三维变角测色系统

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三维变角测色系统相关的厂商

  • 北京三维麦普导航测绘技术有限公司成立于2007年,注册资金为1600万元,设计并实施国内外大型电厂,钢厂,焦化企业等盘煤盘料项目数百家。 公司长期致力于自主研发和生产,自主研发产品包括远距离三维激光扫描仪,防爆型三维激光扫描仪,棚内轨道小车盘料系统,无人机航拍测量系统,便携扫描式盘料仪,背包手持式三维激光盘料仪,筒仓料位监测系统,地下空洞体积扫描系统,隧道三维扫描系统,机场净空测量仪,12公里免棱镜测距仪,高低差测量仪,数字夜视侦查仪,微型手持全站仪,工业领域高精度伺服控制测角云台,研发定制工业、矿山、测绘行业使用的三维坐标测量仪器,是长期致力于三维扫描及料堆体积测量领域的硬件制造商。公司利用自有的高精度激光扫描式盘煤仪,无人机盘煤仪,现面对各地用户承接各种煤炭、矿石、砂石、粮囤、木屑、化工原料堆体测量盘煤工程!  公司承接科研合作项目,领域涉及三维激光料堆体积扫描系统,工业视觉及激光定位系统,测姿态测方向精密测角系统,远距离测距传感器,动态视频跟踪定位系统,无人机应用项目,服务于工业企业。  公司在电厂、煤矿、钢厂、粮食企业、港口的料堆三维扫描领域,有广泛应用,已与各地区的华电,国电,华能,大唐,华润,中电投等主要集团建立的良好的合作关系,树立了良好口碑!TEL18511635101
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  • 新拓三维技术(深圳)有限公司,致力于先进三维光学测量技术研究和系列测量设备的研发、技术方案提供。公司总部位于深圳,在西安设立研发中心,核心团队为原西安交大三维技术团队,长期潜心于三维光学测量的基础及应用研究。团队多项研究成果及关键技术达到国际先进水平,制定了三维光学测量领域的第一个国家标准,项目技术获得国家技术发明二等奖一项,陕西省科学技术奖一等奖一项。团队以深圳为市场开拓桥头堡,将从基础研究转向应用研发和市场开拓,以三维工业测量检测、科研设备和教育三大板块主要业务方向。 公司拥有三维光学测量检测数款成熟产品,多项产品填补国内空白并成为国内唯一供应商。公司四大系列产品和技术:三维外形轮廓检测测量、三维应变测量、变形测量、三维动态和运动轨迹测量、教育文创及民用领域的外形测量,十多个三维光学测量系统产品,广泛应用于国内外研究机构、高校及企业的科研、生产和在线检测中,涉及消费电子、航天航空,汽车,重型机械,医疗等行业和机械、材料、力学、土木工程等10多个学科领域。 公司产品现分为三大系列。三维全场变形测量系列,XTDIC非接触全场应变测量,又称为数字散班应变测量分析系统,其中包括板材应变测量系统XTDIC-FLC,显微应变测量系统XTDIC-MICRO等;三维外形轮廓测量系列,其中包括工业用板块三维摄影测量系统XTDP,三维扫描仪XTOM,民用板块手持式三维扫描仪G200,人体扫描系统等; 关键点追踪系列,包括三维动态测量系统XTDA ,静态变形测量系统XTDP-DEF。
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  • HOLON华朗科技从事三维数字化扫描系统的公司,是专业三维结构光扫描系统运营企业。我们致力于先进制造技术领域内的高技术装备的研发生产和销售、数字化制造解决方案、三维技术支持、三维技术服务的专业公司,尤其精研三维非接触扫描、快速成型、逆向工程。HOLON华朗科技提供三维光栅(结构光)式扫描仪、拍照式三维扫描仪、三维摄影测量系统、三维人体扫描仪、三维手持式扫描仪等产品。提供三维数字化制造技术解决方案、逆向工程、模具设计、质量检测、人体扫描测量等领域的技术支持与服务。我们将不断研发先进的数字化设备,为发展民族高科技制造业做出贡献!公司理念: “科技报国,自强不息”我们坚持以科技报国为已任,自强不息,积极进行技术创新。为三维数字化制造技术的应用、传统产业的改造与生产力的提高做出贡献,竭诚为用户提供完善的产品,周到的服务。服务内容:“精益求精,永无止境”华朗科技提供三维光栅(结构光)式扫描仪、拍照式三维扫描仪、三维摄影测量系统、三维人体扫描仪等产品。提供三维数字化制造技术解决方案、逆向工程、模具设计、质量检测、人体测量等领域的技术支持与服务。成功案例:“立足中华,服务四海” 产品以其先进的技术、可靠的质量、优秀的技术支持与完善的服务,受到广大用户的好评与欢迎。我们为众多著名企业、大专院校及科研机构提供产品与服务。华朗三维科技供应:三维扫描仪,三维激光扫描仪,抄数机, ,拍照式三维扫描仪,三维立体扫描仪,三维光学扫描仪,三维人体扫描仪,逆向工程,抄数服务 ,手持式三维扫描仪华朗三维扫描仪应用行业:汽车、游艇行业,制鞋行业,玩具、手机、陶瓷、雕塑行业,人体测量领域,女士内衣及服装行业,彩色扫描,文物扫描领域,检测领域,模具设计
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三维变角测色系统相关的仪器

  • 追求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用最理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,形成三维结构分析最理想的镜筒布局融合高亮度冷场发射电子枪与高灵敏度检测系统,从磁性材料到生物组织——支持分析各种样品通过选配口碑良好的Micro-sampling® 系统*和Triple Beam® 系统*,可支持制作高品质TEM及原子探针样品 垂直入射截面SEM观察可忠实反映原始样品结构SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,实现FIB加工截面的垂直入射SEM观察。旧型FIB-SEM采用倾斜截面观察方式,必定导致截面SEM图像变形及采集连续图像时偏离视野,直角型结构可避免出现此类问题。通过稳定获得忠实反映原始结构的图像,实现高精度三维结构分析。同时,FIB加工截面(SEM观察截面)与样品表面平行,有利于与光学显微镜图像等数据建立链接。样品:小白鼠脑神经细胞样品来源:自然科学研究机构/生理学研究所 窪田芳之 先生
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  • 日本村上色彩三维变角分光测色系统GCMS-3B日本村上色彩三维变角分光测色系统GCMS-3B设计用于测量角膜表观材料,如珍珠云母涂层表面和干涉颜料。 这些材料根据观察角度和照明角度改变颜色外观。 对于这种类型的材料,该三维变角分光测色系统可以通过在用户可选择的照射和检测角度下测量反射(或透射)光的空间分布来测量其颜色。GCMS-4三维变角分光测色系统和GCMS-3 B型一样,当观察方向和照射方向改变时,产生翻转效果,改变颜色。此外,还可以测量镜面反射和常规透射测量以及具有良好再现性的扩散区域。应用范围- 珍珠云母和金属漆- 阳极氧化和金属化涂层和油墨- 头发护理 - 着色剂和护发素- 涂层玻璃- 塑料- 复古反光、涂层和珍珠效果的纺织品- 化妆品- 液晶显示器技术参数 型号 GCMS-3B GCMS-4B 测量系统 双光束系统 双光束系统 波长范围 390-730nm 390-730nm 探测器 硅光电二极管 硅光电二极管 光源 12V 100W卤素灯,额定寿命500HRS 12V 100W卤素灯,额定寿命500HRS 入射角范围 -80°~ +80°**当入射角和接收角之间的差异≤12°时,灯罩会阻碍接收器 -81°~ +81°**当入射角和接收角之间的差异≤12°时,灯罩会阻碍接收器 角度精度 0.5%以内 0.5%以内 可视区域 约 8 x 16 mm at 0° 接收角度约 8 x 94 mm at 80° 接收角度(翼动角均为 0°) 约 8 x 16 mm at 0° 接收角度约 8 x 106 mm at 81° 接收角度(翼动角均为 0°) 测量精度 0.5%以内 0.5%以内 重复性 0.06%SD(在560nm处45°/ 0°测白色瓷砖) 0.05%SD(在560nm处45°/ 0°测白色瓷砖) 尺寸 L 972×W 566×H922 mm L730×W1152×H971 mm 电源 100 VAC, 50/60 Hz 100 VAC, 50/60 Hz
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  • 在涂料研制和生产的测试流程中,ORONTEC提供了高技术的支持。在Q-Chain® 中有几个系统,有助于涂料供应链之间保持持续的质量。这个在行业中技术领先的液体湿膜测色、配色系统,已经在全球范围内的工业应用上拥有逾十年经验。产品简介通常情况下,涂料和色浆的比色法评估是通过手动测量涂料/色浆打样后的干表面完成的,喷涂/涂布打样—--干燥的整个过程需要耗上几个小时,并且延误了生产,因为涂料和色浆是否合格过关均取决于测量结果。除此之外,此测试方法要使用到“干”表面,而制样并等待涂层表面变干燥都是相当耗费时间的。在多次的测试中表明,Q-Chain® LCM液体湿膜测色、配色系统的测试结果甚至比上述的“干”表面测量方法更加精确,因为使用Q-Chain® LCM液体湿膜测色、配色系统进行测量能够减少由手动交互和过程变量产生的影响。操作方式将液体涂布材料放置在液体湿膜测色、配色系统的旋转圆盘上,并通过一个分光测色仪直接测量湿膜的颜色。最后得出的测量数值会被储存和评估到软件中,并录入到数据库。整个过程需时不超过3分钟!所有的测量数据可根据不同的标准,对dE、着色力强度、同色异谱等进行评估,并配色。使用 Q-Chain LCM® 可达到什么目的?Q-Chain® LCM液体湿膜测色、配色系统可以缩短和优化着色剂、颜料及涂料的生产流程,令涂料的生产过程变稳定,以及系统处理涂料的循环时间显著减少,而使前后的生产步骤都可以变得更加高效。最终,这个程序可使调色步骤减少至0 – 2个步骤*,也就是减少重复调色并测试次数。我们提供了一个用于优化生产过程的模块化系统。此项目通常包含以下三个步骤:阶段 1 :建立试验方法。此试验方法的目的是缩短涂料的生产时间,并得到更稳定的结果。因为在测试过程中喷涂或涂布涂料时,存在的其它各种干扰因素会使测试结果产生差异,例如底材料的差异,喷涂的湿膜厚薄程度,干燥的升温过程导致的干膜厚度,涂布棒的损耗等。阶段 2 :通过快速得到测试结果提供的信息,尽可能更好地调整此前的配色方案,使之颜色更加稳定。阶段3 :重新组织整个涂料配色方案。因为子方案对涂料释放时间的加速和结果的稳定拥有参考作用,可应用于之前和随后的配色方案流程。软件我们的 Q-Chain® LCM 液体湿膜测色、配色系统软件由四个模块组成,覆盖了质量控制、研发和生产的测量任务。阶段1 – 3 涵盖了"ColorControl"(色彩控制)和"ProcessControl”(工艺控制)模块。"Quality Control”(质量控制)和"ResearchControl”(研究控制)模块是额外的软件包,您也可以另外订购。该软件的核心部分是Q-Chain® 液体湿膜测色、配色系统的数据库,所有的测试结果作为原始数据存储于此。该软件使用简便而且操作直观,开放的接口和一个工业基础数据格式导入数据库,它可以扩展到一个中央质量数据的基础上。主要特点:- Q-Chain LCM液体湿膜测色、配色系统应用于实验室规模当中,所需空间小,可在不同的地方使用(也可用于生产中)- 每次测试只需用到30ml的涂料- 测试时间短(不到3分钟)- 具有很好的重现性——等同于全自动实验室应用(喷雾式)- 提供包括软件、培训以及电脑或笔记本电脑
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三维变角测色系统相关的资讯

  • 色度计基础(三)常见测色方法和仪器
    色度计基础(三)常见测色方法和仪器摘要针对不同的测试环境和要求,需要选不同的测试仪器。在只需要知道样品色坐标的情况下,可以选用光电积分测色仪(色度计),满足卢瑟条件的色度计能满足许多场景的测色要求。在需要获取样品的精确光谱信息时,可选用分光光度计,多通道平行测色的分光光度计,测色速度快,精度高。正文目视测色:在某些特定的行业和环境中,依然保留着目视测色法,即通过人眼去判断颜色是否与预期存在误差,有时会用到标准光源或标准色样。目视测色法完全依赖观察者的经验和敏锐的分辨力来判断颜色的差别,且速度较慢。 图 1 左:一种常见于纺织和服装设计的比色卡 右:一种判断溶液中物质浓度的标准比色液光电积分测色:将入射光分别通过滤光片透射率-探测器联合响应曲线满足CIE标准三刺激值谱线(也有可能是某一特定谱线)的三条或四条通道(因为针对红光,在CIE三刺激标准中有两个峰,很难在一片滤光片做出吻合度很好的透射率曲线,有些设计中会做成四个通道),再经过信号放大与模数转换电路,获得样品在标准光源下的三刺激值。这种测色方式,获得的三刺激值大小,与光电探测器上接受到的光强成比例。这种测试方法速度快,可以获得满足大部分情况的色坐标准确度。各种色度计(或称作光电积分测色仪、比色计或色差计)普遍采用这种结构。缺点是无法获得样品的光谱信息。图 2荷兰Ademesy公司高速高精度色度计结构示意图这是一类仿人眼结构的测试设备,即用光电二极管和三色(也有可能是四色)滤光片模拟人眼中的三种色觉感受细胞,在不考虑系统电子系统稳定性、精度和环境等因素的情况下,测色结果的准确度,主要跟滤光片-探测器组成的通道的光谱响应曲线和CIE标准谱线的吻合程度有关,即卢瑟条件。该条件还指出三个线性无关的原色,经过混合能够表示任意一种颜色,故可以用在仪器做测色结果的校准,在相机和色度计中常见。图 3 左:Hyperion色度计谱线与标准CIE-XYZ体系谱线比较 右:颜色校准矩阵分光测色:(1)光谱扫描测色:这种工作方式的分光光度计往往将光源集成在设备内,通过分光器件和单色器,将光源发出的光分成一路或两路单色光(两路光路居多),将经过样品透射或反射后的光谱,与空样品池或标准白板做对比,获得样品的透射(或反射)光谱曲线。直接获得的是样品的光谱信息,需再经数据处理,才能获得样品的三刺激值。因为采用参比法测量物体透射(反射)光谱,消除了光源不稳定、光学器件效率等一些干扰因素。且往往这类设备体积较大,测试环境稳定,光学器件精密,故这种方法获得的样品光谱信息最为准确,但速度较慢,且常受限于测试场景和样品尺寸,使用成本较高。(2)多通道平行测色光源发出的光照射在样品上,经样品透射(或反射)后,通过狭缝进入设备。设备中分光器件将不同波长的光线分到不同的方向角上,经凹面反射镜聚焦到线性ccd上,CCD将光强转换为电信号,每一个CCD单元获取的光能量,对应样品光谱中某一波长范围的光谱能量,从而获得样品的透射(反射)光谱。 图 4 左:Rhea光谱仪的结构示意图 右:测得某样品的光谱图这样获得的样品光谱实际上是一系列底边较窄的柱状图,是一种实际光谱的近似,通过计算样品每一小段波长的光能量,对CIE标准下的XYZ三刺激值产生的作用并求和,就可以获得样品的三刺激值。这样的设备,将经过标准光源校准后的数据存储在设备中,在测量光源,发光屏时不需要额外的参考光路,这要求设备有较好的稳定性和光谱准确度。这样的测试方法容易获得较为准确的色坐标值,且测试速度较快。测色标准相关器件:归根结底,颜色是物体对光源光谱的选择性透射和反射,需要评价样品的颜色,就必须要建立标准,在相同条件下获得的样品光谱或色坐标,才具有可比性。除了测色仪器本身以外,我们还需要用到这些器件:如标准光源、积分球和标准白板等。这些仪器的搭配使用,也拓展了测色仪器的使用场景。1. 标准光源:标准光源有固定的光谱,和很好的稳定性。可以用于测试仪器的标定,也可以用做样品的照明,常用的有A光源,C光源,D65光源。2. 标准白板将标准白板属于全反射漫射体,波长选择性低,反射比接近1,常见的涂覆层材料有硫酸钡(BaSO4)、碳酸钙(CaCO3)、氧化镁(MgO)等。常放置于双光路分光光度计的参比光路中,作为反射测量的标准参照,可以用于仪器的校定,也可以用来和样品做对比来获得样品色度信息。3. 积分球积分球为一种内壁涂有低光谱选择性的高反射材料的球体,光在积分球中经过漫反射可以变得均匀。(1)可以让标准光源发出的光变成均匀光,这对仪器标定,样品照明都很重要;(2)可以在积分球上加光陷阱,吸收不需要的样品反射光(如吸收样品镜面反射光)。
  • 基于光线模型的成像系统标定与三维测量进展
    一、背景介绍:机器视觉可称为人工智能的“慧眼”,成像系统的标定又是机器视觉处理的重要环节之一,其标定精度与稳定性直接影响系统工作效率。在传统机器视觉与摄像测量标定领域,小孔透视模型仍存在高阶透镜畸变无法完备表征和多类复杂特殊成像系统不适用的问题。而基于光线的模型以成像系统聚焦状态下每个像素点均对应空间一条虚拟主光线为前提假设,通过确定所有像素点所对应光线方程的参数即可实现标定与成像表征,可避免对复杂成像系统的结构分析与建模。基于该光线模型,研究院相关课题组发展了各类特殊条纹结构光三维测量方法与系统,实验证明光线模型可通用于多类复杂成像系统的高精度测量,是校准非针孔透视成像系统的有效模型,可作为透视模型的补充。二、光线模型Baker等人最早提出了一种可表征任意成像系统的光线模型[1],认为图像是像素的离散集合,并以一组虚拟的感光元件“光素”表示每个像素与某像素相关联的空间虚拟光线间的完整几何特性、辐射特性和光学特性,如图1所示。因此,光线模型的标定即确定出所有像素点对应的光线方程,无需严格分析和构建成像系统的复杂光学成像模型,具备一定的便携性和通用性,从一定程度上也可避免镜头畸变的多项式近似表征引入的测量误差,为非小孔透视投影模型成像系统的表征提供了一种新的思路。图1 成像系统的光线模型示意图三、基于光线模型的条纹结构光三维测量在条纹结构光投影三维测量领域,光线模型一方面可作为三维重建的光线方案,用于表征大畸变镜头、光场相机、DMD投影机、MEMS投影机等多类特殊结构的成像与投影装置,可发展新的基于光线模型的条纹结构光三维测量方法与系统;另一方面,发掘光线模型在结构光测量中的优势,光线模型对克服投影与相机的非线性响应、大畸变镜头成像下提升三维重建精度具有优异的效果。3.1 Scheimpflug小视场远心结构光测量系统光线模型与三维测量课题组开发了小视场远心结构光测量系统,采用Scheimpflug结构设计确保公共景深覆盖,如图2所示。考虑到远心镜头属平行正交投影、Scheimpflug倾斜结构造成畸变模型非中心对称,因此,提出一种基于光线模型的非参数化广义标定方法[2]。系统中相机与投影机成像过程均采用光线模型表征,标定其像素与空间光线对应关系,计算光线交汇点坐标,实现三维重建。图3展示了系统实物图与五角硬币局部小区域的三维测量结果,测量精度为2 μm。图2 Scheimpflug小视场远心结构光测量系统图3 测量系统实物图与五角硬币局部的三维测量结果3.2光场相机的光线模型标定与主动光场三维测量课题组发展了基于主动条纹结构光照明的光场三维测量方法与系统。光场相机通过在传感平面前放置微透镜阵列,实现光线强度和方向的同时记录,由于存在微透镜加工误差、畸变像差、装配误差等复杂因素影响,光场相机完备表征与精密标定是个难题。课题组提出光线模型表征光场成像过程[3],即将光场相机内部看作黑盒,直接建立像素m与所对应的物空间光线方程l的参数,如图4所示。并通过标定光场所有光线与投影条纹相位的映射关系实现被测为物体的高精度三维测量,考虑光场多角度记录特点,构建基于条纹调制度的数据筛选机制,实现了场景的高动态三维测量,如图5所示,黑色面板与反光金属可同时重建。图4 光场成像模型图5 主动光场高动态三维测量3.3 DMD投影机与双轴MEMS激光扫描投影机的光线模型标定与三维测量基于微机电系统(MEMS)激光扫描的投影机以小型化、大景深的优势被应用于条纹投影测量系统,如图6(a)所示。但由于其依赖激光点的双轴MEMS扫描投影图案,不依赖镜头成像,透视投影模型表征会存在一定误差。此外, DMD等依赖镜头成像的投影机,大光圈设计也会影响小孔透视投影模型的表征精度。对此,课题组采用光线模型表征投影机[4],并提出了一种基于投影机光线模型的条纹投影三维测量系统标定方法,该方法根据双轴MEMS投影的正交相位对光线进行识别追踪,利用投影光线与相机构建的三角测量实现了三维重建。进一步发现:由于投影光线的相位一致性特性,光线模型可显著抑制系统非线性响应引起的测量误差,图6(b)展示了单目系统在3步相移条件下(未额外矫正非线性响应),分别使用透视投影模型与光线模型对石膏雕塑的三维重建结果,可见光线模型对非线性响应影响具有免疫性。图6 双轴MEMS激光扫描投影原理和石膏雕塑三维重建结果(3步相移,左图为透视投影模型,右图为光线模型)3.4单轴MEMS激光扫描投影机光线模型标定与三维测量单轴MEMS投影机将激光点扫描拓展为面扫描大幅提升了投影速率,可应用于动态测量。针对单轴MEMS投影机无透镜结构使得针孔模型不适用、单向投影无法提供正交相位特征点的问题,课题组提出一种基于等相位面模型的系统标定方法[5],推导出了相机反向投影射线与该等相位面交点处的三维坐标值与相位值间新的映射函数,实现了快速三维重建。图7展示了使用高速相机搭建的单目测量系统和重建场景,投影采集速率为1000 frame/s,采用4步相移与雷码图相位展开,三维重建速率为90 frame/s。后续为适应更高速率测量应用,可将单目扩展为双目或多目系统,采用单帧解调相位和多极线约束相位展开等方法减少投影图像数量,提升三维测量速率。图7三维测量系统与动态重建场景3.5大畸变镜头成像的光线模型标定与三维测量针对传统低阶多项式不能完备表征大畸变镜头的问题,课题组采用光线模型表征大畸变镜头相机成像,并提出一种完全脱离对相机和投影机内参依赖(透视模型依赖相机与投影机内参)的光线与条纹相位映射的三维重建方法。通过直接标定相机光线与条纹相位的倒数多项式映射系数,避免了繁琐耗时的对应点搜索与光线插值操作。图8为装配4 mm广角镜头的光线标定结果与标准球三维测量结果,可见由于广角镜头畸变较大,光线模型较透视模型重建质量有所提升。图8 广角镜头光线标定与标准球三维测量数据的拟合误差分布(a)透视投影模型,(b)光线映射模型四、总结光线模型通过确定所有像素点所对应光线方程的参数实现标定与成像表征,从而避免了对复杂成像(投影)系统的结构分析与建模,解决了特殊条纹投影三维测量系统的标定与重建问题,同时在条纹投影三维测量的系统非线性相位误差抑制和精度提升上展示出优异性能。在结构光三维测量的未来发展中,可进一步扩展光线模型三维测量的方法与应用,提升测量精度、效率与通用性,解决各类特殊复杂场景中的应用测量问题。参考文献[1] Baker S, Nayar S K. A theory of catadioptric image formation[C]//Sixth International Conference on Computer Vision (IEEE Cat. No.98CH36271), January 7, 1998, Bombay, India. New York: IEEE Press, 1998: 35-42.[2] Yin Y K, Wang M, Gao B Z, et al. Fringe projection 3D microscopy with the general imaging model[J]. Optics Express, 2015, 23(5): 6846-6857.[3] Cai Z W, Liu X L, Peng X, et al. Ray calibration and phase mapping for structured-light-field 3D reconstruction[J]. Optics Express, 2018, 26(6): 7598-7613.[4] Yang Y, Miao Y P, Cai Z W, et al. A novel projector ray-model for 3D measurement in fringe projection profilometry[J]. Optics and Lasers in Engineering, 2022, 149: 106818.[5] Miao Y P, Yang Y, Hou Q Y, et al. High-efficiency 3D reconstruction with a uniaxial MEMS-based fringe projection profilometry[J]. Optics Express, 2021, 29(21): 34243-34257.课题组简介:本文作者:刘晓利 ,杨洋 ,喻菁 ,缪裕培 ,张小杰 ,彭翔 ,于起峰 ;深圳大学物理与光电工程学院深圳市智能光测与感知重点实验室。以于起峰院士领衔的深圳大学智能光测图像研究院主要研究方向包括大型结构变形与大尺度运动测量、超常光学测量与智能图像分析、计算成像与三维测量以及多传感器融合感知与控制等。
  • 935万!长安大学高分辨三维X射线显微镜系统采购项目
    一、项目基本情况项目编号:CZB2022060H/GXTC-A1-23570184项目名称:高分辨三维X射线显微镜系统预算金额:935.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):935.0000000 万元(人民币)采购需求:是否接受进口产品投标:是 其他:投标人必须对招标货物内所有货物进行投标,不允许只投标其中的一部分,否则作为无效标处理。序号采购标的数量单位技术规格、参数及要求交货地点1高分辨三维X射线显微镜系统1套详见附件甲方指定合同履行期限:本项目交货安装期为签订合同后七个月内,且完成安装调试等相关工作。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2023年06月19日 至 2023年06月27日,每天上午9:00至12:00,下午13:30至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:西安市南二环西段58号成长大厦20楼方式:时间:2023年6月19日09时00分至2023年6月27日17时00分每天上午9:00至12:00,下午13:30至17:00(北京时间,法定节假日除外)。地点:西安市南二环西段58号成长大厦20楼。方式:现场购买。凡有意参加投标者,在获取文件的同时还需在招标代理公司的系统中http://user.gxzb.com.cn/ztb/unit/login/login.jsp注册单位信息(免费),并持投标人法人代表证明及法人代表授权和被授权人的有效身份证明原件及复印件(加盖公章),登记备案并获取招标文件。售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:长安大学     地址:陕西省西安市南二环中段        联系方式:韩老师029-82334618      2.采购代理机构信息名 称:国信国际工程咨询集团股份有限公司            地 址:西安市雁塔区南二环西段58号成长大厦20层            联系方式:管亚青、张海飞 029-85239977-9016 15029286327            3.项目联系方式项目联系人:管亚青电 话:  15029286327

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  • DigiEye数码测色系统/digieye数慧眼

    DigiEye数码测色系统/digieye数慧眼

    DigiEye数慧眼可以应用在各种行业,如服裝、家饰纺织品及各种副料,鞋类设计制造,电子产品包括手机、相机和电脑,玩具,烘焙、水果、蔬菜及奶制品等食品、饮料包括酒类与果汁及包装设计,塑胶皮革,陶瓷制品,壁纸与油漆,地毯,木板及金属材料,化妆品,透明或半透明产品等。  1 DigiEye数慧眼系統可以处理测色颜仪器无法表现的样品纹理与立体感。以往影像与真实颜色不能在荧幕同时处理,DigiEye数慧眼则兼容影像与真实颜色,使数位样品(Digital Sample)得以实现。  2 样品颜色的光谱值可以与生产方面结合,所以并非单纯的模拟,避开了可以设计出来但做不出来的问题,节省了试色的时间与减少延误。  3 色差可由荧幕影像中作视觉判断及由系统算出色差值,两者同时比对,可以比对两个样品中复杂颜色的区别,以及多个样品颜色的比对。DigiEye数位眼灰色标评级,除了可以作为各种色牢度试验后的結果评定工具,更可以用于一些复杂颜色的规格订制。加速管理效益----从设计計到成品成本的缩减。  4 数字样品档案可以与ERP 系统连结,作各种的快速搜寻与管理。  DigiEye数码测色系统包括:配有散射光源或直射光源的VeriVide灯箱、高性能数码摄像机、标准色卡、配有定标显示器的电脑工作台以及先进的图像处理与评估软件。该系统由数码摄像机象素分辨率决定测色的最小几何分辨率。

  • 三维光声超声成像系统特点

    [b][url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/nexus128.html]三维光声超声成像系统Nexus128[/url][/b]是全球首款成熟商用的[b]3D光声成像系统[/b]和[b]3D光声CT系统[/b]和[b]3D光声断层扫描成像系统[/b],具有更高灵敏度和各向同性分辨率,提高光声图像质量,具有更快的扫描时间和更高光声成像处理能力。三维光声超声成像系统利用内源性或外源性对比产生层析吸收的断层图像,适用于近红外吸收染料或荧光探针进行对比度增强和分子成像应用。三维光声超声成像系统应用分子探针的吸收和分布肿瘤血管-血红蛋白浓度肿瘤缺氧-二氧化硫[img=三维光声超声成像系统]http://www.f-lab.cn/Upload/photo-acoustic-CT-Nexus128.png[/img]三维光声超声成像系统Nexus128特点预定义的肿瘤生物学和探头吸收协议先进灵活的研究模式的扫描参数先进的重建算法易于使用的图形用户界面紧凑,方便的现场系统强大的查看和分析软件易于使用的图形用户界面数据可视化与分析三维光声数据从三维光声超声成像系统传输到工作站进行观察和分析。工作站上的数据具有与三维光声超声成像系统相同的结构/组织。独立的工作站允许调查员分析数据,而另一个操作员正在获取数据。前置像头具有强大的内置工具Endra 可以为特殊定量数据应用提供OsiriX 插件三维光声超声成像系统Nexus128:[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/nexus128.html[/url]

三维变角测色系统相关的耗材

  • 三维表面形貌仪配件
    三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维形貌仪配件参数: 定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面形貌仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积 分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度 摩擦学研究,光谱分析 磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
  • 三维位移台
    该电动三维位移台是一款无刷直线伺服电机驱动的电动直线位移台,融合了高速高精度的特点,具有亚微米的定位精度,三维位移平台可以为用户带来高工作量/吞吐量,最大负载高达50kg,最高速度高达3m/s.主要特色:三维位移台精确导向系统为高速度长行程提供稳定的定向和导向保障 三维位移台强大的直线电机提供高负载能量和大驱动力;三维移动台高分辨率直线编码器(光栅尺)提供精确的定位反馈和闭环数字伺服控制;三维移动台具有美国制造的坚固耐用特性,高可靠性,长期工作。产品特色:这款三维位移平台采用直接驱动的直线电机用于位移台的定位。这种技术与传统的导螺杆驱动的位移台相比,具有明显的优势:三维位移平台没有螺杆驱动系统中出现的弹性形变问题,可保障更为复杂而精密的定位轨迹,更短的设置和行进时间,更高的重复精度,更快的伺服反应。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种技术没有旋转惯性,可获得更高的加速度和行进速度。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台台消除了旋转部件的磨损问题,具有更高的可靠性,更长的工作时间和寿命,更长的检修间隔时间,大大降低用户的使用成本。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种直接驱动的直线电机具有高分辨率的编码器,可以精确调节速度,这种直线电机和其它部件可经过特殊处理具有真空兼容性,用于真空环境。产品描述:这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台的所有结构材料都是高强度的铝合金材料,材料表面经过精密机械加工,并进行硬质阳极氧化镀膜(涂层)成浅灰色。电动直线位移台采用两个带有再循环线性轴承的精密方形导轨作为承载部件,它由预加载的滚珠器件精密导引,这种导向系统只需要标准的润滑服务,不需要其他维护。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台尺寸紧凑,驱动电机不单独外悬,直线电机,编码器和电缆等驱动部件安装于位移台底座,这种设计从而避免了那些外悬电机等核心部件受冲击等损害,具有更为安全的结构。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台采用再循环轴承系统并配带精密导轨支撑位移台高速度,高精度运动。三维位移台,三维移动台,三维位移平台使用的高强度铝合金材料,精密机械加工工艺把电动位移台的刚度和稳定性发挥到极致。三维位移台,三维移动台,三维位移平台对于铝材料的标准处理是阳极氧化硬质涂层,对于不修钢部件采用抛光处理,对于特殊要求,比如Teflon特氟隆浸渍硬质涂层,非阳极氧化处理,化学镀镍等都可为用户提供。产品应用:这个系列三维位移台,三维移动台,三维位移平台是无刷直线电机(Brushless linear motor)驱动的电动位移台, 即使在高负载情况下也有超高可靠性和精密定位能力,是高负载,高精度高可靠性的最佳电动直线位移台。三维位移台,三维移动台,三维位移平台具有超高加速能力和行进速度.这种电动直线位移台具有更小的惯性,比传统的罗杆驱动等机械传动的位移平台更适合应用.根据牛顿定律可知,负载的轻重直接影响到加速度,这款直线电动位移台,具有较高的加速度和运行速度, 能够帮助用户减少时间而提供工作量.直线电动位移台,电动直线位移台,电动位移台。产品规格和型号参数行程范围:125-750mm驱动系统:无刷直线电机最大加速度: 取决于负载最大速度:3米/秒(无负载时)最大峰值力:800N最大连续力:160N最大负荷:XY平台50Kg,Z轴25kg反馈系统:非接触式直线编码器系统TTL分辨率:5 μm, 1μm, 0.5μm,0.25μm, 0.2μm,100 nm & 50 nm重复精度:5x分辨率构造:铝合金主体,硬质灰色阳极镀膜 型号LX-8125LX-8375LX-8500LX-8625LX-8750行程(mm)125375500625750精度 Standard SP 标准型± 11μm± 12μm± 16 μm± 18μm± 22 μm High Precision HP高精度型± 5 .5μ± 7 μm± 8 μm± 10 μm± 11 μm平整度 Standard SP标准型± 6 μm± 12 μm± 20 μm± 28 μm± 36 μm High Precision HP高精度型± 4 μm± 6 μm± 10 μm± 14 μm± 18 μmYaw/Pitch/Roll Standard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec High Precision HP10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec2 axis systemOrthogonalityStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-secExtra High Precision XHP3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec
  • 三维表面轮廓仪配件
    三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维轮廓仪配件参数: 定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围:2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面轮廓仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度 摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
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