激光光束分析仪基本原理

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激光光束分析仪基本原理相关的仪器

  • 前言作为物质存在的第四种状态的等离子体通常由电子、离子和处于基态以及各种激发态的原子、分子等中性粒子组成。等离子体中带电离子间库伦相互作用的长程特性,是带电粒子组分的运动状态对等离子体特性的影响起决定性作用,其中的电子是等离子体与电磁波作用过程中最重要的能量与动量传递粒子,因此,等离子体中最重要的基本物理参数是电子密度及其分布以及描述电子能量分布的函数以及相应的电子温度。而对于中高气压环境下产生的非热低温等离子体来说,等离子体中的主要组分是处于各种激发态的中性粒子,此时除了带电粒子外,中性粒子的分布和所处状态对等离子体电离过程和稳定性控制也起着非常重要的作用,尤其是各种长寿命亚稳态离子的激发。为了可以充分描述等离子体的状态,在实验上不仅要对带电粒子的分布和运动状态进行诊断,如电子温度、电子密度、电离温度等参数,还需要对等离子体中的中性粒子进行必要的实验测量,来获得有关物种的产生、能量分布以及各个激发态布居数分布等信息,如气体温度、转动温度、振动温度、激发温度等参数。基于这种要求,结合相关学科的各种技术形成了一个专门针对等离子体开展诊断研究的技术门类,如对等离子体中电子组分的诊断技术有朗缪尔探针法(Langmuir Probe),干涉度量法(Interferometer),全息法(Holographic Method),汤姆逊散射法(Thomason Scattering, TS),发射光谱法(Optical Emmission Spectroscopy, OES)等,对离子组分的光谱诊断技术有光腔衰减震荡(Cavity Ring-Down Spectroscopy, CRDS)和发射光谱法(OES),而对中性粒子的光谱诊断技术包括了吸收光谱法(Absorption Spectroscopy, AS),发射光谱法(OES),单光子或者双光子激光诱导荧光(Laser Induced Fluorescence, LIF)等。 二、激光诱导荧光(LIF or TALIF)LIF在等离子体上的应用诊断开始于1975年左右,首先是由R.Stern和J.Johnson提出的利用LIF装置可以测量中性基团和离子的相对速度、速度分布函数等。90年代后,LIF被陆续应用到了ECR、ICR、磁控管、螺旋波HELIX、ICP以及微波驱动CVD等等离子体源中。2.1、 等离子体 LIF诊断的基本模型处于基态或亚稳态的粒子吸收具有一定能量的光子后被激发,再从激发态衰变为自旋多重度相同的基态或低能态时,就会发出荧光辐射。而荧光光强与粒子数成正比,因此,通过测量荧光光强,可以确定处于基态或亚稳态的粒子密度。由于这种荧光发射的时间长度低于微妙量级,必须采用脉冲宽度在纳秒量级的激光来激发荧光,这种诊断方法因此被称作激光诱导荧光(LIF)。图1. LIF基本原理图图1[1]为LIF的基本原理图,在一个三能级系统中:离子处于亚稳态时,当照射激光能量等于跃迁激发的能量,离子被泵浦到激发态。由于激发态不稳定,离子又会迅速退激到基态并辐射出荧光。在激发态上停留时间很短暂(一般只有几纳秒宽度)。由于离子不是静止的,根据多普勒效应可知,在激光传输方向上存在一个速度选择,只有在激光传输方向上满足一定速度的离子才能被特定频率的激光诱导激发:窄带激光束(ωlaser,κlaser)入射,在入射方向上,只有离子速度 和激光频率满足关系式 时,才能通过相应的激光激发被泵浦到激发态。对入射激光频率进行扫描变换,测量相应的荧光光强变化,就能得到亚稳态离子速度分布函数在入射激光方向上的投影。如果假定亚稳态离子温度和主体基态离子温度一致,离子速度分布函数等动力学参数即可获得。2.2、 典型LIF实验架构与世界上的LIF架构参考如图2所示,为典型的等离子体装置LIF诊断实验架构图。图2 典型的等离子体LIF诊断架构图因为基团和粒子的激发波长不同,因此我们选择了波长可调谐的纳秒脉宽染料激光器,通过添加不同的染料,输出不同的波长对被测试的粒子和基团进行激发,从而得到激光诱导的荧光衰减与光谱信号,这些信号经由相关的搜集光路被捕获到光谱仪与ICCD探测器组成的光谱探测系统中,从而得到光谱、强度与时间尺度的三维荧光光谱,让研究人员进行相关的分析。图中所用的DG535/645作为整个实验系统的时序控制装置。图3到图4为世界上比较典型的不同等离子体装置的LIF诊断情况。图3. University of Greifswald LIF诊断系统(H原子)图4. IHP LIF诊断系统2.3、典型的LIF波长选择举例对Ar等离子体和He等离子体放电,常用的激光器波长可调谐范围不需要太宽要测H(氢)等离子体,激光波长需要205nm测CF等离子体 需要261nm同时测 Ar等离子体的LIF,因为观测另一条谱线,所用的激光波长又是611nm的所以LIF的波长范围应该根据要观测的等离子体放电的气体种类及观测那条谱线来决定2.4、硬件配置推荐 根据用户需求,一般推荐的配置如下:1、染料可调激光器:可选配置从200-4500nm 宽范围调谐2、 光谱仪:Ø Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni-500I 或750I光谱仪搭配1200l/mm和1800l/mm的全息光栅Ø 207或者205高光通量光谱仪,搭配110*110mm 的大尺寸1200l/mm光栅和1800l/mm光栅2、 探测器: ICCD, 18mm 增强器,13*13mm 探测面;DG645:用于系统触发控制的时序单元其他光学平台及光路设计等 光电倍增管PMT/锁相放大器/ Boxcar 模块 等请咨询卓立汉光销售人员!参考文献[1] 赵岩, 柏洋, 金成刚, 等.激光诱导荧光在低温等离子体诊断中的应用[J]. 激光与红外, 2012, 4(42): 365-371.
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  • LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理,将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统,可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性,探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性,研究器件吸收与电荷生成的微区特性,以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点: 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格:系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例: 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图, 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图, 图示空间分辨率为50um。
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  • 所属类别: » 光学/激光测量设备 » 激光光束质量分析仪所属品牌:德国Cinogy公司1.5万元人民币! 高 品质激光光束分析仪! 让所有需要分析激光光束的客户均能用上最专业的激光光束分析仪! 以往激光光束质量分析仪偏高的价位使很多激光生产商及激光使用者望而却步。仔细分析其价格构成不难发现,传统光束质量分析仪提供非常多复杂但不实用的功能,绝大多数用户在使用中可能永远用不到这些功能。但目前各光束分析仪公司均将全部光束分析功能打包集成在一套软件中进行销售,导致客户等于是白白为这些可能永远用不上的功能而付费。 为满足普通用户的需求,德国著名光束质量分析仪厂商Cinogy公司日前推出了其划时代的 Cost-Effective激光光束分析仪 CinCam CMOS系列激光光束分析仪。 CinCam CMOS采用1288 x 1032像素高分辨率百万像素高灵敏度CMOS相机,动态范围2500:1,USB2.0高速传输组件,硬件性能上毫不妥协! USD直接供电、体积小巧(36mm x 36mm x 24mm)、重量轻(45g),使用更轻松! 为满足不同层次客户的要求,CinCam CMOS配套软件RayCi提供两个版本可供客户选择。分别是全功能版RayCi-Standard及基本版RayCi-Lite。RayCi-Standard全功能版提供所有光束分析仪应具备的分析功能,适合各种专业做激光研究的客户使用。基本版RayCi-Lite则提供各种光束分析所需各种基本分析及显示功能,可以为客户节省下绝大部分软件成本。 各种配件:CinCam CMOS激光光束分析仪采用标准的C-Mount设计,使各种附件的安装变得极为简单: l 紫外转换器(UV-Converter: 100nm-320nm)可实现紫外激光光束分析l 红外转换器(IR-Converter: 1495nm-1595nm)可实现红外波段光束分析。l 各种衰减器(Neutral Density Filter)l M^2测量用导轨l 扩束镜,缩束镜l 其他定制型光学器件CinCam CMOS激光光束分析仪可以被广泛用于:l Laser beam analysis of cw and pulsed lasers,l Quick control of laser modes and adjustment errors,l Test equipment for scientific research,l Near-Field and Far-Field analyses of lasers, LED devices and other light sources,l Integration in optical systems.相关产品惊爆价!1.5万元 激光光束分析仪CinCam CCD系列光束分析仪CO2激光光束分析仪M2(激光光束质量因子)测量系统35mm大口径激光光束分析仪
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激光光束分析仪基本原理相关的方案

  • 多参数监护仪的基本原理
    多参数监护仪的基本原理 监护仪功能各异, 其具体工作原理也不同,但一般都是通过传感器感应各种生理变化,然后放大器会把信息强化,再转换成电信息,这时数据分析软件就会对数据进行计算,分析和编辑,最后在显示屏中的各个功能模块显示出来,或根据需要记录,打印下来,当监测的数据超出设定的指标时,就会激发警报系统,发出信号引起医护人员的注意。硬件构成测量服务器(包括生理感受器(即传感器),信号放大器,数据模拟处理,数据分析处理,数据输出接口等。)数据分析及记录和警报系统
  • Focus Monitor光束质量分析仪
    Focus Monitor光束质量分析仪,基于机械式探针扫描原理,对大功率聚焦激光的光束质量进行测量,通过集成电子控制Z坐标轴实现对聚焦光束束腰的全自动测量,广泛应用于科研及工业加工领域。其最显著的特点是可以无损耗的对高功率聚焦光束的原始质量参数进行详细的测量和分析,可用来监测激光器出光质量,保证加工的精确度,同时还可以对光束系统及激光器的故障做及时的自检测,大幅度节约维修的时间成本,并且可增加光束系统的使用寿命。
  • 分光光度法基本原理及实验方法
    配制一系列不同浓度的标准溶液,在一定条件下显色,使用同样厚度的吸收池,测定吸光度,上然后以浓度为横坐标,吸光度为纵坐标作图,得一条直线,在同样条件下测出试样溶液的吸光度就可以从工作曲线上查出试样溶液的浓度。但在实际工作中经常发现标准曲线不成直线的情况,特别是当吸光物质的浓度高时,明显的向上或向下偏离标准曲线,这种情况称为偏离朗伯-比耳定律现象。

激光光束分析仪基本原理相关的论坛

  • 双光束紫外分光光度计基本原理与构造

    1.1基本原理 由光源D(或W)发出的复合光,经分光器G色散为单色光,此单色光经旋转扇形镜调制为1500转/分钟的交变信号,并分成S和R两束。此两束光分别通过样品池和参比池而到达接受器B。扇形镜构造如图2-2所示,R为反射光束,S为透射光束,D为不透也不反的背景,因此,由接受器(光电倍增管)输出如图2-3所示的电信号。与扇形镜同步旋转的编码器分别控制三路信号的通断,使之依次通过放大、转换及运算处理系统,并将扣除背景D之后的透射比输出。 2.2构造 由光源D(或W)发出的光能,经反射镜M1聚焦在入射狭缝S处。入射狭缝置于准光镜M2的前焦点上,故经M2反射后的光束变为平行光束,其相对口径为D/f=1/7.5。经光栅G(1200L/mm)色散后,由M3聚焦在出射狭缝S`处。这一单色器采用了对称式布置的Zeny-Turner系统。从而保证了轴外象差的自动平衡和较低的杂散光。M2与M3是完全相同的一对球面镜,保证了光路系统的完全对称。 在入射狭缝前,置有消除高级次光谱的截止滤光片F,扫描过程中,滤光片自动切换。 通过出射狭缝的单色光,经M4反射及旋转扇形镜(CH)调制后,交替投射在反射镜M5、M6上,从而使光束分成频率为25C/S的双光束(及R和S两束光),它们经M5、M6分别聚焦在样品池和参比池上,通过样品池和参比池后,再经过M7、M8交替会聚到光电倍增管的接受面上。因为该仪器采用了双光束不等比100%T自动平衡原理,两束光是从不同角度入射到接受器靶面的。 旋转扇形镜(CH)的结构如图3-2所示,在3600范围内分作四部分,1/4为反射部分,1/4为透射部分,其余为既不透射也不反射的背景。当反射部分进入光路时,参比光束到达接受器,而当透射部分进入光路时,则样品光束到达接受器。当背景反射不可能完全为0时,将有一个很低电平的信号输出,因而接受器输出了如图3-3所示的电信号。 2.2.4光源转换 仪器光源由氘灯和溴钨灯组成,换灯波长可在340-360nm之间选择,通常情况下为360nm。本仪器的光源转换是通过转动反射聚焦镜M1实现的。M1的转动则是由微机控制步进电机驱动的。M1的转动中心线与电机轴线一致,在灯座旁设有检零片,当检零片通过光电开关时,就给出了步进电机转动的初始位置,其结构原理如图2-9所示。 2.2.5电路原理 被调制的光信号投射在光电倍增管上,转换成相应的电信号,由于光电倍增管是一种高阻抗电流器件,所以前置放大器采用高阻抗输入,以转换成电压信号,并线形地进行适度放大。被放大了的模拟信号,馈入A/D转换单元,转换成数字量,最终通过微型计算机进行适当的数据处理,并通过终端装置显示或打印出被测样品的谱图。为了提高整机系统的测光精度,A/D转换采用12bit集成电路,其转换精度达1/4096。 为了能够有效地进行信号分离工作,将产生同步信号的旋转编码器与产生调制光信号的扇形镜同步运转,这样同步信号永远地与扇形镜的调制频率同步,从而完成仪器一系列横坐标控制功能。 仪器在波长扫描过程中,自动的改变负高压电平,从而平稳地进行整机系统增益的调节,以保证仪器正常地进行工作。

  • 红外线气休分析仪的基本原理

    红外线气休分析仪的基本原理是基于某些气体对红外线的选择性吸收。红外线分析仪常用的红外线波长为2^12Hm。简单说就是将待测气体连续不断的通过-定长度和容积的容器,从容器可以透光的两个端面的中的一一个端面一侧入射一束红外光,然后在另-个端面测定红外线的辐射强度,然后依据红外线的吸收与吸光物质的浓度成正比就可知道被测气体的浓度。本项目中采用的是ABBA02000系列仪表,配以URAR26红外模块。朗伯一比尔定律一其物理意义是当一束平行单色光垂直通过某一均匀非散射的吸光物质时其吸光度与吸光物质的浓度及吸收层厚度成正比。这就是红外线气体分析仪的测量依据。红外线气体分析仪的特点1、能测量多种气体:除了单原子的惰性气体和具有对称结构无极性的双原子分子气体外,CO、C02、NO、N02、NH3等无机物、CH4、C2H4等烷烃、烯烃和其他烃类及有机物都可用红外分析仪器进行测量 2、测量范围宽:可分析气体的。上限达100%,下限达几个ppm的浓度。进行精细化处理后,还可以进行痕量分析 3、灵敏度高:具有很高的监测灵敏度,气体浓度有微小变化都能分辨出来 4、测量精度高:一般都在+/-2%FS,不少产品达到+/-1%FS。与其他分析手段相比,它的精度较高且稳定性好 5、反应快:响应时间一般在10S以内6、有良好的选择性:红外分析仪器有很高的选择性系數,因此它特别适合于对多组分混合气体中某--待分析组分的测量,而且当混合气体中-种或几种组分的浓度发生变化时,并不影响对待分析组分的测量。[b][color=#ffffff]更多参考:分析仪http://www.china-endress.com[/color][/b]

激光光束分析仪基本原理相关的耗材

  • ML4515 M2激光光束质量分析仪
    ML4515 M2激光光束质量分析仪1秒内的M2激光光束质量分析仪是用于测量连续及脉冲激光光束质量参数M2的。它运用高分辨率数字摄像头精确的测定激光光束直径。 beamlux II高级软件包里新M2模块评测出M2为± 3%精度。为预调整产品且易于匹配。当高测量率 5Hz时,激光的测试,调整及优化都可在线进行。规格 CW-扫描测量激光线的整套系统CW扫描系统包括beamlux II CW扫描软件,ML3743摄像头,ML8010电机控制器及一个线型工作台。 FM100焦点监测器适用于高功率密度激光光束及激光光斑FM 100焦点监测器是一个小型光束质量分析仪系统,它由标准ML3743摄像头,ML1201 beamlux II 高级软件及高功率衰减器组成。可高精度地评估高达100W的激光光束及激光光斑。中性密度滤光镜可轻易的变换,以便降低功率来适应CCD摄像头的标准(滤光轮可选)。放大率在5x, 10x, 20x的近场透镜适用于Nd Yag和准分子激光器。特点高功率激光器适用高功率密度激光光斑适用紧凑型装置中性密度滤光镜可互换高放大倍数及高数值孔径的近场透镜规格
  • Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计
    本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围:1-5um;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0008 nm @ 1000 nm;测量速率:10Hz;最大带宽:10GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。 671A型是精确的,测量波长的精度为±0.2百万分之一(1000 nm时为±0.0002 nm)。对于不太严格的实验,671B型是一种价格较低的替代品,精度为±0.75百万分之一(1000 nm时为±0.0008 nm)为了保证波长测量的准确性,671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源,因为它的波长是众所周知的,并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度,671A系统使用单频HeNe激光器,该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中,使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入,波长高达2.6μm。自由空间光圈输入,具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件,用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。 五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波(重复频率10 MHz)波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1,2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm) IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯径9μm)-可选自由光束到光纤耦合器NIR2:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯直径7μm)-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR:准直光束,2-3mm直径孔径,可见示踪光束,便于对准仪表接口USB和以太网接口,带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库(SCPI)计算机要求 12运行Windows 10的电脑,1 GB可用RAM,USB 2.0(或更高版本)端口,显示器,定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸(高x宽x深)13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) (1) 定义为测量不确定度或最大波长误差,置信度≥99.7%。(2) 可追溯到公认的物理标准。(3) 对于671A,仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。(4) 对于671B,仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。(5) 波长分辨率大约是可重复性的两倍。(6) 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。(7) NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。(8) 带宽为FWHM。当带宽较大时,波长精度会降低。(9) 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。(10) 特性性能,但无担保。(11) IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。(12) 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。(13) IR和MIR仪器高度可调(7.25±0.25“),用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利,以改进其产品的设计。 规格如有更改,恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机
  • 主动激光束稳定系统 (激光束的调整、稳定、定位和对准,含转向镜,探测器等电子组件)
    原理简介简洁型激光稳定系统可用于抵消或纠正由振动、冲击震动、热量漂移,或其他对激光方位有不良影响的因素引起的变化。该系统可应用于所有激光设备和激光系统中。如果激光系统中有您不期望的波动或移位,而您的激光应用需要有很高的精确性和稳定性,那么激光稳定系统可帮助您来达到这一目的。 激光方位是由探测器来确定的。探测器可以是一个四象限光电二极管(4- QD) 或 一个PSD。该稳定系统只需利用用户设备中已有的高反光镜后的一小部分微弱的透射光就足以来稳固激光。 图 1 激光稳定原理 系统中的一个闭循环控制器不断探测激光光线的实际方位与应有方位的偏差,同时借助于一个快速传动装置使一个转向镜把激光光线稳定在所需位置上。 两个不同型号的系统可提供用户使用。“双轴控制系统”包括一个探测器和一个转向镜,其中转向镜可 在两个不同方向轴上转动。这样,激光的位置就可通过转向镜的转动被确定在由探测器设定的位置上。但这种情况下,激光的方向还会有偏移的可能。因为即使激光最后射到探测器上的位置虽然一致,但 该光线射到转向镜上的点位还是可以不同,所以这个系统只能定位但不能定向。相比之下“四轴控制 系统”包含两个探测器和两个转向镜。此系统中两个探测器把激光固定在两个不同的预先确定的位置 上。由此激光的位置和方向都被稳固住了。独立系统,可轻松安装到激光束路径。它的特点是简单的处理和集成。紧凑型系统可实现可靠且非常精确的光束位置和方向稳定性,并可补偿干扰。压电驱动反射镜可以放置在装置现有反射镜的位置。 我们提供用于实时稳定、对准、定位和调整激光束的系统。我们的系统极其精确、快速且非常稳定。不需要用户交互。它们配备有用的操作和安全功能,可快速集成到不同的激光器设置中。使用我们的光束稳定系统,激光始终稳定在所需的目标位置和光束方向。请不要犹豫与我们联系。我们期待在选择、规划和整合方面为您提供帮助。 技术参数典型应用非常精确、快速和可靠的光束对准主动光束位置和光束方向控制激光束指向补偿精确的运动和振动控制自动调整激光束将激光束快速传送到不断变化的应用OEM 解决方案:例如激光材料加工中的在线精度控制 特征有源闭环控制模拟系统内核以最低的相移实现最高的控制性能无需数字化步骤的最高分辨率无需用户交互,无需计算机提供 USB 接口(以太网、RS-232)和软件连续和脉冲激光器的精确定位也适用于超短脉冲激光器(ps、fs) 提供 OEM 版本优异的性价比

激光光束分析仪基本原理相关的资料

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  • 各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法
    紫外吸收光谱UV   分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中电子能级的跃迁   谱图的表示方法:相对吸收光能量随吸收光波长的变化   提供的信息:吸收峰的位置、强度和形状,提供分子中不同电子结构的信息   荧光光谱法FS   分析原理:被电磁辐射激发后,从最低单线激发态回到单线基态,发射荧光   谱图的表示方法:发射的荧光能量随光波长的变化   提供的信息:荧光效率和寿命,提供分子中不同电子结构的信息   红外吸收光谱法IR   分析原理:吸收红外光能量,引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁   谱图的表示方法:相对透射光能量随透射光频率变化   提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率   拉曼光谱法Ram   分析原理:吸收光能后,引起具有极化率变化的分子振动,产生拉曼散射   谱图的表示方法:散射光能量随拉曼位移的变化   提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率   核磁共振波谱法NMR   分析原理:在外磁场中,具有核磁矩的原子核,吸收射频能量,产生核自旋能级的跃迁   谱图的表示方法:吸收光能量随化学位移的变化   提供的信息:峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数,提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息   电子顺磁共振波谱法ESR   分析原理:在外磁场中,分子中未成对电子吸收射频能量,产生电子自旋能级跃迁   谱图的表示方法:吸收光能量或微分能量随磁场强度变化   提供的信息:谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数,提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息   质谱分析法MS   分析原理:分子在真空中被电子轰击,形成离子,通过电磁场按不同m/e分离   谱图的表示方法:以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化   提供的信息:分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度,提供分子量,元素组成及结构的信息   气相色谱法GC   分析原理:样品中各组分在流动相和固定相之间,由于分配系数不同而分离   谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化   提供的信息:峰的保留值与组分热力学参数有关,是定性依据 峰面积与组分含量有关   反气相色谱法IGC   分析原理:探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力   谱图的表示方法:探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线   提供的信息:探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数   裂解气相色谱法PGC   分析原理:高分子材料在一定条件下瞬间裂解,可获得具有一定特征的碎片   谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化   提供的信息:谱图的指纹性或特征碎片峰,表征聚合物的化学结构和几何构型   凝胶色谱法GPC   分析原理:样品通过凝胶柱时,按分子的流体力学体积不同进行分离,大分子先流出   谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化   提供的信息:高聚物的平均分子量及其分布   热重法TG   分析原理:在控温环境中,样品重量随温度或时间变化   谱图的表示方法:样品的重量分数随温度或时间的变化曲线   提供的信息:曲线陡降处为样品失重区,平台区为样品的热稳定区   热差分析DTA   分析原理:样品与参比物处于同一控温环境中,由于二者导热系数不同产生温差,记录温度随环境温度或时间的变化   谱图的表示方法:温差随环境温度或时间的变化曲线   提供的信息:提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息   TG-DTA图   示差扫描量热分析DSC   分析原理:样品与参比物处于同一控温环境中,记录维持温差为零时,所需能量随环境温度或时间的变化   谱图的表示方法:热量或其变化率随环境温度或时间的变化曲线   提供的信息:提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息   静态热―力分析TMA   分析原理:样品在恒力作用下产生的形变随温度或时间变化   谱图的表示方法:样品形变值随温度或时间变化曲线   提供的信息:热转变温度和力学状态   动态热―力分析DMA   分析原理:样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化   谱图的表示方法:模量或tg&delta 随温度变化曲线   提供的信息:热转变温度模量和tg&delta   透射电子显微术TEM   分析原理:高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出图象   谱图的表示方法:质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象   提供的信息:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等   扫描电子显微术SEM   分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象   谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等   提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等   原子吸收AAS   原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光,从而使用检测器检测到的能量变低,从而得到吸光度。吸光度与待测元素的浓度成正比。   (Inductivecouplinghighfrequencyplasma)电感耦合高频等离子体ICP   原理:利用氩等离子体产生的高温使用试样完全分解形成激发态的原子和离子,由于激发态的原子和离子不稳定,外层电子会从激发态向低的能级跃迁,因此发射出特征的谱线。通过光栅等分光后,利用检测器检测特定波长的强度,光的强度与待测元素浓度成正比。   X-raydiffraction,x射线衍射即XRD   X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。   满足衍射条件,可应用布拉格公式:2dsin&theta =&lambda   应用已知波长的X射线来测量&theta 角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析 另一个是应用已知d的晶体来测量&theta 角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。   高效毛细管电泳(highperformancecapillaryelectrophoresis,HPCE)   CZE的基本原理   HPLC选用的毛细管一般内径约为50&mu m(20~200&mu m),外径为375&mu m,有效长度为50cm(7~100cm)。毛细管两端分别浸入两分开的缓冲液中,同时两缓冲液中分别插入连有高压电源的电极,该电压使得分析样品沿毛细管迁移,当分离样品通过检测器时,可对样品进行分析处理。HPLC进样一般采用电动力学进样(低电压)或流体力学进样(压力或抽吸)两种方式。在毛细管电泳系统中,带电溶质在电场作用下发生定向迁移,其表观迁移速度是溶质迁移速度与溶液电渗流速度的矢量和。所谓电渗是指在高电压作用下,双电层中的水合阴离子引起流体整体地朝负极方向移动的现象 电泳是指在电解质溶液中,带电粒子在电场作用下,以不同的速度向其所带电荷相反方向迁移的现象。溶质的迁移速度由其所带电荷数和分子量大小决定,另外还受缓冲液的组成、性质、pH值等多种因素影响。带正电荷的组份沿毛细管壁形成有机双层向负极移动,带负电荷的组分被分配至毛细管近中区域,在电场作用下向正极移动。与此同时,缓冲液的电渗流向负极移动,其作用超过电泳,最终导致带正电荷、中性电荷、负电荷的组份依次通过检测器。   MECC的基本原理   MECC是在CZE基础上使用表面活性剂来充当胶束相,以胶束增溶作为分配原理,溶质在水相、胶束相中的分配系数不同,在电场作用下,毛细管中溶液的电渗流和胶束的电泳,使胶束和水相有不同的迁移速度,同时待分离物质在水相和胶束相中被多次分配,在电渗流和这种分配过程的双重作用下得以分离。MECC是电泳技术与色谱法的结合,适合同时分离分析中性和带电的样品分子。   扫描隧道显微镜(STM)   扫描隧道显微镜(STM)的基本原理是利用量子理论中的隧道效应。将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近时(通常小于1nm),在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。这种现象即是隧道效应。   原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,简称AFM)   原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端,微悬臂的另一端固定,当探针在样品表面扫描时,探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形,这样,微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器,可以精确测量微悬臂的微小变形,这样就实现了通过检测样品与探针之间的原子排斥力来反映样品表面形貌和其他表面结构。   俄歇电子能谱学(Augerelectronspectroscopy),简称AES   俄歇电子能谱基本原理:入射电子束和物质作用,可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量,可能以X光的形式放出,即产生特征X射线,也可能又使核外另一电子激发成为自由电子,这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射:特征X射线或俄歇电子。原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。
  • 同步热分析仪:基本原理、工作流程及实际应用
    同步热分析仪是一种重要的材料科学研究工具,它可以同时提供热重(TG)和差热(DSC)信息,对于材料科学研究与开发具有重要意义。本文将介绍同步热分析仪的基本原理、工作流程及其在实际应用中的意义和作用。上海和晟 HS-STA-002 同步热分析仪同步热分析仪的基本原理是基于热重和差热分析技术的结合。热重分析是一种测量样品质量变化与温度关系的分析技术,可以研究样品的热稳定性、分解行为等。差热分析是一种测量样品与参比物之间的温度差与时间关系的分析技术,可以研究样品的相变、反应热等。同步热分析仪将这两种分析技术结合在一起,可以在同一次测量中获得样品的热重和差热信息,从而更全面地了解样品的热性质。同步热分析仪的工作流程包括实验前的准备、实验过程中的操作和数据处理等步骤。实验前需要选择合适的坩埚、样品和实验条件,将样品放入坩埚中,然后将坩埚放置在仪器中进行测量。在实验过程中,仪器会记录样品的重量变化和温度变化,并将这些数据传输到计算机中进行处理和分析。数据处理包括绘制热重曲线和差热曲线、计算样品的热性质等。同步热分析仪在实际应用中具有广泛的意义和作用。它可以帮助科学家们更好地了解材料的热性质和化学性质,从而为材料的开发和应用提供重要的参考。例如,在研究高分子材料的合成和加工过程中,同步热分析仪可以用来研究材料的熔融、结晶、氧化等行为,从而指导材料的制备和加工过程。此外,同步热分析仪还可以在药物研发、陶瓷材料等领域得到广泛应用。
  • 综合热分析仪:基本原理、应用场景
    综合热分析仪是一种广泛应用于材料科学、化学、物理等领域的仪器,能够同时测量物质的多种热学性质、设备综合热重分析仪TGA及差示扫描量热仪DSC等。本文将介绍综合热分析仪的基本原理、应用场景及其优劣比较。上海和晟 HS-STA-002 综合热分析仪综合热分析仪的基本原理是热平衡法,即通过加热和冷却待测物质,并记录物质在不同温度下的热学性质。在具体操作中,将待测物质放置在加热炉中,加热炉会按照设定的程序进行加热和冷却,并使用热电偶等传感器记录物质在不同温度下的热学性质。通过数据处理软件,可以将这些数据转化为物质的热容、热导率、热膨胀系数等参数。综合热分析仪在各个领域都有广泛的应用。在材料科学领域,可以利用综合热分析仪研究材料的热稳定性、相变行为等性质,以确定其加工和制备工艺;在化学领域,可以利用综合热分析仪研究化学反应的动力学过程和反应速率常数,为新材料的开发和优化提供依据;在物理领域,可以利用综合热分析仪研究物质的热学性质和物理性能,为新技术的开发和应用提供支持。综合热分析仪的优点在于其能够同时测量物质的多种热学性质,且测量精度高、重复性好。此外,综合热分析仪还具有操作简便、自动化程度高等特点,可以大大减少实验操作的时间和人力成本。然而,综合热分析仪也存在一些缺点,如价格昂贵、维护成本高、对实验条件要求严格等。总之,综合热分析仪是一种重要的仪器,具有广泛的应用场景和优劣比较。在实际使用中,应根据具体需求选择合适的综合热分析仪,以获得更准确的实验结果。随着科技的不断发展,相信未来综合热分析仪将会在更多领域得到应用,并推动材料研究和开发的进步。
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