超高精度波长计

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    公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有“上海市专精特新企业称号”的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。公司自成立以来,始终遵循行业领先、诚信发展、探索创新、务实致远、以质取胜的服务理念,并在产品开发和销售中贯彻到底。公司自始至终秉承着国际标准的质量安全保障。多年来,公司一直致力于光学设备的设计开发,以及知识产权的保护。我们将不断完善管理机制和技术水平,为客户提供更安全环保的产品以及更优质的服务。应用领域医学医用相关产品分类:Wasach OCT光栅、 SLD 二极管、高速扫频激光器、SOA 放大器、光纤延迟线,OCT光谱分析仪光纤通讯与传感相关产品分类: 波分复用器、光纤放大器、高速光电探测器、锁频半导体可调谐激光器、强度/相位调制器、特种光纤、超窄线宽稳频激光器模块、光通讯DFB激光器......微波光子相关产品分类:20G信号发生器、高速电光调制器、高速光电探测器、高频相位/强度电光调制器、高速示波器 、任意波形发生器......气体分析相关产品分类:单模声光调制器 、超高反射率反射镜、光电探测器模块 、小型化气室、中红外气体吸收池、激光气体分析综合控制器、DFB激光二极管、中红外超连续谱光源、高精度波长计......量子计算相关产品分类: 外腔半导体激光器、空间光隔离器 、电光调制器、高精度波长计 、高精度光谱分析仪......激光雷达相关产品分类:窄线宽稳频激光器模块、FMCW DFB激光器、ns级超快光开关,光电平衡探测器......半导体分析相关产品分类:激光光束分析仪、激光芯片LIV测试系统、近红外相机、六轴位移台、光束匀化..机械视觉相关产品分类:经济型荧光近红外数字相机、低成本近红外InGaAs铟镓砷相机,中红外高性能非制冷相机、UV CMOS/CCD紫外波段相机、 SWIR镜头(C-mount)......先进光学实验室半导体综合分析实验室:半导体激光器光谱分析,功率测试,光束质量测试,线宽测试,各种光无源器件的测试,光纤放大器等等近红外产品的测试。目前我们在半导体测试,TDLAS激光法气体分析检测,CRDS腔衰荡系统,DTS高温传感以及DVS等项目研究开发领域有着深厚的积累,能够为客户提供更加精准的器件方案支持。未来前沿光学综合实验室:负责公司未来前沿科学的相关应用支持。其中包括:自适应光学,量子计算,微波光子,太赫兹,微纳光学等技术学习与推广应用,自适应光学:波前分析仪,可变形镜,近红外CCD相机;微波光子:是德科技20G矢量网络分析仪,25G信号发生器,20G高速调制器,22G光电接收器,光谱仪AQ6375B、771B-MIR波长计等测量设备 太赫兹:300G太赫兹发生器,太赫兹功率计,太赫兹时域光谱仪分析仪;微纳光学:微纳光纤制作平台,光学显微镜,2-4.5um超连续谱光源;量子计算:(在建中)-
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  • 宁波长基光导传感科技有限公司创立于2016年,是一家专业从事光电科技领域内的技术研发,光学仪器及配件,光电子元器件的设计,研发,制造,加工的高科技企业。 近些年,拉曼光谱技术,光纤激光器和光纤传感器等特种光纤行业领域的飞速发展,给长基光导带来了很多机遇和挑战。公司不断致力于特种光纤产品的研发制造,不断提高技术,为客户提供优质的产品,同时获得了客户的一致认可。 公司本着“质量是企业长远发展的基石,精益求精,可持续发展”的企业文化,以专业、高效、诚信的态度服务客户。为全球客户提供更高品质的产品。
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    博众仪器是博众精工孵化的高新技术企业,成立于2020年3月,拥有20多年装备制造业的技术沉淀及经验积累。专注基于电子束技术的高端装备研究、生产、销售,主营透射电子显微镜及其核心部件,如肖特基电子源、超高稳定电源(包括高压电源及恒流电源)、高精度控温水冷机等产品,并提供电子枪、高压电源、磁透镜等整体解决方案。

超高精度波长计相关的仪器

  • WS8/WS8-2超高精度高端波长计 光学测量仪应用范围:连续激光器和脉冲激光器的波长测量世界范围内无法比的精度 WS8是用于脉冲或连续激光光源波长测量的高端仪器设备。具有非常优异的绝 dui与相对精度,这是前沿科学研究、工业、医学应用所需求的。WS8系列无与伦比的精度是通过采用独特几何构型的非移动、温控费佐干涉仪实现的。光子晶体转换器 输入接口的光子晶体光纤转换器可提供单模操作,并同时对分立的激光波长进行测量。易于使用&用户自定义 WS8通过USB接口与PC连接,只要软件安装好就可以正常操作。光学单元及相关电子部件封装在紧凑的热隔离外壳内。波长计的灵活设计可实现额外光学部件与软件模块的集成-即使客户是多年前购买的产品。HighFinesse为您的具体应用需求实现高度自定义。
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  • 高精度波长计新势力光电供应高精度波长计,SHR高精度波长计和SHR-IR近红外波长计可供选择。该系列激光波长计具有如下特点:测量精度高、光谱范围宽、结构紧凑、无移动部件、光纤耦合输入,应用于:连续激光波长测量、脉冲激光波长测量。SHR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range190-1100nmAbsolute accuracy±0.003nmSpectral resolution0.006nm for 193nm, 0.04nm at 1200nmSource linewidth requirement≤125см-10.5nm at 193nm, 18nm at 1200nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905SHR-IR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range600-1800nmAbsolute accuracy±0.02nmSpectral resolution0.15nm for 600nm, 0.48nm for 1800nmSource linewidth requirement≤125см-14nm for 600nm, 40nm for 1800nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905相关商品 BeamOn光束质量分析仪 激光波长计 激光功率计 激光防护眼镜
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  • 高精度波长计 WS5/S6-600光学测量仪高精度波长计 HighFinesse波长计具有灵敏度高、结构紧凑的特点,设计用于高速测量超宽光谱范围的各式激光器。光学单元包含温度控制干涉仪,干涉模式通过CCD光电二极管阵列读出。通过使用固态的非移动光学部件实现超高的测量jue dui精度。 光学单元及相关电子部件封装在紧凑的热隔离外壳内。与计算机或笔记本的连接是通过高速USB2.0接口实现的,可以实现高速数据读出。软件可展示干涉仪的所有信息,并与Microsoft窗口兼容。紧凑、可靠、通用 坚实紧凑的高精度波长计设计用于脉冲与连续激光光源的日常控制。通过易于使用的光学多模光纤进行耦合,即使光强很低也可以正常操作。光学单元及相关电子部件封装在紧凑的热隔离外壳内。即插即用 采用PC进行电源供应与数据读出,可以通过USB接口实现,无需预热。用户定制 HighFinesse为您的具体应用需求实现高度自定义。优势与特点:高精度测量内置校准可以测量脉冲和连续的激光源高速测量可达76 kHz光谱范围可扩展到:192 nm - 11 μm兼容LabView, C++, MatLab, ...
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超高精度波长计相关的资讯

  • 中国科大利用可重构微型光频梳实现kHz精度波长计
    中国科学技术大学郭光灿院士团队在微腔光学频率梳的研究方面取得重要进展。该团队董春华教授及合作者邹长铃等人提出一种普适的微腔色散调控机制,实现了光频梳中心频率和重复频率的实时独立调控,并应用于光学波长的精密测量,将波长的测量精度提升到kHz量级。相关研究成果1月12日发表在Nature Communications上。近年来,基于光学微腔的孤子微梳在精密光谱学、光钟、微波光子学、天文学等领域引起了极大的研究兴趣。然而,由于环境和激光噪声以及微腔中额外非线性效应的影响,孤子微梳的稳定性受到了很大的限制,这成为微光梳在实际应用中的一个主要障碍。在之前的工作中,科学家们通过控制材料的折射率或者微腔的几何尺寸以实现实时反馈,从而稳定并调控光频梳,这种方法会引起微腔内所有共振模式同时近乎均匀的变化,缺乏独立调控梳齿频率和重复频率的能力,这大大限制了微光梳在精密光谱、微波光子、光学测距等实际场景中的应用。针对这一难题,研究团队提出了一种新的物理机制实现了对于光频梳中心频率和重复频率的独立实时调控。通过引入两种不同的微腔色散调控手段,该团队能够对微腔不同阶次的色散进行独立控制,从而实现光频梳不同梳齿频率的全部控制。这种色散调控机制对于目前广泛研究的氮化硅、铌酸锂等不同的集成光子平台都是普适的。在实验中,该团队利用泵浦激光和辅助激光分别独立控制微腔不同阶次的空间模式实现了泵浦模式频率的自适应稳定和频梳重复频率的独立调控。基于该光频梳,研究团队演示了对于任意梳齿频率的快速、可编程的调控,并将其应用于波长的精密测量中,展示了具有kHz量级测量精度和多波长同时测量能力的波长计。相比于之前的研究成果,研究团队实现的测量精度达到了三个量级的提高。本研究成果所展示的可重构的孤子微梳为实现低成本、芯片集成的光学频率标准奠定了基础,将在精密测量、光钟、光谱学及通信等领域得到应用。 (a-c)可重构微腔光频梳原理示意图。 (d)波长计的性能演示。中科院量子信息重点实验室博士后牛睿、特任副研究员李明为论文共同第一作者,董春华教授、邹长铃教授为论文通讯作者。研究工作得到国家重点研发计划、国家自然科学基金委员会、中科院、量子信息与量子科技前沿协同创新中心等的支持。
  • Newport 波长计以旧换新服务!
    可以用您已用过的任何一款波长计,换取全新的New Focus WM-1210波长计,产品原价基础上立减人民币13000元!活动截止日期:2016年4月1日当您需要精确测量波长时,波长计是一款非常适合的仪器。不需要复杂的光路搭建和设置,仅仅需要您将激光连接到波长计即可使用。型号WM-1210波长范围700 - 1650 nm显示类型Front LCD显示nm, GHz, and cm-1通信接口RS-232, USB 2.0最大输入功率10 dBm (10 mW)重量7.65 kg如有需求,请联系科艺仪器: 中国区代理商科艺仪器 TEL 400 886 0019 Email: info@anp.com.hk
  • 中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计,全球同步发布
    随着LED产业日益成熟,国际、国内客户LED产品需求量的增加,消费者对于LED产品品质要求也越来越高,不仅强调发光效率,而且均匀性、一致性、显色性等指标也备受关注。无论是在LED背光领域,还是在LED照明领域,都需要更好光学量测设备,以解决量测方面的应用需要。此前,灵敏度高、测量精度准确,符合国际标准的高端检测设备,一直是国外设备处于主导地位。国内LED企业,为了生产出品质良好的LED产品,一套高端检测设备需要投入几十万甚至上百万,可是在售后的保障方面,由于时空距离,却并不能得到最快的响应。面对这种情况,LED业界对于具有国际水准、符合国际标准的国产高端检测设备充满期待。基于以上的种种原因,杭州中为光电技术股份有限公司(ZVISIONR)作为国际半导体照明装备领域领军企业之一,携手美国海洋光学(Ocean Optics),成功研发出全球领先的ZWL-S6超高精度光谱辐射计,首次真正打破了在高端测试机领域,国外设备厂商垄断的局面。将在满足客户的高端检测需求的前提下,大幅降低设备成本,同时以中为光电强大的服务实力为支撑,全力为中国LED行业加油!中为光电将于2011年8月30日在上海高工G20-LED峰会携手美国海洋光学(Ocean Optics)进行中国LED半导体装备领域设备首次全球同步发布!中为光电基础研究部总监殷源博士将在会议上分享中为光电(ZVISIONR)对于LED检测的最新观点与建议。高端应用环境首选中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计系统:ZWL-S6超高精度光谱辐射计支持国际电工委员会(IEC)、国际照明委员会(CIE)、美国能源之星(Energy Star)、中国计量科学研究院(NIM)等权威检测标准;搭载中为F4M专利技术积分球、卓越的驱动电源、极致专业的夹具、权威的标准光源等顶级部件,可组成最高端的ZWL-3140Q超高精度颜色测量系统,能够有效的满足行业检测机构、企业实验室等高端应用环境对于光谱检测精度、稳定性、量测范围、测试速度、外观设计、软件功能等综合性能的高要求。同时,能够有效的降低高端设备的保有成本,为中国LED行业的发展贡献一份力量!ZWL-S6超高精度光谱辐射计简介:ZWL-S6超高精度光谱辐射计运用中为自主的核心算法及先进的系统设计,确保了辐射计的整体性能指标,集成中为F4M专利技术积分球、卓越的驱动电源、极致专业的夹具、权威的标准光源等顶级部件,打造成中为ZWL-3140Q超高精度颜色测量系统。其检测精度、稳定度、测量范围、测试速度、软件功能、外观设计等指标均达到国际顶级水平,真正打破了国外设备厂商在高端测试领域的垄断局面。ZWL-S6超高精度光谱辐射计内置有国际顶尖光谱仪模块,该模块由半导体照明CCD测量核心技术发明者、光纤光谱仪在半导体照明测试领域应用最广的中为(ZVISIONR)公司与其战略合作伙伴美国海洋光学(Ocean Optics)共同研制。超高检测精度:超低的暗电流,信噪比高达1000:1,色品坐标(x,y)最高精度可达0.0010以内;超强稳定性:探测器采用先进的内部智能恒温技术,大大降低了环境温度变化对测量结果的影响;独创恒温制冷的高频信号采集卡,有效的提升检测稳定性,色品坐标(x,y)稳定度可达0.0005以内;超宽测量范围:采用薄型背照式(Back-thinned)面阵CCD探测器。其二维像素阵列有效接收波长范围在200~1100nm的光信号,可实现1300K--25000K的高精度色温测试;动态范围(指仪器测定可用的最高吸光度与最低能检测到的吸光度之比。动态范围越大,可用于检测样品的线性范围也越宽)高达25000:1,可实现1.0× 10-2 lm&mdash 2.0× 105 lm 的光源测试;超快测试速度:配备二维面阵CCD探测器,量子效率达90%,有效接收入射光,最大化的提升了系统的测试灵敏度,CCD最快响应时间可达1ms;国际化外观:采用极具档次的烤漆工艺,结合中为特有的钻石蓝,设备整体观感高端、大气,满足客户提升企业形象的需求;权威标准追溯:可分别追溯到国际电工委员会(IEC)、国际照明委员会(CIE)、美国能源之星(Energy Star)、中国计量科学研究院(NIM)等权威检测标准;强大的软件:核心算法支撑的系统软件,满足光源测量所需要的全部功能,支持多种测试报表的分析;测试界面简洁大方,操作简便;专业化服务:400客服系统全天候24小时响应,高素质的客服团队为您服务;完善的CRM客户关系管理系统,为快速、有效、持续地服务好客户提供管理支撑;配件介绍:卓越的驱动电源:支持电压电流一次设置,重复动态测量,不损伤被测光源;低纹波和低噪音,超高分辨率及精度0.1mV/0.01mA;内置高精度五位半电压表和毫欧姆表;支持高精度和动态编程输出;高档次、高亮度VFD显示屏;开机自检,软件校正,智能伺服风扇系统;支持远端电压补偿,支持外部触发输入、输出;可选择带脉冲输出电源功能;可靠稳定的电源性能,为光源的稳定点亮提供有力支持,保证了系统的测试精度;顶级的中为F4M专利技术积分球:支持辅助光源补偿测试;支持4&pi 法、2&pi 法测试;独创的中为F4M专利积分球技术:涂层具有高反射率、低热胀冷缩率、反射无光谱选择性等特点;设计独特,开合方便,不漏光;球体采用特殊材料,散热性好;确保高精度的测试;极致专业的夹具:拥有行业最完善的专业夹具库,全面支持T8/T5、E27 /E14 、GU10 、MR16 、PAR30、Road Light、LAMP(Ф3、Ф5、Ф8、Ф10)、Piranha-LED(食人鱼)、HP-LED(1W、3W等大功率)、卤素灯(10W OSRAM等)、COB、TOP & SIDE View SMD 、TYPE LED(0603、0805、3014、3020、3528、5050、5050M、5630)等光源测试;极具专业水准的夹具,最大限度地消除自吸收、近场吸收等因素对测试结果的影响;可实现恒温、主动冷却/被动冷却、加热装置等多种温控模式,接受客户定制;权威的标准光源:用于光谱仪在测试LED时的光谱(色温、波长等参数)及光通量量值传递(定标),采用国家权威的中国计量科学研究院直接量传等一系列计量标准;

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  • 彻底讲清如何实现各种单晶炉的0.1%超高精度真空压力控制

    彻底讲清如何实现各种单晶炉的0.1%超高精度真空压力控制

    [size=16px][color=#339999]摘要:针对晶体生长和CVD等半导体设备中对0.1%超高精度真空压力控制的要求,本文对相关专利技术进行了分析,认为采用低精度的真空度传感器、调节阀门和PID控制器,以及使用各种下游控制方法基本不太可能实现超高精度的长时间稳定控制。要满足超高精度要求,必须采用0.05%左右精度的传感器和相应精度的PID控制器,结合1s以内开合时间的高速电动针阀和电动球阀,同时还需采用上游进气控制模式。另外,本文提出的超高精度解决方案中,还创新性的提出了进气混合后的减压恒压措施,消除进气压力波动对超高精度控制的影响。[/color][/size][align=center][size=16px][img=彻底讲清如何实现各种单晶炉的0.1%超高精度真空压力控制,690,290]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071124469579_383_3221506_3.jpg!w690x290.jpg[/img][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 在晶体生长和CVD等半导体设备领域,普遍要求对反应腔室的真空压力进行快速和准确控制。目前许多半导体工艺设备的真空压力基本在绝对压力10~400Torr的真空度范围内,通过使用下游节流阀(电动球阀或电动蝶阀)的开度自动变化来调节抽气速率基本能达到1%以内的控制精度。但对于有些特殊晶体生长等生产工艺,往往会要求在0.1~10Torr真空度范围内进行控制,并要求实现0.1%的更高精度控制。[/size][size=16px] 最近有用户提出对现有晶体生长炉进行技术升级的要求,希望晶体炉的真空压力控制精度从当前的1%改造升级到0.1%,客户进行改造升级的依据是宁波恒普真空科技股份有限公司的低造价的压力控制系统,且技术指标是“公司研发的压力传感器和控制阀门及配套的自适应算法,可将压力稳定控制在±0.3Pa(设定压力在100~500Pa间)”。[/size][size=16px] 我们分析了宁波恒普在真空压力控制方面的两个相关专利,CN115113660A(一种通过多比例阀进行压力控制的系统及方法)和CN217231024U(一种碳化硅晶体生长炉的压力串级控制系统),认为采用所示的专利技术可能无法实现100~500Pa全量程范围内0.1%的长时间稳定的控制精度,最多只可能在个别真空点和个别时间段内勉强内达到。本文将对这两项专利所设计的控制方法进行详细技术分析说明无法达到0.1%控制精度的原因,并提出相应的解决方案。[/size][b][size=18px][color=#339999]2. 专利技术分析[/color][/size][/b][size=16px] 宁波恒普公司申报的发明专利“一种通过多比例阀进行压力控制的系统及方法”,其压力控制系统结构如图1所示,所采用的控制技术是一种真空压力动态平衡控制方法中典型的下游控制模式,即固定进气流量,通过调节排气流量实现真空压力控制。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=01.通过双比例阀进行压力控制的系统的示意图,500,244]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071128351485_5277_3221506_3.jpg!w690x338.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 通过双比例阀进行压力控制的系统的示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 在动态平衡法控制中,这种下游模式的特点是: (1)非常适用于10~760Torr范围内的高气压精确控制,抽气流量的变化可以很快改变真空腔体内部气压的变化,不存在滞后性,这对于高精度的高压气体控制非常重要,因此这种下游控制模式也是目前国内外绝大多数晶体炉的真空压力控制方法。 (2)并不适用于0.1~10Torr范围内低气压控制,这是因为在低气压控制过程中,抽气速率对低气压变化的影响较为缓慢,存在一定的滞后性,调节抽气速率很难实现低气压范围内的真空度高精度控制。因此,对于低气压高真空的精密控制普遍采用的是上游控制模式,即调节进气流量,利用了低气压对进气流量非常敏感的特性。 宁波恒普公司所申报的发明专利“一种通过多比例阀进行压力控制的系统及方法——CN 115113660A”,如图1所示,所采用的下游控制模式是通过分程(或粗调和细调)形式来具体实现,即通过次控制阀开度改变抽气口径大小后,再用主控制阀开度变化进行细调,本质还是为了解决抽气速率的精细化调节问题。 这种抽气速率分段调节的类似方法在国内用的比较普遍,较典型的如图2所示的浙江晶盛公司专利“一种用于碳化硅炉炉腔压力控制的控压装置——CN210089430U”,采用的就是多个分支管路进行下游模式控制,多个分支管路组合目的就是调节抽气口径大小。[/size][align=center][b][size=16px][color=#339999][img=02.下游控制整体结构示意图,500,450]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071129101289_1324_3221506_3.jpg!w690x621.jpg[/img][/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=16px][color=#339999]图2 下游多支路真空压力控制结构示意图[/color][/size][/b][/align][size=16px] 宁波恒普公司另一个实用新型专利CN217231024U(一种碳化硅晶体生长炉的压力串级控制系统),如图3所示,也是采用下游控制模式。[/size][align=center][b][size=16px][color=#339999][img=03.晶体生长炉的压力串级控制系统的结构示意图,450,361]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071132344137_9996_3221506_3.jpg!w690x555.jpg[/img][/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=16px][color=#339999]图3 下游串级控制系统结构示意图[/color][/size][/b][/align][size=16px] 在晶体生长和其他半导体工艺的真空压力控制中,国内外普遍都采用下游控制模式而很少用上游控制模式,主要原因如下:[/size][size=16px] (1)绝大多数工艺对气氛环境的要求是高气压(低真空)范围内控制,如10~500Torr(绝对压力),且控制精度能达到1%即可。这种要求,最适合的控制方法就是下游模式。[/size][size=16px] (2)绝大多数半导体工艺都需要输入多种工作气体,而且各种工作气体还要保持严格的质量和比例,所以进气控制基本都采用气体质量流量计。如果在质量和比例控制之后,再对进气流量进行控制,一是没有必要,二是会增加技术难度和设备成本。[/size][size=16px] (3)在下游控制模式中安装节流阀(电动蝶阀)比较方便,可以在真空泵和腔体之间的真空管路上安装节流阀,而且对节流阀的拆卸和清洗维护也较方便。[/size][size=16px] 国内有些厂家在下游模式中采用上述分程控制方法的动机主要是为了规避使用高速和高精度但价格相对较贵的下游节流阀(电动蝶阀),这种高速高精度下游节流阀主要是具有1秒以内的全程闭合时间,直接使用这种高速蝶阀就可以在高气压范围内实现低真空度控制。而绝大多数国产真空用电动球阀和电动蝶阀尽管价格便宜,但响应速度普遍在几十秒左右,这使得压力控制的波动性很大。所以为了使用国产慢速电动蝶阀,且保证控制精度,只能在下游管路上想办法。[/size][size=16px] 如果采用高速电动球阀或电动蝶阀,且真空计和控制器达到一定精度,则采用任何形式的下游模式控制方式都可以在低气压范围内轻松实现1%的控制精度,但无法达到0.1%的控制精度。而如果采用低速阀门和上述专利所述的控制方法,也有可能达到1%控制精度,但更是无法实现更高精度0.1%的真空压力控制。[/size][b][size=18px][color=#339999]3. 超高精度真空压力控制方法及其技术[/color][/size][/b][size=16px] 晶体生长炉的真空压力控制也是一种典型的闭环PID控制回路,回路中包括真空泵、真空计、电动阀门和PID控制器。其中真空泵提供真空源,真空计作为真空压力测量传感器,电动阀门作为执行器调节进气或出气流量,PID控制器接收传感器信号并与设定值进行比较和PID计算后输出控制信号给执行器。[/size][size=16px] 这里我们重点讨论在0.1~10Torr的低气压(高真空)范围内实现0.1%超高精度的控制方法和相关技术。依据动态平衡法控制理论以及大量的实际控制试验和成功应用经验,如果要实现上述低压范围内(0.1~10Torr)的高精度控制,必须满足以下几个条件,且缺一不可:[/size][size=16px] (1)真空泵要具备覆盖此真空度范围的抽取能力,并尽可能保持较大的抽速,由此在高温加热过程中的气体受热膨胀压力突增时,能及时抽走多余的气体。[/size][size=16px] (2)真空计和PID控制器要具有相应的测量和控制精度。[/size][size=16px] (3)采用上游控制模式,并需采用高速电动针阀自动和快速的调节进气流量大小。[/size][size=16px] 国内外晶体生长炉和半导体工艺的真空压力控制,普遍采用的是薄膜电容真空计,价格在一万元人民币左右的这种进口真空计,测量精度基本在0.25%左右。这种真空计完全可以实现0.5 ~ 1%的控制精度,但无法满足更高精度控制(如0.1%)中的测量要求,更高精度的真空度测量则需要采用0.05%以上精度的昂贵的薄膜电容真空计。[/size][size=16px] 同样,对于PID控制器,也需要相应的测量精度和控制精度。如对于0.25%精度的真空计,采用16位AD、12位DA和0.1%最小输出百分比的PID控制器,可以实现1%以内的控制精度,这在相关研究报告中进行过专门分析和报道。若要进行更高精度的控制,则在采用0.05%精度真空计基础上,还需采用24位AD、16位DA和0.01%最小输出百分比的PID控制器。[/size][size=16px] 宁波恒普公司在其官网的压力控制技术介绍中提到,采用恒普自己研发的压力传感器和控制阀门及配套的自适应算法,在绝对压力100~500Pa范围内可将国内外现有技术的±3Pa压力波动(控制精度在1%左右)提升到±0.3Pa(控制精度在0.1%左右),控制精度提高了一个数量级。我们分析认为:在绝对压力100~500Pa的低压范围内,如果不能同时满足上述的三个条件,基本不太可能实现0.1%的超高精度控制。[/size][b][size=18px][color=#339999]4. 超高精度真空压力控制技术方案[/color][/size][/b][size=16px] 对于超高精度真空压力控制解决方案,我们只关心前述条件的第二和第三点,不再涉及真空泵内容。[/size][b][color=#339999] (1)超高精度真空计的选择[/color][/b][size=16px] 目前国际上能达到0.05%测量精度的薄膜电容真空计有英福康和MKS两个品牌,如图4所示。这类超高精度的真空计都有模拟信号0~10V输出,数模转换是20位。[/size][align=center][b][size=16px][color=#339999][img=04.超高精度薄膜电容真空计,550,240]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071130184466_8776_3221506_3.jpg!w690x302.jpg[/img][/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=16px][color=#339999]图4 超高精度0.05%薄膜电容真空计 (a)INFICON Cube CDGsci;(b)MKS AA06A[/color][/size][/b][/align][size=16px][b][color=#339999] (2)超高精度PID控制器的选择[/color][/b] 从上述真空计指标可以看出,真空计的DAC输出是20位的0~10V模拟型号,那么真空压力控制器的数据采集精度ADC至少要20位。为此,解决方案选择了目前最高精度的工业用PID控制器,如图5所示,其中24位AD、16位DA和0.01%最小输出百分比。所选控制器具有单通道和双通道两种规格,这样可以分别用来满足不同真空度量程的控制,双通道控制器可以用来同时采集两只不同量程的真空计而分别控制进气阀和抽气阀实现真空压力全量程的覆盖控制。另外PID控制器还具有标准的RS485通讯和随机配套计算机软件。[/size][align=center][b][size=16px][color=#339999][img=05.高速电动阀门和超高精度PID调节器,650,237]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071130375986_9640_3221506_3.jpg!w690x252.jpg[/img][/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=16px][color=#339999]图5 超高精度PID真空压力控制器和高速电动阀门[/color][/size][/b][/align][size=16px][b][color=#339999] (3)高速电动阀门选择[/color][/b] 高速电动阀门主要包括了真空用电动针阀和电动球阀,都有极小的漏率。如图5所示,其中电动针阀用于微小进气流量的快速调节,电动球阀用于大排气流量的快速调节,它们的全程开启闭合速度都小于1s,控制电压都为0~10V模拟信号。[b][color=#339999] (4)超高精度0.1%压力控制技术方案[/color][/b] 基于上述关键部件的选择,特别是针对0.1~10Torr范围内的0.1%超高精度真空压力控制,本文提出的控制系统具体技术方案如图6所示。[/size][align=center][b][size=16px][color=#339999][img=06.超高精度真空压力控制系统结构示意图,600,325]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304071131004546_6716_3221506_3.jpg!w690x374.jpg[/img][/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=16px][color=#339999]图6 超高精度真空压力控制系统结构示意图[/color][/size][/b][/align][size=16px] 如前所述,在0.1~760Torr的真空压力范围内,分别采用了量程分别为10Torr和1000Torr的两只超高精度真空计,并分别对应上游和下游控制模式来进行覆盖控制,真空源为真空泵。[/size][size=16px] 在10~750Torr范围内,采用下游控制模式,即控制器的第一通道用来控制电动针阀的进气开度保持固定,第二通道用来检测真空计信号,并根据真空压力设定值自动PID调节电动球阀的开度变化实现准确控制。[/size][size=16px] 在0.1~10Torr范围内,采用上游控制模式,即控制器的第二通道用来控制电动球阀的进气开度保持固定(一般为全开),第二通道用来检测真空计信号,并根据真空压力设定值自动PID调节电动针阀的开度变化实现准确控制。[/size][size=16px] 由于电动针阀调节的是总进气流量,所以在具体工艺中需要将多种工作气体先进行混合后再流经电动针阀,而且多种工作气体通过相应的气体质量流量计(MFC)来控制各种气体所占比例,然后进入混气罐。在0.1~10Torr范围内的超高精度控制中,进气压力的稳定是个关键因素。为此,解决方案中增加了一个减压恒压罐,并采用正压控制器对混合后的气体进行减压,使恒压罐内的压力略高于一个大气压且恒定不变。[/size][size=16px] 解决方案中的超高精度PID控制器具有RS485接口并采用标准的MODBUS通讯协议,可以通过配套的计算机软件直接对控制器进行各种设置和操作运行,并显示、存储和调用各种控制参数的变化曲线,这非常便于整个工艺控制过程的调试。工艺参数和过程调试完毕后,可连接PLC上位机进行简单的编程就能与工艺设备控制软件进行集成。[/size][size=16px] 综上所述,本文设计的解决方案,结合相应的超高精度和高速的传感器、电动阀门和PID控制器,能够彻底解决超高精度且长时间的真空压力控制难题,可以满足生产工艺需要。[/size][b][size=18px][color=#339999]5. 总结[/color][/size][/b][size=16px] 晶体生长和半导体材料的生产过程往往需要较长的时间,工艺过程中的真空压力控制精度必须还要考虑长时间的控制精度,仅仅某个真空度下或短时间内达到控制精度并不能保证工艺的稳定和产品质量。[/size][size=16px] 在本文的解决方案中,特别强调了一是必须采用相应高精度和高速的传感器、执行器和控制器,二是必须采用相应的上游或下游控制方式,否则,如果仅靠复杂PID控制算法根本无法通过低精度部件实现高精度控制,特别是在温度对真空压力的非规律性严重影响下更是如此,这在太多的温度和正压控制中得到过证明,也是一个常识性概念。[/size][size=16px] 对于超高精度的真空压力控制,本文创新性的提出了稳定进气压力的技术措施,其背后的工程含义也是先粗调后细调,尽可能消除外界波动对控制精度的影响,这在长时间内都要求进行超高精度稳定控制中尤为重要。[/size][size=16px] 这里需要说明的是,实现超高精度控制的代价就是昂贵的硬件装置,如超高精度的电容真空计。尽管在高速电动阀门和超高精度PID控制器上已经取得技术突破并降低了价格,但在薄膜电容真空计方面国内基本还处于空白阶段。除非在超高精度电容真空计上的国内技术取得突破,可以使得造价大幅降低,否则将不可避免使得真空压力控制系统的成本增大很多,而目前在国内还未看到这种迹象。[/size][align=center][size=16px]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/size][/align]

  • 热板法导热仪中任意设定温度及其加热电功率的超高精度PID控制

    热板法导热仪中任意设定温度及其加热电功率的超高精度PID控制

    [color=#990000]摘要:本文将针对上述防护热板法计量单元电功率精密控制中存在的问题,进行详细分析,并提出相应的解决方案。解决方案的基本内容是升级换代现有的工业用PID控制器,将PID控制器的模数转换(A/D)精度提高到24位,数模转换(D/A)精度提高到16位,增加浮点运算位数并将最小控制输出百分比(OP)提高到0.01%。通过此新一代工业用双通道超高精度PID控制器,可轻松将防护热板法计量单元电功率的准确度控制在0.1%以内,第二通道可以用于护热单元或冷板的温度跟踪和控制。同时,新一代PID控制器还保留了工业用PID控制器的常用规格尺寸,并具有很好的性价比。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px]一、问题的提出[/size]在稳态法防护热板法导热系数测试过程中,要求在稳定状态下对加载在计量加热器上的电功率进行准确测量。在标准测试方法GB/T 10294中的具体规定是“测量施加于计量部分的平均电功率,准确度不低于0.2%,强烈建议使用直流电。推荐自动稳压的输入功率,输入功率的随机波动、变化引起的热板表面温度波动或变化应小于热板和冷板间温差的0.3%。由此可见,防护热板法导热仪计量单元上直流电功率的加载、控制和测量是保证导热系数测量准确性的关键因素之一。除了平均电功率准确度不低于0.2%之外,对于一般冷热板之间20℃温差的导热系数测试,热板表面温度波动或变化还应小于20℃×0.3%=0.06℃。为了满足稳态法防护热板法上述要求,多年来普遍采用的技术手段是采用直流恒流电源,即在计量加热器上施加高精度恒定的直流电流。尽管加载恒定直流电流可以达到标准方法的规定,但同时存在并带来一系列其他问题:(1)热板温度无法实现10的整数倍温度精确控制。(2)热板温度达到稳定时间长。(3)现有工业用PID控制仪表无法达到电功率准确度要求。(4)采用高精度数字电压表和源表,并结合计算机软件进行电功率的PID控制,虽然完全可以解决上述问题,但整体造价十分昂贵。本文将针对上述防护热板法计量单元电功率精密控制中存在的问题,进行详细分析,并提出相应的解决方案。解决方案的核心内容是升级换代现有的工业用PID控制器,将PID控制器的模数转换(A/D)精度提高到24位,数模转换(D/A)精度提高到16位,增加浮点运算位数并将最小控制输出百分比(OP)提高到0.01%。通过此新一代工业用双通道超高精度PID控制器,可轻松将防护热板法计量单元电功率的准确度控制在0.1%以内,第二通道可以用于护热单元或冷板的温度跟踪和控制。同时,新一代PID控制器还保留了工业用PID控制器的常用规格尺寸,并具有很好的性价比。[size=18px][color=#990000]二、计量单元电加热功率和温度精密控制问题分析[/color][/size]在现有的防护热板法计量单元电加热功率和温度精密控制中,存在着以下几方面的矛盾。下文将对这些矛盾进行分析,并由此便于提出相应的解决方案。[size=16px][color=#990000]2.1 热板加热功率精度与整10℃倍数设定温度控制的矛盾[/color][/size]在许多防护热板法导热仪中,为了满足测试方法对施加在计量单元上的加热电功率准确度要求,往往会按照标准方法推荐而采用高精度直流电源。尽管采用直流电源可保证加热电功率的准确度,但在实际测试过程中则还需凭借测试数据积累和经验总结,才能确定出不同热板温度所对应的一系列不同的加载电流值。这种加热电流直接加载方式尽管能保证电功率的准确度,但最大的问题是无法将热板温度准确控制在任意所需的设定温度上,如无法准确控制整10℃倍数的设定温度,实际热板温度往往偏离设定温度而呈现为非整数形式。另外,在测试不同导热系数样品时,采用相同加热电流往往会表现出不同的热板温度。直接加载直流电流方式,还存在一个严重问题是升温速度较慢,计量单元达到稳定温度需要漫长时间。特别是对于较大样品尺寸的防护热板法导热仪,相应的计量单元体积和热容都较大,往往需要更长的温度稳定时间。相比于低导热样品的较小热容,计量单元温度稳定所需时间占用了更多的整体达到稳态的时间。由于上述问题的存在,这种直接加载直流电的加热方式很少在商业化导热仪上使用,一般用在早期热导仪和实验室自行搭建的导热系数测试设备上。[size=16px][color=#990000]2.2 现有工业用PID控温仪无法满足准确度要求问题[/color][/size]为了解决上述直接加载直流电流加热方式存在的问题,并同时提高导热仪的自动化水平,目前大多数商业化防护热板法导热仪都采用了PID控温仪技术。采用PID控温技术是将温度传感器、调功器、直流恒流源和PID控制器组成闭环控制回路,通过PID算法将计量单元自动控制在任意设定温度点上。采用PID控制技术,尽量在理论上可以完美的解决早期直接加载直流电流方式存在的问题,但带来的问题则是无法达到测试方法规定的加热电功率准确度要求,也就是使用工业PID控温仪势必要在测量精度上做出牺牲。出现不得不牺牲电功率控制精度的主要原因是目前的工业用PID控温仪存在以下几方面的问题:(1)采集精度不够:PID控制器的模数转换(A/D)精度大多都是8位或12位,极个别能达到16位,这明显不能满足高精度测量要求。(2)控制精度不够:PID控制器的数模转换(D/A)精度大多都是8位或12位,同样不能满足高精度控制要求。(3)浮点运算精度不够:PID控制器内微处理器运算一般都采用单精度浮点运算。对于较低位数的数模转换输出控制,单精度浮点运算已经足够,对应的最小输出百分比为0.1%。但对于防护热板法计量单元电加热功率的高精度控制,0.1%的最小输出百分比显然已经无法满足要求。[size=16px][color=#990000]2.3 能满足准确度要求的专用PID控制设备但造价昂贵问题[/color][/size]为解决上述PID控制中存在的问题,目前比较成熟的技术是采用高精度的专用仪器和仪表,并结合计算机组成超高精度的PID控制系统来实现护热板法计量单元电加热功率的控制,并在任意温度设定上实现超高精度的长时间恒定控制。这种超高精度的PID温度控制系统采用了分体式结构搭建而成,分别采用独立的五位半/六位半的数字电压表和数控直流电源来实现高精度的数据采集和控制输出功能,PID运算处理则采用计算机或微处理器实现双精度浮点运算,并将最小输出功率百分比提高到0.01%甚至更低。通过这种分体式结构的PID温度控制系统,同时完美的解决了上述防护热板法导热仪中计量单元电加热功率和温度的高精度控制问题,同时也可以大幅度缩短测试时间。尽管这种分体结构的PID温度控制系统满足了精密测量的各种技术要求,但同时带来的主要问题是造价太高,同时还需进行编程和复杂的调试,因此这种PID温控系统和控制技术在国内外多用于计量机构和对测量精度有较高要求的研究部门,并不适用于对价格比较敏感的商业化防护热板法导热仪,更不适合工业应用中的普通导热仪使用。[size=18px][color=#990000]三、工业用超高精度PID控制器解决方案[/color][/size]上述保护热板法导热仪计量单元的电加热功率和温度精密控制问题的分析以及相应的技术改进,也是多年来保护热板法导热系数测试技术进步的一个典型过程。从上述分析可以看出,这个测试设备的技术迭代过程显然还未真正达到更理想化的水平。为了既要满足计量单元电加热功率和温度高精度控制要求,又要实现PID控制、运行操作简单化和具有较低的制作成本。我们提出了新的解决方案,即在现有的工业用PID控制器(调节器)技术基础上进行升级,充分发挥工业用PID调节器的运行操作简便、集成化程度高、体积尺寸小安装方便和价格上的优势。核心升级技术的具体内容如下:(1)PID调节器的模数转换(A/D)直接升级到24位,大幅提高采集精度。(2)PID调节器的数模转换(D/A)精度升级到16位,大幅提高控制输出精度。(3)采用双精度浮点运算提高计算精度,并将最小输出百分比降低到0.01%,充分发挥数模转换的16位精度。(4)保持传统工业PID调节器的标准尺寸,如96×96、96×48和48×96规格,而屏幕显示采用真彩色IPS TFT全视角液晶显示,数字全5位显示。(5)全新的PID调节器具有单通道VPC 2021-1和VPC 2021-2两种规格系列,可满足不同变量(如真空、压力、温度和电压等)的高精度调节和控制。升级前后的PID调节器如图1和图2所示。[align=center][color=#990000][img=01.升级前的双通道PID调节器,690,321]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/09/202209161611027835_9284_3221506_3.jpg!w690x321.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图1 升级前的双通道PID调节器[/color][/align][align=center][color=#990000][/color][/align][align=center][color=#990000][img=升级后的单通道PID调节器,500,388]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/09/202209161611255867_7954_3221506_3.jpg!w690x536.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图2 升级后的单通道PID调节器[/color][/align]综上所述,解决方案通过对模数转换、数模转换、浮点运算精度和最小输出百分比的全面升级,可完美的实现防护热板法计量单元的电加热功率和温度的超高精度控制。同时,这种全新的超高精度工业用PID调节器也可能用于其他参数的精密控制,并具有很好的性价比。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

超高精度波长计相关的耗材

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    高精度波长计筱晓光子供应高精度波长计,SHR高精度波长计和SHR-IR近红外波长计可供选择。该系列激光波长计具有如下特点:测量精度高、光谱范围宽、结构紧凑、无移动部件、光纤耦合输入,应用于:连续激光波长测量、脉冲激光波长测量。SHR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range190-1100nmAbsolute accuracy±0.003nmSpectral resolution0.006nm for 193nm, 0.04nm at 1200nmSource linewidth requirement≤125см-10.5nm at 193nm, 18nm at 1200nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905 SHR-IR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range600-1800nmAbsolute accuracy±0.02nmSpectral resolution0.15nm for 600nm, 0.48nm for 1800nmSource linewidth requirement≤125см-14nm for 600nm, 40nm for 1800nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905
  • Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计
    本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围:1-5um;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0008 nm @ 1000 nm;测量速率:10Hz;最大带宽:10GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。 671A型是精确的,测量波长的精度为±0.2百万分之一(1000 nm时为±0.0002 nm)。对于不太严格的实验,671B型是一种价格较低的替代品,精度为±0.75百万分之一(1000 nm时为±0.0008 nm)为了保证波长测量的准确性,671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源,因为它的波长是众所周知的,并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度,671A系统使用单频HeNe激光器,该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中,使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入,波长高达2.6μm。自由空间光圈输入,具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件,用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。 五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波(重复频率10 MHz)波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1,2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm) IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯径9μm)-可选自由光束到光纤耦合器NIR2:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯直径7μm)-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR:准直光束,2-3mm直径孔径,可见示踪光束,便于对准仪表接口USB和以太网接口,带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库(SCPI)计算机要求 12运行Windows 10的电脑,1 GB可用RAM,USB 2.0(或更高版本)端口,显示器,定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸(高x宽x深)13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) (1) 定义为测量不确定度或最大波长误差,置信度≥99.7%。(2) 可追溯到公认的物理标准。(3) 对于671A,仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。(4) 对于671B,仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。(5) 波长分辨率大约是可重复性的两倍。(6) 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。(7) NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。(8) 带宽为FWHM。当带宽较大时,波长精度会降低。(9) 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。(10) 特性性能,但无担保。(11) IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。(12) 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。(13) IR和MIR仪器高度可调(7.25±0.25“),用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利,以改进其产品的设计。 规格如有更改,恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机
  • 偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源
    UV偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 偏振测定用超高精度样品池和长寿命光源 偏振测定用标准样品池 PerkinElmer偏振测定专用样品池是专为您量身打造的光谱样品池,它的窗口和池身相连以消除张力。这种特别的处理方式能避免传统设计中会影响测量精度的双折射效应。 每个样品池都经过单独测试,并且真实光程刻在样品池上,精确到 0.01mm。所有样品池都有保护套以保持恒温,而且容易进样和清空,不会有任何的样品损失。各种类型的样品池可以满足您各种用途的需要,包括短光程样品池,流通样品池和微量样品池。熔融硅(石英)样品池可用于紫外和可见光测量,并且能够在200° C高温下工作。玻璃样品池能够用于波长大于400nm的可见光。 石英 100mm 3.0mL B0507403 石英 100mm 6.2mL B0041696 石英玻璃 100mm 3.0mL B0507447 石英玻璃 100mm 6.2mL B0041693 微型样品池 光学玻璃 100mm 1.0mL B0017047 长寿命光源 所有的PerkinElmer分光计都拥有精心挑选的高质量光源,它们不仅能提供强大的辐射能而且具有很长的使用寿命,让您的分光计总是处于最佳工作状态。它们的高输出使得精确测量旋光度成为可能,哪怕是被测样品具有强吸光能力。 钠, 20W 341/343/343plus/341LC/241/241MC/243/243B B0008754 水银蒸气(St46) 341/343S/343plus/341LC B0510581 设备校验的第二石英标准 石英控制板提供可见光范围内的可追踪的设备定标,从而保证了所有测量达到最高精度标准。所有石英控制板都有耐热外壳。 Quartz Control Plate+1 +1° 589nm处 B0098800 Quartz Control Plate &ndash 1 &ndash 1° 589nm处 B0098799
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