射线能谱仪原理

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射线能谱仪原理相关的仪器

  • 备受赞誉的Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪(XPS)集合了卓越的性能、快速分析及杰出的化学灵敏度等优势。K-Alpha将前沿的单色化XPS优异性能与全智能自动化完美结合,尤其适合于多用户环境。K-alpha的易操作性,可同时满足经验丰富的XPS分析人员和初学者的需求。分析选项包括用于角分辨XPS数据采集的倾斜模块和用于空气敏感样品传输的可循环惰性气体手套箱。 强大的性能可选面积能谱深度剖析微聚焦单色器高分辨率化学态能谱快照采集绝缘样品分析定量化化学成像 无可比拟的易用性一键式样品导航和实验设定自动样品传输按需校准全能谱仪设定离子枪设定完全计算机操作 世界一流的软件 仪器控制 数据采集 数据解析 数据处理 报告生成 数据存档管理 审查跟踪日志 系统性能日志如您想了解更多关于K-Alpha X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 表面和界面分析充满了挑战,需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific Nexsa G2表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪,在保证数据质量和样品测试通量的同时,集成了其他分析技术。与所有 Thermo Scientific XPS 系统一样,Nexsa G2 系统也使用 Avantage 进行仪器控制、数据处理和报告生成。无论是在专业的研究实验室,还是在多用户环境中工作,Avantage 灵活易用、功能齐全、操作直观的特性,可帮助不同水平的用户实现样品分析。为什么选择 Nexsa G2 系统?高效的科研级能谱仪新型微聚焦单色化X射线源可实现以 5 μm 步长的 10 μm 至 400 μm 的 X 射线光斑大小连续可调,从而确保将分析束斑调节至与目标特征匹配,最大程度地增强信号。利用升级的X 射线源、高效的电子透镜和优化的检测器,可实现卓越的灵敏度和高效的数据采集。绝缘体分析Nexsa G2 系统上的一键式自动电荷补偿系统可轻松实现绝缘样品分析。专利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电,因为使用极低能量的电子,大多数情况下将无需进行荷电校正。深度剖析Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS(可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保卓越的性能和实验重现性。多技术联用使用 Nexsa G2 系统,所有技术将触手可及,一套系统全面分析您的样品。标准配置具备高性能 XPS 所需的所有功能,ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身。升级选项可将系统转换为完整的分析工作站,有助于解决材料分析问题,提高生产效率。特殊样品台可选Nexsa G2增加了多种样品台可选,以满足科研的特殊应用需求。特殊可选样品台有:NX 加热台,用于原位的样品加热分析;多触点偏压样品台,可实现样品在真空系统中的施加电压,偏压或循环电极后的XPS原位分析;惰性气体转移腔,可实现空气敏感样品的真空/惰性气体保护转移;MCA样品台,用于XPS+SEM的关联分析,实现XPS技术和电子显微技术对样品的同一个分析区域采集数据,并进行比对分析。如您想了解更多关于Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪(XPS)是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台,ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术,打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置,带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身,操作便捷,快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合,实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计,可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术,使得XPI成像分辨率达1um,所得数据无探测器背底特征,无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm~900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点,确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合,用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度,确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具,可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统,可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件,包括: 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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射线能谱仪原理相关的方案

射线能谱仪原理相关的论坛

  • X射线光电子能谱原理及测试分析

    X射线光电子能谱(XPS)作为一种非常有效的表面分析技术在材料、化学、化工等诸多领域具有重要应用,但其原理和相关概念相对于许多简单测试技术稍显复杂,很多初步接触者在XPS测试和数据分析中经常出现错误。本课程

  • X-射线光谱仪原理

    我现在从事X-射线光谱仪原理。。。的销售有朋友给偶讲讲 具体的原理吗》》或有什么详细资料给偶吗?、谢谢

射线能谱仪原理相关的耗材

  • 像散校正及X射线分析标样 602-15 TEM能谱标样
    用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘,可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明,但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。
  • 像散校正及X射线分析标样 602-15 TEM能谱标样
    用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘,可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明,但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。
  • X射线能谱标样
    53种矿物 该载物台包含53种精选的矿物和化合物(可提供分析数据),每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性,并且在真空、大气环境和电子束中性能稳定。有些人工合成的材料同质性更高。标准样矿物载物台都内置有法拉第筒(FC)。所有53种矿物材料均装在一个直径25mm、厚4mm的无磁不锈钢盘上,其具有理想的最大导电率和高真空兼容性。 1.钠长石NaAlSi3O828.硬玉NaAlSi2O62.贵榴石Fe3Al2Si3O1229.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti,Si6Al2O22(OH)23.硬石膏CaSO430.白铁矿FeS24.磷灰石Ca5(PO4)3F31.辉钼矿MoS25.重晶石BaSO432.独居石(Ce,La,Y,Th)PO46.蓝锥矿BaTiSi3O933.黑曜石Na,K,Al,Fe silicate glass7.黑云母K(Fe,Mg)3AlSi3O10(OH)234.橄榄石(MgFe)2SiO48.铯榴石CsSi2AlO635.斜长岩(Ca,Na)Al(Al,Si)Si2O89.溴碘化铊TlBr 42%, TlI 58%36.镍黄铁矿(Fe,Ni)9S810.钙蔷薇辉石(Mn,Ca)SiO337.红榴石Mg3Al2Si3O1211.方解石CaCO338.石英SiO212.锡石SnO239.蔷薇辉石MnSiO313.天青石SrSO440.金红石TiO214.赤铜矿Cu2O41.透长石KAlSi3O815.绿泥石Mg6AlSi3O10(OH)842.闪锌矿ZnS16.铬透辉石(Mg,Cr)CaSi2O643.锂辉石LiAlSi2O617.氧化铬FeCr2O444.辉锑矿Sb2S318.辰砂HgS45.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl19.方钴矿CoAs346.硅锌矿(ZnMn)2SiO420.赤铅矿PbCrO447.方晶锆石ZrO221.透辉石MgCaSi2O648.砷化镓GaAs22.白云石MgCa(CO3)249.氮化硼BN23.萤石CaF250.硒化铋Bi2Se324.方铅矿PbS51.钇铝石榴石Y3Al5O1225.赤铁矿Fe2O352.硅化镍Ni2Si26.磁铁矿Fe3O453.碲化锑Sb2Te327.方镁石MgO 44种金属 1.铍Be 12.铁Fe 23.钌Ru 34.钨W2.氮化硼BN 13.钴Co 24.铑Rh 35.铼Re3.碳C 14.镍Ni 25.钯Pd 36.锇Os4.镁Mg 15.铜Cu 26.银Ag 37.铱Ir5.铝Al 16.锌Zn 27.镉Cd 38.铂Pt6.硅Si 17.锗Ge 28.铟In 39.金Au7.钪Sc 18.砷化镓GaAs 29.锡Sn 40.溴碘化铊Tl(Br,I)8.钛Ti 19.硒Se 30.锑Sb 41.铅Pb9.钒V 20.锆Zr 31.碲Te 42.铋Bi10.铬Cr 21.铌Nb 32.铪Hf 43.钍Th11.锰Mn 22.钼Mo 33.钽Ta 44.铀U该载物台包含41种金属元素标准样和3种硬度超过金属的化合物,共计44种不同元素材料,适用于WDS、EDS和微探针仪器等。最初标准样是44种纯金属,后来由于硼、镓、铊在稳定性和制备方面的问题,我们开发了这几种金属的化合物。我们没有将这几种材料从载物台上去掉,而是保留了"44种金属"的特征。多年来,一直受到广大显微分析人士的赞赏和认可。 所有元素纯度不低于99%,多数甚至超过“99.99%”。我们可以为您提供具体的纯度列表。那些可用于现代“无窗”EDS系统和未被列入微量分析标准样的轻质元素,也包含在此产品中并内置法拉第筒。所有44种元素均装在一个直径25mm、厚4mm的不锈钢载物台上。该产品还可分割为3个直径12.5mm的不锈钢载物台,每个也内置有法拉第筒,适于连接到SEM载台。 能谱检测标样X射线能谱仪标样的主要功能:1.便于用户可以更好地对比和检验各个能譜厂家产品的优劣,有利于用户的订货和仪器的验收。2.有利于用户对正在使用中的能谱仪进行统一的仪器自检,及时了解仪器的状态,有利于分析测试参数的及时调整。因此,每个实验室自备一套能谱仪性能检验的标样十分必要。为满足这一需求,我们特研制了这一组合。 15种稀土金属及氟化物晶体 1.钇金属Y 6.钐金属Sm 11.钬金属Ho2.氟化镧LaF3 7.氟化铕EuF3 12.铒金属Er3.氟化铈CeF3 8.钆金属Gd 13.铥金属Tm4.氟化镨PrF3 9.铽金属Tb 14.镱金属Yb5.氟化钕NdF3 10.镝金属Dy 15.氟化镥LuF3SPI Supplies的十五种稀土元素标准样装载于一个直径1" (25mm)、高6mm的圆盘中,此载物台是UHV兼容的,并且可以适用于任何UHV系统。载物台经过碳镀覆,保证了金属或氟化物晶粒与导电地面之间的导电性。就象其它SPI标准样载物台一样,其也具有一个用于精确测量射束电流的法拉第杯(FC)。 该产品有直径0.5"(12.5mm)的型号。 15种稀土“五磷酸盐”晶体 我们现为X射线能谱仪(EDS)及波谱仪(WDS)微量分析系统提供一种独特的新型载物台,它是SPI现有优质微量分析标准样中又一个“专利”产品。该载物台含有15种稀土“五磷酸盐”,化学式均为ReP5O14,其使此15种不同的稀土元素都适用于EDS、WDS及备用的微探针仪器中。正如其他微量分析标准样一样,该标准材料也被装载于不锈钢载物台上与超高真空环境相兼容,且其表面镀有轻度碳层可以导电。我们也提供未经镀碳的载物台,但此时单独的标准样本就要装载于填充有导电树脂的铜块儿中。 特征:与其他替代产品一样, 这些稀土标准样也具有同样的化学式ReP5O14,其中稀土元素处于标准样常用浓度范围。如同其他精致标准样一样,在干燥环境中其抛光表面非常稳定,可以防止退化。组成该标准样的15种晶体化合物均获得中国微量分析协会(CMAS)的认证,作为一种有证参考物质(CRM)也达到了CMAS参考物质的标准。每一稀土(ReP5O14) 的实际尺寸都在0.5mm级,个别制造难度较大的稀土其尺寸可能只有0.2mm。尽管如此,他们均匀性相当好,而且CRM级别的经特殊合成用于微量分析应用。该标准样采用其他SPI微量分析标准样常用的格式:为便于识别和方便用于显微镜和微探针,每个有证参考物质(CRM)都内置法拉第筒并在背面用电子束刻有标识。该标识可是“普通”模式,也可是“镜像”标签模式。我们认为这种形式的标准样比纯金属、氧化物粉末、一些稀土元素(REE)或某些稀土(REE)卤化物在性能上要好很多。而个别纯稀土(REE)金属甚至根本不能使用,因为正常实验室中的水分就会使其迅速氧化,即使储藏于干燥器中也无法避免。稀土(REE)氧化物通常以微粒粉末形式存在,即使很短时间内其熔融物也不稳定。一些含量较低的稀土元素(REE)不能满足现实中样本分析的要求。这就是ReP5O14系列中15种样本受到多数EPMA实验室青睐的原因,也是我们相信该系列是客户最佳选择的理由。曾经使用过这种最新SPI微量分析标准样的客户告诉我们,此种标准样使分析师的分析过程更快捷、全面。因此,尽管这一新型稀土标准载物台在价格上高于最初稀土标准样,但综合考虑ReP5O14标准晶体化合物提供的卓越品质,我们相信它绝对物有所值。所购买的产品均附送一份详尽的手册,列明各种成分。每个标准样都附带一张照片及该物质的X射线光谱。查看每个标准样文件时,请注意一下我们更新的Spiffy Manuals?,即由我们制作的15稀土“五磷酸盐”标准样。我们保存了每个标准样的Acrobat PDF文档,以便您随时需要随时拷贝。 15种标准ReP5O14晶体化合物及其化学式组成如下: 稀土化合物组成 元素ReP5O14 Re2O3P2O5RePO1.镧LaP5O14 31.3168.5226.7029.9043.232.铈CeP5O14 31.6268.2927.0029.8043.113.鐠PrP5O14 31.7368.2827.1029.8043.114.钕NdP5O14 32.1967.8327.6029.6042.825.钐SmP5O14 32.9367.1428.4029.3042.376.铕EuP5O14 33.2366.9128.7029.2042.247.钆GdP5O14 33.7066.9129.3029.2042.188.铽TbP5O14 33.9666.0029.5028.8041.669.镝DyP5O14 34.4365.5430.0028.6041.3710.钬HoP5O14 34.5965.3130.2028.5041.2011.铒ErP5O14 34.7665.0830.4028.4041.0412.铥TmP5O14 34.7264.8530.4028.3040.8713.镱YbP5O14 35.0764.3930.8028.1040.5614.镥LuP5O14 36.0564.1631.7028.0040.5115.钇YP5O14 24.1375.8519.0033.1047.88贮藏条件 W我们建议将所有暂时不用的SPI Supplies人造微量分析标准样保存在干燥器中。随着时间的推移,有些元素会被侵蚀或氧化,虽然被侵蚀或氧化的过程会渐渐变缓。 59种金属/矿物组合 1.铍Be 16.锌Zn 31.碲Te 45.橄榄石(MgFe)2SiO42.氮化硼B 17.锗Ge 32.氟化钡BaF2 46.透辉石MgCaSi2O63.碳C 18.砷化镓GaAs 33.铪Hf 47.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti9Si6Al2O22(OH)24.镁Mg 19.硒Se 34.钽Ta 48.黑云母K(Mg,Fe)3AlSi3O10(OH)25.铝Al 20.锆Zr 35.钨W 49.硬玉NaAlSi2O66.硅Si 21.铌Nb 36.铼Re 50.透长石KAlSi3O87.钪Sc 22.钼Mo 37.锇Os 51.黑曜石Na, K, Al, Fe silicate glass8.钛Ti 23.钌Ru 38.铱Ir 52.锂辉石LiAlSi2O69.钒V 24.铑Rh 39.铂Pt 53.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl10.铬Cr 25.钯Pd 40.金Au 54.天青石SrSO411.锰Mn 26.银Ag 41.方铅矿PbS 55.铯榴石CsAlSi2O612.铁Fe 27.镉Cd 42.铋Bi 56.独居石(Ce,La,Th)PO413.钴Co 28.磷化铟InP 43.钍Th 57.辰砂HgS14.镍Ni 29.锡Sn 44.铀U 58.方解石CaCO315.铜Cu 30.锑Sb 59.磷灰石Ca5(PO4)3F内含59种惰性或高稳定性金属、矿物或化合物,既有合成物,也有纯品。每个载物台都附有一张简明图表,指明各标准样和套件的具体位置。通过电子束蚀刻的独有标签既方便用户识别,又方便样本批量生产。载物台高4mm,直径25mm,台体为不锈钢框架结构,内置标准法拉第筒。有时用户要求我们提供不含法拉第筒的载物台,为了降低一下产品的价格。其实,由于该产品已实现批量生产,其成本较低。如果我们单独制做一个特殊的、不含法拉第筒的载物台,其成本反而会更高。当然,我们愿意满足每一位用户的需求,但如果订量少于10个的话,不含法拉第筒的载物台绝对不会比含法拉第筒的价格低。 注意:目前也有带12.52mm中心孔的25mm圆盘载物台,以满足扫描电镜载台的需要。

射线能谱仪原理相关的资料

射线能谱仪原理相关的资讯

  • X射线光电子能谱(XPS)的原理及应用
    01 原理XPS是利用 X 射线辐射样品,使得样品的原子或分子的内层电子或者价电子受到激发而成为光电子,通过测量光电子的信号来表征样品表面的化学组成、元素的结合能以及价态。X 射线光电子能谱技术作为一种高灵敏超微量的表面分析技术,对所有元素的灵敏度具有相同的数量级,能够观测化学位移,能够对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析,广泛地应用于元素分析、多相研究、化合物结构分析、元素价态分析。此外在对氧化、腐蚀、催化等微观机理研究,污染化学、尘埃粒子研究,界面及过渡层研究等方面均有所应用。02 应用1 XPS在木质材料中的应用XPS 技术成为木质材料分析、应用领域的重要手段。XPS 对木材领域的分析不仅可以获得材料本身的元素组成和物质结构,而且对木材的修饰、应用等方面的研究有重要意义。运用 XPS的表层与深层分析,在木材加工、合成、防护等领域都有着重要作用,在测得材料成分的含量与性质后,也可以得知涂饰性能、风化特性、硬度、抗弯度等基本性质,再对木材分类以进行定向加工,这将极大提高木材的利用效率,扩大应用领域。2 XPS在能源电池中的应用麦考瑞大学黄淑娟和苏州大学马万里等人报道了在钙钛矿表面沉积同源溴化物盐以实现表面和本体钝化以制造具有高开路电压的太阳能电池的策略。与先前工作给出的结论不同,即FABr等同源溴化物仅与 PbI2反应在原始钙钛矿之上形成大带隙钙钛矿层,该工作发现溴化物也穿透大部分钙钛矿薄膜并使钙钛矿中的钙钛矿钝化。通过吸光度和光致发光 (PL) 观察到的小带隙扩大;在飞行时间二次离子质谱 (TOF-SIMS) 和深度分辨 X 射线光电子能谱 (XPS) 中发现溴化物元素比例的增加。各种表征证实了钙钛矿器件中非辐射复合的明显抑制。使用同种溴化物钝化的非封装器件在环境储存2500 小时后仍保持其初始效率的97%,在85°C下进行520小时热稳定性测试后仍保持其初始效率的59%。该工作提供了一种简单而通用的方法来降低单结钙钛矿太阳能电池的电压损失,还将为开发其他高性能光电器件提供启示,包括基于钙钛矿的串联电池和发光二极管 (LED)。3 XPS的表面改性物质表面的化学组成改变和晶体结构变形都会影响材料性能,如黏附强度、防护性能、生物适应性、耐腐蚀性能、润滑能力、光学性质和润湿性等。一种材料可能包含几种优良性能。XPS 分析技术广泛应用于材料的表面改性,主要有以下几点原因:(1) XPS对表面测量灵敏度高,用其进行表面改性是一种有效方法;(2) 由于 XPS分析技术可以获得相应的化学价态信息,因此通常用来检测改性时的表面化学变化;(3) 由于 XPS 只能检测样品表面 1~10 nm 的薄层,故 XPS 可以测量改性表层的化学组成分布情况。4 XPS在生物医学中的应用XPS 逐渐被应用在生物医学研究以及生物大分子的组成、状态和结构等方面。由于生物试样在制备过程中有一定难度,因此 XPS在医学上的应用仍处于探索阶段。03 来源文献[1]杨文超,刘殿方,高欣,吴景武,冯均利,宋浅浅,湛永钟.X射线光电子能谱应用综述[J].中国口岸科学技术,2022,4(02):30-37.[2]Homologous Bromides Treatment for Improving the Open-circuit Voltage ofPerovskite Solar Cells[J]. Advanced Materials, 2021.
  • 揭秘X-射线光电子能谱仪的应用
    随着对高性能材料需求的不断增长,表面工程也显得越来越重要。材料的表面是材料与外部环境以及与其它材料相互作用的位置,因此需要了解材料层表面处或界面处的物理和化学相互作用,才能解决与现代材料相关的问题。表面将影响材料的诸多方面,如腐蚀速率、催化活性、粘合性、表面润湿性、接触势垒和失效机理。表面改性可改变或改进材料性能和特性,使用表面分析能够了解材料的表面化学和研究表面工程的效果。从不粘锅涂层到薄膜电子学和生物活性表面,XPS成为表面材料表征的标准工具之一。XPS介绍XPS主要用于化学、材料、能源、机械等领域,可测试粉末、块状、纤维、薄膜等样品。其分析内容包括表面元素组成及化学态元素定性半定量分析、表面元素深度分析、表面元素分布分析等。例如用于钢铁表面钝化工艺评估,聚合物心脏支架表面药物元素的深度剖析,有机光电发光二级管(OLEDS)深度表征等。01XPS 原理用单色化射线照射样品,使样品中原子或分子的电子受激发射,然后测量这些电子的能量分布,通过与已知元素的原子或离子的不同壳层的电子的能量相比较,就可以确定未知样品表层中原子或离子的组成和状态。02仪器条件表面测试深度:金属:0.5-2nm,无机:1-3nm;有机:3-10nm元素测试范围:Li—U%元素检出限制:≥0.1at03样品要求1) 粉末:需要干燥,研磨均匀细腻;制样方法两种,胶带法需要样品20-30mg,压片法需要样品2g;块状:标清楚正反面,长宽高一般小于5*5*3mm;薄膜:标清楚正反面,注意保护好样品表面,长宽高一般小于5*5*3mm;2) 样品通常用自封袋送样,这样实际上并不好,容易出现污染,可以用离心管或者锡箔纸;3) 超高样品:需要切薄;4) 液体:最好涂敷在Si片上干燥后送样,注意有基底干扰,需要测试空白样;5) 磁性样品:有些机器无法测(磁透镜),一定注明是否有磁性;6) 空气敏感样品:手套箱制样;7) 生物细胞类:冷冻干燥后或在冷冻条件下测试;8) 样品禁忌:样品必须充分干燥,不接受低熔点或易分解的样品;磁性样品要消磁后测试;样品中不能含有卤素,易挥发性物质案例分析01 表面元素定性半定量测试每种元素都有各自的特征谱线,具有指纹特性,从而用于定性分析;通过灵敏度因子法计算峰面积,可以获得定量信息,然而元素灵敏度因子受很多因素影响,因此XPS测试结果为半定量结果;结合XPS分析软件可以轻松完成上述分析。案例:太阳能电池板小颗粒异物元素分析。由于样品很少(仅肉眼可见),EDS测试不能区分其中微量元素是锆或磷。后续采用XPS测试后,确认样品在EDS的出峰是磷元素而不含锆元素。02 价态分析(无机及金属材料)由于结合能反映元素的指纹信息,当原子周围的化学环境发生变化,元素内层电子结合能会随之变化。因此可根据结合能变化推测元素的化学结合状态,即元素及化学态的定性分析。03 有机官能团分析(有机材料)对客户关注有机官能团及其对应的元素,进行可能存在的官能团进行客观分析。值得注意的是,样品的有机官能团信息需由客户提供。案例:样品为石墨烯负载钼粉末,通过XPS对其中可能存在的有机物官能团团信息进行分析。04 深度剖析(纳米级膜厚度测试)通过Ar+枪对样品进行轰击,边轰击边测试,可以分析出元素成分在不同深度下的结果,并得到元素成分、价态随着深度变化的规律。05 UPS-XPS+UV(能带间隙分析)紫外光电子能谱 (UPS) 的操作原理同 XPS 一样,唯一的区别是 UPS 使用几十 eV 的电离辐射来诱导光电效应,而 XPS 则使用高于 1 keV 的光子。在实验室中,使用气体放电灯来生成紫外光子。气体放电灯通常填充氦气,但也可使用其它气体填充,如氩气和氖气。氦气发射的光子能量为 21.2 eV (He I) 和 40.8 eV (He II)。由于使用了更低能量的光子,UPS 不能获取大多数核心能级的光电发射,因此谱采集仅限于价带区域。使用 UPS 能进行两种类型的实验:价带采集和电子逸出功测量。案例:样品为半导体热压多晶发光材料,想通过XPS及相关性能测试样品的能带间隙大小,从而来表征半导体材料的性能:06 成像(元素XPS二维成像)XPS 不但能用于识别表面的点或微小特征区,还能用于样品表面成像。这对了解表面的化学状态分布很有帮助,可用于发现污染的限值以及检测超薄膜涂层的厚度变化情况。
  • EDAX公司2008年X射线能谱仪成都培训班通知
    尊敬的各位女士、先生: EDAX公司是国际上能谱仪(Energy Dispersive X-ray Microanalysis)、电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction)和微聚焦X-射线荧光能谱仪(Micro X-ray Fluorescence systems)技术的领先者。EDAX公司生产、销售和服务于高品质的产品和系统,应用于半导体、金属以及地质学、生物学、材料学和陶瓷等主要领域。 自1962年成立以来,EDAX公司利用其知识和专有技术,研发了超灵敏硅辐照传感器、数字电路和专用应用软件,促进了研究、发展和工业应用的进展。 EDAX公司现在是AMETEK集团公司的材料分析部。AMETEK集团公司是全球领先的电子仪器和电动马达的制造商,年销售额超过18亿美圆。 为了提高用户使用能谱的能力,以及考虑到一些公司人员的更新,增加用户之间的交流,EDAX公司拟于2008年10月20至10月24日,在四川省成都市西南交通大学,举办EDAX公司GENESIS能谱仪用户培训班。届时EDAX公司将派出技术人员进行讲授并解答技术问题。本基本培训内容如下: 1. 能谱仪的原理、使用、操作及维护。 2. 谱线分析,元素的定性、定量分析,以及提高分析准确性的有关技术问题。 3. 元素的面分布、线扫描及其它可选软件的使用。 培训课程安排见附页。 注意:参加培训班的食宿及差旅费自理。我们将协助各位联系住宿地。请在10月15日以前回电话、传真、E-mail 或将回执寄至我公司北京办公室李宜增女士收,电话、地址及邮编请见页脚(E-mail:yi.zeng.li@ametek.com.cn,手机:13601288716)。 成都地区EDAX公司联系人:陈杰,电话:028-68758111,手机:13880831139。 会议地点:镜湖宾馆会议室。上机地点:西南交通大学材料学院。 外地用户可于10月20日在酒店报到,当地用户可于10月21日在会议室报到。 此致 AMETEK公司北京代表处EDAX部门 2008年9月18日
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