射线衍射仪定量分析原理

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射线衍射仪定量分析原理相关的仪器

  • D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标: ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围:-110~168°●角度精度:0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 ●探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸:1868x1300x1135mm ●重量:770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化(DBO)布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有高计数率和好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余K?和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证:交货时保证无坏道!应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射
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  • X射线衍射仪XRD 400-860-5168转5919
    一、产品概述:智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。二、设备用途/原理:设备用途1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8.微区样品的分析。工作原理X射线衍射仪的工作原理基于布拉格定律。当X射线照射到晶体样品时,晶体内部的原子平面会引起X射线的衍射。通过测量不同衍射角度下的强度,仪器能够绘制出衍射图谱。根据衍射图谱中的峰值位置和强度,研究人员可以确定样品的晶体结构、相组成以及其他晶体特性。这一过程通常需要高度精确的旋转和检测系统,以确保数据的准确性和可靠性。
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  • 智能X射线衍射仪 400-860-5168转0879
    &bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)&bull 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件(理学独有)&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利)&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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射线衍射仪定量分析原理相关的方案

  • 矿物的X射线衍射测试报告
    本实验中,使用浪声映SHINE型X射线衍射仪进行测试,将岩石制成150-200目的粉末样品,在给定的测试条件下,用X射线衍射仪对样品进行扫描 ,取得相应岩石的X射线衍射图谱 ,利用软件进行矿物定性解 译和半定量分析。
  • 奥龙集团:利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
    一、实验目的1.概括了解X射线衍射仪的结构及使用。2.练习用PDF(ASTM)卡片及索引对多相物质进行相分析。二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。图实2-1为日本理光光学电机公司生产的D/max-B型自动化衍射仪工作原理方框图。入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样( )及探测器(2 )进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
  • 爆炸物的X射线荧光定性-定量分析
    通过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析,可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器(SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪,非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析,操作简单,方便快捷,无需复杂的化学前处理。

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射线衍射仪定量分析原理相关的耗材

  • X射线衍射仪耗材
    各种相关耗材,用于X射线衍射仪上使用。
  • X射线样品台配件
    X射线样品台配件是X射线衍射仪高温附件适合多种应用,温度范围高达-196度(液氮)到1500摄氏度,是X射线高温样品台。X射线样品台配件特点结构紧凑,温度可变,温度可选范围高达零下196摄氏度到1500摄氏度,适合所有类型的显微镜,材料科学,光谱测量和电子研究。尺寸仅为13x13x2cm,可用于真空环境或空气以及其他气体环境。温度控制精度高达0.1摄氏度,可编程控制所有类型的时间和温 度。我们还能给X射线衍射仪高温附件提供窗口(包括光学窗口和X射线窗口),用于真空环境,从而使得样品台用于任何显微镜,傅立叶变换红外光谱仪FTIR,烂漫和X射线衍射仪装置。X射线样品台配件应用X射线衍射,拉曼光谱,材料科学,张力测量,热分析,SEM,TEM, FTIR,SAXS。X射线高温样品台配件温度范围范围1: 室温-60摄氏度范围2: -5到99摄氏度范围3:-25到120摄氏度范围4:-40到120摄氏度范围5:-196到420摄氏度范围6:-196到600摄氏度类型7:室温到1000摄氏度类型8:室温到1200摄氏度类型9:室温到1200摄氏度类型10:室温到1400摄氏度类型11:室温到1500摄氏度X射线样品台配件参数尺寸:13x13x2cm电源:115-220V, AC重量: 约800g温度分辨率:0.1摄氏度材料:铝质Felles公司专卖X射线样品台,X射线衍射仪高温附件,X射线高温样品台。
  • X射线探测器 X射线探测器
    X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 (Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术,而不是基于传统微光子技术,它不需要维护,不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology,这种技术的探测器噪音较大,而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题,法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器,使用钢合金替代原有材料,使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。

射线衍射仪定量分析原理相关的资料

射线衍射仪定量分析原理相关的资讯

  • 关于举办“X-射线衍射分析技术”培训通知
    X-射线衍射(XRD)分析技术作为材料结构表征的重要手段,业已成为探索物质微观结构的必不可少的方法之一。随着其用途范围的日益拓展,X射线衍射技术在材料、化学、生物医药、环境、物理等学科及地质矿产、钢铁冶金、冶金建材、石油化工、能源环保、电子信息、新药研发、航空航天等产业部门及司法、考古、商品鉴定等领域都得到广泛的应用。近年来随着新技术的大量出现和引入,XRD软、硬件技术和应用功能不断推陈出新,并迅猛发展。X射线衍射技术的理论教学也受到理工农医在校学生和社会科研院所科技工作者的普遍欢迎,为适应广大分析技术工作者的需求,进一步提高XRD用户的应用和研究水平,推动XRD分析应用的进一步发展,上海交通大学分析测试中心特举办“X-射线衍射分析技术”培训班,全国分析检测人员能力培训委员会(NTC)授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。现将有关事项通知如下:1、 培训目标:了解X-射线衍射的原理与衍射仪的基本结构(涵盖粉末和单晶衍射);了解X-射线衍射检测/校准项目及相关要求;掌握国家标准中X-射线衍射的检测方法;上机实践训练。(一)掌握XRD的测试技术,了解仪器维护方法,确保机器运转最佳状态。(二)面对数据分析中的常见问题,学员可理论联系实际,找到问题原因所在,掌握X-射线衍射分析技术的一般方法及技巧。2、 时间地点: 培训时间:2023年10月16日-10月18日 上海(时间安排:授课2天,考核1天)3、 课程大纲:课程内容10月16日上午X-射线衍射技术基本原理(晶体结构、倒易空间、布拉格衍射方程等)10月16日下午X-射线衍射测试原理及技术要点(各种衍射几何、多物相定性定量分析、测量的误差产生的根源及改进的方法)10月17日上午XRD谱图分析方法10月17日下午XRD仪器结构、功能和主要性能指标(包括零维、一维、二维衍射模式)10月18日上午X-射线衍射仪基本操作(调试操作与维护,仪器类型:Aeris 600、Mini Flex 600及Bruker D8系列)。10月18日下午考核4、 主讲专家:主讲专家来自上海交通大学分析测试中心,熟悉ATP 005 X-射线衍射分析技术大纲要求,具有NTC教师资格,长期从事X-射线衍射技术研究的专家。5、 授课方式:(1) 讲座课程;(2) 仪器操作6、 培训费用:(一)培训费及考核费:每人3000元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费),食宿可统一安排费,用自理。(二)本校费用:每人1500 元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费;必须携带学生证)。7、 颁发证书:本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放,证书有以下作用:具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明;各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明;大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培 训委员会(NTC)网站上查询(https://www.cstmedu.com/)。 8、 报名方式:(一)请详细填写报名回执表(附件1)和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表(附件2),邮件反馈。 (二) 注:请学员带一寸彩照2张(背面注明姓名)、身份证复印件一张,有学生证的学员携带学生证复印件。 (三) 报名截止时间是10月10日16:00前。 (四) 如报名人数不足5人取消本次培训。9、 联系方式联系人:吴霞(报名相关事宜)、饶群力(技术咨询)电话: 021-34208499-6102(吴霞)、021-34208499-6212(饶群力)E-mail:iac_office@sjtu.edu.cn官方网址:iac.sjtu.edu.cn
  • 第12届上海市X射线衍射分析学术交流会通知
    会议简介 第12届上海市X射线衍射分析学术交流会拟定于2023 年7月8日在上海市嘉定区召开。会议将就X射线衍射分析领域的研究与应用前沿和关键技术问题,邀请知名专家学者作专题报告。热忱欢迎来自上海地区高校、科研院所及企事业单位的专家、学者及工程技术人员参加本次学术交流会。本次学术交流范围包括但不限于:①X射线物相定性与定量分析,②Rietveld 法结构精修与应用,③单晶结构解析,④薄膜与界面分析,⑤织构与各向异性分析,⑥宏观应力与微观应力分析,⑦小角散射分析,⑧X射线成像技术,⑨X射线衍射在工业中的应用,⑩同步辐射装置衍射散射及应用等。 时间地点 会议日期:2023年7月8日 9:00-17:00会议地点:中国科学院上海硅酸盐研究所嘉定园区其它说明:免会议费、免资料费,提供午餐 组织单位 会议学术委员会主任:姜传海副主任:文闻 程国峰 吴建国秘书长:程国峰(兼)副秘书长:吴雪艳委员: 陈波、黄金萍、李东栋、李晓龙、骆军、裴燕、师育新、武立宏、杨昕昕、杨征、詹科、赵秀阁、赵远涛、周丽绘、郑琦、周莹 (按拼音排序)资深委员:马礼敦、魏光普、杨传铮、黄月鸿主办:上海市物理学会X射线衍射与同步辐射专业委员会承办:中国科学院上海硅酸盐研究所 联系方式 X射线结构表征组无机材料分析测试中心中国科学院上海硅酸盐研究所 阮老师、刘老师: ysun@mail.sic.ac.cn,ryj@mail.sic.ac.cn021-69163600/69163558, 13761228831, 13816381456
  • 第四届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会日程公布,报名进行中!
    X射线衍射技术是通过对物质进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得物质的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。物质结构分析尽管可以采用中子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法,但X射线衍射技术是最有效、应用最为广泛的手段,应用范围已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中。为促进相关人员深入了解X射线衍射技术发展现状,掌握相关应用知识,仪器信息网将于2023年7月18日组织召开第四届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会,邀请业内技术和应用专家,聚焦X射线衍射前沿技术理论、分析方法、热点应用领域等分享报告。 会议日程 报告嘉宾及报告内容(按报告时间排序)《原位X射线衍射技术及其应用》报告嘉宾:程国峰(中国科学院上海硅酸盐研究所研究员)报告摘要:原位X射线衍射结构表征技术,即在样品上加载温度场、电场、力场、磁场等外场,或在样品发生电催化、电化学、光催化等反应时采集X射线衍射信号,该技术可以应用在粉末衍射仪、单晶衍射仪、高分辨衍射仪、和二维衍射仪上,通过数据分析,就可以得到材料结构信息与温度、力、电、磁等的关系,电化学、电催化等反应的实时结构变化。本报告对原位X射线衍射技术及相关应用进行介绍。《安东帕全自动粉末X射线衍射仪先进技术及其应用介绍》报告嘉宾:郭健宁(安东帕(上海)商贸有限公司 应用工程师)报告摘要:自20世纪50年代以来,安东帕在X射线技术领域持续开展研发,1957年推出全球首台商业化实验室SAXS仪器Kratky camera。安东帕延续SAXS的创新精神,凭借着精密加工技术, 成为非环境XRD附件的市场领导者,有着最广泛的产品组合。后相继推出高亮度光源Primux系列,高精度多层膜光学元件和X射线衍射仪。本次报告介绍安东帕全新的自动化多功能粉末X射线仪- XRDynamic 500。这是一款多功能粉末衍射仪,提供全自动的和真空的光学器件以及自动化仪器和样品校准程序,结合了无与伦比的数据质量和最高的测试效率,使初学者和专家都可以轻松快速地收集高质量地XRD数据。《掠入射X射线衍射原理、测试方法及其应用》报告嘉宾:张吉东(中国科学院长春应用化学研究所研究员)报告摘要:掠入射X射线衍射是一种用于薄膜材料结晶结构表征的高级测试方法,具有可以消除或减小基底信号的影响、增强衍射信号、得到薄膜的三维结晶结构信息等优点,目前被广泛应用于功能薄膜材料的研究中。本报告将介绍掠入射X射线衍射的原理和测试方法以及数据分析方法,并结合其在有机高分子薄膜材料中的典型性结果展示该方法的应用。《布鲁克全新台式XRD-D6 Phaser跨界而来》报告嘉宾:王通(布鲁克(北京)科技有限公司 XRD销售经理)报告摘要:布鲁克全新台式XRD-D6 Phaser,突破了台式XRD的限制,对大型落地式仪器发起挑战,拥有与大型设备相同甚至超过大型设备的信号强度 原位变温测试、薄膜掠入射衍射、薄膜反射率、应力测试、织构测试、毛细管透射、甚至PDF测试这些以前只能在大型仪器上实现的功能,如今D6 Phaser都可以实现!本报告详细介绍了布鲁克新款D6 Phaser台式衍射仪的特点和功能。《XRD研究单晶超导薄膜过热熔化机制》报告嘉宾:饶群力(上海交通大学表面与性能分析平台副主任/研究员)报告摘要:在熔融织构法制备超导块材过程中,需要高质量的超导薄膜作为籽晶。具有高过热熔化能力的超导薄膜是这一制备工艺的关键。通过X射线衍射技术,揭示了过热熔化的微观机制,利用该机制成功制备了世界最大的单晶超导块材。《X射线原理及其应用技术》报告嘉宾:董学光(中铝材料应用研究院高级工程师)报告摘要:本报告主要涉及以下内容:X射线的发现;X射线的产生机制-普通X光;X射线的产生机制-同步辐射X光;X射线衍射应用技术;X射线衍射的核心原理;X射线应用举例;X射线残余应力测试技术难点解析。《基于XRD数据精修晶体结构模型的数学原理》报告嘉宾:贺蒙(国家纳米科学中心正高级工程师)报告摘要:晶体结构精修过程本质上是一个不断调整结构模型参数以使结构模型与XRD数据最为吻合的过程,本报告将讲述这一过程背后的数学原理。通过了解相关数学原理,加深对于结构精修本质的认识,了解单晶结构精修和Rietveld法粉末衍射结构精修的区别,并正确理解各种结构精修残差因子(R因子)的意义。《XRD数据分析--物相鉴定和定量分析》报告嘉宾:徐春华(国际衍射数据中心中国区首席代表)报告摘要:利用粉末X射线衍射仪来分析物相的种类和含量已经成为材料分析的重要手段之一,本报告主要围绕粉末XRD数据的分析展开,包含XRD数据物相分析的来源、物相鉴定方法和定量分析方法的介绍等。《X射线衍射技术在药品研发和申报环节中的应用》报告嘉宾:周丽娜(天津大学化工学院国家工业结晶技术研究中心高级工程师)报告摘要:2020年版药典通用技术方法0451明确指出单晶X射线衍射技术是检测样品成分与分子立体结构的绝对分析方法,它可独立完成对样品化合物的手性或立体异构体分析、及共晶物质成分组成及比例分析(含结晶水或结晶溶剂、药物不同有效成分等)、纯晶型及共晶物分析(分子排列规律变化)等。粉末X射线衍射法适用于对晶态物质或非晶态物质的定性鉴别与定量分析。常用于固体物质的结晶度定性检查、多晶型种类、晶型纯度、共晶组成、晶型稳定性等分析。报告将结合药物申报过程中的具体要求,重点介绍x射线衍射技术在药品申报过程中的应用。《X射线衍射技术的应用要点、常见问题以及解决方法》报告嘉宾:黎爽(北京市科学技术研究院分析测试研究所高级工程师)报告摘要:X射线衍射技术具备无损、便捷、测量精度高等优点,如今已成为研究人员获得材料晶体结构等信息的重要手段,已广泛应用于航空航天、地质、医药研发、新能源、化工等领域。在科研表征过程中,需要根据样品特性以及表征目的进行样品制备、仪器参数设置以及数据分析等相关操作。本次报告主要就X射线衍射技术在表征过程中的应用要点、常见问题以及解决方法进行介绍。 参会指南 1、进入会议官方页面(https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/xrd2023)进行报名。扫描下方二维码,进入会议官网报名2、报名开放时间为即日起至2023年7月17日。3、报名并审核通过后,将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。4、本次会议不收取任何注册或报名费用。5、会议联系人:高老师(微信号:iamgaolingjuan 邮箱:gaolj@instrument.com.cn)6、赞助联系人:周老师(微信号:nulizuoxiegang 邮箱:zhouhh@instrument.com.cn)

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