射线荧光光谱分析仪使用标准

X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析，扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及，X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。　　X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高，能同时对多元素快速分析等优点，已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来，国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪，由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高，需要掌握其原理，性能和多种应用技术，为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平，充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能，提高分析测试质量，特举办培训班，系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用，欢迎大家前来参加。　　[b]一、授课教师[/b]　　邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析，主持国家、部、院科学研究项目　　[b]二、培训内容[/b]　　1、X射线荧光光谱分析基础　　2、X射线荧光光谱理论强度计算公式　　3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能　　4、X射线荧光光谱定量分析　　5、X射线荧光光谱分析基体校正　　6、X射线荧光光谱定性和半定量分析　　7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析　　8、X射线荧光光谱分析样品制备　　9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用　　10、X射线荧光光谱分析不确定度评定　　11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用　　12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍　　13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果　　[b]三、培训对象[/b]　　各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员　　[b]四、培训时间、地点及收费[/b]　　2010年5月24日—5月29日 北京　　培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等)，食宿统一安排，费用自理。　[b]　五、培训考核与发证[/b]　　培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费，工本费、邮寄费20元)　[b][color=#ec0078]　六[/color][color=#ff483f]、报名方式：010-51299927-101,13269178446，[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准Radiological standards for X-ray diffraction and fluorescence analysis equipmentGBZ115-20021 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版本均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB4075 密封放射源分级 GB4076 密封放射源一般规定 GB8703 辐射防护规定 ZBY226 X射线衍射仪技术条件3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。3.1 X射线衍射仪和X射线荧光分析仪 X-ray diffraction equipment and X-ray fluorescence analysis equipment X射线衍射仪 利用X射线轰击样品，测量所产生的衍射X射线强度的空间分布，以确定样品的微观结构的仪器。 X射线荧光分析仪 利用射线轰击样品，测量所产生的特征X射线，以确定样品中元素的种类与含量的仪器。 以下把X射线衍射仪和X射线荧光分析仪统称为分析仪。3.2 闭束型分析仪和敞束型分析仪 enclosed-beam analytic analytical equipment and open-beam analytical equipment 闭束型分析仪 以结构上能防止人体的任何部分进入有用线束区域为特征的分析仪。 敞束型分析仪 结构上不完全符合闭束型分析仪特征的分析仪，操作人员的某部分身体有可能意外地进大有用线束区域。3.3 射线源 radiation source 本标准中，射线源特指X射线管或能便样品受激后发出特征X射线的密封型放射性核素源(以下简称密封型源)。3.4 联锁装置 interlocking device 分析仪的一种安全控制装置，当其中相关的组件动作时可以发出警告信号，或能够阻止分析仪进入使用状态，或使正在工作的分析仪立即关停。3.5 有用线束 primary radiation 来自射线源并通过窗、光栏或准直器射出的待用射线束。3.6 受照射部件 exposed components 分析仪中受到有用线束照射的部件，如:源套、遮光器、准直器、连接器、样品架、测角仪、探测器等。3.7 源套 radiation source housing 套在射线源外部的具有一定防护效能的壳体，分为密封源套和X射线管套。3.8 防护罩 protective enclosure 敞束型分析仪中，用来屏蔽源套和所有受照射部件的一种防护设备。在防护罩的侧面，通常装有可以平移的防护窗，调试、校准等操作结束后，关闭防护窗，能够有效地防止人员受到有用线束和较强散射线的照射。3.9 遮光器 shutter 安装在有用线束出口处的可以屏蔽有用线束的器件。

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