塞系数电阻测量系统

仪器信息网塞系数电阻测量系统专题为您提供2024年最新塞系数电阻测量系统价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括塞系数电阻测量系统参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的塞系数电阻测量系统您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合塞系数电阻测量系统相关的耗材配件、试剂标物,还有塞系数电阻测量系统相关的最新资讯、资料,以及塞系数电阻测量系统相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

塞系数电阻测量系统相关的厂商

  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
    留言咨询
  • 深圳市泰斯特尔系统科技有限公司成立于2012年,总部位于广东省深圳市龙岗区,在山东、江苏均设有办事处,长期以来,公司一直专注于质量可靠性及失效分析仪器、设备的研发、组装及销售,产品广泛应用于通讯设备、船舶汽车、计算机、航空航天、半导体器件,印制电路板等行业。 公司通过了ISO9001:2015体系认证,并拥有自主品牌“TIAST”,自主研发了绝缘电阻测试系统、导通电阻测试系统、交/直流PDU电源系统、电阻电容自动化测试系统…… 同时代理以下产品:如华电(烟台)功率循环测试系统、法国Insidix热变形形貌测量仪、美国OKOS超声波扫描显微镜、GLASER激光开封机、美国ANALYSIS TECH热阻测试仪、威太HCT、Vision显微镜、美国RKD酸开封机...... 公司以国家级研究院所、知名高校的教授学者为依托,以技术服力为引领,帮助客户选好、用好仪器设备为己任,先后服务于国内众多知名客户:工信部五所、中国 科学院深圳先进技术研究院、西南交大、合肥工大、华北 电力大学、HW、中兴、中车、浪潮、美的、格力、飞利浦、华测、深南电路、兴森快捷、安森美、安世、乐依文......
    留言咨询
  • 深圳市赛仪欧电子有限公司致力于电子测试测量领域,为客户提供先进的测试、高效的解决方案和全面的系统服务,提供通用测试产品有示波器、逻辑分析仪、信号源、交流/直流电源、数据采集器、交流/直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪等等。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案,专业提供最先进的电磁兼容测试系统,电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统,并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式,涵盖测试仪器销售、计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务,产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天,科研院所大学等行业。我们严格遵循以优秀的产品去服务于客户,帮助客户选择最适合的解决方案。
    留言咨询

塞系数电阻测量系统相关的仪器

  • 塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3 ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 设备特点:◆ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;◆ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;◆ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);◆ 可以用适配器来测量薄膜;◆ 可定制高阻型。 参数配置:型号ZEM-3M8ZEM-3M10温度范围50-800℃50-1000℃样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL加热方式红外加热气氛高纯氦气(99.999%) 样品温差 MAX.50℃ 测量方式电脑全自动测量工作原理图: 设备结构: 样品腔部分: 应用方向:对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。可选功能: 薄膜测量选件 2. 低温选件(温度范围-100℃到200℃)3. 高阻选件(高到10MΩ)测试数据烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果发表文章1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.用户单位清华大学中国科学技术大学上海交通大学复旦大学南方科技大学武汉理工大学中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院大连化学物理研究所......附:热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备
    留言咨询
  • 塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-Cryo(超低温版)测试参数:电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数温度范围:4K-300K(-269℃—室温)低温技术:低温制冷机作冷源,无需消耗液氮/液氦概 述:本系统采用低温制冷机作冷源,无需使用液氮/液氦,实现固体材料低温区(4K-300K -269℃—室温)的电学性能(电导率/电阻率,热电势率/塞贝克Seebeck系数)和可选热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量单元。系统设计思想 在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上,集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计,测试样品更换过程变得快捷、方便。基本系统硬件结构包括:样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境,以及测量相关的软硬件控制中心。样品室样品室连接在样品架组件上,通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态,样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件,再通过测试平台把冷量传递给样品,使样品降温。样品测量采用样品托的方式。温度控制采用制冷机直接冷却样品的方式,通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响,又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温度控制。温控范围:4.0K-300K连续控温;温度稳定性:±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。全球甄选一流供货商,保证系统品质达到最高!CTA系统硬件组成:美国吉时利 Keithley(数据采集系统)德国 W.HALDENWANGER (高温陶瓷系统)英国摩根Morgan(高温特种材料)美国通用电气GE(光波加热元件)瑞典康泰尔 Kanthal (加热元件)美国精量电子 MEAS(传感器)日本IKO (精密轴承)日本住友Sumitomo (低温制冷机系统)塞贝克系数测量单元电阻率测量单元技术参数电阻率测量单元测量范围:10 μS/m~10 S/m测量精度:优于1%样品尺寸:长:4~20mm;宽:1~3mm;高:1~3mm塞贝克系数测量单元测量范围:1μV/K~1V/K测量精度:优于6%样品尺寸:长:5~20 mm;宽:2~3 mm;高:2~3 mm
    留言咨询
  • 热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小,单位是V/K。  近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。  为了应对一系列挑战性的应用,Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。特点LSR—3测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率)可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体,测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性先进的32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以高的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。 四端法测量电阻,样品两端通入恒定电流(I),测量样品电压的变化,可以测量出电阻系数。温度范围*-100°C——500°C RT —— 800/1100/1500°C 测试方法Seebeck系数: 静态直流法电阻: 四端法气氛惰性、还原性、氧化性气氛, 真空样品尺寸直径或方形:2 —— 4 mm 长度:6 mm——23 mm引线间隔4, 6, 8 mm冷却水需要* 可更换炉体
    留言咨询

塞系数电阻测量系统相关的资讯

  • Quantum Design中国子公司塞贝克系数/电阻测量系统ZEM于清华大学安装验收
    2019年3月,Quantum Design中国子公司(以下简称QDC)顺利完成清华大学材料学院的塞贝克系数/电阻测量系统ZEM的安装验收工作,QDC工程师紧接着对用户进行了相关知识和设备操作的全面培训。这是清华大学所采购的六套塞贝克系数/电阻测量系统ZEM系列产品。 由日本ADVANCE RIKO公司生产的塞贝克系数/电阻测量系统ZEM可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估,材料的塞贝克系数和电阻都可以用ZEM直接测量。该设备采用温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器,因此能实现实验过程中的无污染控温。同时,设备全自动电脑控制,允许自动测量消除背底电动势,拥有欧姆接触自动检测功能。除ZEM标准配置外,还可根据用户不同需求定制高阻型,增加薄膜测量选件、低温选件等。 2018年7月,QDC与日本ADVANCE RIKO公司正式达成协议,作为其热电材料测试设备在中国的代理商继续合作,并将日本ADVANCE RIKO公司的相关设备在中国大陆、香港和澳门进行进一步推广。同时,QDC将在日本ADVANCE RIKO公司的协助下,在北京建立热电材料测试设备演示中心和技术服务中心,更好地为中国热电材料的发展提供产品展示、技术支持和售后服务。
  • 【热电资讯】新一代塞贝克系数/电阻测量系统-ZEM-3连续成功落户西湖大学、上海交通大学
    导读:当今,化石能源短缺和环境污染问题凸显,能源的多元化和高效多利用成为解决能源与环境问题的一个重要途径。作为一种绿色能源技术和环保型制冷技术热电转换技术受到学术界和工业界的广泛关注。热电转换技术是利用材料的塞贝克效应与帕尔贴效应将热能和电能进行直接转换的技术,包括热电发电和热电制冷。这种技术具有系统体积小、可靠性高、不排放污染物、适用温度范围广等特点。近期,我司在西湖大学理化公共实验平台及上海交通大学材料学院连续成功交付使用了新一代塞贝克系数电阻测量系统-ZEM-3。该设备可实现金属或半导体材料的热电性能评估以及塞贝克系数和电阻的测量。其特的红外金面加热炉(高1000℃)和控制温差的微型加热器可实现温度的控制;整个测量过程由计算机全自动控制,能够在指定的温度下执行测量,允许自动测量消除背底电动势;并且ZEM-3还可实现欧姆接触自动检测功能(V-I曲线),不仅可以用创的适配器来测量薄膜,也可定制高阻型。Quantum Design中国子公司 工程师在为客户介绍设备 这两台设备于疫情期间运抵国内,为保证用户的科研使用需求,Quantum Design中国子公司调集技术力量,在满足学校防疫要求的前提下与用户紧密合作,于近日顺利完成了设备的安装培训工作,所有技术指标均符合要求,设备正式交付使用。西湖大学的设备已进入校设备共享平台,对校内外用户开放共享。目前,所有中国用户购买的ZEM系列产品,均由Quantum Design中国子公司的工程师团队负责安装及售后服务。同时,Quantum Design 中国子公司在日本Advance Riko公司的协助下,在北京建立部分热电设备示范实验室和用户服务中心,更好的为中国热电技术的发展提供设备支持和技术服务。 西湖大学理化公共实验平台网站截图 该设备为日本Advance Riko, Inc.生产。日本Advance Riko公司成立近60年来专业从事“热”相关技术和设备的研究开发,并一直走在相关领域的前端,为各地的科学研究及生产活动提供了诸如红外加热、热分析/热常数测量等系统。2018年初,Quantum Design 中国子公司引进日本Advance Riko公司的:小型热电转换效率测量系统Mini-PEM、热电转换效率测量系统PEM、塞贝克系数/电阻测量系统ZEM及大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM等一系列先进热电材料测试设备。2018年7月,Quantum Design 中国子公司与日本Advance Riko达成协议,作为其热电材料测试设备在中国的代理商继续合作,携手将日本Advance Riko先进的热电相关设备介绍到中国。延伸阅读:为更好服务国内热电材料研究领域的客户,满足客户体验需求, Quantum Design中国子公司与日本Advance Riko公司携手推出厚度方向热电性能评价系统ZEM-d 免费样品测试活动。活动时间自即日至2020年9月30日止,如您有样品测试需求,欢迎通过留言、官方微信平台、电话010-85120280或邮箱info@qd-china.com联系我们,公司将有专人对接,与您协调具体的样品测试工作。
  • 塞贝克系数/电阻测量系统助力Fe-Al-Si系热电模块研究,为物联网硬件供电提供新材料!
    导读:当今,化石能源短缺和环境污染问题凸显,能源的多元化和高效多利用成为解决能源与环境问题的一个重要途径。作为一种绿色能源技术和环保型制冷技术热电转换技术受到学术界和工业界的广泛关注。热电转换技术是利用材料的塞贝克效应与帕尔贴效应将热能和电能进行直接转换的技术,包括热电发电和热电制冷。这种技术具有系统体积小、可靠性高、不排放污染物、适用温度范围广等特点。热电器件可以实现热能和电能的直接转换,在废热回收和固态制冷领域具有重要的研究价值,对热电发电器件的能量转换效率进行测量是评价热电材料和器件性能的重要基础。 物联网( IoT ,Internet of Things )即“万物相连的互联网”,是互联网基础上延伸和扩展的网络,通过将射频识别、红外感应器、全球定位系统、激光扫描器等信息传感设备与互联网结合起来而形成的一个巨大网络,实现在任何时间、任何地点,人、机、物的互联互通。目前常用纽扣电池(coin cell)为物联网硬件供电,但由于高昂的更换费用及低可回收性,纽扣电池并不是一种理想电源。其他能量收集技术中,太阳能(solar cell)是一个可行方案且已经在某些领域中得到应用;另一种被广泛看好的技术为热电转换。如何将周围环境中的低温废热(473K)有效回收并转换为电能是热电转换技术能否大规模应用的关键。目前商用的热电转换模块(TEG)多使用Bi-Te基热电材料,但Bi及Te均为稀有元素且Te元素的毒性限制了其大规模应用,据测算,地壳中的全部Te元素无法满足百万兆别物联网硬件的供电,因此亟需寻找一种环境友好且可以大量生产的热电材料。与Bi-Te基热电材料相比,在473K以下有着良好热电转换表现的热电材料选择并不多,曾有报道指出,Mg-Sb基热电材料可部分应用于低温废热回收。近日,来自日本国立材料研究所(NIMS)及茨城大学(Ibaraki University)的研究人员使用低成本的Fe-Al-Si基热电材料(FAST)制备了热电转换模块,并对其热电转换特性进行了研究。分别使用两种方法制备的Fe-Al-Si基热电材料,并使用多种检测手段对其电学特性及热电转换性能分别进行了表征。图1 电导率(a, b);塞贝克系数(c, d);功率因子(e, f)与温度的关系(a, c, e: n-type b, d, f: p-type) 在进行了材料电输运特性的测试后科研人员随后采用了下图中的步骤制备了热电转换模块(TEG),并对其热电转换性能进行了测试。 图2 热电转换模块(TEG)制备流程经测试,使用Fe-Al-Si基热电材料制备的热电转换模块,其在室温及小温差条件(~5K)下的开路电压及输出功率数值均符合预期,并使用其为蓝牙通讯模块供电以验证其可靠性,更多测试结果请参考原文[1]。图3 热电转换模块(TEG)的开路电压及输出功率 以上工作中,材料的电导率、塞贝克系数使用日本Advance Riko公司生产的塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3测得,热电转换模块(TEG)的开路电压及输出功率使用日本Advance Riko公司生产的小型热电转换效率测量系统Mini-PEM测得。日本Advance Riko公司已专业从事“热”相关技术和设备的研究开发近60年,并一直走在相关领域的前端,为各地的科学研究及生产活动提供了诸如红外加热、热分析/热常数测量等系统。2018年初,Quantum Design 中国公司将日本Advance Riko公司的先进热电材料测试设备:小型热电转换效率测量系统Mini-PEM、塞贝克系数/电阻测量系统ZEM、热电转换效率测量系统PEM及大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM引进中国。2018年7月,Quantum Design中国与日本Advance Riko达成协议,作为其热电材料测试设备在中国的代理商继续合作,携手将日本Advance Riko先进的热电相关设备介绍到中国。目前,所有中国用户购买的日本Advance Riko热电产品,均由Quantum Design中国公司的工程师团队负责安装及售后服务。同时,Quantum Design 中国公司在日本Advance Riko公司的协助下,在北京建立部分热电设备示范实验室和用户服务中心,更好的为中国热电技术的发展提供设备支持和技术服务。 参考文献:[1]. Yoshiki Takagiwa, Teruyuki Ikeda, and Hiroyasu Kojima, Earth-Abundant Fe−Al−Si Thermoelectric (FAST) Materials: from Fundamental Materials Research to Module Development, ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810

塞系数电阻测量系统相关的方案

塞系数电阻测量系统相关的资料

塞系数电阻测量系统相关的试剂

塞系数电阻测量系统相关的论坛

  • 2016新品-LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)

    2016新品-LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)

    LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151419_581968_3060548_3.jpg特点、直接测量ZT值+ 可用以计算热传导系+ 高准确度 (使用双样品校正模式)赛贝克系数:静态直流法电阻:四端法ZT:哈曼法用哈曼法测定热电优值是通过样品上(在直流电和绝热条件下)的热电压与欧姆电势降的比值来实现的。在样品中通直流电则相应的“欧姆”压降可直接测得。因为珀尔贴效应,样品一端会被加热而另一端会被冷却,即在样品中产生温度梯度。通过测量产生的压降和热电压,ZT值便可直接得到。LSR—4测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率)可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体,测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性最先进的32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以最高的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。

  • 求购高密度电阻的测量系统

    室内搭建土壤环境,在污染物的作用下,查看电阻率变化,求购电阻率测量系统。类似如图。[img=,690,388]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403300032543076_7064_6431100_3.png[/img]

塞系数电阻测量系统相关的耗材

  • 8-241纯水比电阻电极,纯水电阻率电极
    8-241纯水比电阻电极,纯水电阻率电极 点击放大 产品型号: SUNTEX 8-223, 产品报价: 产品特点: 上泰8-223,8-241, 8-221,8-11-3纯水比电阻电极,纯水电阻率电极,电极常数0.1.上泰电阻率电极具体型号:8-223 Resistivity Sensor. SUNTEX 8-223,8-241纯水比电阻电极,纯水电阻率电极的详细资料: 8-223, 8-241纯水比电阻电极,纯水电阻率电极.主用RO纯水电导率,低电导率范围的测量. 8-223 纯水比电阻电极(R.O. system) 0.1C.8-223纯水电阻率电极介绍: 8-223 Resistivity Sensor RO水应用:0.1~300.0&mu s/cm, 电极常数0.1 cm-1 材质:CPVC/Titanium 工作温度:0~80℃ 内建NTC-30K温度补偿系统 制程接口:3/4" NPT 浸入长度:48mm
  • Fluke1508数字兆欧表/接地电阻测试仪
    福禄克1508 数字&ldquo 摇表&rdquo 交流/直流电压测量 精度 范围 600.0 V 分辨率 0.1 V 50 Hz 至 400 Hz ± (% 读数 + 数字) ± (2 % + 3) 输入阻抗 3 M&Omega (标称值), 100 pF 共模抑制比 (1 k&Omega 不平衡): 60 dB,在直流、50 或 60 Hz时 过载保护 600 V 有效值 或直流 接地线电阻测量 量程/分辨率: 20.00 &Omega 0.01 &Omega 200.0 &Omega 0.1 &Omega 2000 &Omega 1 &Omega 20.00 k&Omega 0.01 k&Omega 精度 ± (1.5 % + 3) 过载保护 2 V 有效值或直流 开路测试电压: 4.0 V, 8 V 短路电流: 200.0 mA 绝缘技术指标 测量范围: 0.01 M&Omega 至 10 G&Omega 测试电压 50 V、100 V、250 V、500 V、1000 V 测试电压准确度: + 20 %, - 0 % 短路测试电流: 1 mA,标称值 自动放电: 当 C = 1 &mu F 或更小时,放电时间 0.5 s 带电电路检测功能: 在进行测试初始化之前,如果检测到大于 30 V 的电压,则禁止进行测试。 最大容性负载: 在高达 1 &mu F 的负载下可工作。 通用技术指标 施加到任意端子上的最大电压: 600 V 交流有效值或直流 存放温度 -40 ° C 至 60 ° C (-40 ° F 至 140 ° F) 操作温度 -20 ° C 至 55 ° C (-4 ° F 至 131 ° F) 温度系数 0.05 × (给定准确度) / ° C,温度 18 ° C 或 28 ° C ( 64 ° F 或 82 ° F)时 相对湿度 0 % 至 95 %,在 10 ° C 至 30 ° C (50 ° F 至 86 ° F)时 0 % 至 75 %,在30 ° C 至 40 ° C (86 ° F 至 104 ° F) 0 % 至 40 %,在40 ° C 至 55 ° C (104 ° F 至 131 ° F) 振动 随机,2 g,5-500 Hz,符合 MIL-PRF-28800F,Class 2 仪器的要求 撞击 1 米跌落,符合IEC 61010-1第2版(1米跌落试验,6面,橡木地板)的要求 电磁兼容: 在3 V/M的RF场中,准确度 = 给出的准确度(EN 61326-1:1997) 安全 符合ANSI/ISA 82.02.01 (61010-1)2004、 CAN/CSA-C22.2 No. 1010.1 和 IEC/EN 61010-1 第2版对CAT IV 600 V 设备的要求 认证: CSA,符合标准CSA/CAN C22.2 No. 1010.1; TUV,符合标准 IEC/EN 61010-1第2版 电池 4节 AA 型号的电池((NEDA 15A 或 IEC LR6) 电池寿命 用于绝缘测试时: 在室温下用新电池至少可进行 1000次绝缘测试。测试均指标准测试:1000 V,至1 M&Omega ,占空比为 5秒钟打开,25秒种关闭。 电阻测量时: 在室温下利用新电池至少可进行 2500 次接地电阻测量。测试均指标准测试:1 &Omega ,占空比为 5秒钟打开,25秒钟关闭 尺寸 5.0 cm 高× 10.0 cm 宽× 20.3 cm 长(1.97 in 高× 3.94 in 宽× 8.00 in 长) 重量 550 g (1.2 lb) IP 等级: IP40 海拔高度 工作 2000 m CAT IV 600 V,3000 m CAT III 600 V 非工作(储存): 12,000 m 过载能力: 110 % 范围
  • 全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针
    全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针 ——从此形貌探测无需激光 SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年,公司的主要业务是制造和销售硅基压电阻式自感应AFM探针。这种全压电式悬臂,在AFM、纳米、力测量等传感应用领域都有全新的应用。我们的多学科团队由物理、商业和金融、半导体和微电子学、电子工程和生物科学等领域的专家组成。除了我们自己的团队之外,我们还与著名高校:University of Tampere (UTA),école Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) 许多的研究团队合作,密切接触前沿研究和开发。自感应悬臂探针安装了一个全压电电阻式的惠特斯通电桥,两个可变电阻在悬臂上,两个在晶片上可以直接测量悬臂的信号,从而避免了光学技术对空间要求。这种悬臂式芯片被连接在一个小的PCB上,带有一个小的连接器,用于快速和高度可重复的悬臂交换。传感器信号是通过一个小型的前置放大器PCB来读出和放大的。这使得与各种仪器,如SEM,TEM和许多其他测量系统的简单无缝集成。这种自感的悬臂可以满足各种共振频率和弹性系数的要求。SCL提供了PRS(Piezo-Resistive Sensing)不可加热的悬臂AFM探针和PRSA(Piezo-Resistive Sensing & Active)可加热的悬臂AFM探针。我们建议用塑料镊子更换裸悬臂AFM探针,用钢镊子来更换固定在PCB板上的悬臂AFM探针。 常规自感应悬臂梁探针(针材质Si) Self-Sensing Cantilevers with Silicon Tip 左图展示的是标准的SCL自感应悬臂探针的,半径小于15纳米。正常情况下,悬臂探针会预先安装特制的PCB板(CL-PCB)上,在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求,我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本,可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表: PRSA-L300-F50/60/80-Si-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针(中频为50 kHz或80 kHz),频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时(PRSA-L300-CHP)时,使用的频率范围是未知的,因为这些参数不能在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w) l = 305 μm, w = 110 μm灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.PRSA-L300-F50-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L70-F900-Si-PCB/CHP PRS-L70-F900-Si-PCB/CHP针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w)l = 70...85 μm, w = 30 μm灵敏度Sensitivity (s)3 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.共振频率Resonant frequency (fR)500...1300 kHz刚度Stiffness (k)35...400 N/m 自感应悬臂梁(不含针)Self-Sensing Cantilever without Tip (Tipless) 这是一种特殊类型的SCL的自感应悬臂,没有探针针,可将自己设计制造的针粘在其上或者直接粘上样品,满足个性化的需求。这种无探针的悬臂尤其适用于扭矩磁力仪、力感测力、气体特性测量,以及更多的应用。正常情况下,悬臂探针会预先安装特制的PCB板(CL-PCB)上,在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求,我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本,可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表: PRSA-L300-F50/60/80-TL-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针(中频为50 kHz或80 kHz),频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时(PRSA-L300-CHP)时,使用的频率范围是未知的,因为这些参数无法在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 300 μm, w = 110灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装PRSA-L300-F50-TL-PCB 共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L100-F400-TL-PCB/CHP PRS-L100-F400-TL-PCB/CHP 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 100 μm, w = 48 μm灵敏度Sensitivity (s)1...3 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 250...550 kHz刚度Stiffness (k)k = 14...170 N/m PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 450 μm, w = 100 μm灵敏度Sensitivity (s)1...2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 14...48 kHz刚度Stiffness (k)k = 0.5...24 N/m 自感应基础套件(DYI必备) Self-Sensing Starter-Kit自感悬臂探针的每个应用中没有激光扰度探测,无法直接用于普通AFM设备里,需要我们提供的自感应基础套件。该基础套件为您提供了所有基本但必要的配置,可以立即开始使用自感应悬臂(探针)。自感应基础套件包含以下内容: ★ 低噪声悬臂信号前置放大器(下图-2) ★ 连接前置放大器到悬臂和后加工设备(锁定放大器,AFM控制器等)的电缆。(1 + 3) ★ 10个自我感觉的悬臂(4)
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制