水浸超声扫描系统

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水浸超声扫描系统相关的厂商

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    青岛水德科技有限公司专注于为中国用户引进国际先进的海洋调查技术,公司的使命是“成为连接世界海洋科技与中国用户的桥梁”。水德的产品主要包括CTD采水器、采泥器、水生生物采样器、浮游生物多联采样网、海洋微塑料采样分析系统、浮游动物扫描分析系统、水下颗粒物和浮游动物图像原位采集系统、多通道沉积物捕集器、高精度温盐深仪、水下原位营养盐分析仪、海洋二氧化碳分压监测仪、超短基线水下定位系统等。成为海洋行业的最专业的科技解决方案提供商是水德的远景目标。水德品牌创立以来,不断举办海洋新技术路演和培训会,积极参加行业展会,获得了各大涉海科研院所及高校的一致好评。公司专业的技术团队为客户提供了稳定的技术保障,针对不同研究领域配有相应的专业技术团队,让客户无后顾之忧!
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    安赛斯(中国)有限公司客服热线:400 8816 976安賽斯公司(ANALYSIS Crop.)是一家专门从事科研仪器研发、生产和销售的综合性科技企业,公司总部位于香港繁华的中环中心商务区,设有研发和销售中心;北京分公司,位于北京市海淀区西三旗科技园,设有检测实验室和销售中心。安赛斯(北京)科技有限公司具有中华人民共和国A类资质的进出口企业,是国家税务局纳税诚信单位。安赛斯公司依靠国际化专业人才和技术团队,为高等院校、科研院所和科技企业提供业内领先的分析测试仪器和制造设备,我们的专业供应的产品主要有:无损检测设备包括:高精度超声扫描显微镜、全自动水浸超声C扫描检测系统、喷水式超声检测系统、空气耦合超声检测系统、声发射检测系统、微焦点X射线检测系统、高分辨率计算机断层扫描系统(CT)等,用于半导体器件、封装壳体、金属材料、高纯靶材、碳纤维复合材料等材料或器件内部的孔隙、裂纹、分层等缺陷检测,广泛应用于半导体、航空航天、军工、船舶、冶金、铁路、石油、风电等各行业。 薄膜类制备设备包括:可编程匀胶机旋涂仪、清洗显影机、烤胶机热板等。广泛应用于钙钛矿薄膜太阳能电池、半导体科研、有机光电器件和材料等纳米薄膜制备领域。实验室理化设备:光弹系数测试仪、精密实验炉设备、精密离心机、热阻分析仪等,广泛应用于材料内部应力集中情况测试、材料热处理工艺、溶液中悬浮物质离心分离、分立功率器件热阻测试及分析等。 公司始终坚持“诚信、专业”的发展理念,用全球视角,引入先进的技术与产品,为国内用户提供本地化的专业服务;始终以为客户提供"更丰富的产品选择,更经济的解决方案,更全面的专业服务"为使命,为客户提供最大化的支持,与客户同成长、共辉煌。 服务热线:400 8816 976公司官网:www.analysis-tech.com微信公众号:analysis-tech邮箱:info@analysis-tech.com
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水浸超声扫描系统相关的仪器

  • 设备应用:适合于CNG汽车专用气瓶检测、高压无缝气瓶、焊接气瓶、特种气瓶、液化石油气瓶等的检测,工作状况稳定,探伤灵敏度高,检测效果好。符合GB4730、GB/T5777、GB/T18248等国家相关标准要求。设备特点Equipment Features: 横伤纵伤分层和测厚同时检测 探伤仪网络模块化设计 轴向周向双向定位 图像扫描记录,保存缺陷波形 实时扫描波形监视 应用对象:主要用于大/长件的C扫描检测类,可用于航空航天,汽车,军工,石化,电力等工业领域的盘环件、锻铸件、复合材料(如碳纤维、蜂窝等)、棒、管、坯等各种零部件及异形工件的检测。
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  • 安赛斯(中国)有限公司---国际先进检测设备优质供应商。 我司的水浸超声C扫描系统,根据用途不同,有中小型实验室水浸超声系统和大型工业用水槽系统,满足复合材料研究、靶材生产、航空航天零部件探伤等各种需求,全套系统原装美国进口,是美国军方及波音公司指定超声无损检测产品。 如需索取产品资料及报价,请登录我司官网,并联系我司工作人员。本公司拥有独立的无损检测实验室,可提供测试服务。如需了解产品的详细参数及实时的产品报价,您可以登录安赛斯(中国)有限公司官网400 8816 976产品介绍:名称:水浸式超声C扫描系统型号:UPK-T10,UPK-T24,UPK-T36,UPK-T48,UPK-T60,UPK-T72等。产地:美国应用:进行高分子材料、复合材料、构件内部分层、脱粘、夹杂等缺陷的无损检测和评价。 应用: 水浸超声C扫描系统,是新一代数字化、模块化、计算机插卡式的超声探伤及A/B/C扫描成像系统。具有高速、高精度、高清晰图像分辨率及大频宽等特性。主要用于高分子材料、飞机用纤维复合材料、构件等的内部分层、脱粘、夹杂、空洞、孔洞等缺陷的无损检测和评价。可用于实验室研究,又可用于生产过程的质量检验及零部件探伤。 特点:l 集超声脉冲发射/接收与数据采集为一体的高精度、高性能超声脉冲发射采集卡(可达30MHz带宽,12位精度)。l 具有位置编码器的多轴(4-8轴)运动控制卡及功率放大器。l 由高性能数控电机驱动的多轴、多自由度、高速(可达500mm/s)、高精度(可达0.025mm位置精度)水槽或桁架式扫查系统。l 便携式或工业计算机系统及功能齐全的集多维轮廓与曲面跟踪扫查、探伤、分析、成像及评估于一体的窗式软件。 应用实例:u 航空航天零部件扫查系统u 大尺寸薄板水侵式超声扫查系统u 带驱动转盘的轴、盘、柱类零部件扫查系统u 带驱动滚轴的轴、管类零部件扫查系统u 大型板材生产线高速并行板刷探头超声波质量控制u 导弹类柱状零件喷水式超声扫查系统u 大型桁架结构曲面跟踪超声扫查系统u 自动上下料的炮弹壳底座自动超声质量检测系统更多型号的超声C扫描测试系统产品,请登录安赛斯(中国)有限公司官网查看,或咨询我司工作人员,我司可提供免费样品测试。您还可能感兴趣的产品有:德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah
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  • 安赛斯(中国)有限公司拥有独立的超声无损检测实验室,可提供样机参观和样品测试服务。 我司提供的水浸超声C扫描系统有: 中小型C扫描系统、大型水浸超声C扫描系统,以及便携式超声C扫描系统等。 如需试测样品或产品详细信息,请咨询安赛斯公司工作人员。如需了解产品的详细参数及实时的产品报价,您可以登录安赛斯(中国)有限公司官网400 8816 976产品简介: 名称:大型水浸超声C扫描检测系统品牌/产地:美国型号:T156,T240,T264,T480应用:进行高分子材料、复合材料、靶材、焊缝、构件内部分层、脱粘、夹杂等缺陷的无损检测和评价。详细介绍: 公司为多家大型工矿企业,大型石油石化公司特殊定制了大型重型工业使用的检测系统。这种重型机构采用特殊结构设计,坚固耐用、可靠性好、机械机构合理,广受用户好评。 T156(工业型)有效行程4mX1.5mX0.9m大型工业化系统设计同步带传动,高速平稳静音 4.5m长超大型多轴水浸C-扫描系统 T240(工业型)有效行程6mX0.9mX0.9m大型工业化系统设计同步带传动,高速平稳静音 T264(工业型)有效行程6.7mX1.3mX0.9m大型工业化系统设计同步带传动,高速平稳静音 T480(工业型)有效行程13mX4mX1.2m大型工业化系统设计 同步带传动,高速平稳静音 15m长超大型多轴水浸C扫描系统 20m长超大型多轴水浸C-扫描系统 大型相控阵水浸检测系统 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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水浸超声扫描系统相关的资讯

  • 中国电科超声扫描显微镜填补国内空白
    近日,中国半导体行业协会、中国电子材料行业协会、中国电子专用设备工业协会、中国电子报共同评选出“第四届(2009年度)中国半导体创新产品和技术”36个项目。中国电子科技集团公司第45研究所研发的SSJ-100超声扫描显微镜荣获此奖项。   SSJ-100超声扫描显微镜是一种离线的检测分析设备,在失效分析、工艺过程开发、关键生产工序的监控及小批量产品检测方面有很大的优势,填补了国内空白,并且在各类超声图像的构建与分析、超声发射接收装置、聚焦承片装置等多方面拥有相关专利及自主知识产权的核心技术。该产品可用于各类半导体器件封装如QFN、BGA、FlipChip、CSP、MCM等内部损伤及不连续性等各种缺陷的无损检测及可视化分析,并可用于MEMS的内部无损检测、制造工艺分析以及陶瓷、玻璃、金属、塑料等各种材料的特征、特性分析。相对于X射线的无损检测,超声扫描显微镜可以完整反映器件内部粘接层、填充层、结合层等各方面的内部缺陷,作为无损检测的新一代技术,它拥有不可替代的优势。它以良好的技术支持切实为用户解决问题,在与国外同类产品的竞标中获得了用户的认可,受到了众多用户的好评。该产品不但在技术上成为用户产品生产的可靠保障,而且真正降低了国内用户的生产成本。
  • 南开大学团队:研制出世界首套超快扫描电子显微镜与超快阴极荧光多模态载流子动力学探测系统
    近日,南开大学物理科学学院超快电子显微镜实验室付学文教授团队成功研制并报道了国际首套超快扫描电子显微镜(SUEM)与超快阴极荧光(TRCL)多模态载流子动力学探测系统。该系统在飞秒超快电子模式下实现了空间分辨率优于10 nm,SUEM成像和TRCL探测的时间分辨率分别优于500 fs和4.5 ps,各项技术性能和参数指标达到国际领先水平。该团队利用该多模态载流子动力学探测系统在飞秒与纳米时空分辨尺度直接追踪了n型掺杂砷化镓(n-GaAs)半导体中的光生载流子的复杂动力学过程,结合SUEM成像和TRCL测量成功区分了其表面载流子和体相载流子的动力学行为,全面直观地给出了其光生载流子动力学的物理图像。该仪器系统的成功研制填补了我国在该技术领域的空白,为研究和解耦半导体中复杂的光生载流子动力学过程提供了一个强有力的高时空分辨测量平台,将为新型半导体材料与高性能光电功能器件的开发提供重要支撑。该研究近日以“A femtosecond electron-based versatile microscopy for visualizing carrier dynamics in semiconductors across spatiotemporal and energetic domains”(一种基于飞秒电子的可用于跨时空和能量维度可视化半导体载流子动力学的多功能显微镜)为题,发表于重要国际学术期刊《Advanced Science》。半导体光电材料与器件的功能和性能主要取决于其材料表/界面的载流子动力学过程,例如光伏与光电探测器件需要增强其界面光生载流子的分离与传输,抑制载流子的复合,而发光器件则要增强其界面载流子的辐射复合,抑制非辐射复合。这些载流子的动力学过程多发生在表/界面处,且动力学过程快至皮秒乃至飞秒量级,因此以超高的时间、空间以及能量分辨率测量半导体材料表/界面载流子不同类型的动力学过程对于现代半导体器件的研发及应用起着至关重要的作用,尤其是对于一些低维、高速、超灵敏的半导体光电器件。当前,研究半导体光生载流子动力学的时间分辨探测技术主要有瞬态吸收显微镜(TAM)及光谱、时间分辨近场扫描光学显微镜(NOSM)、时间分辨阴极荧光(TRPL)、时间分辨光发射电子显微镜(TR-PEEM)等。然而,光学衍射极限限制了这些技术的空间分辨率,并且激光较大的作用深度使得测得的动力学信号主要来自材料内部的平均载流子动力学信息,很大程度上掩盖了来自表面或界面载流子的贡献,且单一的探测手段难以同时给出载流子不同类型的动力学信息。因此,为了全面表征半导体材料的载流子动力学,特别是表/界面载流子的动力学,亟需发展一种在时空间和能量维度上同时具有超高分辨率并且兼具高表面敏感特性的超快探测手段。图1. 仪器系统的示意图和时空分辨性能表征。(a)超快扫描电镜与超快阴极荧光多模态载流子动力学探测系统的示意图。其中包含飞秒光学系统、扫描电镜系统、阴极荧光收集系统、条纹相机以及液氦低温台。图中左上角分别为金刚石微晶的扫描电镜图、阴极荧光强度分布图像、阴极荧光光谱以及n型GaAs在77 K下的条纹相机图像 (b)传统模式下锡球标样的SEM图 (c)和(d)不同放大倍数下锡球标样的飞秒脉冲电子图像,表明飞秒脉冲电子模式下良好的成像质量,其空间分辨率优于10 nm。(e)初始红外飞秒激光脉冲的脉宽;(f)超快扫描电子成像的时间分辨率测试,其仪器相应函数(IRF)大约为500 fs;(g)超快阴极荧光探测的时间分辨率测试,其IRF约为4.5 ps。随着超快电子显微镜技术的蓬勃发展,超快扫描电子显微镜(SUEM)和超快阴极荧光(TRCL)技术也迅速兴起,两者都同时兼具超短脉冲激光的超快时间分辨率和电子显微镜的超高空间分辨率。其中SUEM技术是基于泵浦-探测原理,用一束可见波段飞秒激光激发样品表面产生光生载流子,另一束同步的紫外飞秒激光激发扫描电子显微镜的光阴极产生飞秒脉冲电子进行扫描成像。由于扫描电子显微镜主要收集来自距离样品表面几个纳米范围内的二次电子信号,使得超快扫描电子显微镜技术具有表面敏感特性,能够直接对半导体材料表面或界面光生载流子(电子和空穴)的时空演化动力学进行成像。然而,该技术无法直接区分辐射复合与非辐射复合动力学过程。TRCL技术是用聚焦的飞秒脉冲电子束激发样品产生瞬态荧光,用条纹相机或时间相关单光子计数器对瞬态荧光进行测量,具有能量敏感特性,且信号绝大部分来源于材料体内,可直接反映载流子的辐射复合行为。因此,SUEM和TRCL在功能上形成良好的互补,将两者有机结合有望实现在超高的时空和能量分辨下全面解析半导体材料表/界面和体相载流子的动力学信息。鉴于此,付学文教授团队将飞秒激光、场发射扫描电子显微镜和瞬态荧光探测模块相结合,研制出了国际首套超快扫描电子显微镜与超快阴极荧光多模态载流子动力学探测系统(如图1示意图和图2实物图所示),实现了对半导体材料表/界面和体相载流子动力学过程的高时空分辨探测和解析。图2. 超快扫描电子显微镜与超快阴极荧光多模态载流子动力学探测系统实物照片。图3. 利用该系统对n型GaAs单晶表面的SUEM成像和TRCL测量结果。(a)n型砷化镓表面测量得到的随时间演化的SUEM图像;(b)从图(a)中光激发区域提取的二次电子强度演化及相应的载流子演化时间常数;(c)表面载流子的空间分布随时间的演化;(d)从297 K到77 K的变温时间积分CL光谱;(e)和(g)在图(a)的SUEM测试区域中分别探测得到的297 K和77 K下的条纹相机图像;(f)和(h)分别从(e)和(g)中提取的带边发射的衰减曲线及相应的荧光寿命。为展示SUEM成像与TRCL探测在超高时空和能量分辨率下直接可视化并解耦半导体中复杂激发态载流子动力学过程上的独特优势,该团队利用该自主研发的多模态实验装置研究了n型GaAs中的载流子动力学。如图3所示,SUEM图像表明由于表面能带弯曲效应,飞秒激光作用后表面光生载流子发生快速分离使空穴向表面富集。通过分析随时间变化的SUEM图像,提取出了光生载流子不同阶段的衰减时间常数;同时通过计算表面空穴分布的均方根位移,揭示了对应不同阶段表面空穴随时间的超扩散、局域化和亚扩散过程。通过进一步分析室温和液氦温度下测量的条纹相机图像中相应的非平衡载流子复合动力学过程和寿命,不但区分出了体相和表面载流子动力学过程的差异,还揭示了上述表面载流子的空间演变过程分别对应于能量空间热载流子冷却、缺陷捕获和带间/缺陷辅助辐射复合过程。该工作阐明了表面态和缺陷态对半导体表/界面载流子动力学的重要影响,展示了超快扫描电子显微镜和超快阴极荧光多模态动力学探测系统在超高时空尺度解耦半导体表/界面和体相载流子动力学中的独特优势。南开大学为该项工作的第一完成单位及通讯单位。南开大学物理科学学院博士生张亚卿和博士后陈祥为该论文共同第一作者,南开大学付学文教授为通讯作者。该研究得到了国家自然科学基金委、国家科技部、天津市科技局、中央高校基础研究经费等的大力支持。文章链接:https://doi.org/10.1002/advs.202400633
  • 1688万!北京理工大学超精密低噪声测试平台系统、场发射环境扫描电子显微镜等采购项目
    一、项目基本情况1.项目编号:CFTC-BJ01-2311044项目名称:北京理工大学超精密低噪声测试平台系统采购预算金额:490.000000 万元(人民币)采购需求:采购标的用途数量是否接受进口产品投标简要技术参数或要求描述超精密低噪声测试平台系统用于教学及科研1套是详见招标文件第四章“货物需求一览表及技术规格”合同履行期限:签订合同之日起至质保期结束。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号:CFTC-BJ01-2311043项目名称:北京理工大学低温、强磁场、高压显微红外测试系统采购预算金额:306.000000 万元(人民币)采购需求:采购标的用途数量是否接受进口产品投标简要技术参数或要求描述低温、强磁场、高压显微红外测试系统用于教学及科研1套是详见招标文件第四章“货物需求一览表及技术规格”合同履行期限:签订合同之日起至质保期结束。本项目( 不接受 )联合体投标。3.项目编号:GXTC-A1-23630980项目名称:北京理工大学场发射环境扫描电子显微镜采购预算金额:462.000000 万元(人民币)最高限价(如有):462.000000 万元(人民币)采购需求:序号货物名称主要规格单位数量交货时间交货地点是否接受进口产品投标1北京理工大学场发射环境扫描电子显微镜采购详见附件套1签订合同之日起10个月内货到采购人指定地点并安装调试验收完毕北京理工大学西山实验区是合同履行期限:签订合同之日起10个月内货到采购人指定地点并安装调试验收完毕 。本项目( 不接受 )联合体投标。4.项目编号:CFTC-BJO1-2311045项目名称:北京理工大学红外焦平面探测器综合测试与成像设备采购预算金额:430.000000 万元(人民币)采购需求:采购标的用途数量是否接受进口产品投标简要技术参数或要求描述红外焦平面探测器综合测试与成像设备教学及科研1套是详见招标文件第四章“货物需求一览表及技术规格”合同履行期限:签订合同之日起至质保期结束。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2023年12月04日 至 2023年12月11日,每天上午8:30至12:00,下午12:00至16:30。(北京时间,法定节假日除外)地点:北京市朝阳区东三环南路甲52号顺迈金钻国际商务中心9层9C方式:现场获取售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:北京理工大学     地址:北京市海淀区中关村南大街5号        联系方式:陈老师010-68912384       2.采购代理机构信息名 称:国金招标有限公司            地 址:北京市朝阳区东三环南路甲52号顺迈金钻国际商务中心9层9C            联系方式:杨振豪、刘晓红、孙涛、王树凡、张含勇、王珊珊、边璐、谢丹丹010-53681306/1309(获取采购文件电话:010-53670136)            3.项目联系方式项目联系人:杨振豪、刘晓红、孙涛、王树凡、张含勇、王珊珊、边璐、谢丹丹电 话:  010-53681306/1309(获取采购文件电话:010-53670136)

水浸超声扫描系统相关的方案

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  • 三维光声超声成像系统特点

    [b][url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/nexus128.html]三维光声超声成像系统Nexus128[/url][/b]是全球首款成熟商用的[b]3D光声成像系统[/b]和[b]3D光声CT系统[/b]和[b]3D光声断层扫描成像系统[/b],具有更高灵敏度和各向同性分辨率,提高光声图像质量,具有更快的扫描时间和更高光声成像处理能力。三维光声超声成像系统利用内源性或外源性对比产生层析吸收的断层图像,适用于近红外吸收染料或荧光探针进行对比度增强和分子成像应用。三维光声超声成像系统应用分子探针的吸收和分布肿瘤血管-血红蛋白浓度肿瘤缺氧-二氧化硫[img=三维光声超声成像系统]http://www.f-lab.cn/Upload/photo-acoustic-CT-Nexus128.png[/img]三维光声超声成像系统Nexus128特点预定义的肿瘤生物学和探头吸收协议先进灵活的研究模式的扫描参数先进的重建算法易于使用的图形用户界面紧凑,方便的现场系统强大的查看和分析软件易于使用的图形用户界面数据可视化与分析三维光声数据从三维光声超声成像系统传输到工作站进行观察和分析。工作站上的数据具有与三维光声超声成像系统相同的结构/组织。独立的工作站允许调查员分析数据,而另一个操作员正在获取数据。前置像头具有强大的内置工具Endra 可以为特殊定量数据应用提供OsiriX 插件三维光声超声成像系统Nexus128:[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/nexus128.html[/url]

水浸超声扫描系统相关的耗材

  • 大面积扫描开尔文探针系统配件
    大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器
  • 单点开尔文扫描探针系统配件
    单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统,具有极为紧凑结构,可安放到各种环境箱或防尘罩中,探针头与振荡薄膜一起使用,预放大器集成到探针头中,方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺,底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径:40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
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