Lower electrode tip/Knurled ring collar产品名称货号参照货号备注标准电极片CN12101618-482,620-814,774-691611-351-181, 611-351-182适用于standard系列仪器的标准坩埚和套坩埚高温电极片CN12102782-721,618-376适用于standard系列仪器的高温坩埚,En系列仪器的标准坩埚和高温坩埚螺圈CN12103774-69适用于Leco,Bruker,Elter仪器所有的电极片产品介绍:配套石墨堆塌和高温电极片,是由特殊合金制成,导电导热性能好,经过改良的电极规格适用堆塌的范围更广,压环适用于各类电极片,配套Leco、Eltar、Bluker氧氮氢分析仪器。
  • EPO-TEK银导电胶
    EPO-TEK银导电胶(EE129-4,H20E, H20S,H22) EPO-TEK 导电银胶产品是美国Epoxy Technology公司研制开发、生产的环氧(Epoxy)树脂胶系列产品之一,在微电子、电子线路、电工电器、电子零件、光纤光导、光学零部件的生产中有着广泛的应用。EPO-TEK产品有着优良的性能和严格的质量保证,尤其是有多种符合美军标和航空航天用产品,具有不可取代的地位。 银导电胶H20E主要应用:H20E属于填充银环氧树脂胶,是微电子/光电子行业芯片粘接的理想材料。用于快速芯片粘接,JEDEC LevelⅢ/Ⅱ塑料芯片封装,高功率/高电流器件及高功率LEDs应用,光电子行业LCDs/LEDs和光纤器件的封装;由于它高导热性,还广泛用于散热工艺;美国宇航局认可,无毒性,符合USP CLASS VI生物标准。银导电胶H20E在树脂主剂和固化剂中均添加了纯银粉末,可按1:1的比例混合。事实上,H20E是最容易使用的双组分环氧银胶,,是专为微电子工业使用而开发设计的。EPO-TEK H20E特别推荐使用于需要快速固化的高速环氧树脂芯片绑定系统。单组分体系是无法办到的。由于EPO-TEK H20E可以快速固化,它可作为电路的快速修补材料。EPO-TEK H20E可平面印刷,机械注胶或模冲移印。并且可耐受300-400℃金线融合温度。 H20S是H20E的改进版本,EPO-TEK H20S是平滑的,触变性,高度可靠的,双组分环氧银胶。不使用溶剂也可以获得优越的施工性能和绝对长的可操作时间。H20S特别推荐用于需要快速固化的高速环氧胶芯片粘接系统中。低的固化温度使其成为柔性回路和其它低应力要求的领域的理想材料。它广泛地应用于晶体振荡器和其它的精密芯片中。它也可用在混和电路/气密封装中芯片的粘接,例如:DIP和TO-CANS。 H22是双组分导电胶,混合比例是:100:4.5,pot life 16个小时。产品订购:货号产品名称规格12670-EEEpo-Tek® EE129-4 Adhesive1 oz12671-20EEpo-Tek® H20E Adhesive1 oz12672-20SEpo-Tek® H20S Adhesive1 oz12673-22 Epo-Tek® H22 Adhesive1 oz

导电导热性能相关的仪器

  • 热阻分析仪主要借助上下棒温度差计算得到通过的热流,再结合面积大小得到最终的接触热阻和热传导率等一系列参数。高端TIMA 5 热界面材料分析仪遵循ASTM D5470标准,具有集成化程度高、全自动分析测量、样品头切换简单、高精度厚度/温度/力值监控等特点,基于人体工学设计、用户体验好。可最终得到热阻抗、表观热导率和热界面阻抗等数据;除此之外,还可进行样品老化行为测试、生命周期评估、热机械稳定性、固化参数研究、界面状态研究、原位可靠性分析、极端条件下的测试等。样品种类包括液体化合物,如油脂、糊状物、相变材料;凝胶、软橡胶和硬橡胶和陶瓷、金属、塑料、复合物、胶粘剂固化、油脂和膏状样品、固化填充物和胶粘剂、各向异性复合物等。 技术参数:温度范围:RT-150°C(可提供更宽范围)力值范围:±300N(可提供更宽范围)温度准确度:±0.05K…欢迎联系我司,索要样本。
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  • 产品介绍:DZDR-S导热性能测试仪是南京大展仪器推出一款采用非稳态法的瞬态热源法,具有测量速度快、测量范围广的优势,可测液体、固体、粉末、薄膜、涂层、胶体、膏体等,软件直接计算导热系数,操作便捷。应用范围:DZDR-S导热性能测试仪是一款用于测量材料导热系数的仪器,应用范围广泛,包括:各种工业材料、橡胶轮胎,建筑材料、耐火材料、工艺材料、陶瓷材料、食品等。1、材料科学:可以通过导热系数仪测量新材料的导热性能,以评估其在新产品设计中的可行性和应用价值。2、能源领域:导热系数仪主要用于测量各种保温材料和冷却系统的导热性能。这些设备可以帮助工程师优化系统设计,提高能源利用效率。例如,在空调和冰箱等家用电器中,通过改进材料的导热系数,可以降低能耗,提高产品的环保性能。3、建筑工程:导热系数仪用于测量各种建筑材料的导热性能,以指导建筑的设计和施工。4、环境科学:导热系数仪常被用于测量土壤和建筑材料的导热性能。测量方法:DZDR-S导热性能测试仪测试原理是基于无限大介质中阶跃加热的圆盘形热源产生的瞬态温度响应,利用热阻性材料做成一个平面探头,同时作为热源和温度传感器,通过自然加热功能产生热量,并通过测量电阻的变化来了解热量的损失,从而反应样品的导热性能。性能优势:1.直接测量,测试时间5-160s左右可设置,能快速准确的测出导热系数,节约了大量的时间;2.无须特别的样品制备,对样品形状并无特殊要求,块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可;3.对样品实行无损检测,意味着样品可以重复使用;4.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定;5.智能化的人机界面,彩色液晶屏显示,触摸屏控制,操作方便简洁;6.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。技术参数:测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃(可拓展到-40~300℃)探头直径一号探头7.5mm;二号探头15mm;三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率<500w测试样品功率P 一号探头功率0;二号探头功率0样品规格一号探头所测样品(≥15*15*3.75mm)二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)(选配,也可以定制其他规格)定制粉末测试容器一套案例分享:厦门大学中国科学技术大学西安交通大学香港城市大学东北电力大学安徽理工大学北京工业大学北京理工大学长安大学盐龙湖先进技术研究所湘潭大学
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  • 一种为了很好的连接两部分或者多个部分而设计出的具有可塑性、稳定性、作用性的连接产品。如硅胶布软连接、橡胶软连接、铝箔软连接。{大电流导电排、铜排软连接}即铝制软连接,一般主要由铝箔、小厚度铝板等焊接而成,有些则加一些铜箔、镍片等特殊要求的软连接产品。铝,具有很好的导电性,导热性,可塑性。而铝箔除了这些它还具备了很强的韧性(耐弯折),铝箔软连接就很好的利用了这些特性,解决了很多行业关于零部件连接件易损耗的问题。铝箔软连接通过一部分焊接,一部分进行拱曲的设计,可以很好的平衡连接各部分的水平差。减少由于某些特定的零部件在机器运行中产生的形位公差,铝箔软连接的拱曲部分可以通过改变自身的形状来补充它,而所担负的功能作用并不会减少。衡益{大电流导电排、铜排软连接}质量轻盈,铝箔焊接剥离力可达20N以上,弯折测试达到5000次。
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  • 导热橡胶的导热系数测量
    导热橡胶在电子电器元器件领域有着不可替代的作用,可广泛用于航空、航天、电子、电器领域上的散热、密封,同时起到绝缘和减震的作用,对于电子产品的密集化、小型化、提高性能、延长可靠性和寿命等,具有重要的意义。橡胶基体中没有热传递所需要的均一致密的有序晶体结构或者载荷子,因此导热性能较差;所以通常是将导热性能较大的材料,如金属粉或氮化物,作为填料,填充到橡胶基体中形成复合材料,以提高其导热性能;导热橡胶复合材料的导热性能,终由橡胶基体和填料的综合作用决定;无论是粒子还是纤维形式,填料自身的导热性都远远大于基体材料;但是增加了填料的复合材料的导热性能的改善程度,与填料 的填充量有很大关系;当填充量较少时,填料粒子能够均匀的分散在基体体系中,之间没有任何接触和相互作用,此时填料对于整个体系的导热贡献很小;当填充量达到一定程度时,填料粒子之间开始有了相互作用,在体系中形成了类似链状和网状的形态,称为导热网链;当这些导热网链的取向与热流方向平行时,能在很大程度上提高体系的导热性;我公司测试中心利用TC3000,测量的某些含有不同填料成分和数量的橡胶复合材料的导热系数测量结果,样品状态包括固化后的块状以及固化前的膏状,填料对于导热系数性能的影响的差异是非常大的,使其导热系数可以从0.4 W/mK提高到3W/mK以上甚至更高,所以填料不同的导热系数不可估计必须要测试确定。
  • 热界面材料热性能测试和可靠性考核方法分析-第一部分
    针对目前国内外热界面材料热性能多种测试和可靠性考核方法并存的现状,本文对市场上国外厂家的热界面材料产品的种类和型号进行了统计,并对热界面材料热性能的主要测试方法和可靠性试验方法进行了汇总,展现了国外厂商针对热界面材料如何选择相应的测试方法,以期对今后热界面材料导热性能测试评价技术的研究提供参考和借鉴。本文重点选取了美国莱尔德公司的热界面材料进行统计和分析。
  • 一种利用复享光学显微拉曼系统在微米尺度下对石墨烯层数进行鉴别的方法
    显微拉曼在石墨烯表征中的应用石墨烯是目前发现的最薄、强度最大、导电导热性能最强的一种新型纳米材料。就石墨烯材料及其器件的研究而言,鉴别 石墨烯层数 以及量化其无序性的影响是至关重要的,而显微 拉曼光谱,是用于表征上述两种性能的便捷又可行的方法。

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  • 导热性能提升150%的硅同位素纳米线
    有电的地方就会产生热量,而这正是缩小电子设备的一个主要障碍。一个改变游戏规则的发现,可以通过传导更多的热量来加速计算机处理器的发展进程。TEM图像显示涂有二氧化硅(SiO2)的 28Si 纳米线。来源:Matthew R. Jones 和 Muhua Sun/莱斯大学科学家们已经验证了一种硅同位素(28Si)纳米线新材料,其热导率比先进芯片技术中使用的传统硅材料高出150%。这种超薄硅纳米线器件可以使更小、更快的微电子技术成为可能,其热传导效率超过了现有技术。由有效散热的微芯片驱动的电子器件反过来会消耗更少的能源——这一改进可以减轻燃烧富含碳的化石燃料产生的能源消耗,这种能源消耗导致了全球变暖。“通过克服硅导热能力的天然局限性,我们的发现解决了微芯片工程中的一个障碍,”报道此新研究成果的科学家 Junqiao Wu 说(课题组主页,https://wu.mse.berkeley.edu)。Wu 是加州大学伯克利分校材料科学系的一名教师科学家和材料科学与工程教授。01热量在硅中缓缓流动我们使用的电子产品相对便宜,因为硅 - 计算机芯片的首选材料 - 既便宜又丰富。可是,尽管硅是电的良导体,当它被缩小到非常小的尺寸时,它就不是热的良导体——而当涉及到快速计算时,这对微小的微芯片来说却是一个巨大问题。艺术家对微芯片的渲染。来源:dmitriy-orlovskiy/Shutterstock每个微芯片中都有数百亿个硅晶体管,它们引导电子进出存储单元,将数据比特编码为1和0,即计算机的二进制语言。电流在这些辛勤工作的晶体管之间流动,而这些电流不可避免地会产生热量。热量会自然地从热的物体流向冷的物体。但是热流在硅中变得很棘手。在自然形式中,硅由三种不同的同位素组成 - 化学元素的形式,其原子核中含有相同数量的质子,但中子数量不同(因此质量不同)。大约 92% 的硅由同位素 28Si 组成,它有14个质子和14个中子;大约 5% 是 29Si,有14个质子和15个中子;只有 3% 是 30Si,相对重量级为14个质子和16个中子,合作者 Joel Ager 解释道,他拥有 Berkelry Lab(伯克利实验室)材料科学部门的高级科学家头衔,也是 UC Berkeley(加州大学伯克利分校)材料科学与工程的兼职教授。左起:Wu Junqiao 和 Joel Ager。来源:Thor Swift/伯克利实验室 Joel Ager 的照片由加州大学伯克利分校提供作为声子,携带热量的原子振动波,在蜿蜒穿过硅的晶体结构时,当它们撞击 29Si 或 30Si 时方向会发生改变,它们不同的原子质量“混淆”声子,减慢它们的速度。“声子最终看到了这个表象,并找到了通往冷端以冷却硅材料的方法,”但这种间接的路径允许废热积聚,这反过来又会减慢您的计算机速度,Ager 说。02迈向更快、更密集的微电子学的一大步几十年来,研究人员推测,由纯 28Si 制成的芯片将克服硅的导热极限,从而提高更小、更密集的微电子器件的处理速度。但是,将硅提纯成单一同位素需要付出高昂的代价和能量水平,很少有设施可以满足 - 更没有哪家工厂能专门制造市场上可用的同位素材料,Ager 说。幸运的是,2000年代初的一个国际项目使 Ager 和杰出的半导体材料专家 Eugene Haller 能够从前苏联时代的同位素制造厂采购四氟化硅气体 - 同位素纯化硅的原料。(Haller 于1984年创立了伯克利实验室的美国能源部资助的电子材料项目,并曾是伯克利实验室材料科学部门的高级科学家和加州大学伯克利分校材料科学和矿物工程教授。)这直接导致了一系列开创性的实验研究,包括 2006 年发表在《自然》杂志上的一项成果,其中 Ager 和 Haller 将 28Si 塑造成单晶,他们用它来证明量子存储器将信息存储为量子比特或量子位,单位存储的数据同时作为 1 和 0 的电子自旋。99.92% 28Si 晶体的光学图像,伯克利实验室科学家 Junqiao Wu 和他的团队使用这种材料制备纳米线。来源:Junqiao Wu/伯克利实验室随后,用 Ager 和 Haller 提纯的硅同位素材料制成的半导体薄膜和单晶显示出比天然硅高 10%的热导率——这是一个进步,但从计算机工业的角度来看,可能不足以证明花一千多倍的钱用同位素纯硅制造一台计算机是合理的,Ager 说。但 Ager 知道,硅同位素材料在量子计算之外具有的科学重要性。因此,他把剩下的东西存放在伯克利实验室一个安全的地方,以备其他科学家可能的不时之需,因为他推断,很少有人有资源制造甚至购买到同位素纯硅。03用 28Si 实现更酷的技术之路大约三年前,Wu 和他的研究生 Ci Penghong 试图找到提高硅芯片传热速率的新方法。制造更高效晶体管的其中一项策略,涉及使用一种称为环栅场效应晶体管(Gate-All-Around Field Effect Transistor,GAAFET)的技术。在这些器件中,硅纳米线堆叠以导电,并同时产生热量,Wu 解释到。“如果产生的热量不能迅速排出,该器件将停止工作,这就像在没有疏散地图的高楼中发出火灾警报一样,”他说。FinFET(鳍式场效应晶体管)和环栅场效应晶体管(GAAFET)结构示意图。来源:Applied Materials但硅纳米线的热传递甚至更糟,因为它们粗糙的表面 - 化学处理的疤痕 - 更容易分散或“混淆”声子,他解释说。由硅纳米线桥接的两个悬浮垫组成的微器件的光学图像。来源:Junqiao Wu/伯克利实验室“然后有一天我们想知道,如果我们用同位素纯 28Si 制造纳米线会发生什么?”Wu 说。硅同位素不是人们可以在公开市场上能够轻松购买到的东西,有消息称,Ager 仍然在伯克利实验室储存了一些少量的硅同位素晶体,且仍然足以分享。“希望有人对如何使用它有一个很好的想法,” Ager 说,“如 Junqiao 的新研究就是一个很好的例证。”04纳米测试后的惊人大揭秘“我们真的很幸运,Joel 碰巧已经准备好了同位素富集的硅材料,正好可用于这项研究,”Wu 说。利用 Ager 提供的硅同位素材料,Wu 研究团队测试了 1 mm 尺寸的 28Si 晶体与天然硅的导热性 - 他们的实验再次证实了 Ager 和他的合作者几年前的发现 - 块状 28Si 的导热性仅比天然硅好 10%。尽管块状晶体硅具有相对较高的热导率(室温下 κ∼144 W/mK),但当其尺寸减小到亚微米范围时,由于声子显著的边界散射,κ 会受到强烈抑制。60 K 条件下,115 nm 尺寸的硅纳米线,κ~16 W/mK, DOI: 10.1063/1.1616981;300 K 条件下,31-50 nm 尺寸的硅纳米线,κ~8 W/mK,DOI: 10.1103/PhysRevLett.101.105501。现在进行纳米级别测试。Ci 使用一种化学蚀刻技术制造了直径仅为 90 nm(十亿分之一米)的天然硅和 28Si 纳米线 - 大约比一根人类头发细1000倍。为了测量热导率,Ci 将单根纳米线悬浮于两个装有铂电极和温度计的微加热器垫之间,然后向电极施加电流以在一个垫上产生热量,然后通过纳米线流向另一个垫。“我们预计,使用同位素纯材料进行纳米线的热传导研究结果只会有 20% 的增量效益,” Wu 说。但 Ci 的测量结果让他们都感到惊讶。28Si 纳米线的热导率提高不是 10% 甚至 20%,而是比具有相同直径和表面粗糙度的天然硅纳米线好 150%。这大大的超出了他们的预期,Wu 说。纳米线粗糙的表面通常会减慢声子的速度,那这是怎么回事呢?莱斯大学(Rice University)的 Matthew R. Jones 和 Muhua Sun 捕获的材料高分辨率 TEM(透射电子显微镜)图像发现了第一条线索:28Si 纳米线表面上的玻璃状二氧化硅层(SiO2)。而纳米线导热性研究的知名专家 Zlatan Aksamija 领导的马萨诸塞大学阿默斯特分校(University of Massachusetts Amherst)研究团队计算模拟实验表明,同位素“缺陷”(29Si 和 30Si 的不存在)阻止了声子逃逸到表面,其中 SiO2 层会大大减慢声子的速度。这反过来又使声子沿着热流方向保持在轨道上 - 因此在 28Si 纳米线的“核心”内不那么“混淆”。(Aksamija 目前是犹他大学(theUniversity of Utah)材料科学与工程副教授。)“这真的出乎意料。发现了两个独立的声子阻断机制 - 表面和同位素,以前被认为彼此独立的 - 现在协同作用,这使我们在热传导研究中获得了非常令人惊讶的结果,却也非常令人满意,“Wu 说。“Junqiao 和团队发现了一种新的物理现象,”Ager 说,“对于好奇心驱动的科学研究来说,这是一个真正的胜利。这真的是太令人兴奋了。”研究小组接下来计划将他们的发现推进到下一个阶段:研究如何“控制,而不仅仅是测量这些材料的热传导性能”,Wu Junqiao 说。莱斯大学、马萨诸塞大学阿默斯特分校、深圳大学和清华大学的研究人员参与了研究工作。这项工作得到了美国能源部科学办公室的支持。原文信息Giant Isotope Effect of Thermal Conductivity in Silicon Nanowires,Penghong Ci, Muhua Sun, Meenakshi Upadhyaya, Houfu Song, Lei Jin, Bo Sun, Matthew R. Jones, Joel W. Ager, Zlatan Aksamija, and Junqiao Wu,Phys. Rev. Lett. 128, 085901 (2022)https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.128.085901
  • “绝缘”又“导热”,突破尖端电子装备发展瓶颈
    聚合物是一类重要的电工绝缘材料,然而聚合物材料的导热性普遍性较差,提升聚合物的导热性往往以牺牲绝缘性能为代价。“绝缘和导热的矛盾”是制约聚合物材料在尖端电气电子装备应用的瓶颈之一。3月2日,《自然》刊发上海交通大学化学化工学院教授黄兴溢团队与合作者的最新研究成果。研究人员通过等规链段层状排列构建阵列化纳米区域,并在阵列化纳米区域中引入亲电陷阱基团,在大幅提升柔性聚合物电介质薄膜导热性能的基础上使电阻率提升了一个数量级,解决了聚合物材料导热和绝缘的矛盾。这种聚合物电介质薄膜性能稳定,且具有良好击穿自愈性,因此在电磁能装备、新能源汽车、电力电子等领域将有广阔应用前景。导热和绝缘矛盾聚合物电介质薄膜电容器具有极高的能量转换速率,在电磁能装备、电力电子以及新能源装备等领域的作用至关重要。随着装备、器件往紧凑化、轻量化、工作环境极端化方向发展,对聚合物电介质薄膜储能密度及耐高温性能的要求越来越高。电荷存储密度和电场强度的平方成正比。因此,电介质薄膜承受电场的能力增强,电荷存储密度就会快速增加。然而,聚合物薄膜在高电场下以电子电导为主,不再符合欧姆定律,电导电流随电场强度增加呈指数增大,会产生大量的热。传统聚合物电介质的导热系数普遍较低,且散热效率也很低,这会造成介质温度快速升高,进而引起电导指数增加、耐电强度急速降低等连锁反应,造成器件、装备失效等严重问题。尽管可以通过引入纳米添加等方式增加聚合物电介质的导热系数,但这往往以牺牲耐电强度为代价,更重要的是,纳米添加给薄膜制造工艺也带来极大挑战。因此,开发耐高温、本征高导热的聚合物电介质薄膜是最好选择。设计双链结构共聚物为解决此类问题,黄兴溢团队设计出一种双链结构共聚物(PSBNP-co-PTN)。该共聚物通过π-π堆叠作用自组装成高度有序阵列。通过偏振拉曼光谱测试发现,共聚物薄膜的偏振信号在平面上呈各向同性,在断裂面上呈各向异性。“这表明有序阵列平行于表面,因此,电介质薄膜在垂直平面方向表现出高导热系数。”黄兴溢说。研究团队通过密度泛函理论分析和热刺激电流实验发现,这种共聚物的链结构段间,存在深度为1.51 eV的电荷陷阱,且随着外电场强度增加,电荷陷阱深度进一步增大。在PSBNP有序阵列中引入一定量的PTNI分子,共聚物能表现出最优的电气绝缘性和最高的电击穿强度。电极化储能测试表明,其最大放电能量密度远优于现有的聚合物及其复合电介质薄膜。突破电子装备发展瓶颈普通聚合物和聚醚酰亚胺(PEI,已知最好的商品耐高温聚合物电介质薄膜)连续充-放电循环过程中的发热现象,在这种高导热的共聚物电介质薄膜中并未出现,研究人员甚至未观察到局部热积聚现象。实验证明,这种共聚物电介质薄膜连续充-放电循环寿命是PEI薄膜的6倍。值得一提的是,该薄膜的碳含量相对较低,这赋予了其优异的自愈性,电镜图像清晰显示了电击穿区域四周的铝金属电极被蒸发除去,碳化通道孤立于金属电极,使击穿后的金属化聚合物薄膜整体仍保持高绝缘性。自愈后的储能性没有出现明显劣化,仍能进行连续充-放电循环。“这种共聚物电介质薄膜厚度方向的本征导热系数为1.96 ± 0.06 W/(mK),是目前报道的绝缘聚合物本征导热系数的最高值。”该论文共同第一作者、助理研究员陈杰介绍说,“共聚物电介质薄膜在50000次充-放电循环后储能性依然稳定,且具有良好击穿自愈性。”“这一研究是电气工程、化学、材料、工程热物理等多学科的深度交叉融合。”黄兴溢介绍说,上海交通大学江平开教授、朱新远教授、于春阳副研究员、钱小石教授、鲍华教授,以及西安交通大学李盛涛教授和西南交通大学吴广宁教授都参与了本项研究。目前,相关技术已获发明专利授权,相关产品将在电磁能装备、新能源汽车、电力电子等领域得到广泛应用。
  • 上海微系统所在大尺寸石墨烯制备及导热应用方面取得进展
    制备决定未来,石墨烯材料的可控制备是石墨烯行业的基础,更是石墨烯在下游应用中充分发挥其性能优势的关键。在批量制造石墨烯材料的过程中,精确控制石墨烯片层厚度、横向尺寸和化学结构等参数已成为石墨烯在热管理、新能源、纤维等领域应用的瓶颈。鳞片石墨剥离技术是发展最为成熟的石墨烯规模化制备技术,该方法已实现石墨烯片层厚度和化学结构的精确控制,但在横向尺寸调控方面仍然面临挑战,典型的石墨烯横向尺寸分布在几百纳米到几个微米以内。单一石墨烯片的的横向尺寸越大,所组装构建的宏观结构在导热、导电和力学等性能方面具有更大的提升潜力和空间。因此,亟待发展横向尺寸在几十微米、甚至几百微米的大尺寸石墨烯材料规模化高效可控制备技术,而实现这一目标必须从制备机理上进行创新和突破。近期,针对传统技术利用长时间、强氧化剂环境氧化剥离石墨存在的剪切破碎严重、横向尺寸难保持等关键科学问题,中科院上海微系统所丁古巧课题组在前期独创的“离域电化学解理” 方法(Chemical Engineering Journal 428 (2022): 131122. 10.1016/j.cej.2021.131122)和“预解理再剥离”技术(Carbon 191 (2022): 477. 10.1016/j.carbon.2022.02.001)基础上,提出了 “氧化新鲜石墨烯网络结构”新策略,该策略首先利用离域电化学法深度解理石墨获得多孔的石墨烯网络结构,然后对获得的石墨烯多孔网络结构进行氧化剥离,由于多孔网络结构为氧化剂的输运提供了高速通道,实现了氧化剂当量和氧化剥离时间的同步大幅减小(图1a),氧化剂当量从通常报道的2-5减少至1,氧化时间从通常的3-5 h下降到1 h,为大尺寸石墨烯材料的制备提供了新的思路。图1. (a) “氧化石墨烯网络结构”策略示意图;(b)大尺寸氧化石墨烯横向尺寸及分布;(c)大尺寸氧化石墨烯的晶格结构分析;(d, e)“氧化新鲜石墨烯网络”策略的优势。该方法在不引入后续筛选处理的情况下实现了大尺寸高晶格质量氧化石墨烯的高效制备。将石墨剥离过程中横向尺寸保持率提高到文献报道最好水平的1.5-2倍,将氧化石墨烯的平均尺寸极限从~120 μm提升到~180 μm(图1b)。需要特别指出的是,结构表征数据表明所制备的水相可分散大尺寸氧化石墨烯具有完全不同于传统氧化石墨烯的晶格结构,也不同于一般的石墨烯,是介于氧化石墨烯和高质量石墨烯之间的一种特殊结构石墨烯材料。氧化剂当量和氧化时间同时减少不仅抑制了石墨/石墨烯碎裂,还在很大程度上保留了石墨原料的sp2结构,在剥离形成的石墨烯片中形成了 “晶区网络包围非晶区岛”的特殊晶格结构(图1c)。更重要的是,机理研究还发现深度预解理石墨结构并保持其“新鲜性”对于石墨烯横向尺寸保持至关重要,传统方法在预解理和氧化剥离体系之间切换时引入的洗涤干燥等过程不可忽视。现有预解理方法很难将石墨解理成石墨烯网络结构,而且溶液体系切换不可避免的片层“回叠”效应在很大程度上破坏了新构建的氧化剂输运通道。相反,“离域电化学解理”体系很好地匹配了氧化剥离体系,从根本上避免了不同体系切换造成的不良影响,是“氧化新鲜石墨烯网络结构”策略成功的关键。进一步的物性结果(图2)表明,大尺寸高质量石墨烯具有良好水相分散性,可组装形成层状结构宏观膜。与绝缘的传统氧化石墨烯膜不同,在不经还原处理情况下大尺寸高质量石墨烯宏观膜表现出良好导电性,电导率达到305.3 Sm-1。同时,相对于小尺寸氧化石墨烯,大尺寸高质量石墨烯构建的宏观膜具有优异的力学性能,杨氏模量达到21.2 GPa,拉伸强度达到392.1 Mpa,分别是小尺寸石墨烯膜的~3倍和~5倍。更重要的是,大尺寸高质量石墨烯在构建石墨烯导热厚膜方面表现出明显优势,制备的100 μm石墨烯厚膜导热系数达到1576.1±26.7 W m-1 K-1,超过此前文献报道水平,充分体现了大尺寸石墨烯的导热优势。图2.大尺寸氧化石墨烯膜的显微结构(a)、导电性能(b)、力学性能(c-f)和导热性能(g-j)优势。上述工作大幅突破了氧化石墨烯的平均横向尺寸极限,同时拓展了氧化石墨烯的物性空间,形成了水相可分散大尺寸高质量氧化石墨烯的可规模化制备技术,从材料层面为石墨烯基器件热管理体系、力学增强结构、导电复合材料的性能突破和应用升级提供了新的解决方案。相关研究成果近期以“Oxidating Fresh Porous Graphene Networks toward Ultra‐Large Graphene Oxide with Electrical Conductivity”为题在线发表于Advanced Functional Materials (IF=19.924,10.1002/adfm.202202697)。论文第一作者为中科院上海微系统所张鹏磊博士,通讯作者为中科院上海微系统所丁古巧研究员、何朋副研究员。相关工作得到国家自然科学基金(51802337, 11774368 and 11704204)等资金支持。论文链接 https://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1002/adfm.202202697
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