射线荧光光谱仪基本原理

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射线荧光光谱仪基本原理相关的仪器

  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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  • X射线荧光光谱分析的基本原理 及应用

    X射线荧光光谱分析的基本原理   当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。   K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2   这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。

  • 【资料】X射线荧光光谱仪的分析基本原理及详解

    X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达10-5~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;强度测量的再现性好;便于进行无损分析;分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。 [~104490~]

射线荧光光谱仪基本原理相关的耗材

  • 美国X射线荧光光谱仪杯SC-7332
    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-7332 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 规格:双开端口 特点:进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518
  • X射线荧光光谱分析专用标准物质
    X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商:美国ARMI公司主要分析方法:X射线荧光法用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%
  • X射线荧光屏
    这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度,非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底,具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种闪烁体材料(YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体)具有具有良好的化学、力学和温度性能,非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言,如果使用高灵敏度的CCD探测器照相,就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏)我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图)和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图) 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏: 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物,不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,但是厚度需要增加到0.050mm左右。

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  • 各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法
    紫外吸收光谱UV   分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中电子能级的跃迁   谱图的表示方法:相对吸收光能量随吸收光波长的变化   提供的信息:吸收峰的位置、强度和形状,提供分子中不同电子结构的信息   荧光光谱法FS   分析原理:被电磁辐射激发后,从最低单线激发态回到单线基态,发射荧光   谱图的表示方法:发射的荧光能量随光波长的变化   提供的信息:荧光效率和寿命,提供分子中不同电子结构的信息   红外吸收光谱法IR   分析原理:吸收红外光能量,引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁   谱图的表示方法:相对透射光能量随透射光频率变化   提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率   拉曼光谱法Ram   分析原理:吸收光能后,引起具有极化率变化的分子振动,产生拉曼散射   谱图的表示方法:散射光能量随拉曼位移的变化   提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率   核磁共振波谱法NMR   分析原理:在外磁场中,具有核磁矩的原子核,吸收射频能量,产生核自旋能级的跃迁   谱图的表示方法:吸收光能量随化学位移的变化   提供的信息:峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数,提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息   电子顺磁共振波谱法ESR   分析原理:在外磁场中,分子中未成对电子吸收射频能量,产生电子自旋能级跃迁   谱图的表示方法:吸收光能量或微分能量随磁场强度变化   提供的信息:谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数,提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息   质谱分析法MS   分析原理:分子在真空中被电子轰击,形成离子,通过电磁场按不同m/e分离   谱图的表示方法:以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化   提供的信息:分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度,提供分子量,元素组成及结构的信息   气相色谱法GC   分析原理:样品中各组分在流动相和固定相之间,由于分配系数不同而分离   谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化   提供的信息:峰的保留值与组分热力学参数有关,是定性依据 峰面积与组分含量有关   反气相色谱法IGC   分析原理:探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力   谱图的表示方法:探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线   提供的信息:探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数   裂解气相色谱法PGC   分析原理:高分子材料在一定条件下瞬间裂解,可获得具有一定特征的碎片   谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化   提供的信息:谱图的指纹性或特征碎片峰,表征聚合物的化学结构和几何构型   凝胶色谱法GPC   分析原理:样品通过凝胶柱时,按分子的流体力学体积不同进行分离,大分子先流出   谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化   提供的信息:高聚物的平均分子量及其分布   热重法TG   分析原理:在控温环境中,样品重量随温度或时间变化   谱图的表示方法:样品的重量分数随温度或时间的变化曲线   提供的信息:曲线陡降处为样品失重区,平台区为样品的热稳定区   热差分析DTA   分析原理:样品与参比物处于同一控温环境中,由于二者导热系数不同产生温差,记录温度随环境温度或时间的变化   谱图的表示方法:温差随环境温度或时间的变化曲线   提供的信息:提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息   TG-DTA图   示差扫描量热分析DSC   分析原理:样品与参比物处于同一控温环境中,记录维持温差为零时,所需能量随环境温度或时间的变化   谱图的表示方法:热量或其变化率随环境温度或时间的变化曲线   提供的信息:提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息   静态热―力分析TMA   分析原理:样品在恒力作用下产生的形变随温度或时间变化   谱图的表示方法:样品形变值随温度或时间变化曲线   提供的信息:热转变温度和力学状态   动态热―力分析DMA   分析原理:样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化   谱图的表示方法:模量或tg&delta 随温度变化曲线   提供的信息:热转变温度模量和tg&delta   透射电子显微术TEM   分析原理:高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出图象   谱图的表示方法:质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象   提供的信息:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等   扫描电子显微术SEM   分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象   谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等   提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等   原子吸收AAS   原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光,从而使用检测器检测到的能量变低,从而得到吸光度。吸光度与待测元素的浓度成正比。   (Inductivecouplinghighfrequencyplasma)电感耦合高频等离子体ICP   原理:利用氩等离子体产生的高温使用试样完全分解形成激发态的原子和离子,由于激发态的原子和离子不稳定,外层电子会从激发态向低的能级跃迁,因此发射出特征的谱线。通过光栅等分光后,利用检测器检测特定波长的强度,光的强度与待测元素浓度成正比。   X-raydiffraction,x射线衍射即XRD   X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。   满足衍射条件,可应用布拉格公式:2dsin&theta =&lambda   应用已知波长的X射线来测量&theta 角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析 另一个是应用已知d的晶体来测量&theta 角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。   高效毛细管电泳(highperformancecapillaryelectrophoresis,HPCE)   CZE的基本原理   HPLC选用的毛细管一般内径约为50&mu m(20~200&mu m),外径为375&mu m,有效长度为50cm(7~100cm)。毛细管两端分别浸入两分开的缓冲液中,同时两缓冲液中分别插入连有高压电源的电极,该电压使得分析样品沿毛细管迁移,当分离样品通过检测器时,可对样品进行分析处理。HPLC进样一般采用电动力学进样(低电压)或流体力学进样(压力或抽吸)两种方式。在毛细管电泳系统中,带电溶质在电场作用下发生定向迁移,其表观迁移速度是溶质迁移速度与溶液电渗流速度的矢量和。所谓电渗是指在高电压作用下,双电层中的水合阴离子引起流体整体地朝负极方向移动的现象 电泳是指在电解质溶液中,带电粒子在电场作用下,以不同的速度向其所带电荷相反方向迁移的现象。溶质的迁移速度由其所带电荷数和分子量大小决定,另外还受缓冲液的组成、性质、pH值等多种因素影响。带正电荷的组份沿毛细管壁形成有机双层向负极移动,带负电荷的组分被分配至毛细管近中区域,在电场作用下向正极移动。与此同时,缓冲液的电渗流向负极移动,其作用超过电泳,最终导致带正电荷、中性电荷、负电荷的组份依次通过检测器。   MECC的基本原理   MECC是在CZE基础上使用表面活性剂来充当胶束相,以胶束增溶作为分配原理,溶质在水相、胶束相中的分配系数不同,在电场作用下,毛细管中溶液的电渗流和胶束的电泳,使胶束和水相有不同的迁移速度,同时待分离物质在水相和胶束相中被多次分配,在电渗流和这种分配过程的双重作用下得以分离。MECC是电泳技术与色谱法的结合,适合同时分离分析中性和带电的样品分子。   扫描隧道显微镜(STM)   扫描隧道显微镜(STM)的基本原理是利用量子理论中的隧道效应。将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近时(通常小于1nm),在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。这种现象即是隧道效应。   原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,简称AFM)   原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端,微悬臂的另一端固定,当探针在样品表面扫描时,探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形,这样,微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器,可以精确测量微悬臂的微小变形,这样就实现了通过检测样品与探针之间的原子排斥力来反映样品表面形貌和其他表面结构。   俄歇电子能谱学(Augerelectronspectroscopy),简称AES   俄歇电子能谱基本原理:入射电子束和物质作用,可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量,可能以X光的形式放出,即产生特征X射线,也可能又使核外另一电子激发成为自由电子,这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射:特征X射线或俄歇电子。原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。
  • 网络讲堂 | 热分析的基本原理及案例分析
    热分析是在程序控温下,测量物质的某种物理性质与温度或时间关系的一种技术。随着科技的发展,新领域的诞生,各行各业对于新材料的需求日益加剧。热分析作为研究材料性能的常见手段,也在飞速发展。热分析可用于分析各种材料,从航空航天材料到平时喝的矿泉水瓶,从研究领域到品质管理都可以用到热分析。 本讲座旨在梳理热分析的基本知识点,如果您刚接触热分析相关工作,欢迎参加我们在7月28日14:00-15:00举办的直播网络讲堂,您将了解到: 1. DSC的基本原理及案例分析 2. STA的基本原理及案例分析3. TMA的基本原理及案例分析4. DMA的基本原理及案例分析5. 问题和答疑 微信扫描下方二维码或点击链接,即可报名参加。日立高新技术公司是日立集团旗下的一家仪器设备子公司。全球雇员超过10,000人,在世界上26个国家及地区共有百余处经营网点。企业发展目标是"成为独步全球的高新技术和解决方案提供商",即兼有掌握先进技术水准的开发、设计、制造能力和满足企业不同需求的解决方案提供商身份的综合性高新技术公司。产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料。其中,生命科学领域产品包括电子显微镜、原子力显微镜和分析仪器(色谱、光谱、热分析)等。咨询热线:400-630-5821。
  • 快速水份测定仪基础知识一:定义与基本原理
    快速水份测定仪基础知识一,定义与基本原理1. 什么是快速水份测定仪? 快速水份测定仪利用热失重法测定样品的水份含量,由称量与加热装置(红外)组成。 它通常亦称作水份天平或水份测定仪。 2. 快速水份测定仪的工作方式?卤素快速水份测定仪按照热重原理(通常亦称作“热失重”(LOD)原理)运行。 快速水份测定仪由两个组件构成,即:天平装置与加热装置。 为了测量水份含量,首先记录样品的初始重量,然后在内置天平持续记录样品重量的同时,卤素灯对样品进行加热和烘干。 当样品不再失重时,仪器关闭并且计算水份含量。 总失重量用于计算水份含量。 3. 什么是“热失重”(LOD)原理?LOD表示热失重。 大多数标准方法属于热失重法。 热失重法是一种通过分析加热时样品的失重测定样品水份含量的方法。 将失重解释为样品的水份损失。 当所有水份从样品中排出时,样品的重量不再发生变化。 然后,通过将样品的初始重量同干重或样品最终重量进行比较,计算出样品的水份含量。 4. 如何加热样品? 样品吸收卤素快速水份测定仪的红外辐射,因此可快速升温。 另外,样品的温度取决于其吸收特点,因此一定不是显示温度。 这与烘箱不同,烘箱是通过对流方式对样品加热,并且需要很长时间才能烘干。 5. 卤素技术与红外技术之间的区别是什么? 卤素加热也是红外技术。 采用卤素辐射体进行干燥是红外干燥法的进一步发展。 加热元件由充满卤素气体的玻璃灯管组成, 由于卤素辐射体远轻于传统红外辐射体,因此可以快速获得最大热量输出,并实现卓越的可控性甚至是热分布。 6. 快速水份测定仪的适合对象?烘箱是测定水份含量的正规方法。 如今,许多客户使用快速水份测定仪,因为他们希望使用更快速的方法分析水份含量。 快速水份测定仪在许多行业中使用,例如:食品、化学、制药与塑料制造行业。 由于水份含量会对产品的质量和保质期产生影响,因此测定食品中的水份含量尤为重要。 7. 什么是水份? 水份指加热时蒸发(“热失重”)的所有物质。 除了水之外,分析的水份含量还包括脂肪、酒精与溶剂。 8. 水份与水是否一样?不一样,这两种概念经常被混淆。 水份指加热时蒸发的所有物质。 水专门指水分子(H20)。 为了测定水份含量,最好使用卡尔费休滴定仪。
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