简述光学比较测角仪的原理

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  • 时间数字转换器TDC1610 TDC1610是一款结构紧凑的高精度时间测量仪器,拥有16个采集通道,8ps时间分辨率;支持时间标签模式,可以实时记录采集信号的时间信息。产品采用易于操作的图形化界面,提供C++、Python和LabVIEW的SDK供用户进行二次开发,可广泛应用于统计激光器后脉冲分布、量子光学、光检测和激光雷达测距等科研领域。 重点参数时间分辨率:8ps死时间小于14nsjitter小于17ps单通道饱和计数率71支持时间标签模式支持符合技数功能应用领域量子光学及量子通信时间相关单光子计数光学相干检测荧光寿命和荧光光谱学激光后脉冲检测激光雷达时间数字转换器TDC1610数模混合信号测试
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  • 适用范围广:几乎所有不挥发和半挥发物质都能检测高灵敏度:达到ng级(较ELSD高1-2个数量级)质量响应型:仅依赖于质量的信号响应一致性,与化学性质无关现行响应范围宽:动态监测范围可达4个数量级,从ng到μg环境稳定性优异:几乎不受外界环境(如温度)变动的影响经济环保:可仅使用压缩空气,也可使用氮气操作直观:触摸屏面板操作维护简单:仅需每半年更换一次小配件 特点NQAD的卓越性能来源于核心组件水凝粒子计数器WCPC(Water condensation particle counter) NQAD工作原理简述:1) 色谱柱的溶出液在NQAD内部雾化(①)2) 可挥发成分被蒸发,残留组分形成颗粒群(②)3) 各颗粒吸收水蒸汽,形成水分凝结体,液滴增大颗粒到μm级别 (③-⑤)4) 各水分凝结体通过检测区时,在激光照射下,发出脉冲式散射光,通过对脉冲计数 (⑥)来进行检测 WCPC特性简述:1) 待测物液滴增大,监测灵敏度提升,动态监测范围扩宽2) 脉冲计数值与待测物形成的水分凝结体数量呈线性3) 响应信号值只与水分凝结体数量相关,即只与待测物质量相关,与待测物化学性质无关 应用 气溶胶激光计数检测器(NQAD)适用于:1、没有紫外吸收的物质2、离子化比较难的物质3、没有电化学活性的物质4、性质不明的物质 例如:氨基酸类、糖类、植物药、聚合物、化学药、酯类、胆固醇、离子、表面活性剂、胺类、蛋白等 使用CAPCELL CORE MP S2.7 (2.1 mm i.d. x 50 mm)对聚乙二醇(PEG,平均分子量4000)的低聚物分布进行了测定。使用NQAD检测器,可得到表征质量分布的色谱图。 【HPLC Conditions】Column : CAPCELL CORE MP S2.7 2.1 mm i.d. x 50 mmMobile phase : A) H2O, B) CH3CNB 20 % (0 min) → 40 % (10 min) → 20 % (10.1 min)Flow rate : 400 μL/minTemperature : 50 degrees CelsiusDetector : NQAD (Evaporation 35 degrees Celsius,Nubulizer 30 degrees Celsius,Filter 2.5 s) TOF-MS (ESI positive, MicroTOF, Bruker)Inj. vol : 2 μLSample dissolved in : 20 % CH3CN * 1 μg/mL = 1 ppm 更多应用欢迎联系我们* 本设备由大阪曹達株式会社生产
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  • 自动质量比较仪具有自动加载装置的质量比较仪用于全自动质量比较,能自动加载参考砝码和砝码组。这些质量计量设备适用于E1级和E2级精度的国内主要实验室。赛多利斯质量比较仪的优势在于全自动加载装置,不再需要特殊的圆柱形或堆叠砝码。产品名称 | 订单号最大量程可读性重复性(典型),sAutomatic Mass Comparator with Load AlternatorCCE10000S-L10,06 kg0.1 mg0.05 mgAutomatic Mass Comparator with Load AlternatorCCE10000U-L10,06 kg0.01 mg0.02 mgAutomatic Mass Comparator with Load AlternatorCCE1000S-L1,002 kg1 ug1 ugAutomatic Mass Comparator with Load AlternatorCCE20000S-L20,06 kg0.1 mg0.1 mgAutomatic Mass Comparator with Load AlternatorCCE50001S-L51 kg1 mg2 mg欲了解更多内容,请在商铺中给我们留言或登陆赛多利斯官网:
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  • 【转帖】简述几种气体检测传感器的检测原理

    简述几种气体检测传感器的检测原理此文章由 东方嘉仪仪器网 转发检测气体的浓度依赖于气体检测变送器,传感器是其核心部分,按照检测原理的不同,主要分为金属氧化物半导体式传感器、催化燃烧式传感器、定电位电解式气体传感器、迦伐尼电池式氧气传感器、红外式传感器、PID光离子化传感器等,以下简单阐述各种传感器的原理及特点。 金属氧化物半导体式传感器 金属氧化物半导体式传感器利用被测气体的吸附作用,改变半导体的电导率,通过电流变化的比较,激发报警电路。由于半导体式传感器测量时受环境影响较大,输出线形不稳定。金属氧化物半导体式传感器,因其反应十分灵敏,故目前广泛使用的领域为测量气体的微漏现象。 催化燃烧式传感器 催化燃烧式传感器原理是目前最广泛使用的检测可燃气体的原理之一,具有输出信号线形好、指数可靠、价格便宜、无与其他非可燃气体的交叉干扰等特点。催化燃烧式传感器采用惠斯通电桥原理,感应电阻与环境中的可燃气体发生无焰燃烧,使温度使感应电阻的阻值发生变化,打破电桥平衡,使之输出稳定的电流信号,再经过后期电路的放大、稳定和处理最终显示可靠的数值。 定电位电解式气体传感器 定电位电解式传感器是目前测毒类现场最广泛使用的一种技术,在此方面国外技术领先,因此此类传感器大都依赖进口。定电位电解式气体传感器的结构:在一个塑料制成的筒状池体内,安装工作电极、对电极和参比电极,在电极之间充满电解液,由多孔四氟乙烯做成的隔膜,在顶部封装。前置放大器与传感器电极的连接,在电极之间施加了一定的电位,使传感器处于工作状态。气体与的电解质内的工作电极发生氧化或还原反应,在对电极发生还原或氧化反应,电极的平衡电位发生变化,变化值与气体浓度成正比。 迦伐尼电池式氧气传感器 隔膜迦伐尼电池式氧气传感器的结构:在塑料容器的一面装有对氧气透过性良好的、厚10~30μm的聚四氟乙烯透气膜,在其容器内侧紧粘着贵金属(铂、黄金、银等)阴电极,在容器的另一面内侧或容器的空余部分形成阳极(用铅、镉等离子化倾向大的金属)。用氢氧化钾。氧气在通过电解质时在阴阳极发生氧化还原反应,使阳极金属离子化,释放出电子,电流的大小与氧气的多少成正比,由于整个反应中阳极金属有消耗,所以传感器需要定期更换。目前国内技术已日趋成熟,完全可以国产化此类传感器。 红外式传感器 红外式传感器利用各种元素对某个特定波长的吸收原理,具有抗中毒性好,反应灵敏,对大多数碳氢化合物都有反应。但结构复杂,成本高。 PID光离子化气体传感器 PID由紫外灯光源和离子室等主要部分构成,在离子室有正负电极,形成电场,待测气体在紫外灯的照射下,离子化,生成正负离子,在电极间形成电流,经放大输出信号。PID具有灵敏度高,无中毒问题,安全可靠等优点。

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  • 化工原理实验仿真软件CES (以北化装置为原型)
    流程简述: 化工原理是化工、生物、食品、制药等专业必修课。化工原理实验是大部分学校必做的实验。因此化工原理实验被列为重点实验内容之一。东方仿真使用自主开发平台,利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程,通过3D仿真实验装置交互式操作,产生和真实实验一致的实验现象和结果。每位学生都能亲自动手做实验,观察实验现象,记录实验数据,验证公式、原理定理。另外,该系统还配备开放的标准实验思考题生成器。该系统分为教师站和学生站。通过网络,教师站上的监控和管理程序方便地对学生站运行的实验仿真软件进行实时的监控和管理。本仿真软件以北京化工大学实验装置为主,兼顾华东理工大学的实验装置。包括了所有典型的化工原理实验装置。培训工艺:1.1 、离心泵特性曲线测定1.2 、流量计的认识和校核1.3 、流体阻力系数测定1.4 、传热(水-蒸汽)实验1.5 、传热(空气-蒸汽)实验1.6 、精馏(乙醇-水)实验1.7 、精馏(乙醇-丙醇)实验1.8 、吸收(氨-水)实验一1.9 、吸收(氨-水)实验二1.10 、丙酮吸收实验1.11 、干燥实验1.12 、板框过滤实验建议配置:学员站:CPU:奔腾E2140或更强的CPU(或AMD Athlon X2 4000)内存:1G以上显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows XP SP2/SP3教师站:CPU:奔腾E5200或更强的CPU(或AMD Athlon X2 5000)内存:1G以上(推荐2G以上)显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows Server 2003 SP2网络要求:网络必须稳定通畅(统一式激活)
  • 食品工程原理实验仿真软件FES
    流程简述: “食品工程原理仿真实验”,就是利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程,通过对仿真3D实验装置进行互动操作,产生和真实实验一致的结果。从而达到每个学生都能够一对一地亲自动手做实验,观察实验现象,验证公式、原理定理的目的。可以通过网络,使教师站上运行的监控程序与管理程序能方便地对下位机的学员站上运行实验仿真软件进行监控与管理,同时配有标准的实验思考题生成器,开放接口。培训工艺:1.1、流体粘度测定实验1.2、柏努利方程实验 1.3、雷诺实验 1.4、流体阻力实验 1.5、离心泵性能实验 1.6、过滤实验 1.7、传热实验 1.8、洞道干燥实验 1.9、流化床干燥实验 1.10、精馏实验 1.11、气体扩散系数测定实验1.12、液体扩散系数测定实验运行环境要求建议配置:学员站:CPU:奔腾E2140或更强的CPU(或AMD Athlon X2 4000)内存:1G以上显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows XP SP2/SP3教师站:CPU:奔腾E5200或更强的CPU(或AMD Athlon X2 5000)内存:1G以上(推荐2G以上)显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows Server 2003 SP2网络要求:网络必须稳定通畅(统一式激活)
  • S-22表面粗糙度比较仪
    S-22表面粗糙度比较仪S-22 Microfinish Comparator S-22表面粗糙度比较仪 本产品可用于五金机械,家电设备,产线建设等相关行业  品 牌:GAR  型 号:S-22(多款型号供选)  比较仪质量 比较仪尺寸 比较仪价格 基本描述  GAR S-22 22型表面粗糙度比较仪(符合AS9000标准)   GAR22样品2至500微英寸范围表面粗糙度计   本项目规范   零件号S-22   品牌名称GAR   不锈钢材质   项目数量1   UNSPSC代码41110000。  S-22传统加工MICROFINISH比较器的形状为矩形(2“x53/8”),是实际加工表面的耐腐蚀电铸镍复合物。   共有二十二个复制的机加工表面光洁度样品,其中包括六种不同的加工工艺:研磨,研磨,布兰德尔地面,形状翻转,铣削和成型-范围从2到500微英寸。   S-22MICROFINISHCOMPARATOR采用人造革外壳,提供工程数据和说明。   S-22也有公制,带有千分尺。  比较仪质量 比较仪尺寸 比较仪价格 术语  类型:   标本是原始edm' ed表面的电铸复制品。   材料:   这种微细比较器表面粗糙度标尺由镍制成。它不会腐蚀。   外观:   每个样品都具有转向金属材料的表面粗糙度特征。   表面粗糙度:表示   由工具边缘的切割作用,机床的进给和磨粒产生的细微间隔的表面不规则性。   统一性和准确性:   原始母版和电铸复制品制作母版均匀分布检查。进行足够的测量以确定代表性的平均值。列出的评级是这些读数的平均值。   LAY:   这是指定主要表面不规则方向的术语。   FLAWS:   这些是不规则的,可能会频繁出现。它们不是典型的转弯表面。 22个复制的机加工表面光洁度试样,包括六种不同的机加工工艺示例:搭接、研磨、硬研磨、成形车削、铣削和成型-范围为2至500微英寸。S-22微精比较仪表面粗糙度标尺由双电铸工艺制成,其中镍电沉积以提供复杂细节的**再现。GAR电铸公司可提供用于产生表面粗糙度标尺的相同电铸工艺,以满足您的产品需求。 该比例中使用的表面是**加工表面的复制品,测量单位为微英寸(百万英寸-0.000001”)。刻在每个表面旁边的数字是与平均表面的平均偏差,以微英寸表示。 将MICROFINISH比较仪表面粗糙度标尺放在工件旁边。滑动标尺,使具有所需表面粗糙度的矩形与正在检查的工件相邻。通过在每个表面上以与工具标记成直角绘制指甲尖进行比较。如果饰面相同,则指甲接触的感觉必须相同。 S-22微精比较仪表面粗糙度量表为工业界提供了已建立的平面粗糙度样本,用于视觉和触觉比较。当需要具有典型机加工表面外观的产品时,它用于指定和控制表面粗糙度。 S-22微精比较仪表面粗糙度标尺提供了一种经济的工具,允许在与线性测量相同的基础上指定粗糙度。呈现的表面是多年研究和工程的结果。有关该主题的详细信息现已发布在美国国家标准协会(ANSI)规范中,标题为:“表面纹理、表面粗糙度、波纹度和铺层”。ANSI/ASME B46.1 S-22常规加工微精比较仪为矩形(2“x 5 3/8”),是实际加工表面的耐腐蚀电铸镍复制品。 共有22个复制的加工表面光洁度试样,包括六种不同的加工工艺:研磨、研磨、硬研磨、成形车削、铣削和成型,范围为2至500微英寸。 S-22微精比较仪装在人造革箱中,附有工程数据和说明。 S-22也有公制和千分尺名称。 类型: 试样是原始电火花加工表面的电铸复制品。 材料: 该微精比较仪表面粗糙度标尺由镍制成。它不会腐蚀。 外观: 每个试样具有车削金属材料的表面粗糙度特征。 表面粗糙度: 指由刀具边缘的切削作用、机床进给和磨粒产生的精细间隔表面不规则。 一致性和准确性: 已按均匀分布的间隔检查原始母版和电铸副本生产母版。进行了充分的测量以确定代表性平均值。列出的额定值是这些读数的平均值。 铺设: 这是指主要表面不规则的方向。 缺陷: 这些是可能频繁出现的不规则情况。它们不是典型的回转面。 SCRATA粗糙度样块,SCRATA Comparators对比板铸钢表面SCRATA图谱SCRATA粗糙度对比试块ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA比较器目视比较仪检测表面粗糙度SCRATA比较仪铸体表面粗糙度对比试块CTI粗糙度对比板钢和铁铸件表面质量检测仪铸造表面粗糙度对比板砂型铸件铸造表面对比板 Comparators for the definition of surface quality of steel castings 英国铸钢研究及贸易协会(STEEL CASTINGS RESEARCH AND TRADE ASSOCIATION 缩写为:SCRATA)更名为英国CTI铸造协会(CTI,Castings Technology Intemational) 一个铸件的粗糙度程度取决于制造工序(铸造、打磨、精加工等)。所用的铸造材料(型砂、涂料等)、铸造设备和浇铸合金。铸件表面如无加工表面均匀的环状,就很难用机械仪器、光学仪器或传统的气动仪器来评估它的粗糙度,因而在这种情况下,采用显示比较器是合适的选择。 但考虑到铸造或其它精加工方法做出的毛坯表面的不均匀性,比较器的规格应相对增大(等于或大于15000mm2),以便检验更可靠,给出重复而适当的结果。 Steel Castings Research and Trade Association(48片):SCRATA比较器(1988年出版),用于确定铸钢件的表面质量,SCRATA显示比较器的规格为100mm×150mm (其比较面积大致为15000mm2~15500mm2)。 SCRATA样板 ASTM A802 粗糙度对比试块 SCRATA图谱 适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下: Surface Roughness (A) 表面粗糙度(A) Surface Inclusions (B) 表面夹杂(B) Gas Porosity (C) 气孔(C) Laps and Cold Shuts (D) 皱褶和冷隔(D) Scabs (E) 铸疤(E) Chaplets (F) 型芯撑(F) Surface Finish – Thermal Dressing (G) 表面处理 - 热抛光(G) Surface Finish – Mechanical Dressing (H) 表面处理 - 机械抛光(H) Welds (J) 焊缝(J) Hot Tears 热裂纹 Mechanical Dressing - Chipping 机械抛光 - 切削样块数量样板分类 ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于 ISO 11971:2008 钢和铁铸件 – 表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997 铸造 – 目视比较仪检查表面粗糙度; BS EN 12454:1998 砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块,基于BS 7900:1998 精密钢铸件表面特征的检验规范,适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购 Resin Shell Process (V) 树脂壳法(V) Lost Polystyrene Process (W) 聚苯乙烯消失模铸造(W) Shaw Process (X) 萧氏精密造模法(X) Lost Wax Process (Y) 失蜡法(Y) Fettled Surfaces (Z) 修整铸件(Z) 样块数量样板分类VWXYZ精密铸造样块集141-31-31-31-21-3 1. Full Set (48 comparators + A4 book) (咨询价格021-51082920) 全套 (48个样块)2. ASTM A802 set (31 comparators + A5book) ASTM A802样块集 (31个样块)3. Upgrade set (17 comparators + A4book) 升级样块集’ (17个样块)4. Precision castings (14 comparators and a copy of BS 7900:1998) 精密铸造’ (14个样块和BS 7900:标准文本一份)

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  • 简述超声波风速风向传感器的原理特点和应用
    风既有大小,又有方向,因此风的预报包括风速和风向两项。风速,是指空气相对于地球某一固定地点的运动速率,常用单位是m/s。风速是没有等级的,风力才有等级,风速是风力等级划分的依据。一般来讲,风速越大,风力等级越高,风的破坏性越大。在气象上,一般将风力大小划分为十七个等级。 气象上把风吹来的方向确定为风的方向。风来自北方叫作北风,风来自南方叫作南风。当风向在某个方位摇摆不能肯定方位时,气象台站预报就会加以“偏”字,比如偏南风。利用风向可以在人们的生活、生产、建厂、农业、交通、军事等各种领域发挥积极作用。 测量风速时可以使用测风器,风压板扬起所过长短齿的数目,表示风力大小。测量风向时可以使用风向标,风向标对的风向箭头指在哪个方向即表示当时刮什么方向的风。 同时测量风速和风向可以使用超声波风速风向传感器。超声波风速风向传感器是一款基于超声波原理研发的风速风向测量仪器,利用超声波时差法来实现风速风向的测量。由于声音在空气中的传播速度会和风向上的气流速度叠加,如果超声波的传播方式和风向相同,那么它的速度会加快;反之则会变慢。所以在固定的检测条件下,超声波在空气中传播的速度可以和风速函数对应,通过计算即可得到精确的风速和风向。超声波风速风向传感器与传统的风速风向传感器相比,它不需要维护和现场校准, 360°全方位无角度限制,没有启动风速的限制,可以同时获得风速、风向的数据;无移动部件,磨损小,使用寿命长;采用随机误差识别技术,大风下也可以保证测量的低离散误差,使输出更平稳。 超声波风速风向传感器安装也比较简单方便。那超声波风速风向传感器可以应用在哪些方面呢? 超声波风速风向传感器可以应用在新型能源开发领域,一些重要的设备十分容易受到风速变化的影响;可以应用在工矿领域,为了确保煤矿安全生产的正常进行,相关部门也推出了针对矿井环境必须使用风速传感器这类设备的规定;可以应用在塔式起重机,当大风影响起重机工作时,它会发出报警;也可以应用于气象领域和煤矿等。
  • 封装工艺和设备简述
    晶圆大多是非常脆的硅基材料,直接拿取是非常容易脆断的,所以必须封装起来,并且把线路与外部设备连接,才能出厂。本文详述芯片的封装工艺和相关的设备。封装听起来似乎就是包装,好像比较简单。封装与蚀刻和沉积相比,在一定程度上是要简单一点,但封装同样是一个高科技的行业。封装技术的发展芯片封装被分传统封装和先进封装。传统封装的目的是将切割好的芯片进行固定、引线和封闭保护。但随着半导体技术的快速发展,芯片厚度减小、尺寸增大,及其对封装集成敏感度的提高,基板线宽距和厚度的减小,互联高度和中心距的减小,引脚中心距的减小,封装体结构的复杂度和集成度提高,以及最终封装体的小型化发展、功能的提升和系统化程度的提高。越来越多超越传统封装理念的先进封装技术被提出。先进封装(Advanced Packaging)是本文讨论的重点。我们先了解一下传统封装,这有利于更好地理解先进封装。传统封装技术发展又可细分为三阶段。阶段一(1980 以前):通孔插装(Through Hole,TH)时代其特点是插孔安装到 PCB 上,引脚数小于 64,节距固定,最大安装密度 10 引脚/cm2,以金属圆形封装(TO)和双列直插封装(DIP)为代表;阶段二(1980-1990):表面贴装(Surface Mount,SMT)时代其特点是引线代替针脚,引线为翼形或丁形,两边或四边引出,节距 1.27-0.44mm,适合 3-300 条引线,安装密度 10-50 引脚/cm2,以小外形封装(SOP)和四边引脚扁平封装(QFP)为代表;阶段三(1990-2000):面积阵列封装时代在单一芯片工艺上,以焊球阵列封装(BGA)和芯片尺寸封装(CSP)为代表,采用“焊球”代替“引脚”,且芯片与系统之间连接距离大大缩短。在模式演变上,以多芯片组件(MCM)为代表,实现将多芯片在高密度多层互联基板上,用表面贴装技术组装成多样电子组件、子系统。自20世纪90年代中期开始,基于系统产品不断多功能化的需求,同时也由于芯片尺寸封装(CSP)封装、积层式多层基板技术的引进,集成电路封测产业迈入三维叠层封装(3D)时代。这个发展阶段,先进封装应运而生。先进封装具体特征表现为:(1)封装元件概念演变为封装系统;(2)单芯片向多芯片发展;(3)平面封装(MCM)向立体封装(3D)发展;(4)倒装连接、TSV硅通孔连接成为主要键合方式。先进封装优势先进封装提高加工效率,提高设计效率,减少设计成本。先进封装工艺技术主要包括倒装类(FlipChip,Bumping),晶圆级封装(WLCSP,FOWLP,PLP),2.5D封装(Interposer)和3D封装(TSV)等。以晶圆级封装为例,产品生产以圆片形式批量生产,可以利用现有的晶圆制备设备,封装设计可以与芯片设计一次进行。这将缩短设计和生产周期,降低成本。先进封装以更高效率、更低成本、更好性能为驱动。先进封装技术上通过以点带线的方式实现电气互联,实现更高密度的集成,大大减小了对面积的浪费。SiP技术及PoP技术奠定了先进封装时代的开局,如Flip-Chip(倒装芯片), WaferLevelPackaging(WLP,晶圆级封装),2.5D封装以及3D封装技术,ThroughSiliconVia(硅通孔,TSV)等技术的出现进一步缩小芯片间的连接距离,提高元器件的反应速度,未来将继续推进着先进封装的进步。所有这些先进封装技术,被集中起来发展成为了3D封装。3D封装会综合使用倒装、晶圆级封装以及 POP/Sip/TSV 等立体式封装技术,其发展共划分为三个阶段:第一阶段:采用引线和倒装芯片键合技术堆叠芯片;第二阶段:采用封装体堆叠(POP);第三阶段:采用硅通孔技术实现芯片堆叠。3D封装可以通过两种方式实现:封装内的裸片堆叠和封装堆叠。封装堆叠又可分为封装内的封装堆叠和封装间的封装堆叠。最后,我们列举一下这些主要的先进封装技术:★ 倒装(FC-FlipChip)★ 晶圆级封装(WLP-Wafer level package)★ 2.5D封装★ (POP/Sip/TSV)等3D立体式封装技术★ 3D封装技术封装的级别电子封装的工程被分成六个级别:层次1(裸芯片)它是特指半导体集成电路元件(IC芯片)的封装,芯片由半导体厂商生产,分为两类,一类是系列标准芯片,另一类是针对系统用户特殊要求的专用芯片,即未加封装的裸芯片(电极的制作、引线的连接等均在硅片之上完成)。层次2(封装后的芯片即集成块)分为单芯片封装和多芯片封装两大类。前者是对单个裸芯片进行封装,后者是将多个裸芯片装载在多层基板(陶瓷或有机材料)上进行气密闭封装构成MCM。层次3(板或卡)它是指构成板或卡的装配工序。将多个完成层次2的单芯片封装在PCB板等多层基板上,基板周边设有插接端子,用于与母板及其它板或卡的电气连接。层次4(单元组件)将多个完成层次3的板或卡,通过其上的插接端子搭载在称为母板的大型PCB板上,构成单元组件。层次5(框架件)它是将多个单元构成(框)架,单元与单元之间用布线或电缆相连接。层次6(总装、整机或系统)它是将多个架并排,架与架之间由布线或电缆相连接,由此构成大型电子设备或电子系统。先进封装的主要设备了解了封装的工艺,再来看看有哪些实际的操作要做,所需的设备就明确了。这里按工艺步骤列举一些:1、裸片堆叠。需要晶圆级叠片机。这是一个对可靠性要求极高的设备,因为线路完成后的晶圆很昂贵,而且非常易碎,更重要的对叠片的精度要求更高。目前还没有孤傲产量产的设备。2、晶圆切割,将Wafer切割成单个芯片。常见有切割机(Saw锯切)、划片机、激光切割机等。3、芯片堆叠。这个设备的难度在于精度和速度。目前国内有很多家厂商在研发这类设备,主要还是速度(产能)方面的差距。4、、封装级光刻和刻蚀。这是光刻技术练兵的场所,这里的光刻精度是微米级的,精度高一点的也达到了0.1微米。5、贴片(把芯片放在基板上)。这一过程需要用到点胶机,贴片机/固晶机/键合机等主要设备,还要用到印刷机,植球机,回熔焊,固化设备,压力设备,清洗设备等。6、引线键合。主要有Wire Bound和Die Bound两类设备。7、置散热片、散热胶、外壳。这一过程也要用到点胶,灌胶,植片机/固晶机/贴片机,压合设备,清洗设备等主要设备。8、检验。包括检验、测试和分选。下面我们针对其中部分常见设备,介绍其原理和结构。1、清洗机这些设备中,清洗机听起来相对简单,但清洗机也绝对不是那么的简单。清洗的优劣,决定着产品的良率,性能及可靠性。有时更决定着工艺过程的成败。接触芯片的零件的清洗,对尘埃、油污的要求,都是绝对严苛的,有的还要对零件表面的挥发气体进行测量,对表面对不同物质的亲合性进行测量。而要达到这些要求,对清洗工艺的要求也往往非常复杂。一条清洗线也动辄十几道 ,几十道工艺过程,对零件进行物理的、化学的、生物级别的清洗与干燥。2、涂胶设备封装阶段的胶水,作用一是把IC的不同部分粘结起来,作用二是把IC各个部分之间的间隙填充起来,作用三是把IC包裹保护起来。这也就基本形成了三个类别,一是点胶,二是填充,三是塑封(Moding)。这些工艺过程,听起来比较简单,很容易理解。事实也确实如此。只是对胶量的控制,均匀性有很高的要求。胶水的压力,出胶口的形状,温度,运动的平稳性,设备的振动,空气流动等,每一个环节都要精确控制。涂胶的工艺的特性主要的还是决定于胶水的特性。在这里我们只谈设备,不谈耗材。芯片点胶芯片底填芯片塑封3、刻蚀\光刻机我们常听说的那些高大上的光刻机,是指晶圆级别上用来刻蚀芯片电路的。封装过程也要用到光刻机,需要制作用于定位和精确定位芯片的封装模板。光刻机可以用于制作这些封装模板的微米级图案。光刻机通过曝光光刻胶和进行显影的过程,将图案精确地转移到封装模板上。封装过程所用光刻机线宽要求比较低,一般500nm的都能用了。封装用光刻机封装用刻蚀机4、芯片键合机芯片键合机,是把芯片与基板连接在一起的设备,有两种主要的方式,Wire Bond和Die Bond。Wire Bond设备通常被称作绑线机,绑线机是用金属引线把IC上的引脚与基板(Substrate)的引脚进行连接的设备。这个工艺中使用的金属细线通常只有几十微米,一根一根把金属丝熔融在引脚上。这个过程在引脚多的芯片上就很耗时。Die Bond设备有时被称作贴片机或固晶机机。Die Bond是近些年才发展起来的技术,是通过金属球阵列来进行连接,就是常说的BGA技术(Ball Grid Array)。Die Bond的连接方式效率更高,一次性可以连接所有引脚,所以生产数百数千引脚的芯片也很方便。还有就是Die Bond封装更加紧凑,所以Die Bond是未来芯片键合的主要方式。Wire Bond设备5、贴片机贴片机是一种高度复杂且精密的机器,其工作原理可以追溯到微电子组件制造的核心。这些机器使用先进的视觉系统,如光学传感器和高分辨率摄像头,以检测和定位微小的电子元件。这种视觉系统能够在纳米级别准确度下进行操作,确保元件的精确定位。贴片通常是指表面贴装技术,是一种将无引脚或短引线表面组装元器件(简称SMC/SMD,中文称片状元器件)安装在印制电路板(PrintedCircuit Board,PCB)的表面或其它基板的表面上,通过再流焊或浸焊等方法加以焊接组装的电路装连技术。除此之外,贴片还指应用于裸芯片(Die)的贴装技术,是指将晶圆片上没有封装或保护层的晶片(裸芯片)贴装到基板上的过程。这些芯片通常由硅等材料制成,并通过刻蚀、沉积、光刻等工艺加工而成。裸芯片贴装是一种高精度、高技术含量的制造过程,在贴片过程中,由于裸芯片缺乏封装保护,对裸芯片的测试和组装要求更高,需要专门的贴片机设备和技术来确保其可靠性和稳定性。裸芯片贴装技术常用于高性能计算、光通信、存储和其他应用领域,其中需要更高的处理能力和集成度。
  • 科众精密仪器-光学接触角测量仪原理
    科众精密-光学接触角测量仪原理 接触角是液体在液固气三态 交接处平衡时所形成的角度,液滴的形状由的表面张力所决定,θ 是固体被液 体湿润的量化指标,但它同时也能用于表面 处理和表面洁净的质量管控,表面张力 液体中的分子受到各个方向 相等的吸引力,但在液体表面的分子受到液体分子的拉力会大于气体分子的拉力,所以 液体就会向内收缩,这种自发性的收缩称之为表面张力 γ。对于清洗性,湿润度,乳化作用和其它表面相关性质而言,γ 是一个相当敏感的指标 悬垂液滴量测法悬垂液滴测量能提供 一个非常简便的方法来量测液体的表面张力 (气液接口) 和两个液体之间的接口张力 (液液接口) ,在悬垂液滴量测法中,表面张力和界面张力值的计算是经由分析悬吊在滴管顶端 的液滴的形状而来,接触角分析可依据液滴的影像做 杨氏议程计算 表面张力和接口张力。这项技巧非常的准确,而且在不同的温度和压力下也可以量测。 前进角与后退角使用在固体基板上的固着液滴可以得到静态的接触角。另外有一种量测方式称之为动态接触角,如果液固气三态接触的边界是处于移动状态,所形成的角度称之为前进角与后退角,这个角度的求取是由液滴形状的来决定。另外,固体样品的表面张力无法被直接量测,要求取这个值,只要两种以上的已知液体, 就可求得固体表面的临界表。以下是通过接触角测量仪测量单位济南大学材料学院设备序号5设备名称接触角测定仪 数量1调研产品(品牌型号)科众KZS-20共性参数1. 接触角测量范围:0~180°,接触角测量分辨率:±0.01°,测量精度±0.1°。2. 表界面张力测量范围和精度:0.01~2000mN/m,分辨率:±0.01mN/m。3. 光学系统:变焦镜头(放大倍率≧4.5倍),前置长焦透镜,通光量可调节。4. 高清晰度高速CCD,拍摄速度可达1220张图像/S,像素最高可达2048 x 1088。5. 光源:软件可调连续光强且无滞后作用的光源。6. 注射体积、速度可以软件进行控制;注射单元精度≤0.1uL;注射液体既可通过软件,亦可通过手动按钮控制液体注射。7. 注射单元调节:注射单元可进行X-、Y-、Z-轴准确调节;8. 整个注射单元支架可以旋转90°调整。9. 滚动角测量:自动倾斜台(整机倾斜),可调节倾斜角度范围≥90°,可测量滚动角。10. 接触角拟合方法:宽高法、椭圆法、切线法、L-Y法11. 动态接触角计算:全自动的动态接触角测量,软件控制注射体积、速率、时间,自动计算前进角和后退角。12. 表面自由能计算:9种可选模型计算固体表面自由能及其分量,分析粘附功曲线、润湿曲线。13. 具有环境控温功能,进行变温测试(0-110 oC), 分辨率0.1K。14. 品牌计算机: i7 4790 /8GB内存/1TB(7200转)硬盘/2G独立显卡/19英寸液晶显示器/DVD刻录光驱。15. 必备易耗品(供应商根据投标产品功能提供)16. 另配附件,要求:进口微量注射器3个,备用不锈钢针6根,一次性针头100根、适合仪器功率的稳压电源(190-250V)1台、配置钢木结构实验台( C型钢架、钢厚≥1.5mm,长2m、宽0.75m,板材采用三聚氰胺板,铝合金拉手,铰链采用国际五金标准,抽屉三阶式静音滑轨、抽屉负重≥25KG,含专用线盒,可安装5孔或6孔插座,优质地脚)。17. 售后服务:自安装调试验收完毕后之日起24个月内免费保修;每年提供至少一次的免费巡检。

简述光学比较测角仪的原理相关的试剂

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