原位动态拉伸试验台

产品简介通过MEMS芯片对样品施加力学、电场、热场控制，在原位样品台内构建力、电、热复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。我们的优势力学性能1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。2．实现1000℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3．nN级力学测量噪音。4．具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5．具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能，适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。优异的电学性能1．芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。2．MEMS微加工特殊设计，同时加载电场、热场、力学，相互独立控制。智能化软件1．人机分离，软件远程控制纳米探针运动，自动测量载荷-位移数据。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金控制方式高精度压电陶瓷倾转角α≥±20°，倾转分辨率＜0.1°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例600°C高温下铜纳米柱力学压缩实验以形状尺寸微小或操作尺度极小为特征的微机电系统 (MEMS)越来越受到人们的高度重视 , 对于尺度在 100μm 量级以下的样品 , 会给常规的拉伸和压缩试验带来一系列的困难。纳米压缩实验 , 由于在材料表面局部体积内只产生很小的压力 , 正逐渐成为微 / 纳米尺度力学特性测量的主要工作方式。因此 , 开展微纳米尺度下材料变形行为的实验研究十分必要。为了研究单晶面心立方材料的微纳米尺度下变形行为 , 以纳米压缩实验为主要手段 , 分析了铜纳米柱初始塑性变形行为和晶体缺陷对单晶铜初始塑性变形的影响。结果表明铜柱在纳米压缩过程中表现出更大程度的弹性变形。同时对压缩周围材料发生凸起的原因和产生的影响进行了分析 , 认为铜纳米柱压缩时周围材料的凸起将导致纳米硬度和测量的弹性模量值偏大。为了研究表面形貌的不均匀性对铜纳米柱初始塑性变形行为的影响 , 通过加热的方法 , 在铜纳米柱表面制备得到纳米级的表面缺陷 , 并对表面缺陷的纳米压缩实验数据进行对比分析 , 结果表明表面缺陷的存在会极大影响铜纳米柱初始塑性变形。通过透射电子显微镜 ,铜纳米柱压缩点周围的位错形态进行了观察 , 除了观察到纳米压缩周围生成的位错 , 还发现有层错、不全位错及位错环的共存。表明铜纳米柱的初始塑性变形与位错的发生有密切的联系。

品牌： Deben 名称型号：MICROTEST系列原位动态拉伸试验台制造商：Deben公司经销商：欧波同有限公司产品综合介绍：产品功能介绍扫描电镜原位拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。在扫描电镜上进行材料试验，可以充分利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。Deben公司MICROTEST系列样品台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形）,高分子材料，陶瓷材料等。通过扫描电镜对微观结构的形态变化进行原位成像，从而深入理解形态变化的原因并对变化的原因并对变化时刻进行成像。结合对动态实验的信息可以克服对传统的应力/应变数据解释的不确定因素。针对拉伸、挤压和弯曲测试，我们提供很多款装置，负载范围从2N到5000N。MICROTEST原位拉神台针对SEM而特殊设计，有四个版本可以使用，分别为最大载荷范围200N、300N、2000N、5000N的拉神台。1.MICROTEST200系列拉伸台动态测试台，在SEM内外都能操作。最大200N负载，可以进行拉伸、压缩实验，可配水平方向上3或4点弯曲。MICROTEST200B可以实现垂直三点弯曲。2.MICROTEST300系列拉伸台动态测试台，在SEM内外都能操作。最大300N负载，可以进行拉伸、压缩实验，可配水平方向上3或4点弯曲。MICROTEST200B可以实现垂直三点弯曲。3.MICROTEST2000系列拉伸台MICROTEST2000系列拉神台和MICROTEST2000E动态测试样品台模块，最大载荷2000N，在扫描电镜（SEM）里面和外面都可以使用。MICROTEST2000可以工作在拉伸或压缩模式，并可选配水平弯曲夹具。MICROTEST 2000B 设计用于垂直3-/4-点弯曲夹具。MICROTEST 2000E拉伸台设计用于配置EBSD的扫描电镜研究（MICROTEST 2000ES室温版本，MICROTEST 2000EW水冷版本，是加热夹具的基本配置，同事可以选配EH2000升级为可实现加热状态下拉伸测试）。4.MICROTEST5000系列拉神台MICROTEST5000是一个可工作于拉伸或压缩模式的高载荷（5000N）动态测试样品台模块，可以进行拉伸、压缩实验，可配水平方向上3或4点弯曲。（MICROTEST5000S为室温版本，MICROTEST5000W为水冷版本，是加热夹具的基本配置，同时可以选配H5000升级为同时进行加热或冷却状态下的拉伸测试）。经销商介绍欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品主要技术特点： 1、最大载荷范围：200N、300N、2000N和5000N2、可更换的称量传感器量程小到2N3、应变速率：5μm/min - 6 mm/min4 、可选3点和4点水平弯曲附件5、EBSD样品专用附件6 、加热和水冷台上配备的定制钳口7、简单的软件用户界面提供了实时应力应变曲线，结合灵活的阀值可以进行复杂的实验，包括循环负载。8、支持同步图像和数据采集，可以通过应力应变对样品变化过程进行细节分析。产品主要应用领域：1、金属及镀层：用于研究晶粒变化、镀层结合情况、高温形变及松弛机理、晶粒旋转及织构变化。2、复合材料：用于研究材料韧性及强度3、纤维：研究材料强度4 、聚合物：用于研究塑性流动及失效机制5、脆性材料：研究微小裂缝的起源及钝化现象6 、地质学：研究岩石的热压缩实验及冰岩芯的冷变形机制

带有EH2000加热夹具的Microtest 2000EW品牌： Deben 名称型号： MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台制造商： Deben公司 经销商：欧波同有限公司产品综合介绍：产品功能介绍扫描电镜中的材料允许我们在微结构层级进行动态的机械特性研究。当同时装备EBSD设备，可以通过对晶体的结构的分析，，实时研究材料的织构等随拉伸载荷和/或温度的变化而发生的变化。MICROTEST 2000E系列拉伸台设计可以对金属样品施加高达2000N的拉力，用户EBSD分析，或者对一些其他材料进行常规的应力-应变分析和SEM成像。试样夹具70度角度倾斜，为EBSD分析提供了最佳的设置。MICROTEST 2000E系列拉伸台可直接安装在一些SEM的标准样品台上，或者在某些情况下可能需要C1000XYX替换样品台。该样品台页可以在电子显微镜之外使用。 MICROTEST 2000E可以在拉伸或者压缩模式下工作。配备的功能丰富的软件能够进行恒速、恒载荷或低频循环操作，以其他功能，例如按斜坡达到预设载荷。应力应变曲线可以在显示器上实时图形绘制，图形显示带有特性游标，可选多量程和缩放功能。MTVideo选项同步视频和数据采集，从而允许随后对变形样品的视频进行详细分析。对于可变温度研究。可以在MICROTEST 2000EW（水冷版本）平台上EBSD的几何位置上选配加热夹具，加热夹具的温度可高达500℃。经销商介绍欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品主要技术特点： 1、载荷：2000N测力传感器，精度1%量程，解析能力0.1%量程2、长度和拉伸量：夹具间距：10mm，伸长量：10mm，线性延伸计：3μm解析能力和10μm精度3、速度范围：0.033mm/min – 0.4 mm/min4 、最大样品尺寸：29×27×5（L,W,H mm）对EBSD样品夹具5、产品规格：196 ×96×53（L,W,H mm）重量~3.4kg（2000ES）；~3.9kg（2000EW）产品主要应用领域：1、 金属与合金：研究与应力-应变分析相关的晶粒的晶体学旋转。缺陷的演变和应变的积累；加热样品，研究再结晶2、其他（非晶）材料：在SEM中动态研究微裂纹扩展及在微观尺度上其他失效和变形机制；安装了可选的BH2000E水平4-点弯曲夹具的MTEST2000ES 显示铝合金试样在加载之后的晶粒旋转和匹配的晶粒取向的EBSD面分布 注：也可选择MICROTEST 5000系列拉伸台用于EBSD的材料测试系统