光学经纬仪原理

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光学经纬仪原理相关的仪器

  • 经纬仪是一种根据测角原理设计的测量水平角和竖直角的测量仪器,分为光学经纬仪和电子经纬仪两种,目前最常用的是电子经纬仪。经纬仪是望远镜的机械部分,使望远镜能指向不同方向。经纬仪具有两条互相垂直的转轴,以调校望远镜的方位角及水平高度。经纬仪是一种测角仪器,它配备望远镜、水平度盘和读数的指标、竖直度盘和读数的指标。
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  • 电子经纬仪 400-860-5168转1430
    本系列电子经纬仪采用光电增量式测角系统,集光、机、电和计算机技术于一体实现了角度测量、显示、存储等多项功能,本电子经纬仪可同时显示水平和竖直角度,并可实现竖直角的斜率转换及竖直角度的倾斜补偿功能,测角精度为2 。在实现角度测量功能的同时,本电子经纬仪还可以与测距仪相接组成组合式电子速测仪。电子经纬仪配有数据输出接口,可将测量数据传输给外部计算机。本电子经纬仪可广泛应用于国家和城市的三、四等三角控制测量,电子经纬仪用于铁路、公路、桥梁、水利、矿山等方面的工程测量,电子经纬仪也可以用于建筑、大型设备的安装及地籍、地形测量和多种工程测量。光学经纬仪J2-211700元2¨ 正像,有手柄可连测距仪 J2-1光学经纬仪J29000元2¨ 倒像,自动补偿光学经纬仪TDJ2E9800元2¨ 正像,自动补偿,完美的光路系统光学经纬仪TDJ28800元2¨ 倒像,自动补偿光学经纬仪TDJ6E6200元6¨ 正像,自动补偿 TDJ6电子经纬仪DJD2-C8800元2¨ DJD2A激光经纬仪DJJ2-1GJ12800元2¨ 可正倒像,半导体激光器一机多用 电子经纬仪 DT-2 6000元 2秒正像
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  • 一、产品介绍高精度经纬仪专用检定装置能在室内很方便地对光学经纬仪、电子经纬仪进行检定、测试、和维修等工作,如对经纬仪水平角测角示值误差,光学对中器的视轴与竖轴的同轴度误差及经纬仪望远镜视准轴、横轴及竖轴等轴线几何关系,对望远镜调焦运行误差等进行检测,特别是解决了对经纬仪竖盘测角示值误差的检测,从而使它能按照经纬仪国家计量检定规程中的项目进行检定、校准。本仪器同时实现对水准仪i角、竖轴回转精度、交叉误差等项目进行检定、校准。高精度经纬仪专用检定装置采用一台立式多齿分度台(可选用程控多齿分度台)、一台卧式多齿分度合、一台检调管、一台自准直光管(作平行光管用)和仪器座组成。自准直光管焦平面上有刻线分划板,通过立式多齿分度台的转动,与平行光管一起构成任意角度水平方向无穷远目标,同样,通过卧式多齿分度台的转动,也能构成任意角度竖直方向无穷远目标,因此,它能很方便地模拟各种情况来对仪器进行检定。二、精度指标及技术参数1、水平角标准器的示值误差≤0.2″;2、竖直角标准器的综合示值误差≤1″;3、对中光学系统中设有0.6m及1.5m对中分划板,其等效格值均为2mm;4、工作高度:1.2m,即卧式多齿分度台轴线离地面高度;5、仪器工作台升降范围:300mm;6、定中心螺丝规格:M16及英制5/8英寸;7、照明灯泡规格:6.3V,2.1W;8、平行光管焦距:f=550mm,相对孔径1:10;9、外形尺寸:1060×920×1400 mm。三、结构特点1、高精度经纬仪专用检定装置采用卧式多齿分度台与平行光管能完成对经纬仪和水准仪各项目的检定,特别是能够实现对经纬仪竖盘可使用的全部范围进行检定,是目前国内能提供竖直角真值的装置;2、采用多齿分度台作为本仪器的角度标准,使得仪器量值溯源简单,该仪器只需通用仪器(多面棱体、自准直仪),用角度计量中常用的全组合排列互比法,即可检定出仪器的不确定度,且是在工作状态下进行检定,检定后不再改变仪器状态,溯源准确、可靠;3、高精度经纬仪专用检定装置具有自校功能,在检测水准仪i角时,可随时对标准角进行校准,一旦失准,能随时发现,且调整方便;4、在检定和校准经纬仪过程中,可以直接在工作台上一边校准、一边维修,不用每次都拆装,节省工作时间;5、无需专用地基,结构紧凑,占地面积小。四、《JJG 414-2011光学经纬仪检定规程》中7.2检定项目要求的检定项目与我公司产品标配可检项目对照序号检定规程项目我公司产品是否可检1.1外观及各部件的相互作用可检1.2水准器轴与竖轴的垂直度可检1.3照准部旋转正确性可检1.4望远镜十字分划板竖丝的铅锤性可检1.5视准轴与横轴的垂直度可检1.6横轴与竖轴的垂直度可检1.7竖盘指标差可检1.8望远镜调焦运行误差可检1.9光学对中器对中误差可检1.10竖盘指标自动补偿误差选配二维微倾台可检1.11ー测回水平方向标准偏差可检1.12一测回竖直角测角标准偏差可检此款高精度经纬仪专用检定装置和高精度水准仪专用检定装置配套使用欢迎访问
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  • 军用光学与短波通滤光片的秘密

    军用光学与短波通滤光片的秘密

    短波通滤光片:削去高频就是短波通滤光片。通常呢它有两种含义,一种是指滤掉光频率高的或者说是波长短的光,一种是只滤掉图像空间频率高的光而让空间频率光低的光通过。[img=,690,690]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710311601_01_3313006_3.jpg!w690x690.jpg[/img]军用光学:军用光学是从望远镜发明开始的,望远光祖是军用光仪的骨干,包括双眼望远镜、指挥镜、潜望镜、各种枪炮瞄准镜等。望远光组的反转是发送光到远方的探照灯、信号灯、红外光电话、红外光电报等。也可能使用光电变换器件,如夜视仪。光电跟踪仪、空间遥感CCD相机、热像仪。军用测绘仪器有激光自准直经纬仪、水平仪、方向盘、地面照相、航空照相、红外照相、照片判读等。另外,发(荧)光仪表盘、荧光分划板也在使用。还采用正在研究中已初见端倪的“死光“武器,军用侦查卫星上的多光谱扫描相机、干涉成像光谱仪,高速跟踪摄影及、激光信号模拟器等。减蓝:即黄。红与绿的混合色,在减色 混合中常作为一种减原色而称作减蓝。减绿:即品红。红与蓝的混合色,在减色混合中长作为一种减原色,称作减绿。减红:又称作青。用于减色混合中,只从白光中减去红色。

光学经纬仪原理相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 德国Hellma光学探头XP 12
    公司简介: Hellma德国成立于1922年。Hellma着重于研究与开发度光学元件,以配合瞬息万变的科技领域。Hellma一直以来和研究院、国际著名检测仪器制造商等保持密切的合作,为他们设计所需的比色皿与光学元件。Hellma现提供1700多种石英比色皿;Excalibur XP光学探头有一个弹性体密封的石英测量头,具有非常高的透射率。这种设计可实现特别准确和可靠的测量结果。此类别的基本型号有 12 毫米、20 毫米和 25 毫米的直径。您可以通过转到“自定义配置”来调整下面提到的标准配置以适应您的个人过程条件德国Hellma光学探头XP 12。德国Hellma光学探头应用领域:实验室、工艺、原材料工厂、过程分析特点:小体积 、 高传输、 具有高重现性的测量、非常高的路径长度精度、出色的传输、粗糙的工艺条件 、高压和高温; 德国Hellma光学探头1、测量原理:传输2、测量原理:反射式-法尔卡塔3、测量原理:反射-格拉迪斯4、测量原理:衰减全反射 (ATR)5、测量原理:荧光6、测量原理:拉曼
  • 化工原理实验仿真软件CES (以北化装置为原型)
    流程简述: 化工原理是化工、生物、食品、制药等专业必修课。化工原理实验是大部分学校必做的实验。因此化工原理实验被列为重点实验内容之一。东方仿真使用自主开发平台,利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程,通过3D仿真实验装置交互式操作,产生和真实实验一致的实验现象和结果。每位学生都能亲自动手做实验,观察实验现象,记录实验数据,验证公式、原理定理。另外,该系统还配备开放的标准实验思考题生成器。该系统分为教师站和学生站。通过网络,教师站上的监控和管理程序方便地对学生站运行的实验仿真软件进行实时的监控和管理。本仿真软件以北京化工大学实验装置为主,兼顾华东理工大学的实验装置。包括了所有典型的化工原理实验装置。培训工艺:1.1 、离心泵特性曲线测定1.2 、流量计的认识和校核1.3 、流体阻力系数测定1.4 、传热(水-蒸汽)实验1.5 、传热(空气-蒸汽)实验1.6 、精馏(乙醇-水)实验1.7 、精馏(乙醇-丙醇)实验1.8 、吸收(氨-水)实验一1.9 、吸收(氨-水)实验二1.10 、丙酮吸收实验1.11 、干燥实验1.12 、板框过滤实验建议配置:学员站:CPU:奔腾E2140或更强的CPU(或AMD Athlon X2 4000)内存:1G以上显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows XP SP2/SP3教师站:CPU:奔腾E5200或更强的CPU(或AMD Athlon X2 5000)内存:1G以上(推荐2G以上)显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows Server 2003 SP2网络要求:网络必须稳定通畅(统一式激活)

光学经纬仪原理相关的资料

光学经纬仪原理相关的资讯

  • 中国光学、仪器仪表奠基人王大珩先生逝世(图)
    “两弹一星功勋奖章”获得者,中国科学院院士、中国工程院院士,国际宇航科学院院士,著名光学家,我国近代光学工程的重要学术奠基人、开拓者和组织领导者,杰出的战略科学家、教育家王大珩先生,因病于2011年7月21日13时02分在北京逝世,享年96岁。   王大珩先生远见卓识,从战略高度上思考并联合其他科学家对国家科学技术发展提出多项重大建议。关于跟踪研究战略性高技术发展的建议,最后成为国家《高技术研究发展计划纲要》(简称“863”计划),使发展高科技成为实现我国科技现代化的一项重要战略部署。这些建议为国家科技决策发挥了积极作用,产生了深远影响。   王大珩先生也是杰出的教育家,他是中国光学、仪器仪表和计量科教事业的奠基人之一。在他领导的研究所以及他创办的院校,为国家培养了一大批科技英才。   王大珩先生的学术思想和他对国家光学、仪器、计量科学事业的贡献以及对国家科技发展战略的重大建议等等,都将载入史册。   王大珩先生1915年2月26日出生,祖籍江苏吴县。1936年毕业于清华大学物理系。1938年考取“庚款”留学生,在英国伦敦大学帝国理工学院应用光学专业学习,获理学硕士学位。1941-1942年在英国雪菲尔德大学玻璃制造技术系,攻读博士学位。1942-1948年在英国昌司玻璃公司从事光学玻璃研究工作。1948年回国。1949-1951年任大连大学教授,应用物理系主任。1951年到中国科学院工作,1952-1983年在长春从事光学仪器与工程研究,1983年调至中国科学院技术科学部工作。   王大珩先生历任中国科学院长春光学精密机械研究所所长,中国科学院长春分院院长,中国科学院技术科学部主任,中国科学院空间科学技术中心主任 解放军总装备部科学技术委员会顾问 长春光学精密机械学院院长,哈尔滨科学技术大学校长 中国科学技术协会副主席,北京市科学技术协会主席,中国光学学会理事长,中国仪器仪表学会理事长,中国计量测试学会理事长,中国高技术产业化研究会理事长等职。   王大珩先生1978年10月加入中国共产党。曾当选为中国共产党第十二次全国代表大会代表,全国人民代表大会第三、四、五、六届代表,全国人民政协第三、七届委员。   王大珩先生在光学与光学工程研究和组织领导工作中做出了杰出贡献。他主持150工程,领导研制我国第一台靶场装备大型精密光学跟踪电影经纬仪 主持718工程,领导研制我国第一台激光红外电视电影经纬仪和船体变形测量系统,为发展我国的尖端武器做出了杰出贡献。曾荣获国家科技进步特等奖,名列首位 何梁何利基金科学与技术成就奖、国家“两弹一星功勋奖章” 国家“863计划”特殊贡献先进个人称号。     (左起)王大珩、王淦昌、杨嘉墀、陈芳允    1994年2月,王大珩在基地光测设备前     蒋筑英在王大珩指导下进行研究工作
  • 王大珩:中国光学事业的先行者
    p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201802/noimg/cbea94a1-6c5a-4de6-9759-3881ac011e6d.jpg" title=" 2015225105237.jpg" / /p p   中国第一锅光学玻璃、第一台电子显微镜、第一台激光器、第一台大型光测装备的主持制作,第一个遥感科学规划的主持制订,中国工程院的建立...这些成就都离不开一个名字,王大珩——中国光学事业的先行者,一位用毕生精力推动中国光学事业发展的科学家。 /p p   1915年2月26日,王大珩出生于日本,祖籍江苏省吴县。他的父亲王应伟是一位天文与气象学家,早年旅居日本,回国后先后在北京观象台和青岛观象台工作。王大珩在读中学的时候,就常去观象台跟随父亲观测天文和气象,对使用科学仪器产生了极大的兴趣。这些少年时代的科学熏陶,对王大珩后来研究应用光学和光学玻璃,致力于中国的光学事业与仪器制造业有深远的影响。 /p p   1936年,王大珩从清华大学物理系毕业。两年后,他顺利考入留英公费生赴英国帝国理工学院攻读应用光学。随后,他又转入雪菲尔大学,在世界著名的玻璃学专家W.E.S特纳(Turner)教授指导下专攻光学玻璃。 /p p   王大珩是我国现代国防光学技术及光学工程的开拓者和奠基人之一。在他领导下,开拓与发展了靶场光学测试技术、激光技术及太阳地面模拟等国防光学技术领域。除此之外,他在我国中程地地导弹发射实验任务中任总工程师,提出工程总体方案,解决关键技术问题,一次研制成功,性能达到当时同类仪器的国际水平,满足了国防尖端武器试验的急需。他在G179、718经纬仪和船体变形测量系统,170跟踪望远镜,331电影经纬仪等研制任务中,对总体方案和技术路线进行指导,解决了许多关键技术问题。他还创办了中国科学仪器馆,后来发展成为了长春精密机械研究所。1986年,他又和王淦昌、陈芳允、杨嘉墀联名,提出发展高技术的建议(“863”计划)。 /p p   王大珩是光学技术发展的功臣,他以毕生之力开拓了中国光学事业发展的广阔天地 他用智慧之光为科技事业和国家发展殚精竭虑、指引方向。他胸怀坦荡,品德刚毅,用自己的言行为我们树立了一个标杆和旗帜。 /p p    a href=" http://www.instrument.com.cn/news/subject/201003/?SubjectID=126" target=" _blank" title=" 专题:缅怀中国仪器仪表奠基人王大珩院士" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 专题:缅怀中国仪器仪表奠基人王大珩院士 /span /a /p
  • 著名光学专家薛鸣球院士逝世
    日前,著名光学专家、中国工程院院士、中国共产党党员、苏州大学现代光学技术研究所研究员薛鸣球因病医治无效在苏州去世,享年84岁。11月14日,薛鸣球院士遗体告别仪式在苏州殡仪馆举行。   薛鸣球于1930年出生于江苏宜兴,1995年当选为中国工程院院士,是我国光学设计与光学仪器的代表性人物。他曾研究设计出我国第一台高精度经纬仪、第一台大口径高倍率远距离望远镜、第一台长焦距电视光学系统,为我国第一颗光学遥感侦察卫星设计相机光学系统。1985年获两次国家科技进步奖特等奖。2003年获中国载人航天工程总指挥颁发的&ldquo 中国首次载人航天飞行任务纪念证书&rdquo 。2005年,他负责研制的&ldquo 神舟5号CCD相机及研制用配套设备&rdquo 获得国家科学技术进步二等奖。

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