薄膜厚度均匀性测试仪

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薄膜厚度均匀性测试仪相关的厂商

  • 江苏东方航天校准检测公司公司成立于2010年3月,是华夏认证中心投资设立。通过了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)能力认可,认可证书编号CNAS L5056。通过了江苏省质量监督局CMA认可,认可证书编号:181021340463. 炉温检测是第三方检测中心江苏东方航天校准检测有限公司的一个优势检测项目,可测0-1350度,目前已为湖北大冶特种钢、江阴兴澄钢铁、攀钢集团、中冶南方威仕、杭州华顺炉业、石钢、济南中船、中信戴卡等企业提供炉温方面的检测校准,出具带有CNAS和CMA认可标识的检测报告,协助客户通过了美国汽车工业行动集团AIAG 、美国石油协会API、 美国质量评审协会PRI等组织的认可。我公司可以为各种箱式炉、连续/半连续炉、井式炉、钟罩炉、真空炉、电阻炉、热处理等提供系统精度测试(SAT)、炉温均匀性(TUS)测试服务,出具CNAS认可的检测报告。2.江苏东方航天校准检测公司公司成立于2010年3月,是华夏认证中心投资设立。扭矩倍增器校准、液压泵校准、拉伸器检测、(气动、电动、 液压、中空扳手、驱动扳手)扭矩扳手校准检测是第三方检测中心江苏东方航天校准检测有限公司的一个优势项目,CNAS认可校准范围达到30000Nm,目前已为浙江运达、大唐风电、华锐能源、华能风电、国电等企业集团提供了扭矩扳手的校准服务,出具了带有CNAS章的证书,得到了用户的好评。我司 通过了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)能力认可,认可证书编号CNAS L5056。通过了江苏省质量监督局CMA认可,认可证书编号:181021340463.
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  • 宁波纺织仪器厂创建于1965年,是中国纺织机械(集团)公司定点生产纺织仪器、仪表的专业厂家,专为棉、毛、麻、丝、化纤等纺织业,大专院校、检测部门和科研单位提供各种测试仪器和织机配套计长仪表。主要纺织仪器仪表有:织物检测仪器:透湿仪,透气仪,起球仪,平磨仪,强力机,缩水率试验机机,防钻绒测试仪,折皱弹性仪,勾丝仪,撕裂仪,测厚仪,密度镜,阻燃测试仪,沾水度仪,克重仪等纱线检测仪器:纱线强力机,捻度仪,摇黑板机,缕纱测长仪,圈长测长仪,条粗条干仪纤维检测仪器:梳片分析仪,纤维强力机,切片器,棉卷均匀度仪,气流仪等印染检测仪器:熨烫色牢度仪,摩擦色牢度,耐洗色牢度,汗渍色牢度,日晒色牢度等通用仪器:标准光源箱,八篮烘箱,测湿仪,皮辊压力测试仪,恒温恒湿箱等记长仪表等
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  • 400-860-5168转3947
    公司简介 济南三泉中石实验仪器有限公司(注册品牌:Sumspring三泉中石),是一家专注于包装材料检测仪器研发和销售的高科技创新企业,公司成立于2007年,专注于为质检药检系统、食品行业、药品行业、包装印刷行业、胶黏剂行业、家电行业等提供一流包装材料科学试验仪器和全面质量控制解决方案。 Sumspring三泉中石技术团队一直自主研发、创新、生产,仪器除满足国内使用之外,更是兼顾ISO、ASTM、TAPPI等多种国际标准规范要求。公司拥有独立的进出口权,产品出口全球25个国家和地区。多项新技术、新发明获得专利证书,拥有完全的自主知识产权。同时,顺利通过ISO 9001:2008质量体系认证,并获得软件著作权等多项权威认证。济南三泉中石实验仪器有限公司实验室 Sumspring实验室拥有专业技术服务人员,配有自主研发的40余台先进的仪器设备、测试附件工具等,不但能够客观、公正为客户提供准确、可靠的检测数据,还为各院校、科研单位、大中企业建立了学习交流、实习平台。 10年的发展,三泉中石一直秉承着与客户共赢的经营理念,不断提升产品质量和服务水平。我们为生产企业建立产品质量风险管控体系,帮助政府监管部门完善相关标准法规。我们还关注国际先进的包装检验方法,致力于将其引进到中国,帮助国内企业和政府部门更好的提升产品质量和管理水平。为中国的食品药品包装质量安全做出贡献。三泉中石Sumspring 主要产品介绍:1、 薄膜软包装检测仪器:济南三泉中石薄膜复合包装检测仪器包针对薄膜复合包包装行业研发生产,适用于各种包装袋的密封性、拉伸、剥离强度、热封强度、厚度、摩擦系数、抗冲击、穿刺、耐撕裂等指标检测,相关产品:薄膜拉伸强度试验仪、智能电子拉力试验机、智能密封仪 (正压)、密封性测试仪、多通道密封检漏仪、热封试验仪、摩擦系数仪、摩擦系数/剥离试验仪、撕裂度测试仪(埃莱门多夫法)、智能摆锤冲击仪(薄膜)、薄膜摆锤冲击试验机、自由落镖冲击试验仪、测厚仪、金属镀层测厚仪、包装耐压强度测试仪、热收缩性试验仪、提袋疲劳试验机、口红折断力测试仪、圆盘剥离试验机、迁移池。2、药包材玻璃瓶检测仪器:药包材检测仪器包含了针对药品包装、药用玻璃瓶、塑料瓶、铝箔、预灌封、注射器、注射针等产品进行穿刺力、破裂强度、开启力、连接力、滑动性、耐内压力、偏光应力等物理性能测试仪器,相关产品:微泄漏密封性测试仪(真空/压力衰减)、微泄漏密封性测试仪(压力衰减)、微泄漏密封性测试仪(真空衰减)、高压放电法密封性测试仪、密封性测试仪 (负压)、智能密封仪(色水法/微生物侵入)、安瓿瓶折断力测试仪、玻璃瓶垂直载荷测试仪、玻璃瓶耐内压测试仪(双工位)、玻璃瓶耐内压力试验机、玻璃瓶抗冲击试验仪、玻璃瓶耐热冲击试验仪、壁厚测厚仪、智能偏光应力仪、偏光应力仪、医药包装撕拉力测试仪、自动旋盖测力仪、自动扭力测试仪、瓶盖扭矩仪、电子轴偏差测量仪、热封试验仪、落球中击试验机(硬片)、全自动耐破强度测试仪(药用铝箔)、铝箔针孔度测试仪、涂层连续性测试仪、玻璃耐碱测试装置、输液袋渗透性试验仪、穿刺力测试仪、医用针管韧性测试仪、医用针管刚性测试仪、鲁尔圆锥接头综合测试仪。3、卫生用品纸张纸板检测仪器:纸张纸板检测仪器包含了针对纸张纸板厚度、耐破强度、边压强度、平压强度、粘合强度、空箱抗压等检测项目的仪器,通过以上测试,可以了解到纸箱的性能,为企业包装设计提供可靠数据依据。相关产品:纸尿裤吸收性能测试仪、吸收速度测试仪、背胶剥离强度测试仪、柔软度测试仪、纸张柔软度测试仪、自动吸水倍率测试仪、纸尿裤渗透性测试仪、掉粉率测定仪、球型耐破试验机、纸箱抗压试验机、自动型耐破强度试验机(纸板)、卧式抗张强度试验机、纸张撕裂度测定仪、纸张吸水率测定仪、微电脑弯曲挺度测试仪、剥离/抗张测试仪、电子压缩试验仪、白度测定仪、定量取样器、可勃吸收性测定仪、尘埃度测试仪、暗箱式紫外分析仪、摩擦试验机、纸杯杯身挺度测试仪(双探头)。4、胶粘制品检测仪器:贴膏剂胶粘制品检测仪器包含了针对压敏胶粘带,不干胶标签,医用胶带 ,药典贴膏剂等产品进行滚球法初粘性,高温持黏力,180度剥离强度,厚度,拉伸强度,黏着力等粘性测试项目的检测仪器。相关产品:PC型电子拉力试验机、贴膏剂黏着力测试仪、180°剥离强度试验机、持粘性测试仪、持粘力测试仪(胶带)、恒温持粘性测试仪、初粘性测试仪、环形初粘性测试仪、胶粘带压滚机(电子压辊试验机)、阻水性测试仪。
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薄膜厚度均匀性测试仪相关的仪器

  • 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏,触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)技术指标测量范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量速度:1~25 次/min(可调)测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)纸张:200mm2,50±1kPa(可选)电 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重:38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。
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  • 【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器 (EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。 技术特征: 负荷量程:0~2 mm(常规)     0~6 mm;12 mm (可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!
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  • 产品简介:PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途:塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均,会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张); 接触面积 50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);薄膜、纸张任选一种,非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用:测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜厚度测试仪 普创-PTT-02薄膜厚度测试仪
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薄膜厚度均匀性测试仪相关的资讯

  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。 二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
  • 薄膜拉力测试仪在医药包装性能测试中的重要性
    随着医药行业对包装材料性能要求的不断提升,薄膜拉力测试仪在评估和确保包装质量中的作用显得尤为重要。本文将探讨薄膜拉力测试仪如何满足医药包装性能的测试需求。1. 医药包装的特殊要求医药包装不仅需要保护药品免受外界因素的影响,还需符合安全、有效、便捷等多重要求。因而,包装材料的机械性能,特别是拉力强度、耐撕裂性和耐穿刺性等,成为了检测的重点。2. 薄膜拉力测试仪的基本原理薄膜拉力测试仪通过施加均匀的拉力,测量材料在受力下的变形及断裂情况。它能够提供精确的数据,帮助研发和生产团队分析包装材料的性能。3. 应对医药包装性能需求的优势3.1 精确测试薄膜拉力测试仪具备高精度测量功能,可以准确评估医药包装材料在不同环境条件下的拉伸性能,从而确保药品在运输和储存过程中的安全性。3.2 多功能性除了拉力测试,许多现代薄膜拉力测试仪还配备了其他功能模块,如撕裂强度、穿刺强度等测试。这使得其能够全面评估包装材料的性能。3.3 兼容性强薄膜拉力测试仪适用于多种材料,包括塑料薄膜、复合材料等,符合当今医药包装日益多样化的趋势。4. 数据分析与质量控制4.1 结果的可视化薄膜拉力测试仪常配备数据分析软件,能够将测试结果以图表形式展示,便于研发团队直观分析。这有助于发现潜在问题,并及时进行改进。4.2 质量管理体系的支持测试数据可以作为品质保证的依据,帮助企业建立和完善质量管理体系,符合国际标准和法规要求。5. 展望未来随着科技的不断进步和医药行业需求的变化,薄膜拉力测试仪也在不断发展。未来,智能化、自动化的测试设备将更好地服务于医药包装行业,提升包装材料的质量和安全性。结语薄膜拉力测试仪在医药包装性能测试中扮演着不可或缺的角色。不仅能提供精准的测试数据,还能通过多功能性和数据分析,提高包装材料的质量与安全性。随着行业的发展,薄膜拉力测试仪的应用前景将更加广阔。

薄膜厚度均匀性测试仪相关的方案

薄膜厚度均匀性测试仪相关的资料

薄膜厚度均匀性测试仪相关的试剂

薄膜厚度均匀性测试仪相关的论坛

  • 离子减薄怎样才能减出厚度均匀的薄区?

    用双束离子减薄减出的薄膜样品在拍弱束像的时候厚度条纹特别密,习惯的减薄角度是+-4°,4.0kev减出薄区再用2Kev修几次,不知道大神们有没有什么好的减薄条件可以减出厚度均匀的样品?

  • 霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例

    样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm样品尺寸: 10 * 10 mm实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS [url=http://www.hakuto-vacuum.cn/product-list.php?sid=131][color=#0000ff]霍尔效应测试仪[/color][/url]测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla[color=#ff0000]* 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.[/color][b][color=#000000]样品 ITO1 测试结果:[/color][color=#000000]I-V 测量结果[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-nano.jpg[/img][/color][/b][color=#000000][b]VdP 测量结果[/b][/color][color=#000000] 测量头类型: RT Head 磁场: 9677G 厚度: 80nm[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-vdp.jpg[/img][/color][b]部分测试结论:[/b]1. 得到的电阻值彼此相容.2. 所有的IV 曲线都是线性的3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. ...[color=#ff0000]* 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎联络上海伯东[/color]

薄膜厚度均匀性测试仪相关的耗材

  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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