相位波前角色散测量仪

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相位波前角色散测量仪相关的厂商

  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 公司经销美国、德国、日本等国的进口仪器仪表,并全权代理日本测器株式会社在中国境内的产品制造、销售、修理、校正业务。  烟台日特测量仪器有限公司注册于2005年11月,母公司日本测器株式会社有着6000多家仪器、仪表等设备厂家商品的经销业绩,并和美国、德国、日本等国的1200多家仪器、仪表厂家签订有1级代理合同。在日本19个城市设立有分支机构。 公司经营产品简介:1.工业仪器(压力、温度、流量、液位等) 2.电气、电子测量仪器(示波器、光谱分析、万能表、电磁波、超声波等) 3.分析、环境、检查、校正仪器(PH计、水质、大气分析、粘度、硬度、导电率、厚度、浓度、粘度等)4.系统仪器(无损探伤设备,信息管理、温湿度、激光加工、电力监控系统等)5.海洋、气象、阀门等其它产品(水文观测、气象观测、电磁防爆阀门、船舶仪表等)6.成套设备(纯净水处理成套设备、污水处理成套设备、列车检测设备、海水淡化设备、无损探伤设备)主要代理厂家:长野计器(NAGANO)、千野(CHINO)、德图(TESTO)、KAWAKI、山本电机(MANOSTAR)、金子产业、爱模系统、工装(Denso)、 E+H 、日东精工、流体工业、东京流机、日置电机(HIOKI)、昭和机器计装、大阪FLOWMETER、佐藤计量器制作所、鹤贺电机、爱德万(advantest)、宇津木计器、鹤见精机、小野测器、能研、爱知时钟、新日电热工业、理化工业、武藏野机器、菊水电子、关西煤气meter、岛津制作所、管原研究所、兵田计器、A&D、日本电热计器、楠木化成、东和制电工业、金门制作所、NESSTECH、松岛机械研究所、仓本计器精工所、江州计器工业、昭和测器、理研电子、福禄克FLUKE、春日电机、高砂制作所、三和电气计器、安立计器、江藤电气、岩崎通信机、朝日计器、共立电气、冈野制作所、协立电子、TAZMO、东洋计器、横河M&C、东亚DKK、北川铁工所、能美防灾株式会社、山本光学、初田制作所、巴阀门(valve)、一濑、多摩川精机、涩川桑野、竹田特殊电线制作所等千余家公司产品。
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相位波前角色散测量仪相关的仪器

  • 天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus产品型号:ClearWave Plus关键字:LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus关键字描述:这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度(CT),矢状高度(SAG),直径,曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。产品介绍:ClearWave Plus是隐形眼镜制造商的计量解决方案,可同时测量以下各项:球体,圆柱体,轴Zernike WaveFront像差直径,CT,凹陷标签功率所有这些操作都只需一个按钮即可实现。ClearWave Plus将改良的ClearWave与行业标准OptiGauge厚度测量系统结合使用。这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度(CT),矢状高度(SAG),直径,曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。由于ClearWave和OptiGauge系统已在全球的隐形眼镜制造商的研发实验室和生产设施中实施,因此Lumetrics是眼科相关测量解决方案的提供商。 ClearWave Plus在单一的操作员友好型解决方案中提供了这些产品中更好的产品,从而减少了对隐形眼镜的处理。ClearWave Plus设计用于快速,准确地检查隐形眼镜。参数:高分辨率ClearWave波前传感器(标准):101x101小透镜阵列网格视野:10.4 x 10.4毫米空间分辨率:0.104毫米球面范围:-74至+37 D(典型湿镜)干球范围为+8至-16屈光度圆柱体范围:典型湿镜±27 D干圆柱范围为6(+/- 3)屈光度球面像差精度0.004(干)球差重复精度0.002 um(干)棱镜测量:棱镜测量0至3棱镜屈光度,适用于干镜棱镜精度0.1棱镜屈光度棱镜重复性0.05棱镜屈光度尺寸测量:直径max.20mm,±25μm厚度和CT-方法论-低相干干涉法-精度0.1μm-重复性0.1μm-测量波长1310nm天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立,坐落于渤海之滨天津,地理位置得天独厚,交通运输便利,进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心,我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品,同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。
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  • Thorlabs WFS20-K1波前传感器 光学测量仪特性三种小型传感头选项:通用型*大孔径,11.26 mm方形区域*高速度,帧率高达1120 fps包含高质量光刻微透镜阵列(MLA)安装在可更换的磁性支架中针对传感头单独校准套件包含传感头组件和额外的300 µ m微透镜阵列实时测量波前和强度分布适用于连续或脉冲光源USB连接便于PC操作通过TCP/IP实时数据读取灵活的软件选项GUI软件仪器驱动程序包,用于C编译器LabWindows&trade /CVILabVIEW&trade DataSocket实时数据传输.Net用于波前传感器的光学调整架,单独提供Thorlabs的快速Shack-Hartmann波前传感器能够精确测量入射光束的波前形状和强度分布。这些波前传感器包含CMOS传感头和微透镜阵列(MLA),封装在便于存储和携带的外壳中。波前传感器的性能由传感头和MLA的组合共同确定。我们提供三种传感头:通用型、大孔径和高速度版本。同样,也提供三种不同微透镜间距和焦距的MLA选项,以便根据应用实现最佳准确度和波前动态范围。这些波前传感器的型号包含前缀和后缀,前缀表示传感头类型(WFS30*、WFS40*或WFS20),后缀表示MLA类型(-5C、-7A或-14AR)或套件类型(-K1或-K2)。套件包含一个传感头和两个MLA。每种传感头用的触发电缆单独出售,使用TTL触发信号时可以另外购买。发货清单标签里面列出了每种型号中所含元件的清单。
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  • PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词:分析仪,PHASICS波前分析仪,波前传感器,波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!PHASICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测等)。特点:u 高分辨率(250x250)u 通光孔径大(8.0mmx8.0mm)u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高(0.5um)u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布,波前像差,激光的M2,泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点:? 波长范围:400-1100nm? 分辨率高(160x120) ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑,体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜,光学系统的检测,可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像:传函仪、干涉仪,具有操作简便,测量精度高,参数输出方便等优点,正在被越来越多的客户推崇。特点:u 波长范围:400-1100nmu 高性能的相机,信噪比高u 实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm(1.5um-1.6um)激光的检测,具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点:2 高分辨率(160x120) 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相,强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点:u 光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。 u 光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等u 高分辨率(96x72) u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量,无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸(mm2)3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件,其集成了高分辨率的相位图与强度分布图,测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库(软件二次开发工具包),客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用,选配合适的可变形镜或相位调制器,提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的,我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠,高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合,可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟,我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数,如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系数,曲率半径,PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比: 技术参数对比:PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时,已经申请技术专利,是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器,局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似,误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高,波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难,需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点(多个微透镜)PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA:0.5NA:0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活,可以测试宽波段,而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器
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  • 新型冰雪粒径测量仪和硬度测量仪助力“科技冬奥”
    高山滑雪最高时速达248km/h,滑雪赛道也需要“塑胶跑道”“更快,更高,更强”是奥林匹克的口号,充分反映了奥林匹克运动所倡导的不断进取、永不满足的奋斗精神。奥运会纪录的频频打破,不但有运动员的刻苦训练,教练员的辛勤指导,科技尤其是对于运动场地的科技提升也扮演了重要的角色。就拿大家熟悉的田径运动场而言,最初的跑道是煤渣跑道(相信很多70后、80后的老伙伴们都跑过吧),后来改成了人工合成的塑胶跑道,与煤渣跑道相比,其弹性好,吸震能力好,为运动员的发挥和成绩的提高提供了物质基础。在1968年的墨西哥奥运会上,在首次使用的塑胶跑道赛场上创造了诸多的奥林匹克纪录。2022年中国北京即将举行冬季奥林匹克运动会,中国提出了“科技冬奥”的概念,中国冰雪运动必须走科技创新之路。高山滑雪比赛是冬季奥运会的重要组成部分,被誉为“冬奥会皇冠上的明珠“。高山滑雪的观赏性强,危险性大,比赛时运动员最高时速可达到248km/h。高山滑雪比赛均采用冰状雪赛道。什么是冰状雪?所谓冰状雪,是指滑雪场的雪质形态,其表面有一层薄的硬冰壳,用于减小赛道表面对于滑雪板的摩擦力。可以说冰状雪赛道就是高山滑雪项目的塑胶跑道,其制作的质量对提高运动员的成绩及滑雪的舒适感,保护运动员的身体,延长运动寿命有着十分重要的作用。看似简单的冰状雪赛道,制作起来却大有讲究。冰状雪的制作过程十分复杂,目前采用的是向雪地内部注水的方案。但是注水的强度和注水的时间把握需要根据不同的赛道地点以及当时注水时的气温进行相应的调节,以保证冰状雪赛道既有一定的强度,又有足够的弹性,使得运动员能够在高速的高山滑雪比赛中舒畅的进行滑降、回转等比赛项目。与田径场塑胶跑道不同的是,每次比赛每一个运动员在进行高山滑雪比赛时,由于技术动作的需要,都或多或少的会对冰状雪的赛道产生一定损伤,为了保证比赛的公平性,前后出发的滑雪运动员的赛道雪质状态需要保证一致,因此冰状雪赛道还需要有一定的厚度以及均匀性。研制新型冰状雪测量仪器,保障赛道质量既然冰状雪赛道有如此多的要求,那么过去是如何判断冰状雪赛道的雪质的呢?主要是采用人工判断的方法,即找一些有经验的裁判员用探针安装在电钻上进行触探工作,通过触探工作反馈的手感判断冰状雪赛道的建造质量。这种带有一定“盲盒”性质的判断工作往往会显得很不透明,也不利于这项运动的推广。助力2022北京冬奥会,依托科技部国家重点研发计划“科技冬奥”重点专项2020的“不同气候条件下冰状雪赛道制作关键技术”项目,中国科学院南京天文光学技术研究所南极团队和中国气象科学研究院共同合作研发了用于判断冰状雪赛道质量的冰雪粒径测量仪和冰雪硬度测量仪,其目的在于将冰状雪质量的人工主观判断,变成清晰可见的客观物理数据,通过对这些物理数据的科学分析,结合有经验的运动员的滑雪体验,掌握不同地点,不同天气条件下冰状雪赛道的制作方法。主要有如下两种仪器:冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪。积雪颗粒的形状及大小是影响雪的力学性质的主要因素,不同大小雪粒之间在自然状态下空隙不断变小,雪中含有的空气降低,使得雪粒间的化学键合力增强,从而影响雪的硬度。那么如何测量积雪的颗粒呢,科研人员采用漫散射原理:近红外光经过粗糙的表面会被无规律的向各个方向反射,会造成光强度减弱,光减弱的大小跟表面的粗糙相关,而积雪表面的粗糙程度是由粒径决定的。通过测量光减弱的比例间接的测量出冰雪的颗粒大小。冰雪粒径自动测量仪测量注水雪样雪的硬度测试是反映冰雪强度的重要指标之一,冰雪硬度测量仪的原理是通过电机带动滑轨驱动探头打入冰状雪赛道内部,并读取探头受到的反作用力的大小来判断冰雪的硬度条件。该方法的好处是可以做到基本无损的对赛道进行冰雪硬度的测量,不影响赛道的后续使用,并且可以通过读取力和冰状雪深度的曲线了解冰状雪赛道的均匀性。针对高山滑雪的赛场坡度较陡,人工攀爬十分困难,科研人员在仪器的便携性上做了特殊的设计,设计了一款折叠式的硬度测量仪,方便携带,可以从坡顶沿雪道一直测量到坡底,实现了仪器的“就地展开”和“指哪测哪”的功能。冰雪硬度测量仪现场工作照片2020年11月-2021年3月,抓住冬奥会举办前的最后一个冬季的机遇,在冬奥会举办地北京延庆、河北张家口以及黑龙江哈尔滨亚布力冬季体育训练基地对不同气候条件、不同注水强度的冰状雪赛道,使用研制的冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪进行了粒径及冰雪硬度测试,获得了不同深度冰雪粒径的变化图以及不同深度的冰雪硬度的曲线图。冰状雪赛道压强-深度关系图该项目的首席科学家,中科院西北研究院冰冻圈科学国家重点实验室副主任王飞腾研究员认为“雪粒径及硬度计等新型冰雪仪器的研究,将过去以人工经验为主的冰状雪赛道状态判断变为了客观、清晰的科学指标,为冰状雪赛道制作标准的透明化提供了参考依据”。项目攻关团队的带头人,国际冰冻圈科学协会副主席,中国气象科学研究院丁明虎研究员认为“雪粒径和硬度计的设计充分考虑了不同于自然雪的人工造雪的特殊情况,仪器在项目工作中表现优异,性能稳定,可靠性高。”未来将在南极天文台发挥作用冰雪强度、硬度的测量不仅可以应用于滑雪相关的体育运动中,在未来的极地工程建设上也能发挥作用。遥远的南极虽然不是适合人类居住的地方,但是却有着良好的天文观测条件。根据2020年在 Nature 上发表的一篇文章,证明昆仑站所在的冰穹A地区的光学天文观测条件优于已知的其他任何地面台址。这项研究成果确认了昆仑站有珍贵的天文观测台址资源,为我国进一步开展南极天文研究奠定了科学的基础。但是如何在南极地区安装大型望远镜又有很多实际的困难,其中之一就是普通的大型望远镜的基墩都是直接安装在地球的基岩上,这样基墩比较扎实稳固,能保证望远镜在观测时不会因为地基不稳产生晃动,但是冰穹A地区的冰大约有4000m那么厚,相当于1500层楼房那么高,如果再想将望远镜基墩打入基岩显然难以做到。那么大型望远镜如何能够平稳的伫立在南极浮动的冰盖上呢?这就需要科学家们对冰穹A地区的冰雪进行特殊的加固处理,使其能够满足基墩的设计要求。在加固处理完后,我们的雪粒径和硬度测量仪就可以对加固后的冰雪强度进行测量,通过科学的数据检验其是否能够满足南极大型望远镜的需求。
  • 第3届测量仪器国际会议暨第13届精密工程测量与仪器国际会议成功举行
    第3届高端测量仪器国际论坛暨第13届精密工程测量与仪器国际会议(IFMI & ISPEMI 2024)于2024年8月8日至10日在山东青岛成功举办。本会议由国际测量与仪器委员会、中国计量测试学会、中国仪器仪表学会共同发起,中国工程院信息与电子工程学部指导,哈尔滨工业大学主办,中国计量测试学会计量仪器专业委员会、北京信息科技大学、中国石油大学(华东)、海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司联合承办。本会议的目的是,邀请各国精密工程测量与仪器领域的高层科学家、专家与业界领袖,就国际精密工程测量与仪器领域面临的重大机遇、重大科学问题和关键技术问题进行研讨,交流国际精密工程测量与仪器领域取得的重大进展;特别是,根据世界新一轮科技革命与产业变革的前沿发展趋势,判断未来5年和10年精密工程测量与仪器技术的发展方向和技术路线;同时,推测未来5年和10年全球各领域对精密工程测量与仪器的需求,判断国际精密工程测量与仪器产业发展趋势;进而提出促进世界高端测量仪器科学研究与产业发展的建议,共同促进世界范围内高端测量仪器技术的发展。中国工程院院士、哈尔滨工业大学精密仪器工程研究院院长谭久彬教授担任大会主席并致辞。谭久彬院士指出:“随着超精密工程、精准医疗、智能制造和原子级制造,以及物联网、大数据、云计算、人工智能和智慧城市等领域不断发生革命性突破,精密工程测量与仪器技术必然迎来前所未有的巨大挑战和发展机遇。近年来,至少有三件大事将对精密测量和仪器技术的发展走势产生至关重要的影响。一是2018年国际计量大会正式通过了一项具有里程碑意义的重要决议,即7个国际基本计量单位均由自然常数来定义,并于2019年5.20国际计量日正式实施。这件事带来的直接好处是,标准量值传递链将实现扁平化和去中心化,这将导致国际测量体系与各国的国家测量体系发生革命性的变化。二是数字化制造、网络化制造和智能化制造发展得非常迅速,加上国际计量单位定义常数化、计量量子化发展双重趋势的作用下,精密测量仪器将产生新的形态;三是原子级制造的兴起将导致精密测量仪器技术成体系的创新。上述三件大事必将导致国际仪器产业体系的重大变革。”谭久彬院士担任大会主席并致辞大会现场中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文先生、中国仪器仪表学会副理事长兼秘书长张彤先生、中国石油大学(华东)校长助理于连栋教授参加大会并在开幕式上致辞。中国计量测试学会秘书长马爱文在大会开幕式致辞中国仪器仪表学会副理事长兼秘书长张彤在大会开幕式致辞中国石油大学(华东)校长助理于连栋在大会开幕式致辞本次会议分为主论坛大会报告、分论坛研讨和圆桌论坛3部分。共有来自中国、美国、英国、德国、日本、韩国、加拿大、澳大利亚、俄罗斯、白俄罗斯、塞尔维亚、比利时、新加坡等13个国家和地区的280余位专家出席本次盛会,10900余名科技工作者和研究生观看了会议直播。大会特邀中国工程院院士、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所长张学军研究员,德国工程院院士Ö mer Sahin Ganiyusufoglu教授、白俄罗斯国家科学院主席团第一副主席Sergey Antonovich Chizhik院士、美国密歇根大学Steven Cundiff教授、韩国科学技术院Seung-Woo Kim教授、德国联邦物理技术研究院Jens Flügge教授、中国计量科学研究院原院长方向研究员、美国加州大学洛杉矶分校Mona Jarrahi教授、海克斯康制造智能技术研究院首席专家王慧珍女士等国际著名专家做大会主旨报告。张学军院士的主题演讲题为《机器人辅助的超精密非球面及自由曲面光学抛光》,提出了一种以机器人系统为中心的新型抛光方法,将确定性抛光技术(如计算机控制光学表面抛光和离子束整形)与机器人平台协同集成,形成了一种灵活、经济、高效的多轴抛光设备,在中型非球面和自由曲面光学元件制造中实现了亚纳米精度,同时大幅度降低了生产成本,可满足新一代高端制造装备制造、前沿科学实验所需的高端光学元件大规模生产需求。张学军院士发表主题演讲Ö mer Sahin Ganiyusufoglu院士的主题演讲《智能装备与在线测试》着重探讨了从大规模生产向创新驱动的高质量产业快速转型的发展趋势。在这一过程中,智能机器和智能制造技术扮演着至关重要的角色,这些技术能够通过在线测量和在线测试实现自动化的过程优化。他强调,传感器是信息数据获取的关键,并通过人工智能(AI)使装备“智能化”。Ganiyusufoglu院士通过汽车行业的若干实例详细介绍了从传统大规模生产向智能制造转型的过程。Ö mer Sahin Ganiyusufoglu院士发表主题演讲Mona Jarrahi教授在其题为《太赫兹技术的新前沿》的主题演讲中,介绍了一种新型高性能光电导太赫兹源,利用等离子体纳米天线实现了创纪录的太赫兹辐射输出,功率达到数毫瓦级,比现有技术提高了三个数量级,成功应用于太赫兹探测器、超光谱焦平面阵列和量子级探测灵敏度的外差光谱仪,使其在宽太赫兹频带和室温条件下的检测能力大幅提升。该技术突破为医疗成像、诊断、大气监测、制药质量控制和安全监测等领域带来了新的机遇,具有广阔的应用潜力。Mona Jarrahi教授在线发表主题演讲Seung-Woo Kim教授的主题演讲《基于梳状激光的光频率产生技术用于精密测量和仪器》,探讨了超短激光脉冲及其频率梳在现代计量学中的革命性应用。他指出,频率梳作为一种“频率标尺”,能够与微波原子钟或光钟稳定联结,产生超稳定的光频率,从而促进干涉测量和飞行时间测量等领域的技术突破。Kim教授进一步介绍了这种光频合成技术在自由空间相干通信、频率传输、光谱学以及太赫兹波生成等领域的应用。他还展望了频率梳技术未来在计量学和仪器制造领域的广泛应用前景,并提出了相关的技术挑战和解决方案。Seung-Woo Kim教授发表主题演讲Steven Cundiff教授的主题演讲《优化频率梳用于多梳光谱》集中讨论了双梳光谱技术的优势与挑战。双梳光谱是一种光学傅里叶变换光谱技术,通过使用两个略有不同重复频率的频率梳,实现无需移动部件的扫描延迟。Steven Cundiff教授指出,虽然双梳光谱在光谱分辨率、信噪比和采集时间方面表现优异,但也存在诸如光谱范围与采集时间之间的难以兼顾的问题。他提出,通过使用重复频率接近倍数关系的两个梳子,可以改善光谱分辨率,减少对信噪比的影响。此外,通过相位调制技术可以在不降低信噪比的情况下缩短采集时间,满足非线性光谱学中的高脉冲能量需求。Steven Cundiff教授发表主题演讲Sergey Antonovich Chizhik院士的发表了《原子力显微镜在微机械装置表征中的应用》的主题演讲,讨论了原子力显微镜(AFM)在微机电系统(MEMS)纳米级结构和材料性能表征方面的应用。Chizhik院士介绍了一系列自主开发的AFM设备和方法,及其在电子学和生物细胞研究中的应用,展示了包括纳米层析成像、静态与动态力谱学、纳米钻探以及振荡摩擦测量等技术的创新性应用。他还讨论了这些方法在生物细胞研究中的特殊应用,并展望了AFM在MEMS表征中的广阔应用前景。Sergey Antonovich Chizhik院士发表主题演讲方向研究员在主题演讲《计量数字化转型的机遇与挑战》中,详细探讨了数字化时代对计量学的深远影响。自2018年国际单位制(SI)重新定义以来,计量领域进入了数字时代,所有SI单位都基于物理学的基本定律和常数进行了定义。方向研究员介绍了数字化计量的转型过程,特别是国际计量委员会(CIPM)在推动全球数字化计量框架方面的努力,并探讨了未来计量技术和测量仪器发展面临的机遇和挑战。他强调,随着全球数字化转型的加速,计量学的数字化变革将继续深刻影响各个行业,推动工程测量技术的进一步创新和发展。方向研究员发表主题演讲Jens Flügge教授的主题演讲《干涉仪在测量系统中的集成》探讨了干涉仪在高精度测量中的广泛应用。Jens Flügge教授介绍了激光干涉仪的设计方案及其在不同测量系统中的应用,包括PTB纳米比长仪、用于硅晶格参数测定的光学/X射线干涉仪,以及用于干涉仪校准的真空比较仪等。他详细介绍了上述装备的设计、优化过程及其实际测量案例,展示了在降低测量不确定度和提高测量精度方面的创新性解决方案,阐明了干涉仪技术在计量领域的重要性和应用前景。Jens Flügge教授在线发表主题演讲王慧珍首席专家的主题演讲《智能计量技术深度赋能制造业高质量发展》重点介绍了现代几何计量技术的最新进展,及其在高端制造业中的应用。人工智能(AI)、多传感器技术和测量数据再利用相融合,实现了制造过程的优化和提高生产效率。她展示了智能几何计量系统提升生产精度和质量控制水平的典型案例,探讨了未来智能计量技术的发展趋势和挑战。她认为,随着先进制造业对高精度、高效生产需求的不断增长,智能几何计量系统将在提升制造业整体质量和竞争力方面发挥越来越重要的作用。王慧珍女士发表主题演讲分论坛分为10个分会场,共计63个分论坛邀请报告。分论坛的专家学者们结合测量仪器技术与精密工程各个分支方向,交流了目前本领域存在的重大科学问题与关键技术问题、具有发展优势的新的技术路线和近期重大研究进展与突破;探讨了因学科交叉衍生出的新原理、新技术和新方向;并对该领域未来10-15年的发展趋势与特点、新的应用背景和可能产生的新突破进行了探索与研判。除主论坛、分论坛的学术交流与研讨外,会议还以圆桌论坛形式进行战略研讨。圆桌论坛邀请测量仪器领域的著名专家学者与企业家参加了研讨。圆桌论坛围绕“面向高端装备制造的高端测量仪器发展战略”为主题展开讨论。与会专家学者与企业家首先就我国当前国家测量体系和仪器产业体系对先进制造支撑能力的现状及存在的问题,未来10-15年仪器领域重大应用场景战略需求、前沿仪器技术、发展趋势、全景路线图,全制造链、全产业链和全生命周期测量仪器体系建设框架构建,嵌入式、芯片化、微型化、小型化的计量标准体系与实时精度调控体系构建,仪器学科发展战略和创新领军人才培养体系,精密仪器产业体系构建、发展趋势研判、仪器产业布局构想等热点问题展开了热烈讨论,并达成了初步共识。
  • 如何使用Phasics SID4相位成像相机进行表面测量?
    使用Phasics SID4相位成像相机进行表面测量Phasics SID4相位成像相机,可以集成在商业或者自制的光学显微镜装置上。为了提高样品的整体性能,测量物体表面特性是一种有效的方法。对于此类应用,Phasics的软件可以分析光程差,并且实时转化为物体表面的形貌。硬件方面,Phasics相机体积小、结构紧凑,并且易于使用。事实上,Phasics的波前分析仪能够与实验室常用的相机一样易于集成。整个相机可以轻松集成到生产线或者实验室中。表面测量结构Phasic SID4相位相机利用的是一种四波横向剪切技术,将入射光分成剪切的4束,然后再互相干涉形成干涉图,通过傅立叶逆变换可以得到入射光的相位谱和强度信息,这是一种消色差的技术,因此白光和LED光源非常适合。此外,可以使用任何显微镜进行测量,并且不依赖于偏振。如上图光路所示,SID4相机位于被测物体的成像面进行探测,使用简单。SID4相位成像相机可以集成在商业反射显微镜或专用光学系统上。SID 和 AFM 测量比较图中红线部分是Phasics测量结果,黑线位AFM测量结果。使用AFM测量表面缺陷,和使用SID4相位成像相机一次测量成型的结果对比。SID4 与 光学轮廓测量仪 对比使用SID4 HR定量测量,以及白光光学轮廓仪测量结果的对比。两个报告中,第yi个侧重于轮廓,第二个侧重于深度测量。测量结果Phasics是一家专门从事相位测量的法国公司。Phasics向其客户提供全系列的产品,所有这些都是基于独特的技术,即四波侧向剪切干涉技术。Phasics公司的专长在于对这项技术的深刻理解,以及将其应用于从激光和光学计量到生物样品成像等多个领域的能力。对于每一个领域,Phasics都提供了专门的硬件和软件的解决方案。在生物学方面,Phasics提供了SID4Bio,这是一种独特的用于活细胞成像的设备,依赖于定量相位成像。关于昊量光电昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等优质服务,助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念!

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  • 【转帖】电子测量仪的分类

    1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求,分类不同,如按其功能,可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器: 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如:电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器: 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如:微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器: 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如:频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品,电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性,耐压特性,频率特性,增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如:漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等。

  • 【资料】电子测量仪器的分类及应用

    电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表  模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器  示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器  信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪  晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表  兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪  红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪  该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪  电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪  频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。  除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

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  • FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG
    FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG MS-FROG 代表 Multi-Shot Frequency Resolved Optical Gating。FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG基于二次谐波发生,使其可靠且紧凑。它是专门为具有亚 nJ 脉冲能量的激光源开发的。它允许测量从 4 fs 到 80 ps 的脉冲。高扫描速度允许进行实时操作测量和优化。MS-FROG-SP 在精细扫描模式下的分辨率为 50 阿秒,因此可以测量超短脉冲和长脉冲。我们的 MS-FROG 集成了专门为 FROG 测量开发的内置光谱仪。它们保证了脉冲表征应用的高光谱分辨率和最佳性能。此外,它们完全可以根据您的激光规格进行配置。最重要的是我们的专有算法允许立即从每个记录的光谱中提取信息,从而实时重建您的脉冲!与所有Femto Easy产品一样,MS-FROG 易于安装和使用。产品特性用户友好界面:无需校准,也无需调整用途广泛:适用于不同波长范围脉冲测量脉冲宽度测量范围:4 fs到80 ps)高灵敏度(亚nJ脉冲)用户友好且功能强大的软件(STAR)精细扫描模式下的分辨率为 50as提供光纤连接头选项(FC / APC,FC / PC)FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG参数规格:MS-FROG型号MS-FROGMS-FROG-SPMS-FROG-LPMS-FROG-SLP脉冲宽度范围最小值 110 fs-50 fs4 fs20 fs4 fs最大值40 ps40 ps80 ps80 ps精细扫描模式范围不适用4至100 fs不适用4-100 fs可达光谱范围(nm)500-2000 2光谱窗口Δλ(nm)从200到700 2最小时间分辨率1fs标准:1 fs2 fs标准:2 fs精细扫描:0.05 fs精细扫描:0.05 fs扫描速度 65 ps /秒标准: 65 ps / s 130 ps /s标准: 130 ps / s精细扫描: 400 fs / s精细扫描:400 fs / s输入脉冲重复率100 Hz至GHz 3最小输入脉冲能量41 MHz50 pJ10 nJ50 pJ10 nJ100 MHz5 pJ1 nJ5 pJ1nJ输入偏振线性垂直侦测CMOS 12位-3 Mpx-72 dBPC接口USB 3.1光束高度(mm)69-148尺寸(毫米)326 x 194x 1291 根据所需的激光规格进行优化2 有效光谱带宽可根据客户要求定义在可需要的光谱范围内。可以提供额外的光谱仪来处理不同的光谱窗口。3 低重复率可供选择4 这些值给出了一个数量级。准确的灵敏度取决于许多参数(脉冲宽度、光束轮廓、波长...) 附加 MISS 光谱仪默认的 MS-FROG 配置包括一台成像光谱仪 MISS。为了扩展设备的波长范围,可以订购额外的即插即用 MISS 光谱仪并在系统内更换光纤输入连接器 可选项描述额外晶体默认的 MS-FROG 配置包括一个晶体。为了扩展设备的波长范围,可以在系统内切换额外的即插即用晶体 带光纤连接器的即插即用准直模块。可以安装在 MS-FROG 上,轻松将输入从自由空间切换到光纤。无需对齐。低能量内部模块可在激光功率过弱时提高 MS-FROG 的灵敏度低重复率激光重复率低时使用的同步模式。100 Hz 及以下强制,500 Hz 以下推荐相位匹配默认 MS-FROG 配置适用于给定的中心波长。相位匹配允许调谐 SHG 晶体以测量具有最佳 SNR 的不同中心波长 少周期扩展 将最小脉冲持续时间扩展到几个周期脉冲范围。MS-FROG 低至 10 fs,MS-FROG-SP 和 MS-FROG-SLP 低至 4 fs 软件界面FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG软件特性:实时提取单次脉冲特性:时间分布强度和相位、基本频谱和相位、啁啾、三阶色散… … 多种算法(包括 Ptychographic 迭代引擎)相结合,以提高重建速度和质量增强的背景和热像素处理,以获得最佳动态和信噪比客户端/服务器接口,允许通过网络远程控制所有数据都可以导出为最常见的格式
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪
    唐海红 13120400643 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计: 手提式操作,亦可肩挂或腰悬;内置探头存储室,方便携带 系统完整:已预接电导和温度探头,备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 自动量程选择:确保任何高低读数均一致准确,省却了往返调拨之苦 自动温度补偿:可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏:另有背景加光功能,即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头:减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳:适用于野外的严峻环境,仪器即使掉入水中亦可自动浮起;探头外置不锈钢套,坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作:工作寿命长达100小时(碱性电池);另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存,可储存50组数据 使用非散失性存储器,读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注:* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米,样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃(可调节) 温度补偿系数 0至4%(可调节) 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 (6节5号碱性电池) 尺 寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,30米电缆(带内存) 配 件 5050 5520 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升)
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