中远红外反射率测试仪

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中远红外反射率测试仪相关的厂商

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    光傲科技,专注于光电计量测试解决方案秉持测试就是生产力的理念,以所代理的欧美一流仪器设备为核心,结合十多年的行业经验,与客户一起工作,提升研发能力、品质管理能力!五大领域业务领域发光测量在200-30 微米的范围内,提供光谱辐射度计、成像式亮度计、分布式光度计,用于光源、灯具、显示器、遥感等高精度测量,以及相关产业的在线分析材料测量在 紫外-可见-中远红外波段,提供材料透过率、反射率、漫反射率测试,以及在线过程分析,色差控制解决方案探测器测量提供探测器,包括各种单点探测器、CCD、光电系统的绝对光谱响应测试系统,并提供追溯 NIST 的标准探测器。标准计量提供各种光谱辐射度标准灯、精密电源用于分光光度计校正的光谱透射、反射标准、荧光标准OEM 产品为仪器仪表行业提供 OEM 光谱仪、信号读出电路、光电器件等全球合作伙伴光谱辐射度计行业鼻祖企业 ,NIST 计量科学家1970 创立 ,提供光谱辐射度计、光谱辐射度标准灯、标准探测器等。位于美国专注成像亮度色度计30年,是成像亮度计标准 CIE 244 2021 主席单位,以及近场分布式光度计的国家技术标准制定企业。位于德国。专注产线测试应用光电测试系统和传感器 ,适应苛刻产线环境 ,并节约客户的测试成本。位于德国。简单、创新的光及颜色测量仪器,位于美国加州。设计制造经济型、便携式高精度光谱辐射度计。德国企业。标准板、标准物质,光学涂料联系我们售前客服售后客服电话:021 52960771 邮箱:sales@light-all.com
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  • 长春瑞研光电科技有限公司(RAYAN TECHNOLOGY CO,.LTD.)(简称:瑞研科技&瑞研光学)位于素有“北国春城”及中国光学发源地之称的吉林省长春市,研发中心设立在长春市风景秀丽的伊通河畔,公司依托长春光机所强大的技术和研发实力支持,现已发展成一家集光学镀膜产品研发、光学解决方案设计、加工生产、销售于一体的新科技创新型企业。 我们专业从事光学镀膜解决方案的创新型公司,采用多台国内外先进的镀膜设备提供光学镀膜元件的生产,数据标定级别的进口分光光度计对出厂的产品质量进行把控,并拥有一支经验丰富的技术团队,聘请长春光机所的专业老师进行技术指导,我公司研发销售的镀膜产品已经广泛应用在科学研究、科研实验、分析仪器、荧光测试设备、环境监测设备、农业测量仪器、生化仪器、医疗分析等多领域和行业。 我们有先进的生产设备,严格的质量管控流程和优秀的技术研发及管理人才。凭借良好的产品质量,极具竞争力的销售价格,准确交货期和优秀的售后服务,深受广大用户的赞誉。并与多家国内外知名厂商、科研院所及国内各大院校保持紧密的合作关系。 瑞研光学本着“全心全意为科研事业服务”的公司理念,也期待与您能成为长期的合作伙伴,现诚邀各科研院校及企业联合研发项目。 技术优势:最高可提供截止深度OD6的窄带滤光片,并可提供真实实测截止深度服务具备高截止深度的实测能力,供货产品参数真实可靠,接受第三方机构数据比对最窄2nm带宽的超窄带滤光片具备定制渐变带通滤光片设计研发生产能力提供中远红外滤光片定制服务具备反射率>99.99%的介质膜反射镜的设计生产能力可定制最多五带通滤光片可提供超陡过渡带滤光片的定制具备国外进口高端滤光片的二次定制能力研发生产CCD用微阵列带通滤光片研发制造航天用抗辐射滤光片提供高端滤光片的非接触激光切割服务 瑞研光学研发生产的产品主要有:窄带滤光片、超窄带滤光片、宽带滤光片、超宽带滤光片、紫外带通滤光片、可见带通滤光片、红外带通滤光片、中远红外滤光片、渐变带通滤光片、多带通滤光片、长波通滤光片、真空紫外滤光片、短波通滤光片、荧光滤光片、拉曼滤光片、陷波滤光片、二向色镜、分光片、中性密度滤光片、增透膜窗口片、介质膜反射镜、金属膜反射镜等。
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  • 400-860-5168转2592
    北京安洲科技有限公司主要致力于环境生态遥感、大气科学、成像光谱仪、目标光谱特性、材料表面光学特性和表面光学特征等方面国外先进仪器的引进和推广,积极为国内用户提供以上仪器技术咨询、方案设计、客户化系统集成、仪器设备调试安装等各类优质服务。公司所推广的SOC系列高光谱成像仪、UHD 185高速机载成像光谱仪、PSR系列光纤型地物光谱仪、红外反射率及发射率测量仪等高端科研仪器广泛应用于遥感科学、农业、林业、航空、太阳能、节能建筑、生命科学、遥感科学和工业等领域的监测与科研,其中SOC710便携式可见近红外成像光谱仪更是被国家农业部学科群批量采购项目多次选中。公司具有一支由实力雄厚的科研技术人员组成的团队,与中国科学院、中国农科院、中国林科院、中国农业大学、国家气象局,北京大学等单位建立了紧密的合作关系并聘有科学顾问,最大程度上给予客户全面而专业的技术服务。公司自成立以来先后为中国科学院、中国森林生态系统研究网络(CFERN)、中科院知识创新工程、农业部“948”项目、农业部专项研究中心、水利部“948”项目、国家“973”项目、国家“863”项目、全国高校的“211”工程和“985”项目、中国环境科学院、环境监测站、国家气象局等提供技术咨询、仪器设备和集成系统。安洲科技愿以专业的精神、诚信的态度为国内相关研究领域科研的专家服务。
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中远红外反射率测试仪相关的仪器

  • ● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件,可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上,使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试,其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术,避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式,绝对测量模式和相对测量 (差分式)模式。在绝对测量模式中,近法向如射,半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下,无需校正。在相对测量(差分式)模式下,内置校正臂不起作用,而是提供一个参考样品进行背景扣除,然后测试样品。此外,该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱,来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱,也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部,样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置,用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜,以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.
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  • 410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的,可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm,红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用,可现场测量,操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样,并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围:从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作,内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比,漫反射比,和20°角的镜面反射 波段区间 335~2500nm范围内7个波段:335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面 测量时间10秒/次;90秒预热 光源 VIS:钨灯,IR:铬铝钴合金 测量探头 模块化设计,测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg,含电池
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  • EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪,可在3-35微米范围内测试半球反射率测试(总半球反射率),提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能,光谱范围250~2500纳米,主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um(并不限定于过滤器,窗等)测量精度(镜面反射和漫样品)-灰色样本满量程的± 1%- ± 3%满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5%或更好样品类型任何样品,包括金属箔,绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面:&ge 0.4英寸(1厘米)直径- 凹面: &ge 6.5英寸(16.5厘米)直径-凸面:&ge 1英寸(2.5厘米)直径 样品温度房间温度,环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率(300K)-半球发射率(300K)读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围(反射率)0.00~1.00尺寸光学头:直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位:4.5× 7.75× 7英寸便携包:12.5× 17× 11英寸重量光学头:5磅,控制和显示单元:4磅,携带箱:11磅保1年部件和人工
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中远红外反射率测试仪相关的资讯

  • 中远红外光谱一气呵成 – 傅立叶红外光谱界多年的梦想终得实现
    p span style=" font-size: 16px "   2014年十月于德国埃特林根,布鲁克集团光学事业部全球同步首发可以一次测试覆盖中红外、远红外和太赫兹光谱范围的傅立叶红外谱仪超宽谱区最新应用技术。继不久前问世的超宽谱区中远红外分束器后,布鲁克又推出了全新的超宽谱区中远红外DTGS检测器。VERTEX 70吹扫型和VERTEX 70v真空型研究级傅立叶红外光谱仪配置这两个新型超宽波段的红外光学部件,促成了VERTEX FM中远红外波段无与伦比的优势:您无需切换分束器或检测器、无需后续拼接谱图,只需一次测量,即可获得一张6,000 cm-1至50 cm-1的完整中远红外光谱。 /span br/ /p p   傅立叶红外光谱仪的光谱范围取决于其所配备的光源、分束器和检测器的综合光学响应范围。中红外标准谱区,由于主要受限于可供选用的分束器的材质,通常截止于350 cm-1 (KBr分束器) 或者200 cm-1 (CsI分束器)。如果想扩展光谱范围至远红外和太赫兹区,通常需要一次甚至多次更换远红外分束器和检测器。而每次更换时,使用者都需手动打开谱仪光学腔。布鲁克最新推出的VERTEX FM功能,结合了新型超宽谱区中远红外分束器、中远红外检测器和标配红外光源,可以单次测量覆盖6,000 cm-1到50 cm-1的完整中远红外谱区,并广泛适用于透射、反射和衰减全反射等测量模式。独一无二的VERTEX FM技术是继几年前布鲁克VERTEX 80v高端研究级真空光谱仪的全自动分束器转换器和全自动检测器切换(多达五个检测器)功能后,布鲁克针对VERTEX 70(v)系列光谱仪的又一创新之举。 /p p style=" text-align: left "   VERTEX 70v真空型光谱仪配置了VERTEX FM功能后,可以结合外接水冷高压汞灯,将远红外/太赫兹谱区进一步延伸至10 cm sup -1 /sup 。 img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201510/noimg/9e2f5d33-8563-488a-a870-d4f50a8c0196.jpg" title=" 未标题-1.jpg" width=" 363" height=" 248" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 363px height: 248px float: right " / /p p   从中红外至远红外的谱区扩展,即突破传统中红外400 cm-1的界限,对很多分子振动光谱的应用领域有着至关重要的意义。这些应用领域包括无机和有机金属的化学分析、地质学和医药业,以及各种物理应用,如对多晶型物的筛分、对结晶度的检测和低温基质隔离光谱学。图中所示的是用VERTEX FM功能单次测量所得的维生素C的中远红外ATR光谱图。该谱证明,使用VERTEX 70或VERTEX 70v,并配置VERTEX FM新功能,您可以轻松快捷的获得从4,000 cm-1到50 cm-1的中远红外光谱区域的样品信息。 /p p   布鲁克公司(NASDAQ:BRKR)是世界著名的高科技分析仪器企业,致力于开发领先技术以解决分子材料科研界、诊断学、工业及临床等各种分析问题。 /p p   详情请见官方网站:www.bruker.com /p p   进一步了解VERTEX系列科研型傅立叶红外光谱仪,请访问相关网页:www.bruker.com/vertex /p p br/ /p
  • 如何精确测定LED灯反射板的反射率?
    前言LED灯具有长寿命、安全可靠、节能环保等优点,在家用照明设备、显示屏、公共设施场所以及景观装饰等方面应用广泛,如汽车上的照明设备、景区内各种图案的装饰灯。LED灯通常由光源、外壳组成,光源装有反射板可以有效利用光源的能量,因此反射板的反射率会直接决定LED灯的光利用效率。而评价反射板的反射率,常用的检测仪器是紫外分光光度计。检测实例我们选取了生活中常见的一种LED灯,拆开发现反射板的四周是弧形表面,为获得准确的反射率,要对中间的平整表面进行测定,如图中红色圆圈标注的位置。但这个位置的直经只有5mm,如此小的测量位点,要使仪器光源的光斑中心完全照射到测定位置非常困难。图1 LED灯的反射板为了解决这类微小样品的测定难题,日立特别研发了微小样品全反射/漫反射测量系统定制附件,确保光源的光斑中心完全照射到测定位置。而且日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计的样品仓空间足够大,可以轻松安装这个附件。 测定时使用铝制平面镜作为标准参考,利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝 对值,得到的反射板的全反射光谱如图所示。图2 LED灯反射板的反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%,可以有效利用LED灯光源的光通量,提高照明效率。 想获取更多信息,请拨打电话:400-630-5821。
  • 镀膜片基底背面反射的影响——低反射率样品表征
    当光线照射到两种介质的分界面上时,一部分光线改变了传播方向返回原来的媒介中继续传播,这种现象称为光的反射。在自然界中,光的反射存在着镜面反射、漫反射和逆反射三种现象。光的反射示意图镜面反射是在光线入射到一个非常光滑或有光泽的表面上时发生的。光线在物体表面反射的角度和入射的角度,度数相同但方向相反。如果物体的表面和光源成精确的直角,那么反射光线会完整地反射回光源方向。光的漫反射是一种最常见的反射形式。漫反射发生在光线入射到任何粗糙表面上, 由于各点的法线方向不一致,造成反射光线无规则地向不同的方向反射。只有很少一部分光线可以被反射回光源方向,所以漫反射材料只能给人眼提供很少的可视性。逆反射(背面反射)是指反射光线从靠近入射光线的反方向,向光源返回的反射。当入射光线在较大范围内变化时,仍能保持这一特性。当石英片上镀膜后,石英片的逆反射会对镜面反射的结果有明显的影响。本文采用日立的UH4150紫外可见近红外分光光度计、5°绝对反射附件和60mm积分球测试分析逆反射的影响。 下面是2种不同工艺需求的测试数据图:左图为同一批次的2个镀膜样品,变量为基底是否进行了涂黑处理。通过数据可以明显的发现:涂黑处理后的反射率明显降低,在1370nm附近的反射率约为0.3%,这是因为涂黑处理使得基底的背面反射(逆反射)尽可能地消除。 右图为另一种工艺的产品,直接对样品进行测试,不需要额外的处理,可以得到1300 ~ 1600 nm范围内反射率低于0.2%的效果,符合产品的预期。一般遇到测试反射率低于0.5%的指标需求时,建议使用标准片测试。×总结根据测试的目的需求,基底是否处理对实际的测试结果有很大影响。样品的反射率测试,需要考虑背面反射的影响。日立的紫外可见近红外分光光度计UH4150结合镜面反射附件,可以准确的表征低反射率的样品性能。——the end——公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。

中远红外反射率测试仪相关的方案

中远红外反射率测试仪相关的资料

中远红外反射率测试仪相关的试剂

中远红外反射率测试仪相关的论坛

  • 关于红外发反射率的测量

    经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图:红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R,1=R+T+A。理论计算R=(1-n)^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗?是反射角为多少的时候测量的?垂直入射的时候吗?看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题,反射光谱是怎么测量的,测得的数据就是反射率吗?补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

  • 请问薄膜样品的红外反射率如何测?

    请问薄膜样品的红外反射率如何测?

    我在玻璃基底上涂了一层太阳能热反射膜,想测它的可见到红外的反射率,就是想得到附件里的文献里的反射率图谱,可见到近红外,我用紫外-可见-近红外分光光度计测试反射率,得到的曲线跟文献中还类似;红外波段,我试过了FTIR的ATR附件,可变角度SR镜面反射附件,测出来的曲线都不理想,得到的都是透过率曲线,还有很强的吸收峰,仪器操作员也不太懂,给我转换成反射率并归一化后,也不理想。。我想得到的不是对样品化学成分的分析曲线,而是想看看样品对红外光的反射率,应该是反射光强/原始入射光强,我就纳闷了,这么简单的实验,竟然这么难。。。请各位大牛给指点,希望跟大家交流。我的qq:1557362947。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/06/201406211731_502684_2904588_3.jpg

中远红外反射率测试仪相关的耗材

  • 红外反射装置
    仪器主要指标及成套性:测量红外反射光谱(光栅红外用) 用途:用于精密分析仪器附件
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
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