冷场电镜能谱仪检测

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冷场电镜能谱仪检测相关的仪器

  • FE-SEM获得的图像分辨率高,信息丰富,样品处理相对简单,并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构,因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来,以Materials Integration为代表,其应用领域及用途在不断扩展,短时间内获取大量数据,减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求,此次特推出的SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。 在细微结构分析中,SU8600可以实现低加速电压观察,对高分子等易受电子束照射影响的材料进行高分辨观察。该系列产品的特点如下:1.支持自动获取数据在FE-SEM的观察和分析中,需要根据测量样品与需求调整观察条件。调整所需时间的长短取决于用户的操作熟练度,这是造成数据质量与效率差异的因素之一。此系列产品标配自动调整功能,可避免人为操作导致的差异。此外,随着仪器性能的提升,需要获取的数据种类与数量也在增加,手动获取各种大量数据会大大增加用户的作业负担。此系列产品可选配“EM Flow Creator”,用户可根据自身需求设定条件,自动获取数据,这对于未来通过获取大量数据实现数据驱动开发起到重要作用。2.增加获取信息的种类与数量通过SEM能够收集到多种信号,且此系列产品最多可以同时显示和存储6个检测器的信号。在减少图像获取次数的同时能够获取多种信息。此外,为一次性获取大量信息,像素扩展到了40,960 x 30,720(选配),是之前型号的64倍。利用这一功能,可凭借一张数据图像有效评估多处局部的细微结构。3.增强信号检测能力 SU8600开发了多个新型选配检测器,加强了对凹凸信息、发光信息的检测能力。此外,还提高了背散射电子信号检测的响应速度。
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  • 日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。从2009年开始,中国先后购买了JEM-ARM200F进二十台,针对不同研究领域选用了不同配置。2017年6月日本电子株式会社推出了最新款的NEO ARM,采用自动球差校正软件、且低压下的分辨能力超强,适用范围进一步扩大,为材料科学研究提供了一个更全面分分析平台。
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  • 新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM&trade 200 II (JEM-Z200CA)正式发售2022/02/18日本电子株式会社(JEOL Ltd.)2022年2月18日正式公布新一代200KV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM&trade 200 II (JEM-Z200CA), 主要用于蛋白质的单颗粒分析,该电镜已于2022年1月陆续发货。研发背景不同的研究目的对电镜配置要求各异,在结构生物学中亦是如此。Tomography研究与单颗粒分析对电镜的要求也有区别,由于近年对我公司单颗粒分析电镜的需求猛增,我们专门设计了一款极具针对性的产品。 CRYO ARM&trade 200 II (JEM-Z200CA)不但配置了冷场发射电子枪,镜筒内的欧米伽能量过滤器等日本电子的独门绝技,还专门研制了一款高分辨极靴。主要特点1. 为单颗粒分析研究优化的电子光学系统 全新的高分辨极靴色差系数(Cc) 1.8 mm, 球差系数(Cs) 1.5mm,可获得高分辨兼顾高衬度的数据。配合冷场发射电子枪和欧米伽能量过滤器,CRYO ARM&trade 200 II可获得更好高分辨数据。2. 更好的可操作性 CRYO ARM&trade 200 II增加了欧米伽过滤器的自动校正系统和菲涅尔光环消减系统提高了可操作性。3. 更高的稳定性 CRYO ARM&trade 200 II的真空系统和冷冻系统进行了进一步优化,提高了整体的稳定性。主要技术指标电子枪冷场发射电子枪(Cold FEG)最高加速电压200 kV能量过滤器内置式欧米噶能量过滤器(New Omega Filter)样品冷却温度≤100K样品储存最多可储存12个样品.选购件JEOL 单颗粒自动采集软件(JADAS)等详情请咨询日本电子株式会社在中国的子公司捷欧路(北京)科贸有限公司及其分支机构
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冷场电镜能谱仪检测相关的方案

  • 日立扫描透射电镜 HF3300在原位催化中的应用
    近年来,在催化领域中,真实的催化反应过程成为广大学者研究热点。 原位扫描透射电镜能够实现时 观察 样品的反应过程,监测变化。 样品的反应过程,监测变化。其 中日立的 冷场300KV的HF3300型扫描透射电镜配备了独特的真空系统 (差分 泵)。
  • 日立扫描透射电镜HF3300在原位催化中的应用
    近年来,在催化领域中,真实的催化反应过程成为广大学者的研究热点。原位扫描透射电镜能够实现实时观察样品的反应过程,监测样品的变化。其中日立的冷场300KV的HF3300型扫描透射电镜配备了独特的真空系统(差分泵) 。气体可以直接通入样品室与样品进行反应,到达样品表面的压力最 高能够达到10Pa;配备的新型冷场枪更加稳定,亮度更强,发射电流更加稳定;宽真空范围二次电子探头的加入,能够实现同时观察样品的明场,暗场及二次电子像,从而实现对催化反应过程全方位的了解。
  • 扫描电镜能谱仪技术介绍
    能谱仪(Energy Dispersive Spectroscopy)简称能谱,用于样品微区元素的成分和含量分析,常与扫描电镜(SEM)或者透射电镜(TEM)搭配使用。经常使用扫描电镜可以知道,我们只要在样品表面选择感兴趣的区域,点击开始便可以获得样品表面元素成分及含量信息,非常的简单快捷。那么能谱分析的基本原理是什么呢?接下来小编带着大家深入探索。

冷场电镜能谱仪检测相关的论坛

  • 一般冷场发射电镜的灯丝噪音能持续多久?

    冷场发射电镜的灯丝不需要加热,容易吸附气体。在Flash将灯丝尖气体赶走以后,气体吸附与解吸附达到平衡前会有一段不稳定期,产生灯丝噪音,请问从flash结束到噪音结束这段时间能持续多久?

  • 【原创】关于冷场发射是否适合能谱分析的争论可以休矣!!!

    【原创】关于冷场发射是否适合能谱分析的争论可以休矣!!!

    各位板油,关于冷场发射电镜是否适合能谱分析,是否适合面扫描?这样的争论由来已久。最近我们在中科院某所安装了一台HITACHI S4800冷场发射电镜配布鲁克10平方毫米的SDD能谱仪器,话不多说,直接上图:请各位看图:1.安装照片:[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/05/200805152109_89564_1632693_3.jpg[/img]2.采集谱图纯钛样品,计数可达132kcps死时间14%,这样的计数,随便做什么都足够了。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/05/200805152114_89565_1632693_3.jpg[/img]

  • 【求助】冷场电镜的噪音问题

    【求助】冷场电镜的噪音问题

    [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/06/200906131514_155307_1758818_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/06/200906131515_155308_1758818_3.jpg[/img]在第2张照片上有明显的噪音,冷场4800电镜,大家有什么解决方法.

冷场电镜能谱仪检测相关的耗材

  • 扫描电镜能谱检测标样X-Checker
    扫描电镜能谱检测标样X-CheckerX-Checker检测标样保有全系列的标准物质,可以应用于监测SEM/EDS系统性能。若想在较短时间内检测手头仪器的的性能,请选择X-Checker。锰的最强峰的半峰宽分辨率测量铝和铜的光谱校准碳用于光谱的低值校准窗口探测器高、低放大倍率的两种镍栅格(用于校准图像处理软件和放大倍率)两种栅格用于校准图像处理软件和放大倍率,检测探测器窗口是否有真空油的污染氮化硼检测光谱低能量端的性能氟源(PTFE)检测光谱低能量端的分辨率铍(Be)栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度 规格:测量误差:±5%。样品台基底:铝。尺寸:周长:1"或25.4 cm;高:7.5 mm)镍载网孔径规格:40 μm x 40 μm、18 μm x 18 μm 产品信息:货号产品名称规格80058-STX-Checker™ , Standard 个80058-BNX-Checker™ , With Boron Nitride个80058-EX X-Checker™ , Extra 个
  • 扫描电镜专用场发射电子源9215736
    场发射电子源921 5736 ,这个型号的场发射灯丝,适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 亚硝胺检测冷阱替代装置过滤器
    背景介绍:亚硝胺是强致癌物,是最重要的化学致癌物之一,是四大食品污染物之一。食物、化妆品、啤酒、香烟中都含有亚硝胺。在熏腊食品中,含有大量的亚硝胺类物质,某些消化系统肿瘤,如食管癌的发病率与膳食中摄入的亚硝胺数量相关。当熏腊食品与酒共同摄入时,亚硝胺对人体健康的危害就会成倍增加。产品介绍:在亚硝胺检测过程中,样品前处理显得极为重要。当有些样品难以完全除去杂质时,英国Ellutia建议用户使用CTR——冷阱替代过滤器作为防护措施,以改善亚硝胺检测结果的重复性和准确性。冷阱替代过滤器的主要作用是过滤并且去除样品基质中的杂质,除了能够降低待测样品的噪音背景外,还能有效保护热能分析仪(TEA)主机的冷阱免受杂质物质干扰,延长整机的使用寿命。订货号描述数量(pk)32020007热能分析仪冷阱替代过滤装置1

冷场电镜能谱仪检测相关的资料

冷场电镜能谱仪检测相关的资讯

  • 国产冷场发射扫描电镜项目路演获佳绩 10月注册“国镜仪器”
    仪器信息网讯 11月下旬,第七届中关村国际前沿科技大赛华东赛区决赛在安徽合肥中安创谷全球路演中心拉开帷幕。其中,由科大硅谷招引落地企业合肥国镜仪器科技有限公司(冷场发射扫描电镜项目)在华东赛区总决赛中荣获佳绩,成功入围2024年5月份的全球总决赛。比赛现场,来自高校院所、投资机构、领军企业的9位专家受邀担任评委。经过评委专家的细致点评、公正赋分,最终,12家硬科技企业脱颖而出,成功入围第七届中关村国际前沿科技大赛华东赛区十二强。据悉,11月份,合肥国镜仪器科技有限公司也参加了由合肥物联网科技产业服务管理中心等主办的“Tech 7创新者项目路演(第6期)”活动,在活动中,新型台式场发射扫描电子显微镜项目总经理方小伟指出,SEM广泛应用于科学研究、工业开发、(第三方)检测等领域。国内市场规模约50亿,国外品牌占据90%市场份额,国内品牌目前聚集在低端产品部分。随着国内科研和产业水平升级,市场规模呈现快速增长状态,总规模预期数年内达百亿以上。电子枪是SEM的信号源,是SEM的核心部件,电子发射技术是SEM的核心技术,对设备性能有决定影响,SEM设备的代际一般用电子发射技术的代际来区分。技术每提升一代,性能将提升十倍。目前国产电镜技术水平主要停留在第一代热发射,第二代热场发射技术国外占据绝对优势,第三代冷场发射技术被国外垄断(日立),第四代纳米线冷场发射电镜则具有亮度高、单色性好、体积小巧、高性价比易维护等多项优势。关于国镜仪器据公开信息,合肥国镜仪器科技有限公司于2023年10月12日注册成立,企业法人为方小伟。经营范围包括:技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广;工程和技术研究和试验发展;新材料技术研发;仪器仪表制造;智能仪器仪表制造;电子测量仪器制造(除许可业务外,可自主依法经营法律法规非禁止或限制的项目)等。关于科大硅谷“科大硅谷”是聚焦创新成果转化、创新企业孵化、创新生态优化,以中国科学技术大学等高校院所全球校友为纽带,汇聚世界创新力量,发挥科技体制创新引领作用,立足合肥城市区域新空间打造的科技创新策源地、新兴产业聚集地示范工程。到2025年,汇聚中国科大和国内外高校院所校友等各类优秀人才超10万名;形成多层次基金体系,基金规模超2000亿元;集聚科技型企业、新型研发机构、科创服务机构等超1万家,培育高新技术企业1000家,上市公司和独角兽企业50家以上;形成一批可复制可推广的制度成果,成为全国科技体制创新的标杆。
  • JEOL发布新概念冷场发射透射电镜
    2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的EELS分析,可进行表面等离子共振(Surface Plasmon resonance)等近代物理研究; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。
  • 日本电子发布冷场发射12极子球差校正透射电镜新品
    2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™ 2),该电子显微镜将于2020年2月发布。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:1)提高了能谱分析效率到两倍以上。2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。(保证的STEM分辨率:300kV时53pm,80kV时96pm)**在配置STEM扩展轨迹像差(ETA)校正器时2 用于物镜的超宽极靴(WGP)能谱分析灵敏度超高,原位扩展极强。1)WGP极靴的能谱固体角为2.2 sr。2)WGP极靴宽度可达6mm,更方便进行各种类型的原位实验。3 JEOL开发的12极子球差(Cs)校正器和自动校正软件。1)FHP2极靴,GRAND ARM™ 2在300 kV时的STEM分辨率达到53 pm。2)WGP极靴,GRAND ARM™ 2在300 kV时的STEM分辨率达到59 pm。3)JEOL COSMO™ (自动校正软件)使快速,轻松执行像差校正成为可能。4 新式冷场发射枪(Cold-FEG)。GRAND ARM™ 2配备了新式Cold-FEG,可从电子源提供较小的能量散布。稳定性更好。5 减轻外部干扰的外壳这种新外壳是减少外部干扰(例如气流,室内温度变化和噪音)的标准。■ 主要规格保证分辨率HAADF-STEM图像:53pm(带ETA校正器和FHP2)电子枪:冷场发射枪(Cold-FEG)加速电压标准:300kV和80kV能量色散X射线光谱仪大面积SDD(158mm 2):可以使用双探测器创新点:1)更稳定的得到冷场发射电子枪; 2)更高级的自动球差校正软件 3)更高效的能谱分析功能 冷场发射12极子球差校正透射电镜
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